专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]ATE测试通道设计方法-CN201310292364.7在审
  • 曾志敏 - 上海华虹宏力半导体制造有限公司
  • 2013-07-12 - 2015-01-14 - G01R1/02
  • 本发明公开了一种ATE测试通道设计方法,该方法在ATE测试头内,在常规测试通道基础上,对应于每条测试通道分别增加一个独立开关;在ATE负载板上,增加一个以上能与测量仪器探头挂接的采样端子;所述独立开关的一端通过信号线与对应的测试通道连接本发明设计的ATE测试通道,利用开关的开/闭实现待测通道的选择,使测量仪器探头能与负载板固定物理连接,从而大大提高了外接测量仪器与测试通道建立连接、进行测量的效率,降低了工程调试难度,并确保了负载板上通道信号的完整性和物理完整性
  • ate测试通道设计方法
  • [发明专利]具有非扫描设计测试代价的扫描设计测试向量置入方法-CN02159931.9无效
  • 向东;孙家广;陈明静;顾珊 - 清华大学
  • 2002-12-30 - 2004-07-14 - H01L21/82
  • 具有非扫描设计测试代价的扫描设计测试向量置入方法属于集成电路可测试设计技术领域,特征在于:它是“扫描森林”式的,把原始输入端同时作为各扫描树的根结点,以便在测试时作为扫描输入置入测试向量,再在每个原始输入端的后继按照两个触发器没有任何一个相同的后继单元原则连接了一组触发器,再在其中任选一个触发器作为下一层的根结点,连接下一层符合以上原则的另一组触发器,依次类推,把它们连接到“扫描森林”中某个结点上形成“扫描森林”;同时把这种结构用在部分扫描设计上。它获得了很高的故障覆盖率和测试效率,同时部分扫描设计又能降低测试时间、面积开销及功耗,甚至可以把部分扫描设计测试代价降低至非扫描设计的水平。
  • 具有扫描设计测试代价向量置入方法
  • [发明专利]具有扫描设计测试性性能的非扫描设计测试点结构-CN02100686.5无效
  • 向东 - 清华大学
  • 2002-02-22 - 2003-09-03 - H01L21/82
  • 具有扫描设计测试性性能的非扫描设计测试点结构属于集成电路可测试设计技术领域,其特征在于,在组合逻辑电路各可控测试点和各相应的受控触发器之间连接有:各输出端依次相间隔地和上述各可控测试点相连而各有一个输入端与上述各受控触发器相应输出端依次相连的由或门和与门相间隔地组成的门纵列其中,PR=0为正常工作状态,PR=1为测试状态。上述另一个与门纵列可用或门纵列代替。与传统的扫描设计测试点结构相比它具有测试周期短,管脚开销省,故障覆盖率高的优点。
  • 具有扫描设计测试性能结构
  • [发明专利]一种测试设计平台-CN201610560137.1在审
  • 谷峰;张爱兵 - 北京捷科智诚科技有限公司
  • 2016-07-15 - 2016-12-07 - G06F11/22
  • 本发明涉及一种测试设计平台,包括用户界面分析模块、业务分析模块及案例生成模块,用户界面分析模块用于对用户界面进行要素的分析和提取,将数据单独管理并赋予相应的剧本角色,建立通过业务分析产生的测试点、测试案例、测试数据之间的关联关系,自动生成具有中间码形式的自动化测试案例,并精确生成数据需求和测试点;业务分析模块用于通过测试业务情景的录入,实现对测试场景的支持;案例生成模块用于通过在自动化执行时通过代码生成机制自动转化为自动化工具识别的脚本语言,并在测试结束后自动生成带有截图的标准测试报告与缺陷报告。本发明的有益效果在于,提供一种使用方便且效率高的测试设计平台。
  • 一种测试设计平台
  • [发明专利]TCXO测试电路的设计方法-CN201610503984.4有效
  • 李伟;杨合如 - 廊坊中电熊猫晶体科技有限公司
  • 2016-07-01 - 2019-06-18 - G01R31/00
  • 本发明是一种TCXO测试电路的设计方法,其测试电路包括X方向8列频率信号输出线,Y方向8行信号控制线,每行、列交点为一个TCXO测试工位,共64个工位,每个测试工位中的频率信号输出端配置一个使能控制芯片优点:以较少的信号线控制较多的TCXO测试工位,可实现同时对多颗TCXO进行测试,实现成本低,效率高,适用于批量生产,并且分频功能的设计可降低频率传输中外界因素的干扰,提高频率测量的准确性及可靠性。
  • tcxo测试电路设计方法
  • [发明专利]测试设计方法及装置-CN201610289656.9有效
  • 冯燕;陈岚 - 中国科学院微电子研究所
  • 2016-05-04 - 2020-01-31 - G01R31/3185
  • 本发明的目的是提供测试设计方法及装置。该方法包括:获取设计参数,根据所述设计参数确定所述测试壳的输入输出端口信息以及连接方式,使用相应的连接方式完成每一WBR Cell的连接;将所有WBR Cell的移位路径首尾相连,组成测试壳扫描链;当选通器的数目不为在本发明中,可根据设计参数(IP核功能端口信息、IP核内部扫描测试信息、WBR Cell结构、测试壳并行访问宽度和并行外部测试测试壳并行扫描链长度等)自动进行WBR设计,进而完成测试壳的设计
  • 测试设计方法装置

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