专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]X射线奥氏体测量标定试样的制备方法-CN200510023778.5无效
  • 姜传海;洪波;余震 - 上海交通大学
  • 2005-02-03 - 2005-08-03 - G01N23/20
  • 一种用于材料分析测试技术领域的X射线奥氏体测量标定试样的制备方法,本发明具体步骤如下:(1)粉末颗粒尺寸筛选:对奥氏体粉末和铁素体粉末的粒颗进行筛选;(2)混粉:将奥氏体粉末和铁素体粉末放入无水酒精中,按照奥氏体体积分数,利用机械混合方式,将奥氏体粉末与铁素体粉末均匀地混合;(3)热压成型:在高温及真空状态下,将混合粉末热压成型为块体材料;(4)加工处理:利用上述块体材料加工出标定试样,在真空炉中进行退火处理本发明所制备的X射线奥氏体测量标定试样,用于标定X射线衍射系统。标定试样表面美观,不易生锈,携带方便,奥氏体含量长期保持稳定,可以提高测量结果的可靠性。
  • 射线奥氏体测量标定试样制备方法
  • [发明专利]一种可旋转试样的X射线荧光衍射集成分析仪-CN201710620594.X有效
  • 杨勇奇;王典洪;倪效勇;徐朝玉;程卓;龚芳;熊德云 - 中国地质大学(武汉)
  • 2017-07-26 - 2023-03-24 - G01N23/223
  • 本发明提供一种可旋转试样的X射线荧光衍射集成分析仪,包括X射线发生器、X射线衍射分析组件和荧光探测器,还包括其上下两层分别为荧光样品托盘和衍射样品托盘的双层旋转台,荧光样品托盘上设有若干荧光分析样品槽和若干通光孔,衍射样品托盘上设有与若干通光孔一一对应的若干衍射分析样品槽,一步进电机通过一旋转杆连接双层旋转台;X射线衍射分析组件包括准直调节模块和衍射探测模块,衍射样品托盘位于准直调节模块和衍射探测模块之间,荧光探测器位于X射线发生器和荧光样品托盘之间,荧光分析样品槽朝向荧光探测器设置。本发明的有益效果:集X射线荧光分析和X射线衍射分析于一体且能够一次性容纳多种样品。
  • 一种旋转试样射线荧光衍射集成分析
  • [实用新型]一种可旋转试样的X射线荧光衍射集成分析仪-CN201720915830.6有效
  • 杨勇奇;王典洪;倪效勇;徐朝玉;程卓;龚芳;熊德云 - 中国地质大学(武汉)
  • 2017-07-26 - 2018-04-20 - G01N23/223
  • 本实用新型提供一种可旋转试样的X射线荧光衍射集成分析仪,包括X射线发生器、X射线衍射分析组件和荧光探测器,还包括其上下两层分别为荧光样品托盘和衍射样品托盘的双层旋转台,荧光样品托盘上设有若干荧光分析样品槽和若干通光孔,衍射样品托盘上设有与若干通光孔一一对应的若干衍射分析样品槽,一步进电机通过一旋转杆连接双层旋转台;X射线衍射分析组件包括准直调节模块和衍射探测模块,衍射样品托盘位于准直调节模块和衍射探测模块之间,荧光探测器位于X射线发生器和荧光样品托盘之间,荧光分析样品槽朝向荧光探测器设置。本实用新型的有益效果集X射线荧光分析和X射线衍射分析于一体且能够一次性容纳多种样品。
  • 一种旋转试样射线荧光衍射集成分析
  • [发明专利]固体电解质及其制造方法-CN200710103948.X有效
  • 太田进启 - 住友电气工业株式会社
  • 2007-05-15 - 2007-11-21 - H01G9/025
  • 该固体电解质含有x原子%的锂、y原子%的磷、z原子%的硫和w原子%的氧,其中x、y、z和w满足以下表达式(1)-(5):20≤x≤45…(1)、10≤y≤20…(2)、35≤z≤60…(3)、1≤w≤10…(4)、x+y+z+w=100…(5),并且在利用Cu的Kα射线通过X射线衍射法所测得的X射线衍射图中,X射线衍射峰的顶点分别位于X射线衍射图中的以下衍射角2θ:16.7°±0.25°、20.4°±0.250.25°、25.9°±0.25°、29.4°±0.25°、30.4°±0.25°、31.7°±0.25°、33.5°±0.25°、41.5°±0.25°、43.7°±0.25°和51.2°±0.25°,各X射线衍射峰的半宽均在
  • 固体电解质及其制造方法
  • [发明专利]一种多波长特征X射线衍射测量装置和方法-CN201310567101.2在审
  • 郑琪;赵春玲 - 郑琪
  • 2013-11-15 - 2015-05-20 - G01N23/20
  • 本发明涉及一种能够在宽的波长范围内选择X射线管阳极靶材的某一特征X射线,测量被测晶体材料样品X射线衍射谱的多波长特征X射线衍射测量装置和方法。其装置包括X射线管、高压发生器、狭缝、测角仪、探测器、多道分析器等。本发明免除了滤波片或晶体单色器等的使用而导致特征X射线强度的大幅度衰减,通过调节X射线管的管电压和多道分析器的上、下阈,就能够选取测量所需波长的特征X射线,就能够在同一套装置上,既可以无损地测量样品表面的(波长较长的特征X射线)衍射线又可以无损地测量样品内部的(波长较短的特征X射线)衍射线,而且,本发明所述具有操作简便,检测时间较短,扫描测得的特征X射线衍射谱真实、可靠。
  • 一种波长特征射线衍射测量装置方法

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