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[发明专利]确定方法和信息处理装置-CN201210231564.7有效
发明人：行田裕一;三上晃司;辻田好一郎 -专利权人：佳能株式会社
申请日： 2012-07-05 - 公布日： 2013-01-09 - 主分类号： G03F7/20 文献下载
摘要：本发明提供一种确定曝光装置的曝光条件的确定方法，该曝光装置包括照射掩模的照射光学系统和将掩模的图案投影到基板上的投影光学系统，该方法包括：设定用于在照射光学系统的瞳面上形成的光强度分布的照射参数和用于投影光学系统的像差的像差参数的步骤；以及确定照射参数的值和像差参数的值以使得掩模的图案的光学图像的图像性能满足对于要在投影光学系统的像面上形成的目标图案设定的评价准则的步骤。
确定方法信息处理装置

[发明专利]一种龙虾眼光学系统参数确定方法-CN201711465074.2在审
发明人：李旭;马洪涛 -专利权人：长春长光精密仪器集团有限公司
申请日： 2017-12-28 - 公布日： 2018-06-22 - 主分类号： G21K1/06 文献下载
摘要：本申请提供一种龙虾眼光学系统及其参数确定方法，所述龙虾眼光学系统基于曲面方孔MCP形成，并应用在软X射线波段，所述参数确定方法根据不同的探测需求，包括探测波段波长和视场角要求，从方孔MCP成像原理出发，得到成像质量较高的龙虾眼光学系统的参数与探测波段波长和视场角的关系，从而确定出与探测需求对应的龙虾眼光学系统的参数，进而使得软X射线波段探测时成像质量更高，为龙虾眼光学系统的广泛应用打下基础。
龙虾眼光学系统参数确定软X射线波段探测探测波段视场角波长方孔成像成像原理应用申请

[发明专利]一种双光路火灾烟雾探测烟室优化设计方法-CN201610789819.X有效
发明人：郑荣;陆松;程元 -专利权人：合肥科斯孚安全科技有限公司
申请日： 2016-08-31 - 公布日： 2020-06-05 - 主分类号： G06F30/20 文献下载
摘要：本发明公开了一种双光路火灾烟雾探测烟室优化设计方法，利用三维建模软件建立初始烟雾探测烟室的三维模型，将三维模型导入光学模拟软件中，根据光路可逆原理，以受光元件的光学参数标准设置三维模型中发光元件的光学参数，且以发光元件的光学参数标准设置三维模型中受光元件的光学参数，利用光学模拟软件对初始烟雾探测烟室模型进行光学模拟，分析模拟结果并找出的设计缺陷。
一种双光路火灾烟雾探测优化设计方法

[发明专利]偏光片光学参数的测量方法及测量装置-CN201711483432.2在审
发明人：海博 -专利权人：惠州市华星光电技术有限公司
申请日： 2017-12-29 - 公布日： 2018-06-19 - 主分类号： G01M11/02 文献下载
摘要：本发明公开了一种偏光片光学参数的测量方法及测量装置，偏光片包括补偿膜和PVA层，测量方法包括：第一状态下，入射线偏振光依次经过补偿膜和PVA层，获取该状态下偏光片出射光线亮度最低和亮度最高时的第一测量参数和第二测量参数；第二状态下，入射线偏振光依次经过PVA层和补偿膜，获取该状态下偏光片出射光线亮度最低和亮度最高时的第三测量参数和第四测量参数；根据第一测量参数、第二测量参数、第三测量参数及第四测量参数中的一个或多个获取偏光片中补偿膜和/或PVA层的光学参数，光学参数包括暗态亮度、对比度、偏光度中的任意一种或多种。本发明能够测量得到偏光片中补偿膜和/或PVA层对偏光片光学参数的影响，从而针对性改善偏光片的光学性能。
光学参数补偿膜测量参数偏光片测量入射线偏振光测量装置出射光线第二测量第一测量下偏光片偏光对偏光片光学性能偏光度暗态

[发明专利]用于确定溶解度曲线和亚稳区的系统和方法-CN200680035173.0无效
发明人： E·R·博登斯塔夫;D·D·P·W·斯塔姆;B·麦凯;M·拉姆卡德米 -专利权人：阿凡田国际有限公司
申请日： 2006-09-21 - 公布日： 2008-09-24 - 主分类号： G01N25/14 文献下载
摘要：该系统进一步包括改变样本温度的温度调节器、测量样本光学参数的光学测量装置、以及至少控制温度调节器和光学测量装置的控制装置。该控制装置可以被编程用于通过温度调节器改变样本温度、通过光学测量装置测量样本的光学参数、以及由作为温度的函数的样本光学参数的改变确定物质的溶解度。
用于确定溶解度曲线亚稳区系统方法

[发明专利]透明OLED的参数确定方法和装置-CN201910368427.X有效
发明人：曹良才;吴佳琛;杨鑫;卢建强;袁石林;李儒佳;金国藩 -专利权人：清华大学;OPPO广东移动通信有限公司
申请日： 2019-05-05 - 公布日： 2020-04-10 - 主分类号： G01M11/02 文献下载
摘要：本发明提出一种透明OLED的参数确定方法和装置，其中，方法包括：获取OLED的工作波段、各层材料的初始光学参数和初始结构参数；建立OLED的几何光学模型；计算OLED的透过率函数的等效相位分布；确定在不同工作波长下的透过率函数的相对相位变化；调整初始光学参数和初始结构参数，以使在工作波段对应的中心波长照射下，相对相位变化取值最小；计算在工作波段内的工作波长照射下，OLED的夫琅禾费衍射场的光强分布；对夫琅禾费衍射场的光强分布中的零级衍射光强进行积分，以确定零级衍射总光强，并将零级衍射总光强取值最大时对应的光学参数与结构参数，作为目标参数。
透明 oled 参数确定方法装置

[发明专利]光学取像参数调整方法及感测装置-CN201910242405.9在审
发明人：洪沛骏 -专利权人：鸿富锦精密工业（武汉）有限公司;鸿海精密工业股份有限公司
申请日： 2019-03-27 - 公布日： 2020-10-09 - 主分类号： G01N21/01 文献下载
摘要：本发明提供一种光学取像参数调整方法，所述方法应用于具有光学检测装置的流水线系统中，所述系统包括传送带、感测装置和光学检测装置；感测装置包括：标识单元、感测单元、识别计算单元；标识单元用于发射标识信号；感测单元用于接收标识单元发送的信号并将所述标识信号发送给识别计算单元；识别计算单元根据两个相邻识别单元产生的标识信号时间差判断传送带的传送速度是否发生变化；若传送带的传送速度发生变化，则根据时间差计算传送带当前速度，并将当前速度输入预设算法模型拟合出当前速度对应的光学检测装置的光学取像参数值，并将光学取像参数值发送给光学检测装置。通过本方法使得光学取像参数的调整以自动化、高效、准确的方式进行。
光学参数调整方法装置

[发明专利]一种光学氧传感器的温度补偿方法及装置-CN202010449775.2有效
发明人：冯雪;屈哲;岳孟坤 -专利权人：清华大学
申请日： 2020-05-25 - 公布日： 2021-04-02 - 主分类号： G01N21/64 文献下载
摘要：本公开涉及一种光学氧传感器的温度补偿方法及装置，其中，该方法包括：获取光学氧传感器荧光膜的相位值；根据当前温度及预设的温度补偿关系式，确定当前温度下光学氧传感器的相关参数；其中，所述温度补偿关系式用于表示当前温度下与基准温度下该相关参数的对应关系；根据所述相位值及所述当前温度下光学氧传感器的相关参数，确定氧分压数值。本公开中，从温度变化对光学氧传感器影响的本质出发，对当前温度下的光学氧传感器的相关参数进行温度补偿，该温度补偿方式提高了温度补偿的准确性，有效减少了氧分压测量误差，且无需对光学氧传感器本身进行电路改造，提高了光学氧传感器的适用范围。
一种光学传感器温度补偿方法装置

[发明专利]OPC光学模型筛选方法及其筛选系统-CN201910842021.0有效
发明人：郑惠锋;于世瑞 -专利权人：上海华力集成电路制造有限公司
申请日： 2019-09-06 - 公布日： 2023-08-15 - 主分类号： G06F30/20 文献下载
摘要：本发明公开了一种基于数据库检索的OPC光学模型筛选方法，包括：确定光刻条件后选取光学模型关键参数；在设计范围内的不同光刻条件下，对光学模型关键参数进行采样形成关键参数组合并对每个数组合生成一个光学模型；依次用生成的各光学模型对测试掩模进行模拟，获得各测试图形空间强度分布数据并保存成模拟数据；根据自定义的目标函数，基于模拟数据和测量数据调节图形权重因子优化模型强度阈值得到目标函数值；根据目标函数值判断各关键参数组合生成的光学模型是否符合设计要求，若不符合设计要求，则调节图像权重因子直至筛选出符合设计要求的光学模型。本发明还公开了一种基于数据库检索的OPC光学模型筛选系统。本发明能够显著缩短OPC建模时间。
opc 光学模型筛选方法及其系统

[发明专利]用于确定适合于配戴者的光学设备的方法和用于确定适合于配戴者的光学设备的处理装置-CN201980074129.8有效
发明人： L·凯雷;B·阿米尔;J·莫伊内;O·鲁塞尔 -专利权人：依视路国际公司
申请日： 2019-11-04 - 公布日： 2023-02-28 - 主分类号： G02C5/00 文献下载
摘要：为了确定适合于配戴者并且包括光学镜片(3，7)和眼镜架(5)的光学设备(1)，一种由处理装置实现的方法包括以下步骤：‑提供与所述配戴者有关的数据，所述数据包括所述配戴者的光学要求，‑提供与光学镜片(3，7)的光学功能参数有关并且至少基于与配戴者有关的数据的一部分来定义的光学成本函数(O)，‑提供与舒适性参数有关的舒适性成本函数C，‑提供根据眼镜架(5)的几何参数和光学镜片(3，7)的几何参数而变化的机械相互作用成本函数M，‑确定最小化总体成本函数G的光学设备(1)，总体成本函数G是所有成本函数的加权和。
用于确定适合于配戴光学设备方法处理装置

[发明专利]一种光学电流传感器优化设计方法-CN202010566275.7有效
发明人：章江铭;姚力;倪琳娜;沈曙明 -专利权人：国网浙江省电力有限公司营销服务中心
申请日： 2020-06-19 - 公布日： 2023-09-22 - 主分类号： G06F30/23 文献下载
摘要：一种光学电流传感器优化设计方法，建立理论模型，分析磁场在磁光玻璃上的分布均匀性；对不同结构的光学电流传感器的磁场分布进行仿真；对铁芯的长度、宽度和半径变化引起的光学电流传感器磁场分布进行比较；调节磁光玻璃几何参数，观察对光学电流传感器的磁场分布的影响；调节线圈结构的几何参数，观察对光学电流传感器的磁场分布的影响；选择合适的铁芯长度、宽度和半径，通过磁光玻璃和线圈结构的几何参数相互影响来确定适合的参数，对光学电流传感器进行优化设计本发明方法通过对比光学电流传感器磁场分布来设计光学电流传感器精确度、并同时实现小型化，具备简单、准确、高效的优点。
一种光学电流传感器优化设计方法

[发明专利]使用医疗装置系统的传感器执行测量-CN202080042713.8在审
发明人： J·L·库恩;C·钦比斯;S·E·格林哈特 -专利权人：美敦力公司
申请日： 2020-05-15 - 公布日： 2022-01-18 - 主分类号： A61B5/1455 文献下载
摘要：本公开涉及用于执行患者参数测量的装置、系统和技术。在一些实例中，一种医疗装置系统包含：光学传感器，所述光学传感器被配置成测量环境光和组织氧饱和度参数；以及处理电路系统，所述处理电路系统被配置成确定提示了对所述组织氧饱和度参数的当前测量，并控制所述光学传感器执行与对所述组织氧饱和度参数的所述当前测量相关联的环境光测量所述处理电路系统被进一步配置成基于所述环境光测量确定以下中的至少一项：是否控制所述光学传感器执行对所述组织氧饱和度参数的所述当前测量、何时控制所述光学传感器执行对所述组织氧饱和度参数的所述当前测量或是否将对所述组织氧饱和度参数的所述当前测量包含在所述组织氧饱和度参数的趋势中
使用医疗装置系统传感器执行测量

[发明专利]使用机器学习和参考参数的光学发射器调谐-CN202210295425.4在审
发明人： J·J·皮克德;谈侃;E·D·史密斯;H·特里施勒 -专利权人：特克特朗尼克公司
申请日： 2022-03-24 - 公布日： 2022-09-30 - 主分类号： H04B10/079 文献下载
摘要：一种测试和测量系统，包括测试和测量设备、用于允许所述测试和测量设备连接到光学收发器的连接、以及一个或多个处理器，所述一个或多个处理器被配置成执行代码，所述代码使所述一个或多个处理器：将所述光学收发器的操作参数设置为参考操作参数；从所述光学收发器获取波形；针对参考操作参数的预定数量的集合中的每一个集合重复地执行所述代码以使所述一个或多个处理器设置操作参数以及获取波形；从所获取的波形来构建一个或多个张量；将所述一个或多个张量发送到机器学习系统以获得所预测的操作参数的集合；将所述光学收发器的操作参数设置为所预测的操作参数；以及使用所预测的操作参数来测试所述光学收发器。
使用机器学习参考参数光学发射器调谐

[发明专利]旋转大幅宽光学卫星精准处理方法及系统-CN202010424747.5在审
发明人：范城城;刘国华;尹增山;胡海鹰;刘洋;王旭辉;田龙飞;江新华 -专利权人：中国科学院微小卫星创新研究院;上海微小卫星工程中心
申请日： 2020-05-19 - 公布日： 2020-08-21 - 主分类号： G01C21/24 文献下载
摘要：本发明提供了一种旋转大幅宽光学卫星精准处理方法及系统，所述旋转大幅宽光学卫星精准处理方法包括：获取光学相机面阵分系统参数及观测数据；根据所述光学相机面阵分系统参数及观测数据，构建旋转光学卫星本体与光学相机面阵分系统焦平面之间几何变换关系，得到卫星本体与相机焦平面转换矩阵；计算成像时刻的旋转光学卫星姿轨控数据；根据所述卫星本体与相机焦平面转换矩阵及所述旋转光学卫星姿轨控数据，构建旋转大幅宽光学卫星精准处理几何模型；根据所述旋转大幅宽光学卫星精准处理几何模型构建标准影像产品的有理函数拟合模型；根据所述标准影像产品的有理函数拟合模型进行有理多项式系数参数计算。
旋转幅宽光学卫星精准处理方法系统

[发明专利]对存储介质上的光学效应的分析-CN200580043822.7无效
发明人： C·A·弗舒伦 -专利权人：皇家飞利浦电子股份有限公司
申请日： 2005-12-14 - 公布日： 2007-12-05 - 主分类号： G11B7/004 文献下载
摘要：本发明公开了一种用于分析光学记录介质上的光学效应的质量的方法，以及该方法与优化写入策略和对于光学记录介质分析写入质量相结合的应用。该方法包括以下步骤：确定所测得的光学信号(61)和标称光学信号(60)的波形，以及从所测得的波形与标称波形中的差异(62－65)计算幅度差参数。因此，所述光学效应的质量量度可以从该幅度差参数确定。该方法的应用包括(但不局限于)：用于从光学存储介质上读取光学效应的设备，其具有用于确定幅度差参数的装置；光学记录仪器，其具有用于调节写入策略中的功率电平和/或电平持续时间的装置；以及用于控制光学存储仪器的
存储介质光学效应分析

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