专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]替托司特多晶型物-CN201110065670.8无效
  • 青木聪之;中矢贤治;曾田正博;石上正嗣 - 大塚制药株式会社
  • 2007-03-15 - 2011-09-07 - C07D417/04
  • (1)一种替托司特水合物晶体,其具有与图2中显示的粉末X-射线衍射光谱实质上相同的粉末X-射线衍射光谱;(2)一种无水替托司特A型晶体,其具有与图4中显示的粉末X-射线衍射光谱实质上相同的粉末X-射线衍射光谱;(3)一种无水替托司特C型晶体,其具有与图8中显示的粉末X-射线衍射光谱实质上相同的粉末X-射线衍射光谱;(4)一种替托司特乙腈溶剂合物晶体,其具有与图10中显示的粉末X-射线衍射光谱实质上相同的粉末X-射线衍射光谱;以及(5)一种混合物,其由上述无水替托司特A型晶体和无水替托司特B型晶体组成。
  • 替托司特多晶
  • [发明专利]替托司特多晶型物-CN201110065666.1无效
  • 青木聪之;中矢贤治;曾田正博;石上正嗣 - 大塚制药株式会社
  • 2007-03-15 - 2011-09-07 - C07D417/04
  • (1)一种替托司特水合物晶体,其具有与图2中显示的粉末X-射线衍射光谱实质上相同的粉末X-射线衍射光谱;(2)一种无水替托司特A型晶体,其具有与图4中显示的粉末X-射线衍射光谱实质上相同的粉末X-射线衍射光谱;(3)一种无水替托司特C型晶体,其具有与图8中显示的粉末X-射线衍射光谱实质上相同的粉末X-射线衍射光谱;(4)一种替托司特乙腈溶剂合物晶体,其具有与图10中显示的粉末X-射线衍射光谱实质上相同的粉末X-射线衍射光谱;以及(5)一种混合物,其由上述无水替托司特A型晶体和无水替托司特B型晶体组成。
  • 替托司特多晶
  • [发明专利]替托司特多晶型物-CN201110065650.0无效
  • 青木聪之;中矢贤治;曾田正博;石上正嗣 - 大塚制药株式会社
  • 2007-03-15 - 2011-09-07 - C07D417/04
  • (1)一种替托司特水合物晶体,其具有与图2中显示的粉末X-射线衍射光谱实质上相同的粉末X-射线衍射光谱;(2)一种无水替托司特A型晶体,其具有与图4中显示的粉末X-射线衍射光谱实质上相同的粉末X-射线衍射光谱;(3)一种无水替托司特C型晶体,其具有与图8中显示的粉末X-射线衍射光谱实质上相同的粉末X-射线衍射光谱;(4)一种替托司特乙腈溶剂合物晶体,其具有与图10中显示的粉末X-射线衍射光谱实质上相同的粉末X-射线衍射光谱;以及(5)一种混合物,其由上述无水替托司特A型晶体和无水替托司特B型晶体组成。
  • 替托司特多晶
  • [发明专利]替托司特多晶型物-CN200780002002.2无效
  • 青木聪之;中矢贤治;曾田正博;石上正嗣 - 大塚制药株式会社
  • 2007-03-15 - 2009-02-11 - C07D417/04
  • (1)一种替托司特水合物晶体,其具有与图2中显示的粉末X射线衍射光谱实质上相同的粉末X射线衍射光谱;(2)一种无水替托司特A型晶体,其具有与图4中显示的粉末X射线衍射光谱实质上相同的粉末X射线衍射光谱;(3)一种无水替托司特C型晶体,其具有与图8中显示的粉末X射线衍射光谱实质上相同的粉末X射线衍射光谱;(4)一种替托司特乙腈溶剂合物晶体,其具有与图10中显示的粉末X射线衍射光谱实质上相同的粉末X射线衍射光谱;以及(5)一种混合物,其由上述无水替托司特A型晶体和无水替托司特B型晶体组成。
  • 替托司特多晶
  • [发明专利]一种X射线掠入射衍射的原位检测系统及检测方法-CN202211343987.8在审
  • 张万群;钱逸泰 - 中国科学技术大学
  • 2022-10-31 - 2023-02-03 - G01N23/207
  • 本发明提供了一种X射线掠入射衍射的原位检测系统及检测方法,所述原位检测系统包括粉末X射线衍射仪、原位检测装置和电化学工作站;原位检测装置具有弧形密封罩,使得X射线入射角度完全能够与弧形曲面呈垂直状态,从而X射线穿透窗口的有效距离减小,减少了对X射线衍射的吸收;待测电极片的集流极材料使用的是多孔金属材料,有利于电解液浸润和离子的传输;所述原位检测装置还包括定位片,将所述原位检测装置放置在粉末X射线衍射仪的样品台上,定位片插入样品架插口,结合粉末X射线衍射仪本身功能,可以方便地对原位检测装置进行校准操作,且在粉末X射线衍射仪的掠入射模式下,实时检测研究对象的表界面结构变化,显著降低了检测的难度。
  • 一种射线入射衍射原位检测系统方法
  • [发明专利]一种X射线衍射仪用样品台、其应用和X射线衍射-CN201911066181.7有效
  • 李海峰;吴思;朱英浩 - 澳门大学
  • 2019-11-04 - 2022-04-08 - G01N23/20025
  • 本发明公开了一种X射线衍射仪用样品台、其应用和X射线衍射仪,涉及X射线衍射仪领域。该X射线衍射仪用样品台,其包括样品台骨架和无定型结构膜,样品台骨架的顶部与无定型结构膜的底面连接以支撑无定型结构膜,样品台骨架的一侧用于插设于X射线衍射仪内。本申请提供的X射线衍射仪用样品台使用方便,价格便宜,不影响原有的实验模式,测量背景低,使得只有少量材料样品的测量成为了可能且测试数据准确可靠。此外,本申请还提供了上述X射线衍射仪用样品台在X射线衍射仪中用于对薄膜材料、粉末量少材料的样品进行测试的应用。该X射线衍射仪包括上述X射线衍射仪用样品台。
  • 一种射线衍射样品应用
  • [发明专利]测定SAPO-11分子筛相对结晶度的方法-CN201510257328.6有效
  • 李瑞峰;王磊;李瑞 - 中国石油天然气股份有限公司
  • 2015-05-19 - 2019-04-05 - G01N23/20
  • 一种测定SAPO‑11分子筛相对结晶度的方法,包括如下步骤:a、样品的前处理:经过研磨、过筛、焙烧活化和控温恒湿吸水四个步骤制备得到待测标准试样和待测工业试样;b、粉末X射线衍射仪工作条件的确定:启动粉末X射线衍射仪后,选用NIST硅粉,核查测角仪的角度重现性为±0.0001°,整机稳定度为≤0.1%,根据待测工业试样X射线衍射谱图中最弱衍射衍射信号的信噪比S/N>10,确定衍射仪电压、电流、发散狭缝、发散高度限制狭缝、防散射狭缝、接收狭缝、滤光片或单色器的参数,获得试样的最佳粉末X射线衍射谱图;c、测定;d、计算,用外标法计算待测工业样品的相对结晶度。
  • 测定sapo11分子筛相对结晶度方法

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