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[发明专利]一种用于生成全息干涉条纹的方法及系统-CN201110078768.7有效
发明人：谈学能;吴涛;苏昊 -专利权人：武汉思臻光信息科技有限公司
申请日： 2011-03-30 - 公布日： 2012-10-10 - 主分类号： G03H1/08 文献下载
摘要：本发明提供了一种用于生成全息干涉条纹的方法及系统，该方法包括：针对一数字图像，生成该数字图像的BMP灰度位图；根据该BMP灰度位图的每一像素的灰度值，确定该像素所对应的全息干涉条纹的角度和密度；以及根据每一像素所对应的全息干涉条纹的角度和密度以及不对称切面全息干涉条纹模式，生成所述数字图像的全息干涉条纹，其中，所述全息干涉条纹的密度位于0-700线/mm的范围内，所述不对称切面全息干涉条纹模式被配置为：全息干涉条纹由明至暗渐变、由暗至明突变，全息干涉条纹切面由高至低渐变通过在不对称切面全息干涉条纹模式下生成低密度的全息干涉条纹，由该全息干涉条纹所组成的全息图可具有理想的水晶白光效果。
一种用于生成全息干涉条纹方法系统

[发明专利]多级马赫－曾德尔干涉仪型光电路及其特性调整方法-CN03146788.1有效
发明人：泷口浩一;铃木扇太 -专利权人：日本电信电话株式会社
申请日： 2003-07-10 - 公布日： 2004-02-04 - 主分类号： G02B6/26 文献下载
摘要：本发明公开了一种包括任意数目的对称马赫－曾德尔干涉仪和任意数目的不对称马赫－曾德尔干涉仪串联而成的多级马赫－曾德尔干涉仪型光电路。在该光电路中，首先使用低相干光获得不受不对称马赫－曾德尔干涉仪影响的对称马赫－曾德尔干涉仪的单个相位控制条件。第二步，根据第一步的相位控制条件，通过控制对称马赫－曾德尔干涉仪获得单个不对称马赫－曾德尔干涉仪的相位控制条件。最后，根据对称马赫－曾德尔干涉仪和不对称马赫－曾德尔干涉仪的相位控制条件，通过控制所有干涉仪并将单个干涉仪的相位偏移量设置为适当的值，对整个多级马赫－曾德尔干涉仪型光电路进行特性调整。
多级马赫曾德尔干涉仪型电路及其特性调整方法

[发明专利]一种基于干涉图闭合环的InSAR解缠误差探测方法-CN201710239529.2有效
发明人：王霞迎;高雅萍;赵超英;刘媛媛 -专利权人：长安大学
申请日： 2017-04-13 - 公布日： 2019-10-11 - 主分类号： G01S13/90 文献下载
摘要：本发明公开了一种基于干涉图闭合环的InSAR解缠误差探测方法，获取研究区域的SLC影像，进行多视、滤波、干涉、去平、去除地形相位、解缠操作，获取解缠的InSAR差分干涉图；选择目标干涉对，探测能与目标干涉对组成闭合环的其他两个干涉对，得到多组干涉图闭合环，解算每组中三个干涉对的残差；对含有轨道误差的干涉对闭合环残差进行多项式拟合，并用最小二乘方法求解多项式参数，求解闭合环残差与多项式拟合结果的差值；取各组闭合差结果中绝对值小于0.5·2π弧度的像素，其他像素掩模掉，将保留的各个差值干涉对取并集；将并集结果与目标干涉对像素取交集，目标干涉对掩模掉的像素便是解缠误差存在的像素。
闭合环干涉像素干涉图残差多项式拟合误差探测求解并集掩模多项式参数轨道误差误差结果选择目标研究区域最小二乘闭合交集解算滤波去除探测影像并用地形保留

[发明专利]一种防止机器人碰撞的方法和装置-CN201811187970.1有效
发明人：蔡卫卫;段蕾 -专利权人：北京京东乾石科技有限公司
申请日： 2018-10-12 - 公布日： 2021-10-01 - 主分类号： B25J9/16 文献下载
摘要：该方法的一具体实施方式包括：通过路径规划生成从开始点到目标点的基准点集合，获取基准点集合的基准点对应的干涉区域标识；根据基准点对应的干涉区域标识，将基准点集合进行拆分，为拆分得到的多条子路由分别设置干涉区域标识；根据子路由的干涉区域标识锁定对应的干涉区域，在锁定成功后下发路由指令，以使机器人进入干涉区域；其中，干涉区域是根据目标区域中基准点的分布情况，对基准点进行划分得到的。该方法预先划分干涉区域，并为子路由设置干涉区域标识，以根据子路由的干涉区域标识锁定对应干涉区域，保证干涉区域内只能进入一辆机器人，避免了机器人发生碰撞。
一种防止机器人碰撞方法装置

[发明专利]一种解干涉及抗压的增亮膜及其制备方法-CN202111500100.7有效
发明人：丁利明;路健;季文静 -专利权人：常州华威新材料有限公司
申请日： 2021-12-09 - 公布日： 2023-10-03 - 主分类号： G02F1/13357 文献下载
摘要：本发明公开了一种解干涉及抗压的增亮膜，包括基材层、棱镜层，棱镜层上阵列有棱镜，棱镜上设有解干涉区、透光区，透光区沿长度方向呈上下波动，透光区的折射率为1.55，解干涉区沿棱镜的顶角棱的长度方向阵列排布，解干涉区呈弧形凹槽状，解干涉区中最高点与最低点的高度差H为2.5um～3.5um，解干涉区内填充有微粒子，微粒子的粒径为1um～2um。本发明中上下波动的透光区能够解决现有的棱镜易产生干涉的问题，填充有微粒子的解干涉区能够雾化膜面。解干涉区沿棱镜的顶角棱的长度方向阵列排布，满足工业上批量制造的技术要求。解干涉区呈弧形凹槽状，使得微粒子在解干涉区内均匀分布。本发明的解干涉区、透光区完全克服了现有技术的缺陷。
一种涉及抗压增亮膜及其制备方法

[发明专利]激光干涉仪非线性误差修正方法、装置及应用其的干涉仪-CN201010135331.8无效
发明人：高思田;施玉书;卢明臻;杜华 -专利权人：中国计量科学研究院
申请日： 2010-03-26 - 公布日： 2010-09-22 - 主分类号： G01B9/02 文献下载
摘要：本发明公开了一种单频激光干涉仪非线性误差修正方法、装置及应用其的干涉仪，本发明的方法是利用谐波分离修正法对所述干涉仪非线性误差进行修正，包括：步骤一，建立修正方程，以依据该修正方程，从干涉仪的两路干涉信号中获取干涉信号的相位角；步骤二，对干涉信号中的基波成分进行修正，获取初始相位角；步骤三，对所述干涉信号中的谐波成分进行修正，获取相位角的修正值；步骤四，依据所述初始相位角及所述相位角的修正值获取补偿修改后的精确相位角，并据此获取所述干涉仪测量镜位移以实现对干涉仪的非线性误差修正本发明可消除干涉信号中引起非线性误差的各种谐波成分，使单频激光干涉仪的非线性误差修正达到最优化。
激光干涉仪非线性误差修正方法装置应用

[发明专利]干涉相位比较法绝对距离测量系统-CN201010139183.7无效
发明人：江月松;李志栋;邓士光;王林春;辛遥;桑峰 -专利权人：北京航空航天大学
申请日： 2010-03-31 - 公布日： 2010-09-08 - 主分类号： G01C3/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种基于干涉相位比较法的高精度绝对距离测量系统，属于精密测量技术领域。该系统相当于传统频率扫描干涉法绝对距离测量系统的改进，由单个频率可调谐外腔激光器，三路光外差干涉仪，相位测量比较系统组成。使用单个频率可调谐外腔激光器进行激光频率扫描，激光频率扫描过程中采用三路光外差干涉仪同时得到参考干涉臂，测量干涉臂，标定干涉臂上的外差干涉信号，然后使用相位测量比较系统提取扫频过程中的标定干涉臂和测量干涉臂上的干涉相位漂移量，干涉相位漂移量和干涉臂的光程差成正比，因此可通过比较这两路干涉臂上的干涉相位漂移量测得绝对距离。该系统由于采用了三路光外差干涉仪和相位比较测量系统，和传统频率扫描绝对距离测量系统相比，无需测量空气折射率，该系统可以克服频率漂移，且避免了测量激光频率的扫描范围，因此无需使用法布里泊罗腔等频率标定器件
干涉相位比较法绝对距离测量系统

[发明专利]用于干涉仪绝对距离测量的相位噪声补偿-CN200680005923.X有效
发明人：马塞尔·罗纳;托马斯·延森 -专利权人：莱卡地球系统公开股份有限公司
申请日： 2006-02-09 - 公布日： 2008-02-20 - 主分类号： G01B9/02 文献下载
摘要：本发明涉及用于干涉仪绝对距离测量的相位噪声补偿。在向至少一个待测目标发射调频电磁射线并随后在外差混频下接收由目标散射回的射线的测距方法中，使射线平行经过干涉测量基准长度。此外，在接收时产生由目标散射回的射线的数字化第一干涉图和经过基准长度的射线的数字化第二干涉图。从第二干涉图的相位曲线数据中合成出虚拟干涉图或者虚拟干涉图的相位曲线，在这里，通过比较第一干涉图的相位曲线数据与虚拟干涉图的相位曲线数据来确定距离。
用于干涉仪绝对距离测量相位噪声补偿

[发明专利]一种干涉仪测量装置及其控制方法-CN201511031860.2在审
发明人：沈鑫 -专利权人：上海微电子装备有限公司
申请日： 2015-12-31 - 公布日： 2017-07-07 - 主分类号： G01B11/00 文献下载
摘要：本发明涉及一种干涉仪测量装置及其控制方法，该装置包括载物台、激光干涉仪以及安装于所述载物台上的测量镜，其特征在于，所述测量镜由多个平面镜沿水平方向拼接而成，所述激光干涉仪包括第一干涉仪和第二干涉仪，当所述载物台移动，使所述激光干涉仪发出的光对应入射至过渡区域时，所述第一干涉仪和所述第二干涉仪交替提供位置信息给所述载物台，所述过渡区域为所述第一干涉仪和所述第二干涉仪入射至不同的所述平面镜时经过的区域。本发明中，利用多个平面镜的拼接，同时配合两个干涉仪交替更新零位基准，来延展载物台在水平面上的测量行程。
一种干涉仪测量装置及其控制方法

[发明专利]一种基于激光检测的3D打印精度监测装置-CN201710939166.3在审
发明人：胡运平 -专利权人：安溪县贤彩茶叶机械有限公司
申请日： 2017-10-11 - 公布日： 2018-03-06 - 主分类号： G01M11/08 文献下载
摘要：本发明公开了一种基于激光检测的3D打印精度监测装置，包括成型室和激光干涉监测装置，所述成型室底部两端分别固定安装有成型缸和粉料缸，所述激光干涉监测装置设在成型缸正上方，且所述激光干涉监测装置固定安装在成型室顶部，通过设置激光干涉监测装置以及在试件固定基座外侧加设的干涉纹，而且干涉纹严格按照激光干涉规律分布，通过产生的激光束经过处理后形成相干的光源照射到试件上，在打印的过程中，工件始终处于干涉激光的照射下，任何偏离误差都会经过干涉现象放大体现在干涉纹上，通过干涉条纹的变化能够将极小的变化放大，可以达到纳米级的监测，大大提高了3D打印过程中的激光监测精度。
一种基于激光检测打印精度监测装置

[发明专利]一种基于同轴干涉的波面测量系统和方法-CN201910430146.2在审
发明人：贾伟;周常河;王津;项长铖;谢永芳;薄启宇 -专利权人：暨南大学
申请日： 2019-05-22 - 公布日： 2019-08-16 - 主分类号： G01B11/24 文献下载
摘要：本发明公开了一种基于同轴干涉的波面测量系统，包括：马赫曾德双光束干涉光路、同轴干涉记录单元、二维移动平台、激光干涉仪单元及数据处理单元；待测光学元件设置在所述马赫曾德双光束干涉光路中，所述马赫曾德双光束干涉光路用于产生两束马赫曾德干涉光路，一路作为参考光，另一路作为测量光，其中测量光经过待测光学元件，所述同轴干涉记录单元设置在二维移动平台上，用于将两束马赫曾德干涉光路合路成同轴干涉信号，并记录同轴干涉信号的光强信息，本发明测量波面的尺寸和精度不再受限于分束镜的大小和表面质量
同轴双光束干涉光路马赫曾德干涉光路二维移动平台干涉波面测量干涉信号光学元件记录单元测量光大尺寸光学元件数据处理单元激光干涉仪光强信息面形测量参考光测量波分束镜波面合路受限记录应用

[发明专利]基于卷积神经网络的单帧干涉图解调方法-CN202110881372.X在审
发明人：沈华;张鹏;卞殷旭;孙越;朱日宏 -专利权人：南京理工大学
申请日： 2021-08-02 - 公布日： 2021-11-19 - 主分类号： G06T9/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种基于卷积神经网络的单帧干涉图解调方法，具体步骤为：构造用于单帧干涉图相位解调的卷积神经网络(convolutional neural network，简称CNN)；结合实验干涉系统，建立干涉数据仿真模型，制作CNN训练所需的数据集，数据集中包括包裹相位、包裹级次和干涉图；以数据集中的干涉图作为CNN的输入，数据集中相应的包裹相位和包裹级次作为CNN的输出，对网络进行训练；将干涉仪采集的干涉图输入到训练完成的网络模型，网络输出包裹相位和包裹级次；对包裹相位和包裹级次求和，得到干涉图的绝对相位。本发明从单幅干涉图就可以高精度解算相位，并且不需要相位解包过程，具有较高的测量效率和测量精度，在干涉测量等领域具有广泛的应用前景。
基于卷积神经网络干涉图解方法

[发明专利]镀膜制品及其制作方法与应用-CN202310544126.4在审
发明人：张远华;罗云;胡炜;曾维利;张菊兰;李杰 -专利权人：富联裕展科技（深圳）有限公司
申请日： 2023-05-12 - 公布日： 2023-08-15 - 主分类号： C23C14/02 文献下载
摘要：本发明提供一种镀膜制品及其制作方法与应用，镀膜制品包括基体和于所述基体表面由內至外依次设置的打底层、颜色层、第一干涉层、第二干涉层和第三干涉层，所述打底层为Cr层，所述颜色层为CrSiCN层，所述第一干涉层为SiCrCN层，所述第二干涉层为CrC层，所述第三干涉层为SiC层。其中，Cr原子和Si原子在所述颜色层中的摩尔含量之和大于Cr原子和Si原子在所述第一干涉层中的摩尔含量之和。通过设置第一干涉层、第二干涉层和第三干涉层，在调整各干涉层的厚度和原子摩尔含量实现颜色调控的同时，还能够调整镀膜制品平面和曲面的色差，并且使得镀膜制品表面具有优异的光泽度、硬度、耐磨性和化学稳定性。
镀膜制品及其制作方法应用

[发明专利]抑制天光背景噪声的新型剪切干涉探测装置及其探测方法-CN202210996352.1在审
发明人：董磊;王斌 -专利权人：中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
申请日： 2022-08-19 - 公布日： 2022-11-04 - 主分类号： G01V8/10 文献下载
摘要：本发明提供一种抑制天光背景噪声的新型剪切干涉探测装置，包括：马赫曾德干涉仪、光学延迟装置、相位调制装置和剪切干涉机构；马赫曾德干涉仪使入射光分成两束并干涉；剪切干涉机构使马赫曾德干涉仪分光形成的两光束产生合适的剪切量，从而使目标光干涉而天光背景不干涉；光学延迟装置补偿两束剪切光之间的光程差，以实现宽光谱目标光的干涉；相位调制装置可使两束剪切光束形成的目标光干涉条纹产生周期性变化，从而将目标光能量调制到天光背景较弱的高频区域
抑制天光背景噪声新型剪切干涉探测装置及其方法

[发明专利]干涉条纹自动对焦与自动检测方法-CN200510137455.9有效
发明人：陈金亮;高清芬;张中柱 -专利权人：财团法人工业技术研究院
申请日： 2005-12-30 - 公布日： 2007-07-04 - 主分类号： G01N21/95 文献下载
摘要：一种干涉条纹自动对焦与自动检测方法，适用于光学干涉系统，包括：撷取多个干涉图像。每一该干涉图像是由多个像素所构成，每一上述这些像素有对应的像素强度。记录每一上述这些干涉图像的位置，清晰度与对比度。分析上述这些干涉图像的上述这些清晰度，获得与上述这些干涉图像位置相对应的清晰度分布曲线，以得出一最佳清晰度位置，作为该光学干涉系统的聚焦位置。分析上述这些干涉图像的上述这些对比度，获得对比度分布曲线。决定干涉扫描范围，其中该对比度分布曲线被独立分析，或是该对比度分布曲线与该清晰度分布曲线被混合分析，以决定该干涉扫描范围。
干涉条纹自动对焦自动检测方法