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[发明专利]一种透过无人机的通讯系统-CN201410429491.1有效
发明人：章成栋 -专利权人：空间数码系统公司
申请日： 2014-08-27 - 公布日： 2019-01-08 - 主分类号： H04B7/04 文献下载
摘要：本发明公开了一种透过无人机的通讯系统，其包括一组发射器段，一条具有多组并行传输通道之传递段，以及一组接收器段，其中，发射器段从某一发送源位置输入多组传输信号；该多组输入信号被转换为多个波前复用信号，该多个波前复用信号再经由调节器被转换为多个波前复用波形，该多个波前复用波形经由该传递段传输至接收器段。其中，该传递段包括多组并行传输通道以传输该多组波前复用波形，其中第一波前复用波形经由第一传输通道传输，以及第二波前复用波形经由第二传输通道传输，其中，在某一目的地之接收器段接收来自传输通道的该多组波前复用波形，并经由解调器将该多个波前复用波形分别转换为多个波前复用信号，再通过一组波前解复用转换器将该多个波前复用信号还原至应有的信号。
一种透过无人机通讯系统

[发明专利]波前标定方法和装置-CN201910692295.6有效
发明人：叶海水;牛亚军 -专利权人：华为技术有限公司
申请日： 2019-07-30 - 公布日： 2022-01-28 - 主分类号： G01M11/02 文献下载
摘要：本申请提供一种波前标定方法和装置，该方法应用于波前标定装置，该装置包括准直透镜、液体透镜、扩束系统和波前传感器，光源设置在准直透镜的一侧，液体透镜设置在准直透镜的另一侧，准直透镜用于将光源发出的光束变为平行光束；液体透镜设置在扩束系统的入瞳处，波前传感器设置在扩束系统的出瞳处，扩束系统用于将通过液体透镜的平行光的光斑放大，波前传感器用于测量放大光斑后的平行光的波前；该方法包括：通过波前传感器测量液体透镜在不同面形、且不同焦距下的波前；对液体透镜在不同面形、且不同焦距下的波前进行标定。本申请在测量液体透镜在不同面形、且不同焦距下的波前时，不仅可以简化波前的测量步骤，而且可以提高波前测量的准确性。
标定方法装置

[发明专利]四波前量子弱测量波前传感器及相关的波前复原方法-CN202210158162.2在审
发明人：杨木;郑逸;廖昱玮;许金时;李传锋 -专利权人：中国科学技术大学
申请日： 2022-02-21 - 公布日： 2022-05-13 - 主分类号： G01J9/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种四波前量子弱测量波前传感器及相关的波前复原方法，在传统的量子弱测量波前传感器基础上，引入分束器，通过一次探测即可以同时测得四束光光强分布，大大减少了测量时间，在此基础上，可以获得波前的水平与竖直斜率信息，进而实现实时波前传感，可其应用于光通讯、天文观测等需要对波前进行实时测量的场景中。
四波前量子测量传感器相关复原方法

[发明专利]一种用于皮下无创检测的激发光模组及激发方法-CN202110334481.X在审
发明人：不公告发明人 -专利权人：上海近观科技有限责任公司
申请日： 2021-03-29 - 公布日： 2022-10-04 - 主分类号： A61B5/145 文献下载
摘要：本发明提供一种用于皮下无创检测的激发光模组，包括沿光路设置的激光器、波前调节部件和聚焦部件，所述激光器用于发出激发光，所述激发光经皮下生物标志物的发射或折射后发出信号光；所述波前调节部件包括依次通信连接的波前传感器结构简单，利于尺寸小型化。成本低，改善了波前失真情况，实现高效的皮下特定位置的激发，也提高收集效率。本发明的激发方法因采用本发明的激发光模组而具有相应优势，有利于皮下无创检测技术的进一步推广应用。
一种用于皮下检测激发模组方法

[发明专利]基于数字微镜器件的曲率波前传感器-CN201210088207.X有效
发明人：王帅;杨平;许冰 -专利权人：中国科学院光电技术研究所
申请日： 2012-03-29 - 公布日： 2012-08-08 - 主分类号： G01J9/00 文献下载
摘要：本发明是一种基于数字微镜器件的曲率波前传感器，在透镜及其焦面位置之间放置数字微镜器件，利用数字微镜器件将经过透镜的待测光波分别向两个方向反射聚焦光波；两个光电探测器阵列分别位于数字微镜器件的两个方向上的两束反射聚焦光波上并分别探测两束反射聚焦光波不同位置点的远场光强分布图像，获得焦平面前后对称离焦面上的两幅有差异的远场光强分布图像；根据菲涅尔衍射理论和几何光学近似，得到两离焦面上对应点归一化的光强分布差与入射波前曲率以及光瞳边缘处波前的法向斜率之间的关系并利用泊松方程获取待侧光波的波前相位
基于数字器件曲率传感器

[发明专利]一种基于直接点扩散函数的气动退化图像复原系统-CN201610407848.5有效
发明人：马晓燠;饶长辉;鲜浩;魏凯;饶学军;杨金生 -专利权人：中国科学院光电技术研究所
申请日： 2016-06-08 - 公布日： 2018-11-09 - 主分类号： G01C25/00 文献下载
摘要：本发明提供了一种基于直接点扩散函数的气动退化图像复原系统，包括采集装置，用于获取受到气动激波层扰动的目标区域图像；测量装置，用于发射激光光束，得到聚焦在气动激波层外的远场聚焦光斑；接收远场聚焦光斑的散射光波经过气动激波层后产生的畸变波前；利用透镜成像的傅里叶变换性质对畸变波前直接进行成像，成像光斑经光电转换后，得到畸变波前对应的点扩散函数；复原装置，用于对目标区域图像与点扩散函数进行反卷积运算，得到目标区域的复原图像，上述系统通过透镜直接获取畸变波前的点扩散函数并通过图像反卷积的方法实现了退化图像的高效复原校正，整个系统复杂度较低，且小型化、成本较低而实用性较强。
一种基于接点扩散函数气动退化图像复原系统

[发明专利]一种制作阵列部分环带光子筛匀光器的方法-CN201210142241.0无效
发明人：贾佳;谢长青;刘明 -专利权人：中国科学院微电子研究所
申请日： 2009-09-16 - 公布日： 2012-09-19 - 主分类号： G02B27/09 文献下载
摘要：利用本发明，实现了对高斯光束和其它不均匀非平面波前光束的波前平顶化，实现光束的匀光，实现接近平面的波前光束。
一种制作阵列部分环带光子筛匀光器方法

[发明专利]空间三维流场实时测量系统-CN98112211.6无效
发明人：张雨东;姜凌涛;姜文汉 -专利权人：中国科学院光电技术研究所
申请日： 1998-08-26 - 公布日： 2000-03-01 - 主分类号： G01M10/00 文献下载
摘要：其特征是在不同投射角(θ≥0°)的测量子系统的激光均穿过被测流场,各二维哈特曼波前传感器输出的信号经数字化,输入处理机得出各子孔径波前倾斜分布信息,再送主计算机解算出三维波前层析位相分布,从而测出流场的三维分布
空间三维实时测量系统

[发明专利]一种基于时空域预测的波前缺失信息预测补全方法-CN202310260462.6在审
发明人：赵旺;赵孟孟;王帅;杨康建;杨平 -专利权人：中国科学院光电技术研究所
申请日： 2023-03-17 - 公布日： 2023-07-04 - 主分类号： G01J9/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种基于时空域预测的波前缺失信息预测补全方法，该方法基于波前信息在时域和空域上的关联性，利用神经网络建立了时空域融合波前信息预测机制，通过对波前时域和空域特征的提取，实现了对波前缺失信息的预测补全，从时间和空间两个维度上解决了部分子孔径缺光条件下波前传感器高精度波前探测的问题。本发明可实现在时空域有限采样下对当前/未来波前缺失信息的预测补全与高精度重建，有效降低了部分子孔径时空域信息随机缺失对波前传感器探测精度和鲁棒性的影响，提高了波前传感器对光束近场强度非均匀分布的适应能力，有望用于强湍流、强闪烁、长传输近距离、近场光强分布不均匀等情况下的高精度、高鲁棒性波前测量。
一种基于时空预测缺失信息方法

[发明专利]一种微孔衍射波前质量的测量装置与方法-CN201510264841.8有效
发明人：卢增雄;梅东滨;齐月静;孟庆宾;刘广义;齐威;苏佳妮;周翊;王宇 -专利权人：中国科学院光电研究院
申请日： 2015-05-22 - 公布日： 2017-06-20 - 主分类号： G01J1/00 文献下载
摘要：本发明是关于一种微孔衍射波前质量的测量装置与方法，是采用夏克‑哈特曼波前传感器法进行微孔衍射波前质量的测量。其通过高精度平面参考波前实现夏克‑哈特曼波前传感器的高精度标定，再根据高精度系统误差的标定结果进行微孔衍射波前形状的精确测量，将微孔衍射波前形状与最佳参考球比较便可求得微孔衍射波前的偏差，只需要在标定装置的基础上直接加入聚焦物镜和微孔，便可实现微孔衍射波前质量的测量，操作简便，引入的系统误差较小且容易实现系统误差的高精度标定。其中微孔板引入的球差可通过聚焦物镜进行补偿，并且通过调整夏克‑哈特曼波前传感器到微孔的距离便可实现不同数值孔径大小的衍射波前质量的快速高精度的测量。
一种微孔衍射质量测量装置方法

[发明专利]一种哈特曼波前传感器超分辨波前复原方法-CN201510038465.0有效
发明人：王帅;杨平;许冰;何星;刘文;董理治;傅筱莹;陈小君 -专利权人：中国科学院光电技术研究所
申请日： 2015-01-27 - 公布日： 2017-07-11 - 主分类号： G01J9/00 文献下载
摘要：一种哈特曼波前传感器超分辨波前复原方法，采用经典哈特曼波前传感器的光学结构，利用光电探测器阵列获取的光斑阵列图像作为光波远场频域信号，根据微透镜阵列的复振幅透过率函数，通过光学衍射公式和相位反演基本数理过程，在近场空域波前未知量与远场频域光斑阵列已知量之间迭代收敛，最终获得超微透镜分辨率的高精度波前测量结果。本发明以改造哈特曼波前传感器复原算法为手段，摆脱波前复原分辨率受限于微透镜阵列分辨率的限制，充分利用哈特曼波前传感器光斑阵列图像信息，将困扰光斑质心探测的光斑弥散信息加以利用，有效提升波前测量精度，降低对高密度微透镜阵列的需求和依赖，因而可应用于高精度波前探测、弱信号波前探测等领域。
一种哈特曼波前传感器分辨复原方法

[发明专利]一种提高波前测量和校正精度的装置及其使用方法-CN201810734410.7有效
发明人：薛峤;曾发;张晓璐;代万俊;田晓琳;梁樾;李森;宗兆玉;赵军普;邓武;张崑;龙蛟;张君 -专利权人：中国工程物理研究院激光聚变研究中心
申请日： 2018-07-06 - 公布日： 2019-12-27 - 主分类号： G01J9/00 文献下载
摘要：本发明涉及一种提高波前测量和校正精度的装置及其使用方法，属于激光系统光束质量控制技术领域，所述装置包括波前传感器、变形镜、控制器、缩束系统、分光镜和反射镜，待校正的入射激光束经分光镜后透射至变形镜，经变形镜反射回的入射激光束经分光镜后分为取样光束和输出光束，取样光束依次入射至反射镜、缩束系统和波前传感器，本发明通过改变缩束系统对取样光束的缩束比，调节入射到波前传感器上的取样光束口径，得到若干组不同口径取样光束的波前畸变，并分别利用变形镜进行波前校正得到若干组不同的波前校正电压，最后对波前畸变和波前校正电压取平均值，得到入射激光束的精准波前畸变和精准波前校正电压，校正结果精度高。
取样光束变形镜校正波前传感器入射激光束波前畸变缩束系统校正电压分光镜波前测量反射镜入射口径质量控制技术激光系统输出光束校正结果控制器透射反射

[发明专利]一种适用于非均匀光照明的哈特曼波前测量仪-CN201210072934.7有效
发明人：马晓燠;母杰;饶长辉;饶学军 -专利权人：中国科学院光电技术研究所
申请日： 2012-03-19 - 公布日： 2012-07-18 - 主分类号： G01J9/00 文献下载
摘要：一种适用于非均匀光照明的哈特曼波前测量仪，包括分光镜、光强分布测量仪、重构矩阵计算器、微透镜阵列、CCD相机、斜率计算器和波前重构器；光强分布测量仪首先测量出入射波前的光功率密度，重构矩阵计算器根据入射波前的光功率密度和所需复原像差的类型计算得到重构矩阵，斜率计算器根据CCD相机采集得到的光斑阵列计算得到被测波前的斜率向量，波前重构器根据斜率向量和重构矩阵计算得到被测波前。本发明改进了哈特曼波前传感器采用模式法波前复原过程中重构矩阵的计算方法，提高了当入射光强不均匀时，重构矩阵算法中波前斜率的计算精度，为高精度复原非均匀光照明条件下的入射波前提供了核心解决方案。
一种适用于均匀照明哈特曼波前测量仪

[发明专利]基于相位差法的自适应光学系统近场波前传感器标定装置及标定方法-CN201210341460.1无效
发明人：饶长辉;罗群;顾乃庭;鲍华 -专利权人：中国科学院光电技术研究所
申请日： 2012-09-14 - 公布日： 2013-01-23 - 主分类号： G01J9/00 文献下载
摘要：基于相位差法的自适应光学系统近场波前传感器标定装置及标定方法,装置由波前校正器、分光镜、近场波前传感器、波前控制器、成像系统和相位差波前传感器组成。所述方法利用相位差波前传感器测量全系统静态像差，并通过波前控制器控制波前校正器校正该静态像差；完成静态像差校正后，对位于瞳面位置的近场波前传感器的参考位置进行零点标定或对绝对像差进行零点设定，并以此作为该自适应光学系统的波前控制目标通过本发明实现全光路静态像差的有效校正，回避校正器非线性响应带来的波前控制误差，且没有明显增加系统复杂性和额外像差，对提高自适应光学系统校正能力效果明显。
基于相位差自适应光学系统近场传感器标定装置方法

[实用新型]一种微孔衍射波前质量的测量装置-CN201520337327.8有效
发明人：卢增雄;梅东滨;齐月静;孟庆宾;刘广义;齐威;苏佳妮;周翊;王宇 -专利权人：中国科学院光电研究院
申请日： 2015-05-22 - 公布日： 2015-11-18 - 主分类号： G01J1/00 文献下载
摘要：本实用新型是关于一种微孔衍射波前质量的测量装置，是采用夏克-哈特曼波前传感器法进行微孔衍射波前质量的测量。其通过高精度平面参考波前实现夏克-哈特曼波前传感器的高精度标定，再根据高精度系统误差的标定结果进行微孔衍射波前形状的精确测量，将微孔衍射波前形状与最佳参考球比较便可求得微孔衍射波前的偏差，只需要在标定装置的基础上直接加入聚焦物镜和微孔，便可实现微孔衍射波前质量的测量，操作简便，引入的系统误差较小且容易实现系统误差的高精度标定。其中微孔板引入的球差可通过聚焦物镜进行补偿，并且通过调整夏克-哈特曼波前传感器到微孔的距离便可实现不同数值孔径大小的衍射波前质量的快速高精度的测量。
一种微孔衍射质量测量装置

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