专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]一种系统CPU分析方法和装置-CN201510906914.9有效
  • 王庆磊 - 北京神州泰岳软件股份有限公司
  • 2015-12-09 - 2020-04-03 - G06F11/34
  • 本发明公开了一种系统CPU分析方法和装置。所述方法包括:确定待测系统需要测试的相关CPU参数,以及每种CPU参数的分析规则;建立所述相关CPU参数的分析顺序;对所述待测系统在各类场景下的CPU性能测试数据,按照所述相关CPU参数的分析顺序和每种CPU参数的分析规则进行CPU分析,并生成CPU分析报告。本发明的技术方案能够准确分析待测系统CPU的性能情况,降低性能测试测试难度,提高性能测试分析的效率和性能测试的质量,有效地指导系统性能的评估、系统缺陷的定位与分析
  • 一种系统cpu分析方法装置
  • [发明专利]一种系统内存分析方法和装置-CN201510907321.4有效
  • 王庆磊 - 北京神州泰岳软件股份有限公司
  • 2015-12-09 - 2020-04-03 - G06F11/34
  • 本发明公开了一种系统内存分析方法和装置。所述方法包括:确定待测系统需要测试的相关内存参数,以及每种内存参数的分析规则;建立所述相关内存参数的分析顺序;对所述待测系统在各类场景下的内存性能测试数据,按照所述相关内存参数的分析顺序和每种内存参数的分析规则进行内存分析,并生成内存分析报告。本发明的技术方案能够准确分析待测系统内存的性能情况,降低性能测试测试难度,提高性能测试分析的效率和性能测试的质量,有效地指导系统性能的评估、系统缺陷的定位与分析
  • 一种系统内存分析方法装置
  • [发明专利]一种分布式测试系统及控制方法-CN202110815598.X在审
  • 李思维;霍岩 - 镁佳(北京)科技有限公司
  • 2021-07-19 - 2021-09-14 - G06F11/36
  • 本申请提供一种分布式测试系统及控制方法,该系统包括多个测试单元、主控服务器、消息中间件服务器和日志分析服务器;主控服务器通过消息中间件服务器向测试单元发送测试指令,以控制测试单元按照测试指令对终端设备上安装的待测软件进行测试,得到对应的中间测试结果及测试日志;测试单元通过中间件服务器将中间测试结果发送至主控服务器;日志分析服务器用于获取测试日志,并对测试日志进行分析,以生成对应的日志分析结果,并将日志分析结果发送至主控服务器;主控服务器根据接收的中间测试结果及日志分析结果,确定待测软件的最终测试结果。缩短了测试时长,提高了软件测试效率。
  • 一种分布式测试系统控制方法
  • [发明专利]田赛跳远违例检测系统-CN202210406352.1在审
  • 孟海丽 - 重庆工程职业技术学院
  • 2022-04-18 - 2022-07-22 - A63B71/06
  • 本发明涉及跳远检测技术领域,尤其是田赛跳远违例检测系统,包括影像获取模块、影像分析模块和评分模块;所述影像获取模块,用于获取跳远测试区域的影像;所述跳远测试区域包括起跳线,跳远测试区域根据起跳线划分有起跳区域和测试区域;所述影像分析模块,用于根据跳远测试区域的影像,分析起跳线位置数据、测试者的起跳点位置数据和测试者的落地点位置数据,并生成位置分析结果;还用于根据跳远测试区域的影像,分析所述测试者在起跳点的动作,并生成起跳动作分析结果;所述评分模块,用于根据位置分析结果和起跳动作分析结果,生成评分结果。
  • 田赛跳远违例检测系统
  • [发明专利]一种测试系统及方法-CN202211415143.X在审
  • 卞洁;杜超;孟海军;王逊;陈珂;杨扬 - 北京创源微致软件有限公司
  • 2022-11-11 - 2023-01-10 - G06F11/36
  • 本发明实施例公开了一种测试系统及方法。所述系统包括:测试预配置模块,测试用例获取模块,测试管理模块以及测试分析模块;所述测试预配置模块,用于对所有测试用例进行预配置处理;所述测试用例获取模块,用于基于测试任务从预配置处理后的所有测试用例中获取对应的至少一个测试用例;所述测试管理模块,用于监控和管理所述至少一个测试用例的执行;所述测试分析模块,用于对所述至少一个测试用例的执行情况进行分析和汇总。该系统通过各个模块配合使用以实现测试用例的自动测试测试数据的分析处理,避免了人工方式测试分析效率低下的问题,从而提高了测试的效率。
  • 一种测试系统方法
  • [发明专利]一种海量存储系统的可靠性测试系统及测试方法-CN201010620500.7无效
  • 潘清;张晓清;王霄军;庄泽南 - 中国人民解放军装备指挥技术学院
  • 2010-12-31 - 2011-06-15 - G11C29/10
  • 一种海量存储系统的可靠性测试系统及方法,包括数据采集单元和数据分析单元,数据采集单元包括静态测试模块、72小时可靠性测试模块、恢复时间测试模块、BER测试模块、MTBF参考数据采集模块;所述数据分析模块包括静态测试评估模块、72小时可靠性测试结果分析模块、马尔科夫分析模块、蒙特卡罗分析模块、MTTDL分析模块;通过上述数据采集和数据分析,从静态测试、72小时可靠性测试和基于故障注入的可靠性测试等方面综合测试,采用马尔科夫模型、蒙特卡罗模型、磁盘阵列MTTDL来进行分析,得到反映被测系统的各项性能指标,解决了现有技术中的可靠性评价系统不能综合反映出海量存储系统的可靠性的技术问题。特别适用于海量存储系统的可靠性测试
  • 一种海量存储系统可靠性测试系统方法
  • [发明专利]自动测试系统及其测试方法-CN201610021803.4有效
  • 李生 - 昆山鑫润利自动化科技有限公司
  • 2016-01-14 - 2018-12-18 - G06F11/22
  • 本发明为一种自动测试系统,包括测试治具、与测试治具通过导线连通的网络分析仪、以及与网络分析仪连通的且装载有测试管理程序的数据处理机;测试管理程序包括测试治具IP分配单元、与测试治具IP分配单元配合使用的测试治具IP校验单元、测试功能设置单元、测试数据储存单元、判定结果数据设置单元、测试结果判定单元、以及循环测试设置单元。本发明的一种自动测试系统及其测试方法,通过设置网络分析仪,其用于分析装夹于测试治具上的天线产品的电压驻波比;通过设置测试数据储存单元,其用于储存网络分析仪的测试结果数据;通过设置测试结果判定单元,其用于与判定结果数据设置单元配合完成判定网络分析仪所测试得出的测试数据是否合格
  • 自动测试系统及其方法
  • [发明专利]植物品种DUS测试一键式数据分析方法及系统-CN202210814224.0在审
  • 杨坤;付深造;任君 - 中国农业科学院蔬菜花卉研究所
  • 2022-07-12 - 2022-10-11 - G01N33/00
  • 本发明公开一种植物品种DUS测试一键式数据分析方法及系统,属于植物新品种测试领域,所述方法包括:根据DUS测试指南获取植物品种测试相关试验的原始数据,生成试验数据的测试指南表,对原始数据进行异常值检验,修正异常值;基于修正后的原始数据进行一致性分析,排除不一致品种;基于排除后的原始数据进行、稳定性分析,排除不稳定品种和性状,然后进行品种描述确认和特异性分析,生成测试报告。本发明提出了异常值检验、一致性分析、稳定性分析、品种描述和特异性分析的五步分析流程,实现批量分析、循环分析、精准分析,该流程可分分步进行以不断优化测试指南表的参数设置,在测试指南表优化成熟后可以实现一键式分析
  • 植物品种dus测试一键式数据分析方法系统
  • [发明专利]光路测试方法、装置、设备及存储介质-CN202211277648.4有效
  • 蔡俊;陈雄颖;罗丁元;魏伯凡;李卫卫;梁钢兴;邓林波;闫佐辉 - 高勘(广州)技术有限公司
  • 2022-10-19 - 2023-01-31 - H04B10/079
  • 本发明涉及光路测试领域,公开了一种光路测试方法、装置、设备及存储介质,该方法包括:激发光源模块,并使光源模块输出光信号;将光谱分析仪与第一测试点连接,并在光谱分析仪输出光源功能分析结果后,将光源模块和发射链路模块导通;将光谱分析仪与第二测试点连接,通过光谱分析仪采集并分析第二测试点输出的光信号得到发射链路功能分析结果;将光谱分析仪与第三测试点连接,通过光谱分析仪采集分析第三测试点输出的光信号得到反射链路功能分析结果;基于光源功能分析结果、发射链路功能分析结果和反射链路功能分析结果调试光路系统。通过本方法能够提前介入光路测试,加快定位故障点,减少故障排查时间和其它光器件的影响,有效保护光路。
  • 测试方法装置设备存储介质
  • [发明专利]一种测试用例生成方法、装置、设备及存储介质-CN202211318488.3在审
  • 梁珺凯 - 中国农业银行股份有限公司
  • 2022-10-26 - 2023-01-06 - G06F11/36
  • 本发明公开了一种测试用例生成方法、装置、设备及存储介质。该方法包括:获取测试需求文档;根据所述测试需求文档结合预确定的初始代码分析文档确定目标代码分析文档,所述目标代码分析文档至少包括至少一个判断条件、每个判断条件对应的先决条件、判断依据、判断结果以及节点;根据所述目标代码分析文档生成测试用例,解决了测试用例无法完全覆盖代码逻辑的问题,通过生成包含判断条件、每个判断条件对应的先决条件、判断依据、判断结果以及节点的目标代码分析文档,对代码逻辑进行全覆盖分析,贴近代码逻辑,并且通过目标代码分析文档可以自动生成测试用例,节省测试人员编写测试用例的时间,可快速生成测试用例,避免测试点遗漏。
  • 一种测试生成方法装置设备存储介质
  • [发明专利]芯片测试系统及芯片测试方法-CN201310574106.8有效
  • 张大成;施瑾;刘远华;顾春华;郝丹丹 - 上海华岭集成电路技术股份有限公司
  • 2013-11-15 - 2014-02-12 - G01R31/28
  • 本发明提供了一种芯片测试系统及芯片测试方法,其中,所述芯片测试系统包括:测试机、晶振及信号分析系统,所述测试机及晶振均与所述信号分析系统连接;所述测试机用以提供测试信号;所述晶振用以提供时钟信号;所述信号分析系统用以获取测试机输出测试信号的信号输出时间;其中,所述测试机根据信号输出时间输出测试信号。在此,通过信号分析系统获取测试机输出测试信号的信号输出时间,测试机据此输出测试信号,由此测试机便能够选择输出测试信号的时刻,进而实现与时钟信号同步,从而得到可靠/准确的芯片测试结果。
  • 芯片测试系统方法

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