专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]用于高速总线的测试设计-CN201110043964.0有效
  • 吴莱昂 - 弗莱克斯电子有限责任公司
  • 2011-02-22 - 2011-09-21 - H05K1/02
  • 公开了一种用于高速总线的测试设计以及为电路板配置测试设计的方法。该电路板包括成对差分信号线和成对测试点焊盘,一个测试点焊盘耦合到信号线之一,而另一测试点焊盘耦合到另一信号线。两个测试点焊盘相对于彼此和两条信号线错开。电路板包括多个导电层和多个绝缘层。导电层可以被蚀刻成导电图案或者迹线,用于连接焊接到电路板的电子部件。导电层可以经由通孔有选择地连接在一起。为了最小化或消除在测试点焊盘与下层接地平面和/或电源平面之间生成的电容,去除与各测试点焊盘直接地对准的接地平面的部分和/或电源平面的部分。
  • 用于高速总线测试设计
  • [发明专利]具有电路连接测试设计的显示面板-CN03158449.7有效
  • 王炯宾;烘泓杰 - 友达光电股份有限公司
  • 2003-09-10 - 2005-03-16 - G09G5/00
  • 一种显示面板,其包括有一基板以及多条数据线设于该基板上,以驱动该显示面板进行图像显示,该显示面板表面还设有多个感光元件,各感光元件的一侧电连接到各该条数据线的一端,而另一侧则电连接到一测试焊点,其中当该感光元件受到一定强度的光线照射时,会使该感光元件成为导通状态,以电连接该数据线以及该测试焊点,因此可经由该测试焊点对各该显示面板进行电路连接测试,而当该感光元件未受到光线照射时,该感光元件则为关断状态,以使各该数据线能正常驱动该显示面板来进行显示操作
  • 具有电路连接测试设计显示面板
  • [发明专利]芯片及其可测试设计方法、装置-CN202010565419.7有效
  • 肖斌 - 展讯通信(上海)有限公司
  • 2020-06-19 - 2023-03-24 - G06F30/39
  • 本发明公开了一种芯片及其可测试设计方法、装置。芯片的可测试设计方法包括以下步骤:根据扫描链中的扫描寄存器获取所有扫描链的相关性特征;根据获取的相关性特征将相关性强的扫描链分配到EDT压缩器中不同的异或单元。本发明通过将相关性强的扫描链分配到EDT压缩器中不同的异或单元,使得EDT压缩器能够输出更多状态的结果,在不增加额外成本的情况下,能够使用比现有技术更少数量的测试用例达到相同的测试覆盖率。
  • 芯片及其测试设计方法装置
  • [发明专利]测试转接卡设计系统及其方法-CN202010541849.5有效
  • 张琳;段秋月;毛肖肖 - 英业达科技有限公司;英业达股份有限公司
  • 2020-06-15 - 2023-09-01 - G06F11/22
  • 本发明公开了一种测试转接卡设计系统,其通过将待测主板上的待测电路按照模块类型进行划分,形成多个待测模块,每一待测模块对应一待测接口;依据每一待测接口所包括的待测引脚与标准通用转接卡的预设接口的规格数据,预设接口的规格数据符合市售缆线的连接器规格,被选择的预设接口其所包括的预设引脚完全覆盖其对应的待测接口所包括的待测引脚,被选择的预设接口所包括的预设引脚数量大于或等于其对应的待测接口所包括的待测引脚数量;以及基于选择结果与划分结果输出生产测试转接卡所需的设计数据
  • 测试转接设计系统及其方法
  • [发明专利]测试用例的设计方法及系统-CN201210260379.0无效
  • 王丽 - 上海斐讯数据通信技术有限公司
  • 2012-07-20 - 2012-11-28 - G06F11/36
  • 一种测试用例的设计方法,包括以下步骤:模拟用户的实际操作,设计一场景用例级,所述场景用例级包括完整的系统级场景及模拟用户实际操作的不同场景;将系统划分为多个角色,再将每一角色分解为多个任务,每一任务形成一个系统用例级;分层描述每一功能点的逻辑规则及界面元素,并对逻辑规则细化,形成一功能用例级;及构造一设计指标用例级,所述设计指标用例级包括一冲突测试用例、一性能测试用例、一压力测试用例及一兼容性测试用例。本发明进一步提供了一种测试用例的设计系统。本发明提高了测试用例设计方法的普适性且缩短了测试周期。
  • 测试设计方法系统
  • [发明专利]专用探针卡测试系统的设计方法-CN200780021836.8无效
  • C·A·米勒;M·E·克拉弗特;R·J·汉森 - 佛姆法克特股份有限公司
  • 2007-05-25 - 2009-08-05 - G01R31/02
  • 提供了一种用晶片测试系统中的单板可编程控制器对探针卡进行设计和编程的方法。在CAD晶片布局和探针卡设计过程中,包括了可编程控制器的引入考虑。CAD设计可以进一步被载入可编程控制器中,比如FPGA,从而对其进行编程:(1)控制信号到特定IC的方向,即使是在测试过程中;(2)产生测试矢量信号以便提供给IC;以及(3)接收测试信号,并且处理来自接收到的信号的测试结果在一些实施方式中,只提供老化测试,以限制所需的测试系统电路,使得通过使用探针卡上的可编程控制器,可以从常规测试设备中消除在探针卡外部的文本设备或者使其显著地减少。
  • 专用探针测试系统设计方法

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