专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]一种基于多交通场景的车辆在环仿真测试系统及方法-CN202310888269.7有效
  • 高博;李宝江;邱毅;安宏伟 - 苏州智行众维智能科技有限公司
  • 2023-07-19 - 2023-09-15 - G06F30/20
  • 本发明公开了一种基于多交通场景的车辆在环仿真测试系统及方法,属于车辆领域,用于解决当前车辆测试没有将实操测试数据与仿真模拟数据进行良性结合的问题,包括仿真测试模块、道路分析模块、环境分析模块、车辆分析模块和测试比对模块,所述环境分析模块用于对测试道路所在地的环境情况进行分析,所述道路分析模块用于对测试车辆所在测试道路的道路情况进行分析,所述车辆分析模块用于对测试车辆的车辆情况进行分析所述仿真测试模块用于对测试车辆在指定行驶速度下进行仿真测试,所述测试比对模块用于将测试车辆的实际测试制动数据与仿真测试制动数据进行比对,本发明将实操测试数据与仿真模拟数据智能融合以提升车辆测试的准确性。
  • 一种基于交通场景车辆仿真测试系统方法
  • [发明专利]测试设备-CN201610847381.6在审
  • 朱永球;王研;罗彬;唐冲 - 惠州TCL移动通信有限公司
  • 2016-09-23 - 2017-03-15 - H04M1/24
  • 本发明提供一种测试设备,该设备包括控制模块、分析模块、测试模块以及固定模块;控制模块分别与分析模块、测试模块以及固定模块电连接,分析模块与测试模块电连接;其中,控制模块用于设置测试模块的测试流程并控制测试模块进行测试,且控制固定模块固定测试样品;分析模块用于对测试模块的测试数据进行分析,以得到分析结果;测试模块依据控制模块设置的测试流程对测试样品进行测试。本发明提供的测试设备由于设有控制模块,控制模块可以设置测试模块的测试流程并控制测试模块对测试样品进行研发阶段自动化测试,且模拟用户使用习惯和测试案例进行自动化循环测试,其测试结果有利于定量分析,并且节约人工成本
  • 测试设备
  • [发明专利]一种智能手机通信射频测试系统及测试方法-CN202310218878.1在审
  • 陈志红;覃鸿枫 - 深圳百沃彰世科技有限公司
  • 2023-03-09 - 2023-04-07 - H04M1/24
  • 本发明属于通信测试领域,涉及数据处理技术,用于解决现有技术中的智能手机通信射频测试系统及测试方法,无法对测试过程本身的规范性进行监测的问题,具体是一种智能手机通信射频测试系统及测试方法,包括射频测试平台,射频测试平台通信连接有测试分析模块、验证分析模块、数据整合模块以及存储模块,测试分析模块用于对智能手机进行通信射频测试分析,验证分析模块用于对智能手机进行通信射频验证分析;本发明是对智能手机进行通信射频测试分析,并通过射频测试的各项参数进行综合分析与计算得到测试系数,进而通过测试系数的数值大小对智能手机的射频测试结果进行标记,在射频测试结果异常时及时进行反馈。
  • 一种智能手机通信射频测试系统方法
  • [发明专利]一种测试结果分析方法及装置-CN201611235019.X有效
  • 陈慧;路敬原;金凡 - 中国银联股份有限公司
  • 2016-12-28 - 2019-08-13 - G06F11/36
  • 本发明提供了一种测试结果分析方法及装置,该测试结果分析方法包括:从不同的测试主机获取对应的软件测试结果;根据软件测试结果的维度对所述软件测试结果进行数据挖掘及形变,生成预定格式的测试结果;利用预先创建的分析策略池对所述预定格式的测试结果进行分析,生成分析结果,其中,所述分析策略池中包含多种不同的分析策略。利用本发明,可以实现软件测试结果的自动化分析,避免人工重复性操作,同时保证数据整理与分析的准确性;可以将软件测试实际结果与预期结果的差异化比较通过自动化方式实现。
  • 一种测试结果分析方法装置
  • [发明专利]一种PCB可测性快速标识方法-CN201110030157.5无效
  • 于治楼;杜光芹;翟西斌 - 浪潮电子信息产业股份有限公司
  • 2011-01-27 - 2011-08-10 - G06F17/50
  • 本发明公开了一种PCB可测性快速标识方法,属于EDA技术领域,对PCB上的NET属性增加可测试属性,可导出每个NET的可测试属性,通过外挂可测试分析控件,分析NET的可测试性,并生成分析报告和建议。可测试分析控件对NET的可测试性进行分析,计算总NET和可测量的NET,并得出总测试覆盖率;根据电源类,内存类,总线类,时钟类信号对NET进行分类,并得出各类线的测试覆盖率;生成可测试分析表,分析报告及建议;导出NET的可测试分析表和分析报告;导出NET的可测试分析表和分析报告。本发明实现了对ICT针床信号的可测性进行较为科学、准确的分析,有利于提高PCB焊接的质量,进一步提高了PCB设计效率。
  • 一种pcb可测性快速标识方法
  • [发明专利]一种测试结果统计分析方法及装置-CN201710735934.3在审
  • 郭朝兴 - 中国银行股份有限公司
  • 2017-08-24 - 2017-12-15 - G06F11/36
  • 本发明公开了一种测试结果统计分析方法及装置,该方法包括对获取到的测试结果表单中的数据进行处理,得到包括案例数、测试问题解决总时长、测试工作量、测试缺陷数和测试问题数的初步统计分析结果;建立统计分析计算模型,通过所述统计分析计算模型,对所述初步统计分析结果进行计算,得到包括测试率、测试问题平均解决时长、测试案例平均异常率、测试缺陷遗漏率和测试异常发现率的目标统计分析结果。进而实现了提高测试结果分析效率和分析准确性的目的。
  • 一种测试结果统计分析方法装置
  • [发明专利]一种事件顺序记录系统的测试分析方法-CN201110281982.2无效
  • 黄靖宁;沙威;王建军;赵毅;张应田;张长志;欧阳佳慧;郭晓明 - 天津市电力公司
  • 2011-09-22 - 2012-05-02 - G05B23/02
  • 本发明涉及一种事件顺序记录系统的测试分析方法,其主要技术特点是:1、构建测试分析平台;2、设置SOE信号发生器的触发间隔、触发顺序参数;3、开始进行SOE测试;4、在SOE测试分析终端上设置本次测试测试参数;5、将SOE记录点配置文件及测试时间段内的SOE历史数据导入至SOE测试分析终端上;6、SOE测试分析终端进行对比分析;7、若测试结果正确,则减小SOE信号发生器的触发间隔或改变触发顺序,重复步骤3;8、根据测试结果得出测试结论。本发明通过SOE测试分析终端对SOE系统产生的测试数据进行自动分析处理,使测试人员能够快速准确地得出测试结果,降低了测试工作量,提高了测试效率,为SOE系统的性能提供了高效、准确、方便的验证手段。
  • 一种事件顺序记录系统测试分析方法
  • [发明专利]一种基于脚本语言的接收机性能指标测试方法-CN201710269497.0在审
  • 王忻;周尚武;张楠 - 安徽戎智科技有限公司
  • 2017-04-24 - 2017-09-01 - H04B17/29
  • 本发明提供了一种基于脚本语言的接收机性能指标测试的方法,其过程是对虚拟仪器的测试库函数进行封装,得到硬件抽象层,供Lua测试分析脚本调用;根据接收机性能测试要求,设计相应的测试元模块,供测试分析脚本框架调用;利用Lua进行测试分析脚本的编写,形成测试分析脚本,构造脚本调用层;应用层软件根据特定测试需求,通过脚本框架调用测试分析脚本形成测试用例,完成对接收机性能的测试,并给出测试报告。本发明的优势在于应用层软件和具体的测试过程分离,由测试框架调用相应的测试分析脚本完成接收机性能测试,实现测试过程的自动化和测试结果分析的自动化。如果测试过程和分析过程发生变化,应用层软件不发生变化,只需更新脚本,增加测试设备灵活性。
  • 一种基于脚本语言接收机性能指标测试方法
  • [发明专利]一种测试质量的分析方法、装置及电子设备-CN202210446206.1在审
  • 常萧颖;王欣;苏畅;李佩刚;高建瓴 - 中国农业银行股份有限公司
  • 2022-04-26 - 2022-07-29 - G06F11/36
  • 本发明提供了一种测试质量的分析方法、装置及电子设备,获取测试质量分析指标集合,所述测试质量分析指标集合包括多个测试质量分析指标,确定目标测试案例运行完成后,所述目标测试案例对应的所述测试质量分析指标的指标值,调用预设数据处理模型,以使所述预设数据处理模型对所述测试质量分析指标的指标值进行分析,得到所述目标测试案例的测试质量分析结果。由于所述预设数据处理模型基于训练数据训练得到,所述训练数据包括测试质量分析指标的指标样本值以及所述指标样本值对应的质量标识,则使得预设数据处理模型的数据处理准确度较高,进而使用该预设数据处理模型进行测试质量分析方式时
  • 一种测试质量分析方法装置电子设备

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