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[发明专利]一种基于深度学习的多模态扩散光学层析成像重建方法-CN202110258626.2在审
发明人：冯金超;张万龙;贾克斌;孙中华;李哲 -专利权人：北京工业大学
申请日： 2021-03-09 - 公布日： 2021-07-02 - 主分类号： G06T11/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种基于深度学习的多模态扩散光学层析成像重建方法，属于医学图像处理领域，要解决的技术问题是如何将光学信号与核磁共振成像进行融合实现端到端的光学特征参数直接重建，为解决上述技术问题，本发明分析并构建Z‑Net神经网络将光学信号与核磁共振图像同时作为网络输入，通过网络训练直接建立光学信号与光学特性参数之间的非线性关系，实现光学信号到光学特性参数的端到端重建，设计仿真实验模拟肿瘤情况，在训练过程中选择合适的网络参数，并测试模型性能，最后展示了本发明对DOT重建的表现，证明本发明可应用于扩散光学层析成像重建工作。
一种基于深度学习多模态扩散光学层析成像重建方法

[发明专利]一种基于光学矢量模式化的非直观成像方法-CN201310006327.5有效
发明人：刘学峰 -专利权人：刘学峰
申请日： 2013-01-08 - 公布日： 2013-12-25 - 主分类号： G01N21/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种基于光学矢量模式化的非直观成像方法，包括：根据预设的光学矢量模式化的物理模型，确定变量及实现所述变量变化而建立的测量光学矢量参数的光学系统；通过所述光学系统执行预设的变量的变化，并记录所述光学系统中所述变量对应的光强值以及该光强值的面阵坐标；根据所述物理模型，对测量获得的变量及对应的光强进行曲线的拟合；根据拟合后的曲线，获得对应的光学矢量参数值，并根据所述光学矢量参数值及对应的坐标，生成非直观图像。本发明通过光学的矢量参数的测量生成非直观图像，有效提高了显微成像解析度以及实现了物质结构成像。
一种基于光学矢量模式直观成像方法

[发明专利]组装光学腔的方法、光学腔以及光学气体吸收池-CN201811643008.4在审
发明人：唐峰;李建国;吕启深;汪献忠;刘顺桂 -专利权人：深圳供电局有限公司;河南省日立信股份有限公司
申请日： 2018-12-29 - 公布日： 2019-05-03 - 主分类号： G01N21/03 文献下载
摘要：本发明涉及一种组装光学腔的方法、光学腔以及光学气体吸收池。一种组装光学腔的方法，所述方法包括：提供支撑柱、调整件、两块反射镜和两块固定板；利用所述支撑柱将所述两块固定板相对平行固定；利用所述调整件将所述反射镜可调整地安装在所述固定板上；通过所述调整件使得所述反射镜之间的相对参数为预设参数；以及将所述反射镜固定在所述固定板上，以形成所述光学腔；其中，所述预设参数根据所述光学气体吸收池的光路需求而设定。上述组装光学腔的方法、光学腔以及光学气体吸收池，通过预先组装好已调整至预设参数并固定的光学腔，再将光学腔与气体腔装配成光学气体吸收池，使得光学气体吸收池光路的调整更加简单易操作。
光学腔光学气体吸收池反射镜固定板预设参数调整件组装支撑柱光路平行固定预先组装固定的可调整气体腔装配

[发明专利]一种用于制备光学薄膜的方法-CN201510292686.0有效
发明人：郭春;李斌成;孔明东 -专利权人：中国科学院光电技术研究所
申请日： 2015-06-01 - 公布日： 2017-08-08 - 主分类号： G02B27/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种用于制备高性能光学薄膜的方法，首先，按照光学薄膜性能需要，设计初始膜系，并采用物理气相沉积技术制备光学薄膜；使用分光光度计或者椭偏仪对光学薄膜性能进行表征；建立光学薄膜结构模型，实现膜料特征参数与光学薄膜性能关联；对光学薄膜实测特性数据进行反演，通过多参数拟合确定膜料特征参数，同时获取物理气相沉积技术制备光学薄膜过程中膜料物理厚度控制的系统误差和延迟误差校正因子；依据获得的膜料特征参数，按照光学薄膜性能要求，重新优化光学薄膜膜系设计，结合膜料物理厚度控制误差修正，采用物理气相沉积技术制备高性能光学薄膜。本发明能全面优化光学薄膜设计，提高膜料物理厚度控制精度，适用于各种高性能光学薄膜制备。
一种用于制备性能光学薄膜方法

[发明专利]微纳光学元件光学参数测量方法与装置-CN201010103186.5无效
发明人：李建龙;董春美 -专利权人：四川大学
申请日： 2010-02-01 - 公布日： 2010-08-04 - 主分类号： G01M11/02 文献下载
摘要：本发明公开了一种微纳光学元件光学参数测量方法与装置，测量方法为：测量光源发出的单色光通过偏振片调制后入射到待测光学元件表面上，光敏探测接收器同时探测接收光学元件反射和透射的光信息，将探测接收的光学信息传输给I/D转换器转化为数字信息，输入到计算机借助优化算法将光学元件的光学参数优化，实现对微纳光学元件光学参数的高精度测量。测量装置主要包括测量光源，将光源发出的单色光予以调制的偏振片，安放待测光学元件的安放器和比较探测器，其中比较探测器又由光敏探测接收器，将光信息转化为数字信息的I/D转换器和计算机组成。本发明能够克服微纳光学元件本身制造误差对测量结果的影响，实现对微纳光学元件光学参数高精度测量。
光学元件参数测量方法装置

[发明专利]一种超精密加工光学微透镜阵列成像性能分析方法和系统-CN202011057098.6在审
发明人：王素娟;张正;缪国群;孙占文 -专利权人：广东工业大学
申请日： 2020-09-30 - 公布日： 2021-01-08 - 主分类号： G01M11/02 文献下载
摘要：本发明涉及一种超精密加工光学微透镜阵列成像性能分析方法及系统。该方法包括：测试微透镜阵列的焦斑、焦距、光学传递函数值和畸变量四种参数；根据各参数对微透镜阵列光学成像性能进行分析。本发明是基于微透镜阵列产品进行光学性能参数测试和分析产品的光学性能，可直接得到微透镜阵列实际的光学性能并作对应分析，更加贴合实际微透镜阵列加工产品带来的光学性能影响。
一种精密加工光学透镜阵列成像性能分析方法系统

[发明专利]用于优化半成品光学镜片的几何参数的方法-CN202310327070.7在审
发明人： P·贝彻 -专利权人：依视路国际公司
申请日： 2023-03-30 - 公布日： 2023-10-17 - 主分类号： B29D11/00 文献下载
摘要：一种用于优化具有指定镜片材料的半成品光学镜片集合中的至少一个半成品光学镜片的几何参数的方法，待优化的半成品光学镜片具有指定基弧和初始确定的几何形状，该初始确定的几何形状被确定成允许制造针对初始眼科参数集合的成品眼科镜片，该方法包括：‑提供指示每个眼科处方在初始眼科参数集合中的比例的订单比例数据，‑提供期望比例选择率，‑基于订单比例数据来确定初始眼科参数集合中所包括的对应于所提供的期望比例选择率的眼科参数子集，‑确定经优化半成品光学镜片的至少一个几何参数的经优化值，该经优化半成品光学镜片具有指定基弧和指定镜片材料，并允许制造针对眼科参数子集中所包括的每个眼科处方的成品眼科镜片，‑将经优化半成品光学镜片的至少一个几何参数的确定的经优化值作为所述半成品光学镜片的经优化几何参数输出
用于优化半成品光学镜片几何参数方法

[发明专利]量子点选配方法、光致发光组件制备方法-CN202010176809.5有效
发明人：罗飞 -专利权人：纳晶科技股份有限公司
申请日： 2020-03-13 - 公布日： 2023-08-01 - 主分类号： G06F30/20 文献下载
摘要：本发明提供了一种量子点选配方法，该量子点选配方法包括获得目标参数，采用高斯光谱仿真方法，先设定量子点光学参数，通过迭代计算再调整量子点的光学参数，从而得到能实现目标参数的量子点光学参数和量子点比例。
量子选配方法光致发光组件制备

[发明专利]光波导的光栅参数调节方法、装置、电子设备、存储介质-CN202310701342.5在审
发明人：程鑫;魏如东 -专利权人：歌尔光学科技（上海）有限公司
申请日： 2023-06-13 - 公布日： 2023-09-12 - 主分类号： G02B27/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种光波导的光栅参数调节方法、装置、电子设备、存储介质。光栅包括多个光栅分区，所述方法包括：获取多个所述光栅分区在所述光栅中的位置以及多个所述光栅分区的光学参数，多个所述光栅分区沿至少一个方向排布；针对任一种光栅分区的光学参数，基于各个所述光栅分区在所述光栅中的位置以及所述光学参数，拟合出所述光栅分区在所述光栅中的位置与所述光学参数的函数关系；通过调节所述函数关系中的函数参数，调节所述光波导的性能。
波导光栅参数调节方法装置电子设备存储介质

[发明专利]材料光学常数的确定方法、材料数据库的扩展方法及装置-CN201910500995.0有效
发明人：任梦昕;刘进超;张迪;许京军 -专利权人：南开大学
申请日： 2019-06-11 - 公布日： 2023-06-13 - 主分类号： G01N21/21 文献下载
摘要：本申请涉及一种材料光学常数的确定方法、材料数据库的扩展方法及装置。所述材料光学常数的确定方法，包括获取椭偏测试参数向量，利用机器学习模型得出与所述椭偏测试参数向量对应的材料光学常数。所述机器学习模型包括椭偏测试参数向量和材料光学常数之间的映射关系。所述材料光学常数的确定方法利用所述机器学习模型实现对椭偏测试参数向量的自动化拟合。所述材料光学常数的确定方法使用的机器学习模型计算出材料的光学常数，不再依赖实验人员的经验，降低了对操作人员的要求，并且计算材料的光学常数时加快了数据曲线的拟合速度、提高了运算效率。
材料光学常数确定方法数据库扩展装置

[发明专利]用于针对温度改变校准视差光学元件的装置和方法-CN202310024409.6在审
发明人：黄昌硕;姜柄敏;金璨秀;崔伦善 -专利权人：三星电子株式会社
申请日： 2023-01-09 - 公布日： 2023-07-14 - 主分类号： G02B27/00 文献下载
摘要：提供了用于针对温度改变校准视差光学元件的装置和方法。所述装置包括：显示器；视差光学元件，被配置为将与从显示器输出的图像对应的光提供给用户的眼动范围；温度传感器，被配置为测量视差光学元件周围的温度；存储器，被配置为存储多个参数校准模型，所述多个参数校准模型用于针对视差光学元件的参数确定不同温度范围内的校正信息；以及处理器，被配置为：基于所述多个参数校准模型之中的与测量的温度对应的参数校准模型，确定与测量的温度对应的校正信息，并且基于校正信息，调整视差光学元件的参数。
用于针对温度改变校准视差光学元件装置方法

[发明专利]一种AR眼镜测试校准方法和系统-CN202310068096.4在审
发明人：张亚斌;赵鑫;郑昱 -专利权人：北京灵犀微光科技有限公司
申请日： 2023-02-06 - 公布日： 2023-06-23 - 主分类号： G09G3/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种AR眼镜测试校准方法和系统，方法包括首先控制光学模组输出测试图像；接着控制光学检测成像模组对测试图像进行成像，形成检测图像；接着计算检测图像与目标图像之间的误差，将误差作为PID调节算法的输入量，最终闭环调整驱动光学模组中显示屏的电驱动参数，以调整显示屏的显示参数，进而，在该校准过程中，无需机械移动光学模组，而是通过PID调整光学模组中显示屏的电学参数，最终调整显示屏的显示参数，该方法简单，最后可以使检测图像的各项参数均与目标图像的各项参数相同
一种 ar 眼镜测试校准方法系统

[发明专利]光学参数测量装置-CN201910174007.8在审
发明人：袁洪文;朱伟江;袁秀伟;宋道远 -专利权人：杭州维斯博医疗科技有限公司
申请日： 2019-03-07 - 公布日： 2019-05-17 - 主分类号： G01M11/02 文献下载
摘要：本发明提供了一种光学参数测量装置，涉及光学测试设备技术领域，以缓解现有光学参数测量装置不能进行多个方位调整的技术问题。该光学参数测量装置包括底板、第一调节机构、观察板、第二调节机构和夹持机构；第一调节机构安装于底板，并能够沿垂直于底板的方向和沿平行于底板的第一方向运动；观察板连接于第一调节机构，垂直于底板并与第一方向平行；夹持机构安装于第二调节机构，能够夹持被测光学部件；第二调节机构安装于底板，用于带动夹持机构沿平行于底板的第二方向运动，第二方向与第一方向垂直。本发明提供的光学参数测量装置能够进行多个方位的调整，使被测光学部件的多个光学参数被测量得更加准确。
底板光学参数测量装置夹持机构光学部件机构安装观察板平行垂直光学测试设备方位调整方向垂直方向平行光学参数夹持测量缓解

[发明专利]光学参数测量装置-CN02158728.0无效
发明人：李德林;耿新华;薛俊明;赵颖 -专利权人：南开大学
申请日： 2002-12-26 - 公布日： 2004-07-07 - 主分类号： G01N21/55 文献下载
摘要：本发明公开了一种光学参数测量装置。解决了现有仪器在垂直入射光条件下不能测量材料的光反射率R、在不同角度测量时R与T不相关、光吸收率α出现负值等问题。本发明为光学测量仪器家族增添了一种测量准确无误的光学参数测量装置。
光学参数测量装置

[实用新型]光学参数测试系统-CN201820722745.2有效
发明人：李梁;成学平;刘猛 -专利权人：深圳市杰普特光电股份有限公司
申请日： 2018-05-15 - 公布日： 2019-02-26 - 主分类号： G01N21/25 文献下载
摘要：本实用新型涉及一种光学参数测试系统，光学参数测试系统具有测试工位，用于测试待测产品的反射率及透射率。光学参数测试系统包括光源、匀光积分球、第一光谱仪、收光积分球及第二光谱仪。上述光学参数测试系统具有较高的测试效率。
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