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[其他]图像形成设备-CN201290001307.8有效
发明人：佐久间进;三轮笃史 -专利权人：兄弟工业株式会社
申请日： 2012-11-30 - 公布日： 2015-12-30 - 主分类号： G03G21/18 文献下载
摘要：在打印机(1)中，当具有第一干涉部(64)和第二干涉部(87)的处理盒(15)以与安装轨迹不同的轨迹插入本体壳(2)时，第一干涉部(64)和第二干涉部(87)与设在本体壳(2)的突起(111)接触。当第一干涉部(64)和第二干涉部(87)与相应突起(111)接触时，处理盒(15)被限制沿着第一干涉部(64)和第二干涉部(87)离开相应突起(111)的方向移动。
图像形成设备

[发明专利]干涉图形化-CN200480039697.8有效
发明人：加里·艾伦 -专利权人：英特尔公司
申请日： 2004-10-27 - 公布日： 2007-01-24 - 主分类号： G03F7/20 文献下载
摘要：衬底的干涉图形化。可以产生包括干涉条纹的干涉图形来照射衬底，衬底上被所述干涉图形实际照射的区域可以被限制，被照射区域可以沿和所述干涉条纹相交的方向横过所述衬底来位移，并且无论所述被照射区域的位移如何，可以维持所述干涉图形相对于所述衬底的基本恒定的位置
干涉图形

[发明专利]集成式形状测量装置-CN201410323081.9在审
发明人：尹都永;金兑昱;黄映珉;朴喜载 -专利权人： SNU精密股份有限公司
申请日： 2014-07-08 - 公布日： 2015-03-18 - 主分类号： G01B11/24 文献下载
摘要：其包括：反射干涉仪单元、透射干涉仪单元和光探测器。反射干涉仪单元包括第一光源以及反射干涉仪。反射干涉仪将从第一光源发射的光传输到待测物体和参考镜，基于从待测物体反射的光和参考镜的参考光形成干涉条纹。透射干涉仪单元包括配置为发射单色光的第二光源以及透射干涉仪。透射干涉仪将从第二光源发射的光进行分光，使得一部分光能透射通过待测物体而另一部分光不能透射通过待测物体，基于透射通过待测物体的光和未透射通过待测物体的光形成干涉条纹光。探测器被置于待测物体的上方并且探测所述干涉条纹。在该装置中，根据待测物体的透光率而选择性地使用反射干涉仪单元和透射干涉仪单元中的一者。
集成形状测量装置

[发明专利]应用于光芯片的量子密钥分发系统的接收端系统-CN202210110957.6在审
发明人：张国威;陈巍;叶鹏;王双;银振强;何德勇;周政;韩正甫;郭光灿 -专利权人：中国科学技术大学
申请日： 2022-01-28 - 公布日： 2022-05-13 - 主分类号： H04B10/548 文献下载
摘要：本公开提供了一种应用于光芯片的量子密钥分发系统的接收端系统，包括：第一等臂干涉仪和不等臂干涉装置。第一等臂干涉仪包括：第一干涉臂，第一干涉臂设置有第一热光相位调制器，第一热光相位调制器用于生成第二光信号；第二干涉臂，第二干涉臂设置有第二热光相位调制器，第二热光相位调制器用于生成与第二光信号相位不同的第三光信号；第一分束器和第二分束器，第一分束器的输出端分别与第一干涉臂的输入端和第二干涉臂的输入端连接，第二分束器的输入端分别与第一干涉臂的输出端和第二干涉臂的输出端连接。不等臂干涉装置，不等臂干涉装置的第一端与第二分束器的一个输出端连接。
应用于芯片量子密钥分发系统接收

[发明专利]分析设备、分析方法、干涉测量系统和存储介质-CN202011033769.5在审
发明人：松浦心平 -专利权人：株式会社三丰
申请日： 2020-09-27 - 公布日： 2021-04-09 - 主分类号： G01B11/24 文献下载
摘要：本发明涉及一种分析设备、分析方法、干涉测量系统和存储介质。该分析设备(200)包括：获取部(210)，用于从干涉测量设备获取基于具有多个不同波长的光的多个干涉图像；去除部(230)，用于通过去除多个干涉图像中的各像素的干涉信号中所包含的非干涉分量来输出干涉分量；转换部(240)，用于通过对干涉分量进行希尔伯特变换来生成分析信号；以及计算部(250)，用于基于干涉分量和分析信号，通过指定照射到参考面(132)和测量对象物体(10)的表面上的光的波长的相位梯度，
分析设备方法干涉测量系统存储介质

[发明专利]一种单双光子干涉装置及其控制方法-CN202111546692.6在审
发明人：李健亮 -专利权人：青岛鲲腾量子应用技术有限公司
申请日： 2021-12-16 - 公布日： 2022-04-12 - 主分类号： G09B23/22 文献下载
摘要：本发明属于量子通信技术领域，尤其涉及一种单双光子干涉装置及其控制方法，所述单双光子干涉装置包括沿光路传播方向布置的关联光子源模块、单双光子转换模块、光子干涉模块以及光子探测模块；所述关联光子源模块用于产生关联光子源；所述单双光子转换模块用于单光子干涉与双光子干涉的转换；所述光子干涉模块用于关联光子的干涉；所述光子探测模块用于接收来自所述光子干涉模块的关联光子，并进行符合测量计数。本发明通过设置单双光子转换模块，可以利用同一装置分别进行单双光子干涉实验，结构简单，易于实现，成本低。
一种光子干涉装置及其控制方法

[发明专利]一种基于反射式闪耀光栅的简化双体Sagnac干涉元件-CN201610291275.4有效
发明人：金施群;邢金玉;胡鹏浩;王行芳;王喆 -专利权人：合肥工业大学
申请日： 2016-04-29 - 公布日： 2018-06-12 - 主分类号： G02B27/28 文献下载
摘要：本发明公开了一种基于反射式闪耀光栅的简化双体Sagnac干涉元件，其特征是两级结构相同的反射式Sagnac干涉单元按相互垂直的方式布局，并以半波片相连，前一级反射式Sagnac干涉单元的输出经过半波片改变偏振方向后作为后一级反射式Sagnac干涉单元的输入，后一级反射式Sagnac干涉单元的输出经偏振片极化和成像透镜系统后在干涉成像面上形成干涉。本发明可以实现宽光谱偏振干涉，能满足白光偏振干涉仪的要求，其体积小、重量轻，尤其适于应用在遥感设备中。
干涉单元反射式反射式闪耀光栅干涉元件偏振干涉半波片后一级双体成像透镜系统方式布局干涉成像两级结构遥感设备输出极化垂直的宽光谱偏振片前一级体积小重量轻白光偏振干涉应用

[发明专利]基于深度学习的单幅闭合条纹干涉图解相方法及装置-CN202011377723.5有效
发明人：郝群;胡摇;袁诗翥;张韶辉 -专利权人：北京理工大学
申请日： 2020-11-30 - 公布日： 2021-08-20 - 主分类号： G01B11/24 文献下载
摘要：公开了基于深度学习的单幅闭合条纹干涉图解相方法及装置，具有结构简单、精度高、可动态测量的优点，而且显著降低了干涉图解相所需的时间，并降低了干涉图解相所需的硬件要求和成本，使得本方法可以在便携设备上运行。方法包括：(1)建立神经网络并初始化；(2)干涉图预处理，对输入的干涉图进行灰度范围归一化，得到灰度范围归一化的干涉图；(3)神经网络处理干涉图，将灰度范围归一化的干涉图输入神经网络，神经网络输出包裹相位；(4)对包裹相位进行相位解包裹，获取干涉图的绝对相位。
基于深度学习单幅闭合条纹干涉图解方法装置

[发明专利]与3D轮廓术组合的相位步进错位干涉法的低相干干涉系统-CN201210517057.X无效
发明人： P·布雷恩;Y·瑞诺特;S·哈布雷肯;P·瓦鲁克斯 -专利权人：考克利尔维修工程;列日大学
申请日： 2012-12-05 - 公布日： 2013-06-12 - 主分类号： G01B9/02 文献下载
摘要：本发明涉及与3D轮廓术组合的相位步进错位干涉法的低相干干涉系统，提供了一种便携工业仪器，该便携工业仪器用来按集成和双路方式，对待测试的物体进行干涉条纹投影和错位干涉，从而，当双路干涉仪（1）与相干或准相干投影装置（2）相关联时，仪器能够通过干涉条纹投影，测量物体的3D形状，也称作波纹法，并且当双路干涉仪（1）与记录或成像装置（4）相关联时，仪器能够对物体进行错位干涉测量，当从一种测量配置移动到另一种时，在干涉仪
轮廓组合相位步进错位干涉相干系统

[实用新型]一种单双光子干涉装置-CN202123182795.7有效
发明人：李健亮 -专利权人：青岛鲲腾量子应用技术有限公司
申请日： 2021-12-16 - 公布日： 2022-06-07 - 主分类号： G09B23/22 文献下载
摘要：本实用新型属于量子通信技术领域，尤其涉及一种单双光子干涉装置，所述单双光子干涉装置包括沿光路传播方向布置的关联光子源模块、单双光子转换模块、光子干涉模块以及光子探测模块；所述关联光子源模块用于产生关联光子源；所述单双光子转换模块用于单光子干涉与双光子干涉的转换；所述光子干涉模块用于关联光子的干涉；所述光子探测模块用于接收来自所述光子干涉模块的关联光子，并进行符合测量计数。本实用新型通过设置单双光子转换模块，可以利用同一装置分别进行单双光子干涉实验，结构简单，易于实现，成本低。
一种光子干涉装置

[发明专利]相移及相倾可切换双模式干涉测量装置及其测量方法-CN201310548644.X在审
发明人：李建欣;刘成淼;郭仁慧;沈华;马骏;朱日宏;陈磊;何勇;高志山;王青 -专利权人：南京理工大学
申请日： 2013-11-07 - 公布日： 2015-05-20 - 主分类号： G01J9/02 文献下载
摘要：本发明提供相移及相倾可切换双模式干涉测量装置及方法，涉及光干涉计量测试领域，方法步骤为：首先，在干涉仪的参考镜处安装位移调整装置，可对参考镜进行平移或者倾斜调整。其次，干涉仪采用相移和相倾测试两种模式。在相移测试模式下，位移调整装置对参考镜位置进行等间隔平移调整，得到四幅相移干涉图，每一幅干涉图的相移量均为，干涉仪探测接收干涉图，并将其传入计算机，利用四步相移算法恢复待测件的被测相位；在相倾测试模式下，位移调整装置对参考镜进行推进以及倾斜调整，干涉仪探测接收大于6幅干涉图，并将其传入计算机，通过相倾干涉算法恢复待测件的被测相位本发明结构简单，可在振动测量环境下得到高精度的干涉测量信息。
相移相倾可切换双模干涉测量装置及其测量方法

[发明专利]Mirau型物镜及使用该物镜的Mirau白光干涉显微镜和测量系统-CN201310426690.2在审
发明人：徐长春;陶纯堪 -专利权人：徐长春
申请日： 2013-09-18 - 公布日： 2014-03-26 - 主分类号： G02B21/00 文献下载
摘要：一种Mirau型物镜及使用该物镜的Mirau白光干涉显微镜和测量系统，使用Mirau型物镜的白光干涉显微镜是一台光路不失调能长期稳定工作的干涉显微镜，并且实现数字化自动控制，实现了10x、20x以至50x本发明对第一干涉板上反射圆斑的位置、第一和第二干涉板厚度、第一和第二干涉板的位置及它们上表面的平行性作了限定，对第一和第二干涉板的沿光轴的距离也作了限定，使得本系统能准确快速调试出能提供质量优良干涉图的Mirau型物镜和以它为基础的Mirau白光干涉显微镜。从调试出干涉图的快速性，干涉图的色彩鲜明性和干涉图的对比度，不亚于国外同类仪器。
mirau 物镜使用白光干涉显微镜测量系统

[发明专利]一种球面镜本征双折射检测装置及其检测方法-CN202211228083.0在审
发明人：胡敬佩;曾爱军;黄惠杰 -专利权人：上海镭望光学科技有限公司
申请日： 2022-10-09 - 公布日： 2023-01-17 - 主分类号： G01M11/02 文献下载
摘要：本申请提供一种球面镜本征双折射检测装置及其检测方法；检测装置包括：菲索干涉仪、偏振片、第一旋转装置、第二旋转装置、球面标准镜和控制器；利用菲索干涉仪采集出射光在某一偏振方向的第一幅干涉图，然后旋转偏振片90°采集另一幅干涉图，将两幅干涉图作差，获得第一干涉图；旋转待测球面镜180°，并继续旋转偏振片90°采集第三幅干涉图，继续旋转偏振片90°采集第四幅干涉图，将两幅干涉图作差得到第二干涉图；最后将第二干涉图旋转180°与第一干涉图叠加可获得更准确的球面镜的本征双折射。
一种球面镜双折射检测装置及其方法

[发明专利]一种干涉网络扩展系统及方法-CN202311091029.0在审
发明人：安雪碧;赵远洋;丁士俊;李杨 -专利权人：合肥硅臻芯片技术有限公司
申请日： 2023-08-29 - 公布日： 2023-09-22 - 主分类号： H04B10/70 文献下载
摘要：本申请公开了一种干涉网络扩展系统及方法，干涉网络扩展系统包括M条主传输路径和N个扩展模块，M和N均为正整数且M³2，扩展模块阵列设置在主传输路径上；扩展模块包括M个MZ干涉仪、M个波导延时环路和一个干涉网络，MZ干涉仪用于调节输入光子的分束比，M个MZ干涉仪分别一一对应设置在M条主传输路径上。本申请实现了光子在MZ干涉仪和在干涉网络上的两种干涉过程，并且通过对干涉网络的分时复用，在功能上实现了更大规模的干涉和更加复杂的幺正，相当于扩展了干涉网络的输入和输出端口的数量；因此在同样的幺正编码需求下
一种干涉网络扩展系统方法

[发明专利]一种动态干涉仪同步移相干涉图的空间位置配准方法-CN201811589898.5有效
发明人：陈磊;杨影;丁煜;郑东晖;朱文华;韩志刚;郑权;孔璐;王冲;王云涛;杨光;吴志飞 -专利权人：南京理工大学
申请日： 2018-12-25 - 公布日： 2020-11-27 - 主分类号： G01J9/02 文献下载
摘要：本发明公开了一种动态干涉仪同步移相干涉图的空间位置配准方法。该方法为：首先倾斜动态干涉仪中的参考镜，在同步移相干涉图中引入线性载频，采集载频同步移相干涉图，并分割为四个子干涉图；然后使用傅里叶滤波法解算每个子干涉图中的相位信息，并对其分别消倾斜，得到每个子干涉图所包含的待测相位信息；接着选取其中一个子干涉图包含的相位信息作为基准相位信息，采用快速相位相关配准法确定其他子干涉图包含的相位信息与基准相位信息的空间位置匹配误差；最后根据相位信息的空间位置匹配误差，确定子干涉图间的位置配准关系本发明提高了动态干涉仪空间位置配准的自动化程度，空间位置配准的准确性和可靠性高，简单高效，适用范围广。
一种动态干涉仪同步相干空间位置方法