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[发明专利]测试数据的处理方法和装置-CN201611226987.4在审
发明人：李守军;周风 -专利权人：张家港康得新光电材料有限公司
申请日： 2016-12-27 - 公布日： 2018-07-03 - 主分类号： G06F11/36 文献下载
摘要：本发明公开了一种测试数据的处理方法和装置。其中，该测试数据的处理方法包括：获取测试品的至少一个测试数据和与测试数据对应的合格品的预设条件；通过预设处理系统将任意一个测试数据与合格品的预设条件进行比较，得到任意一个测试数据的比较结果，其中，比较结果用于表征测试品的任意一个测试数据与合格品的预设条件是否匹配；根据任意一个测试数据的比较结果，按照预设规则输出显示任意一个测试数据。本发明解决了现有的测试数据通过人工方式进行比对，当数据量较大时，处理时间长且处理效率低的技术问题。
测试数据合格品预设条件方法和装置测试数据对应表征测试处理系统处理效率人工方式输出显示预设规则测试品数据量比对预设匹配

[发明专利]一种测试结果分析系统-CN201410855563.9有效
发明人：陈琳;张剑;张顺;胡颖平;高喜春;韩俊波;徐敏;王一凡;赵景新;马快艇;孙健;封心尚 -专利权人：展讯通信（上海）有限公司
申请日： 2014-12-26 - 公布日： 2019-03-26 - 主分类号： G06F11/36 文献下载
摘要：本发明公开了一种测试结果分析系统，属于自动测试技术领域；系统包括：数据接收单元，用于接收移动终端回传的测试数据；测试轨迹管理单元，连接数据接收单元，用于根据位置数据形成每个移动终端执行每个测试任务时的测试路线，并在每条测试路线上标记测试数据以形成相应的测试轨迹；测试数据比较单元，连接数据接收单元，用于以测试数据中包括的测试环境数据为比较依据，对相同的测试任务下对应的测试数据进行比较，并输出相应的比较结果；显示管理单元，分别连接测试轨迹管理单元和测试数据比较单元，用于向使用者显示测试轨迹以及比较结果。上述技术方案的有益效果是：扩展测试范围，提升测试结果分析的智能化程度；提升测试效率。
一种测试结果分析系统

[发明专利]串行传输芯片及SERDES电路测试方法-CN201810304171.1有效
发明人：张进;吕平;刘勤让;沈剑良;宋克;朱珂;王永胜;李沛杰;张波;王锐;何浩;李杨;肖峰;毛英杰;赵玉林;虎艳宾;张霞;杜延康 -专利权人：天津芯海创科技有限公司;天津市滨海新区信息技术创新中心
申请日： 2018-04-04 - 公布日： 2021-04-27 - 主分类号： H04L12/26 文献下载
摘要：本发明提供了一种串行传输芯片及SERDES电路测试方法，所述串行传输芯片中，测试数据生成模块向SERDES电路发送第一测试数据；比较数据生成模块在接收到SERDES电路发送的指示信号时，向错误数据注入模块发送第二测试数据；错误数据注入模块根据错误注入控制信号向数据比较模块的第一输入端发送第二测试数据，或者，发送在对第二测试数据按照预设方式注入错误信息后得到的第三测试数据；数据比较模块用于接收SERDES电路的输出数据，将输出数据分别与第二测试数据和第三测试数据比较，得到测试结果，达到对测试过程注入可控的错误信息，分别在错误信息注入前和错误信息注入后校验并确定测试结果，提高故障芯片的检出率。
串行传输芯片 serdes 电路测试方法

[发明专利]一种测试方法及装置-CN201711352968.0有效
发明人：檀华丽 -专利权人：北京京存技术有限公司;北京京存技术有限公司合肥分公司
申请日： 2017-12-15 - 公布日： 2020-09-08 - 主分类号： G11C29/56 文献下载
摘要：本发明实施例提供了一种测试方法及装置，该方法包括：当向第一存储设备写入测试数据时，将与测试数据对应的备份数据设置在第二存储设备，其中，备份数据是通过对测试数据进行映射转换后得到，备份数据占用的存储空间小于测试数据占用的存储空间；从第二存储设备中读取备份数据，并对读取的备份数据进行映射转换，得到目标比较数据；从第一存储设备读取测试数据后；对读取的测试数据和目标比较数据进行比较测试；依据比较测试的结果，确定第一存储设备的测试结果本发明实施例中，将占用存储空间较小的备份数据设置在第二存储设备，相对于现有技术将完整的测试数据存储在第二设备而言，可有效减少对第二存储设备的空间占用。
一种测试方法装置

[发明专利]一种芯片内通信模块的测试系统、方法、设备及存储介质-CN202211143334.5在审
发明人：张贞雷;李拓;邹晓峰;满宏涛;刘同强;周玉龙;王贤坤 -专利权人：苏州浪潮智能科技有限公司
申请日： 2022-09-20 - 公布日： 2022-10-25 - 主分类号： H04L43/0823 文献下载
摘要：本发明设计计算机芯片设计领域，具体涉及一种芯片内通信模块的测试系统，包括自检测模块、测试数据连接模块，其中：所述自检测模块配置用于向所述测试数据连接模块发送第一测试数据并接收所述测试数据连接模块发送的第二测试数据，基于所述第一测试数据和第二测试数据的对比验证所述测试模块的功能；所述测试数据连接模块配置用接收所述自检测模块的第一测试数据并将所述第一测试数据转发到所述测试模块，并将所述测试模块发出的第二测试数据发送到所述自检测模块利用校验比较模块，比较收发数据是否一致，供驱动进行对测试模块的基本状态进行判断，大大提高了网络功能的调试速度。
一种芯片通信模块测试系统方法设备存储介质

[发明专利]一种TDS的有效性测试方法、装置、电子设备及存储介质-CN202211036625.4有效
发明人：陈云飞;刘勤学;杨爱军;杨平;何玉元 -专利权人：联宝（合肥）电子科技有限公司
申请日： 2022-08-29 - 公布日： 2022-11-08 - 主分类号： H04L9/06 文献下载
摘要：本公开提供了一种TDS的有效性测试方法、装置、电子设备及存储介质，其特征在于，应用于测试机，所述方法包括：启动并获取第一测试数据；关机；重启并加载可信设备设置TDS；通过所述TDS获取所述第一测试数据和第二测试数据；所述第二测试数据是对所述第一测试数据执行测试用例后更新的第一测试数据；通过所述TDS比较所述第一测试数据和所述第二测试数据确定入侵结果；比较所述入侵结果和所述测试用例对应的预期结果，若二者一致则确定所述
一种 tds 有效性测试方法装置电子设备存储介质

[发明专利]测试装置及折叠探针卡测试系统-CN201810377251.X有效
发明人：周敏忠 -专利权人：晶豪科技股份有限公司
申请日： 2018-04-25 - 公布日： 2022-03-25 - 主分类号： G01R1/073 文献下载
摘要：本发明公开一种测试装置，具有第一输出/输入、第二输出/输入、第一比较器、第二比较器、数据组合模块、第一数据输出电路及第二数据输出电路。第一比较器及第二比较器分别接收第一测试数据及第二测试数据。电性连接至第一比较器及第二比较器的数据组合模块接收第一比较器的经比较的第一测试数据和第二比较器的经比较的第二测试数据，且进一步接收指令码。第一数据输出电路和第二数据输出电路分别连接到第一输出/输入及第二输出/输入，且进一步电性连接至数据组合模块。
测试装置折叠探针系统

[发明专利]触控装置及其驱动方法-CN201910268340.5有效
发明人：黄韦舜;杨佳峰 -专利权人：友达光电股份有限公司
申请日： 2019-04-03 - 公布日： 2022-05-13 - 主分类号： G06F3/041 文献下载
摘要：处理器用以对触控面板执行多次均匀性测试以获得多个测试数据，其中测试数据具有对应于触控区域的多个测试数值；依据比较测试数据中的测试数值与预设值以判断测试数据为离群测试数据或集群测试数据；当测试数据中的多个连续测试数据皆为集群测试数据时，经由演算法对连续测试数据进行运算以获得补偿测试数据。
装置及其驱动方法

[发明专利]差动信号传输电路-CN201210330354.3有效
发明人：萧乔蔚;林佳欣 -专利权人：联咏科技股份有限公司
申请日： 2012-09-07 - 公布日： 2014-03-26 - 主分类号： H04L25/02 文献下载
摘要：本发明提供一种差动信号传输电路，包括一图形发生器、一低电压差动信号传送器、一最小化传输差动信号接收器及一比较器。图形发生器产生多个测试数据。低电压差动信号传送器耦接图形发生器以接收这些测试数据，并且依据这些测试数据产生一测试输出信号。最小化传输差动信号接收器接收一测试输入信号并输出多个解码数据。比较器耦接最小化传输差动信号接收器以接收这些解码数据，且耦接图形发生器以接收这些测试数据。比较器比较这些解码数据与这些测试数据，以输出最小化传输差动信号接收器的一测试结果。
差动信号传输电路

[发明专利]一种无线终端射频性能的测试系统及测试方法-CN201010198105.4无效
发明人：张红云 -专利权人：北京天碁科技有限公司
申请日： 2010-06-03 - 公布日： 2010-10-06 - 主分类号： H04B17/00 文献下载
摘要：本发明提供一种无线终端射频性能的测试系统及测试方法。测试系统包括：通过通信控制线连接的控制主机和测试仪器，控制主机通过信号传输线连接到无线终端，测试仪器通过射频电缆线连接到无线终端；在进行接收机测试时，控制主机发送测试数据及发射参数到测试仪器，测试仪器按照所述发射参数将所述测试数据发送到无线终端，无线终端将接收到的测试数据发送到控制主机，控制主机将发送的测试数据与接收的测试数据进行比较得到误比特率，或者，无线终端将接收到的测试数据通过数据环回的方式发送到测试仪器，测试仪器将发送的测试数据与接收的测试数据进行比较得到误比特率本发明能够提高测试效率，降低测试成本。
一种无线终端射频性能测试系统方法

[发明专利]错误检测和校正-CN202011034907.1在审
发明人： R·戈梅兹·戈梅兹;S·克勒克 -专利权人：意法半导体有限公司
申请日： 2020-09-27 - 公布日： 2021-03-30 - 主分类号： G06F11/07 文献下载
摘要：一种方法测试至少三个设备，每个设备都包括测试链，测试链具有存储测试数据的多个位置。测试包括：比较在设备中的每个设备的测试链的最后一个位置中的测试数据，以及使在设备中的每个设备的测试链中的测试数据移位，并且将比较的结果存储在设备中的每个设备的测试链的第一位置中。比较以及移位和存储被重复，直到所有存储的测试数据都已经被比较为止。至少三个设备可以具有相同的功能性和相同的结构。
错误检测校正

[实用新型]SAR模数转换器测试系统-CN201620483768.3有效
发明人：何天长 -专利权人：成都锐成芯微科技有限责任公司
申请日： 2016-05-25 - 公布日： 2016-11-30 - 主分类号： H03M1/10 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种SAR模数转换器测试系统，包括输入端、与输入端相连的SAR模数转换器、线性反馈移位寄存器、与SAR模数转换器及线性反馈移位寄存器相连的数字比较器、测试数据码输出端、误差数据输入端及测试结果输出端，所述线性反馈移位寄存器产生测试码，所述SAR模数转换器对测试码进行转换后，产生测试数据码至测试数据码输出端及数字比较器，所述数字比较器对测试数据码与线性反馈移位寄存器产生的理想测试码进行比较，判断比较结果是否在误差数据输入端输入的误差范围之内，所述测试结果输出端根据判断结果指示测试结果。本实用新型量产测试快捷、测试结果可靠性高且测试成本降低。
sar 转换器测试系统

[发明专利]LED显示屏接收卡测试方法、装置、测试卡及存储介质-CN202310484136.3在审
发明人：欧阳其平;薛群峰 -专利权人：深圳市灰度科技有限公司
申请日： 2023-04-28 - 公布日： 2023-07-14 - 主分类号： H04B17/15 文献下载
摘要：本发明实施例公开了一种LED显示屏接收卡测试方法、装置、测试卡及存储介质。该方法包括：通过测试卡的第一网口向待测试接收卡的第二网口发送第一测试数据，并通过测试卡的第三网口接收待测试接收卡的第四网口基于第一测试数据传回的第一目标数据；通过第三网口向第四网口发送第二测试数据，并通过第一网口接收第二网口基于第二测试数据传回的第二目标数据；将第一测试数据与第一目标数据进行比较，以及将第二测试数据与第二目标数据进行比较，以根据比较结果判断待测试接收卡的网口数据收发是否正常。本发明实施例所提供的技术方案，简化了测试流程，提高了测试效率，同时解决了传统方案中无法测试接收卡发送数据的问题，提高了测试覆盖率。
led 显示屏接收测试方法装置存储介质

[发明专利]一种DFDAU的测试平台和测试方法-CN201310191379.4有效
发明人：柴维玺;钟德超;吴学良;李唐;李启翔;欧阳成丽;毕文静;李元宾 -专利权人：中国国际航空股份有限公司
申请日： 2013-05-22 - 公布日： 2017-12-01 - 主分类号： G05B23/02 文献下载
摘要：本发明涉及一种数字式飞行数据获取组件的测试平台和测试方法。航空器DFDAU的测试平台，包括输入接口，其接收测试数据；仿真信号发生模块，其根据所述测试数据，产生仿真信号；接线扩展设备，其用来形成可选通的接线装置，其中所述仿真信号通过所述接线扩展装置接入待测试DFDAU中；以及比较模块，其比较来自所述待测试DFDAU基于所述仿真信号的测试数据与输入至所述输入接口的测试数据。
一种 dfdau 测试平台方法

[发明专利]具有内建自测功能的存储模块和存储部件-CN01818984.9有效
发明人：约翰·哈尔伯特;兰迪·搏内拉 -专利权人：英特尔公司
申请日： 2001-09-14 - 公布日： 2004-02-11 - 主分类号： G11C29/00 文献下载
摘要：提供控制器以向存储器阵列传输存储器阵列测试数据，以便储存存储器阵列测试数据，并从存储器阵列读取存储器阵列测试数据。还提供比较寄存器以便将传输到存储器阵列的存储器阵列测试数据与从存储器阵列读取的存储器阵列测试数据相比较。
具有自测功能存储模块部件

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