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[发明专利]一种X射线衍射信号的采集方法、系统、设备及存储介质-CN202110717090.6有效
发明人： 罗震林;刘志杰;董永齐 -专利权人：中国科学技术大学
申请日： 2021-06-28 - 公布日： 2022-12-30 - 主分类号： G01N23/207 文献下载
摘要：本发明实施例提供了一种X射线衍射信号的采集方法、系统、设备及存储介质。方法包括：通过X射线源发出X射线照射样品，使用二维面探测器进行持续性扫描，控制样品沿ψ圆旋转360度，确定是否将当前2θ和ω取值下的目标倒易空间Qz为正的部分扫描完毕，若否，则控制χ变化Δχ，返回执行控制样品沿ψ圆旋转360度的步骤。若是，则判断是否已将目标倒易空间扫描完毕。若未将目标倒易空间扫描完毕，则控制2θ变化Δ2θ，控制ω变化Δω，并返回步骤控制样品沿ψ圆旋转360度。若已将目标倒易空间扫描完毕，则结束处理，并获得目标倒易空间中的第一衍射数据。本发明实现了对广域倒易空间中的大多数衍射信号快速高效地采集。
一种射线衍射信号采集方法系统设备存储介质

[发明专利]一种测量表面法向衍射信号的方法、装置及存储介质-CN202210150926.3在审
发明人： 罗震林;董永齐 -专利权人：中国科学技术大学
申请日： 2022-02-18 - 公布日： 2022-05-13 - 主分类号： G01N23/207 文献下载
摘要：本申请实施例提供了一种测量表面法向衍射信号的方法、装置及存储介质，其中方法包括：将ω和2θ均初始化为0，调整χ以使样品表面法线与ω的旋转轴垂直，并设置ω＝θ，以使X射线二维探测器的探测方向为样品表面法线的方向，根据样品的块材参数，确定不少于两个的衍射斑，并生成连接不少于两个的衍射斑的直线，利用X射线二维探测器在预设倒易空间衍射矢量值区间内，沿直线进行倒易空间扫描，待X射线二维探测器按照预设倒易空间衍射矢量值区间采集完毕后，获得第一数量个衍射信号图片，对第一数量个衍射信号图片进行筛选，获得第三数量个信噪比大于预设信噪比值的晶体截断杆衍射信号。本申请实现了获得高信噪比的表面衍射信号的发明目的。
一种测量表面衍射信号方法装置存储介质

[发明专利]用于原位变温X射线散射表征的反应装置-CN202110415905.5在审
发明人： 罗震林;周靖添 -专利权人：中国科学技术大学
申请日： 2021-04-15 - 公布日： 2021-07-16 - 主分类号： G01N23/20008 文献下载
摘要：一种用于原位变温X射线散射表征的反应装置，该反应装置包括反应池单元，包括反应池底座，反应池底座内设有反应池；光学通道，设置在反应池内部，包括进光通道和出光通道；样品槽，设置在进光通道和出光通道之间，用于盛放样品；以及反应池上盖，设置在反应池底座上方。本发明具有结构简单、密封性好、通用性强、可扩展性高、可靠性高、可重复利用等特点，能够满足温度、气氛可控条件下的常规的固固、固液、固气等化学反应中物质结构信息的原位X射线散射表征。
用于原位射线散射表征反应装置

[发明专利]分析材料短程有序结构和长程有序结构的装置和方法-CN201910666887.0有效
发明人： 罗震林;刘志杰 -专利权人：中国科学技术大学
申请日： 2019-07-23 - 公布日： 2020-06-26 - 主分类号： G01N23/085 文献下载
摘要：本发明技术方案公开了一种分析材料短程有序结构和长程有序结构的装置和方法，通过同步辐射光源出射连续光谱的光束照射位于承载组件上的待测材料样品，可以通过多个能量色散探测器获取第一光信息，基于所述第一光信息可以进行所述待测样品的X射线衍射测试，可以通过位敏探测器获取第二光信息，基于所述第二光信息可以进行所述待测样品的X射线吸收精细结构测试。可见，本发明技术方案可以同时快速分析材料短程有序结构和长程有序结构。
分析材料短程有序结构长程装置方法

[实用新型]原位反应装置及光学原位反应表征系统-CN201921295438.1有效
发明人： 罗震林;周靖添 -专利权人：中国科学技术大学
申请日： 2019-08-09 - 公布日： 2020-06-26 - 主分类号： G01N21/3504 文献下载
摘要：一种原位反应装置及光学原位反应表征系统。该原位反应装置包括支撑单元，起支撑作用；反应单元，其设在支撑单元上，样品在所述反应单元内发生反应；密封罩单元，其设置在反应单元上，用于密封反应单元；以及流体传动单元，其为反应单元提供气体或液体的反应流体。本实用新型提供的原位反应装置，采用可拆卸、可清洗的连接结构，具有密封性良好、多功能性、重复利用性高等优点；还可以满足多种表征条件、多种表征模式的切换。
原位反应装置光学表征系统

[发明专利]一种氧化钒单晶薄膜的制备方法-CN201811383414.1有效
发明人： 罗震林;杨远俊;洪宾;高琛 -专利权人：中国科学技术大学
申请日： 2018-11-20 - 公布日： 2020-05-19 - 主分类号： C23C14/08 文献下载
摘要：本发明提供了一种氧化钒单晶薄膜的制备方法，包括以下步骤：A)磁控溅射的准备工作；B)对样品台进行加热，再通入氧气和氩气，调节真空腔的压力；C)采用射频电源对金属钒靶起辉以产生等离子体，预溅射后进行正式溅射；D)溅射结束后依次关闭射频电源、氧气、挡板阀、分子泵和机械泵，再进行退火处理，得到氧化钒单晶薄膜。本发明可精准可控制备、大尺寸、高质量的各种晶相的氧化钒单晶薄膜。本发明极大的简化了可控制备高质量大面积氧化钒单晶薄的工艺，大幅降低了制备成本，为氧化钒薄膜在光电探测、相变存储、激光防护等领域的应用打破了产业瓶颈。
一种氧化钒单晶薄膜制备方法

[发明专利]原位反应装置、光学原位反应表征系统及方法-CN201910738471.5在审
发明人： 罗震林;周靖添 -专利权人：中国科学技术大学
申请日： 2019-08-09 - 公布日： 2019-10-22 - 主分类号： G01N21/3504 文献下载
摘要：一种原位反应装置、光学原位反应表征系统及方法。该原位反应装置包括支撑单元，起支撑作用；反应单元，其设在支撑单元上，样品在所述反应单元内发生反应；密封罩单元，其设置在反应单元上，用于密封反应单元；以及流体传动单元，其为反应单元提供气体或液体的反应流体。本发明提供的原位装置，采用可拆卸、可清洗的连接结构，具有密封性良好、多功能性、重复利用性高等优点；还可以满足多种表征条件、多种表征模式的切换。
反应单元原位反应装置表征系统原位反应支撑单元流体传动单元重复利用性表征模式反应流体连接结构密封反应支撑作用可拆卸可清洗密封性密封罩

[发明专利]一种控制铁电单晶电致形变取向的方法-CN201510799427.7在审
发明人： 罗震林;赵江涛;何浩;杨远俊;高琛 -专利权人：中国科学技术大学
申请日： 2015-11-18 - 公布日： 2016-01-20 - 主分类号： C30B33/04 文献下载
摘要：本申请提供了一种控制铁电单晶电致形变取向的方法，将三方铁电单晶(001)面进行斜切，得到斜切后的单晶；将所述斜切后的单晶在外加电场下进行初始极化，然后在外加反向电场下进行极化，得到反向极化后的单晶。本申请采用斜切方式对三方相铁电单晶(001)面进行处理，使单晶表面不再是严格(001)取向；这样在上下翻转电场时，109°极化翻转的比例会增大。本发明通过对(001)取向三方铁电单晶施行简单的斜切工艺，使得表面法向与晶轴不重合，破坏自发极化方向围绕表面法线的对称性，提高109度极化翻转的出现几率，从而对电致形变取向实现了控制。本发明优选加温辅助极化，可实现单一109度畴转路径，利于磁性薄膜/压电单晶异质结等应变调控应用。
一种控制铁电单晶电致形变取向方法

[发明专利]高活性光催化剂CaIn₂O₄及其制备方法-CN200510039255.X有效
发明人：高琛;鲍骏;丁建军;罗震林 -专利权人：中国科学技术大学
申请日： 2005-04-28 - 公布日： 2006-01-25 - 主分类号： B01J23/08 文献下载
摘要：本发明涉及治理环境污染用的光催化材料及制备，也涉及低温燃烧合成技术。所述催化剂CaIn₂O₄是由以硝酸盐为氧化剂、有机羧酸为燃料、通过溶液燃烧合成得到的纳米棒粉体；或者是将该纳米棒粉体再经退火处理得到的微结构为细长棒状粉体。制备步骤为：1)将硝酸钙硝酸铟、有机燃料氨基乙酸和水混合配制成溶液，2)将混合物溶液搅拌均匀后在200℃～250℃恒温20～30分钟，然后按1℃～3℃/分钟速率缓慢升温至300℃，使有机燃料燃烧并发生合成反应，得到纳米棒状的CaIn₂O₄粉体；或者3)再将上述粉体在1100℃～1200℃下焙烧8～12小时，自然冷却得到微结构为细长棒状的CaIn₂O₄粉体。本发明产品的光催化降解性能比用高温固相反应法制备的CaIn₂O₄有很大提高，同时合成温度低、所需时间短。
活性光催化剂 cain sub 及其制备方法

[发明专利]对组合样品的结构和成分进行测量分析的方法及装置-CN02148439.2无效
发明人：高琛;罗震林 -专利权人：中国科学技术大学
申请日： 2002-12-02 - 公布日： 2004-06-16 - 主分类号： G01N23/20 文献下载
摘要：本发明是一种对组合样品的结构和成分进行测量分析的方法及装置，它涉及利用X射线衍射、X射线荧光技术对结构和成分进行测量分析的方法及装置。X射线源1、X射线透镜3、样品台7及其控制电路、能量探测器9及其测量电路等均置于仪器平台13上，X射线源与X射线透镜形成入射光路，能量探测器位于衍射光路上。将X射线源发出的发散白光X射线通过X射线透镜聚焦成准平行的微会聚束照射到样品台上，平移样品台使被测样品6位于该焦点，然后用能量探测器接收从被测样品上衍射的X射线和发射的荧光X射线，再传输到计算机12中进行数据处理，得到衍射谱和荧光光谱，从而分析出结构和成分。本发明操作简单，测量速度较快，能够适用于各种组合样品。
组合样品结构成分进行测量分析方法装置

[发明专利]高亮度空间相干X射线源-CN03115809.9无效
发明人：韩申生;喻虹;高琛;罗震林 -专利权人：中国科学院上海光学精密机械研究所
申请日： 2003-03-14 - 公布日： 2003-09-10 - 主分类号： G21G4/04 文献下载
摘要：一种高亮度空间相干X射线源，包括处于一防辐射外壳内的X光光源和X射线空间相干增益腔，其特点是：所述的X光光源由电子束激发X光光源和毛细管X光聚焦透镜组成，毛细管X光聚焦透镜设置于电子束激发X光光源的出射窗口处；该X射线空间相干增益腔的入口处设有入射限孔光阑，该入射限孔光阑位于该毛细管X光透镜的后焦点处；该电子束激发X光光源、毛细管X光透镜、空间相干增益腔的入射限孔光阑和出射窗口同轴；该X射线空间相干增益腔的出射窗口的孔径D出大于入射限孔光阑的孔径D入；D入的选取范围是：1微米
亮度空间相干射线

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