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[实用新型]待测产品基板传送装置-CN201720260339.4有效
发明人：绍治龙一 -专利权人：天津北陆电气有限公司
申请日： 2017-03-16 - 公布日： 2017-10-24 - 主分类号： B65G47/74 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种待测产品基板传送装置，由功能调整装置(FT)治具、承托功能调整装置(FT)治具的搬运上升台、搬运功能调整装置(FT)治具的搬运台、使功能调整装置(FT)治具前后移动的电动传动装置、承托功能调整装置(FT)治具和搬运上升台的上升台、使上升台上下移动的气缸、测定用探针治具、安装在测定用探针治具上的用于测定产品基板电气性能的探针和安装上述部件的安装台组成；能够实现产品基板的自动传送，将待加工的产品基板自动传送至加工部位进行加工
产品传送装置

[发明专利]待测产品的对位方法及装置-CN201610102045.9在审
发明人：徐大鹏;罕方平 -专利权人：深圳精智达技术股份有限公司
申请日： 2016-02-24 - 公布日： 2016-06-29 - 主分类号： G01R31/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种待测产品的对位方法，包括：通过单个或两个相机分别获取待测产品上的标记位置信息和压接治具上预置的标记位置信息；根据所述待测产品上的标记位置信息和所述压接治具上预置的标记位置信息，获取所述待测产品上的标记和所述压接治具上预置的标记之间的补偿角度，以及在横轴方向和纵轴方向上的相对位置偏差；根据所述补偿角度，以及所述横轴方向和纵轴方向上相对位置偏差对所述待测产品进行对位。本发明还公开了一种待测产品的对位装置。本发明实现了使用单个或两个相机获取标记位置信息对待测产品进行对位，降低硬件成本及简化调试操作过程，同时提高了对待测产品进行自动对位的效率及精度。
产品对位方法装置

[发明专利]待测器件验证装置及相关产品-CN201910499933.2有效
发明人：不公告发明人 -专利权人：中科寒武纪科技股份有限公司
申请日： 2019-06-10 - 公布日： 2021-09-21 - 主分类号： G06F11/00 文献下载
摘要：本申请提供了一种待测器件验证装置及相关产品，该待测器件验证装置用于进行机器状态验证，本申请实施例通过地址依赖树在指令序列中加入探针指令，根据探针指令的执行结果重新对指令序列进行验证，直到获得作导致错误的指令，从而，可准确、快速地对指令序列进行验证，确定导致错误的指令所在的位置，提高待测器件的验证速率。
器件验证装置相关产品

[发明专利]待测器件验证装置及相关产品-CN201910288744.0有效
发明人：不公告发明人 -专利权人：中科寒武纪科技股份有限公司
申请日： 2019-04-10 - 公布日： 2022-12-09 - 主分类号： G06F30/3308 文献下载
摘要：本申请提供了一种待测器件验证装置及相关产品，该待测器件验证装置用于进行机器状态验证，本申请实施例通过构建地址依赖树，并根据机器状态快照反复对指令序列进行验证，直到获得作错误指令，从而，可准确、快速地对指令序列进行验证
器件验证装置相关产品

[发明专利]待测器件验证装置及相关产品-CN201910288745.5有效
发明人：不公告发明人 -专利权人：中科寒武纪科技股份有限公司
申请日： 2019-04-10 - 公布日： 2022-12-09 - 主分类号： G06F30/3308 文献下载
摘要：本申请提供了一种待测器件验证装置及相关产品，该待测器件验证装置用于进行机器状态验证，本申请实施例通过根据当前指令序列的指令序列信息预测导致错误的指令所在的当前目标指令区间，可准确、快速地对待验证器件的指令序列中的所有指令进行验证
器件验证装置相关产品

[实用新型]一种用于检测待测产品上的待测孔的检具-CN201920354093.6有效
发明人：龙礼仁;谭铁山 -专利权人：东莞市中泰精创精密科技有限公司
申请日： 2019-03-19 - 公布日： 2019-12-13 - 主分类号： G01B5/00 文献下载
摘要：本实用新型提供一种用于检测待测产品上的待测孔的检具，包括底座和检测结构，所述检测结构包括多个检测块和固定在检测块上的滑棒，所述检测结构上设有导向槽，所述滑棒插入所述导向槽内，所述滑棒可沿导向槽滑动并带动检测块位移，所述检测块包括留外端和伸入端，所述留外端的纵截面尺寸大于伸入端的纵截面尺寸，所述伸入端的形状与待测产品上的待测孔相适配，所述底座上设有定位柱来对待测产品进行定位，所述检测结构设在底座上的特定位置从而使得所述伸入端对准待测产品上的待测孔工人推动检测块沿着导向槽的方向移向待测产品，使得伸入端伸入待测孔，留外端留在待测孔外，从而对待测产品的待测孔的形状、尺寸、位置同时进行检测。
检测测孔待测产品导向槽伸入端滑棒伸入底座纵截面外端本实用新型滑动定位柱检具适配对准

[发明专利]待测样品处理方法、待测样品处理芯片及待测样品处理装置-CN201710139527.6在审
发明人：山胁幸也;田川礼人;中野毅 -专利权人：希森美康株式会社
申请日： 2017-03-09 - 公布日： 2017-11-17 - 主分类号： G01N33/50 文献下载
摘要：本发明涉及待测样品处理方法、待测样品处理芯片及待测样品处理装置。本发明旨在即使进行用于使用待测样品处理芯片执行数字检测的处理时，也不使流路结构或对象成分及稀释液的搬送控制复杂化地混合对象成分及稀释液。此待测样品处理方法使用有贮留部(172)及液滴形成流路(110)的待测样品处理芯片(100)，将待测样品中的对象成分(10)和用于在液滴(14)中以每1分子或每1个包含对象成分(10)的指定量的稀释液(
样品处理方法芯片装置

[发明专利]待测产品的音频通用检测方法和装置-CN202210729536.1在审
发明人：季宝平;吴承佳;李星宇;吕寅;梁巨川 -专利权人：天津华来科技股份有限公司
申请日： 2022-06-24 - 公布日： 2022-09-23 - 主分类号： H04R29/00 文献下载
摘要：本发明提供了待测产品的音频通用检测方法和装置，应用于与待测产品相连接的上位机，待测产品包括麦克风和播放器；当待测产品放置在屏蔽箱内的治具上时，向播放器发送第一控制指令信息，以使播放器根据第一控制指令信息播放第一音频信息根据第一音频频谱确定播放器的音频测试结果；向播放器发送第二控制指令信息，以使播放器根据第二控制指令信息播放第二音频信息；根据第二音频信息获取麦克风接收的第三音频信息；将第三音频信息进行傅里叶变换得到第二音频频谱；根据第二音频频谱确定待测产品的测试结果
产品音频通用检测方法装置

[实用新型]一种用于固定待测产品的装置-CN201320093984.3有效
发明人：潘安;黄阳;朱信庆;朱令;龚小卫 -专利权人：合肥京东方光电科技有限公司;京东方科技集团股份有限公司
申请日： 2013-02-28 - 公布日： 2013-07-31 - 主分类号： G02F1/13 文献下载
摘要：本实用新型涉及一种用于固定待测产品的装置，包括：安装板；用于承载PCB板的支撑结构，设置在所述安装板的一端；用于吸附面板、与所述支撑结构配合、以使得PCB板与面板保持在同一平面的吸附结构，所述吸附结构设置在所述安装板上
一种用于固定产品装置

[发明专利]一种产品尺寸测量方法、装置、设备及介质-CN202211335169.3在审
发明人：王胜;胡懿月;张小波;许江华;吴婕;倪军 -专利权人：杭州安脉盛智能技术有限公司
申请日： 2022-10-28 - 公布日： 2023-01-17 - 主分类号： G01B11/26 文献下载
摘要：本申请公开了一种产品尺寸测量方法、装置、设备及介质，涉及三维测量技术领域。该方法包括：通过预设顶部相机与预设底部相机对待测产品进行拍摄得到待测产品上表面与待测产品下表面，并根据所述待测产品上表面与所述待测产品下表面确定待测产品上表面倾斜角与待测产品下表面倾斜角；基于所述待测产品上表面倾斜角与所述待测产品下表面倾斜角以及预设标定块的标定块上表面倾斜角与标定块下表面倾斜角确定待测产品倾斜角；根据所述待测产品倾斜角对所述待测产品上表面与所述待测产品下表面进行旋转调整，以得到真实待测产品上表面与真实待测产品下表面；根据所述真实待测产品上表面与所述真实待测产品下表面确定所述待测产品的尺寸。
一种产品尺寸测量方法装置设备介质

[发明专利]待测装置及用于测试待测装置的方法-CN201310631890.1有效
发明人：杨宗杰 -专利权人：慧荣科技股份有限公司
申请日： 2013-11-29 - 公布日： 2017-12-05 - 主分类号： G11C29/42 文献下载
摘要：本发明公开了一种待测装置、测试器及用于测试所述待测装置的方法。所述待测装置具有一连接接口、一控制器以及一功能区块。所述连接接口是用以接收以一第一时钟速率所传送的一测试型样并且输出一功能测试结果。通过本发明，可达到用一低速测试器来对一待测装置进行一实速功能测试的目的，进而降低测试成本。
装置测试用于方法

[发明专利]待测样品分析方法及待测样品分析装置-CN201610177898.9有效
发明人：久保卓也;岩永茂树 -专利权人：希森美康株式会社
申请日： 2016-03-25 - 公布日： 2019-01-18 - 主分类号： G01N21/64 文献下载
摘要：本发明涉及待测样品分析方法，其包括：对测定样品加热而使DNA发生变性的S14的处理工序，进行抑制自测定样品发生的自身荧光的脱色处理的S21的处理工序，使荧光染料结合于测定样品中的被检物质的S16、S17
样品分析方法装置

[发明专利]一种镭射自动化高效测量方法-CN201810317627.8有效
发明人：张平 -专利权人：苏州久越金属科技有限公司
申请日： 2018-04-10 - 公布日： 2020-11-20 - 主分类号： G01B11/30 文献下载
摘要：本发明公开一种镭射自动化高效测量方法，包括如下步骤：选取已加工好的待测产品，配制高挥发性的有机溶剂；所述待测产品放入所述有机溶剂中，使所述有机溶剂均匀附着在所述待测产品的待测表面上；通过镭射激光发生器发射镭射光均匀照射在附着有机溶剂的所述待测产品的待测表面上，使附着在所述待测产品的待测表面上的有机溶剂气化挥发，找出所述待测产品的待测表面上存在精度误差的地方；重新选择待测产品的待测表面重复前述步骤，更换待测产品并重新执行起始步骤。本发明通过镭射激光发生器发射镭射光均匀照射在附着有机溶剂的所述待测产品的待测表面上，找出所述待测产品的待测表面上存在精度误差的地方。
一种镭射自动化高效测量方法

[实用新型]测试电源切换电路及装置-CN202223213537.5有效
发明人：赖浩沛;荣雪祥;杜久明 -专利权人：通力科技股份有限公司
申请日： 2022-11-30 - 公布日： 2023-08-29 - 主分类号： G01R31/40 文献下载
摘要：本实用新型提出一种测试电源切换电路及装置，涉及测试电源切换技术领域，测试电源切换电路包括依次连接的主控模块、切换控制模块和切换模块，切换模块还与电源、第一待测产品和第二待测产品连接；主控模块，用于生成切换信号；切换控制模块，用于根据切换信号，输出切换控制信号；切换模块，用于将电源接入第一待测产品，以及根据切换控制信号，将电源与第一待测产品断开，并将电源接入第二待测产品。本实用新型可以连接第一待测产品和第二待测产品，自动控制电源由第一待测产品切换到第二待测产品，无需等到当前待测产品完成测试后，再进行待测产品的切换，减少了切换待测产品的时间，提高了测试效率。
测试电源切换电路装置

[发明专利]一种测试平台、方法、系统、电子设备及存储介质-CN202211328030.6在审
发明人：陈茂龙;杨程航 -专利权人：上海东土致远智能科技发展有限公司
申请日： 2022-10-27 - 公布日： 2023-03-03 - 主分类号： G06F16/958 文献下载
摘要：测试平台，包括：测试模块，用于确定待测产品的产品标识信息和待测任务，并基于产品标识信息确定待测产品所对应物料号，基于待测产品所对应物料号和管理模块内存储的产品信息，采用接口模块内对应待测任务的接口执行待测任务；管理模块，用于对待测产品的产品信息进行管理；接口模块，用于为测试模块提供用于执行待测任务的接口。上述技术方案通过测试模块确定待测产品的产品标识信息和待测任务，基于产品标识信息确定对应物料号，再基于物料号通过管理模块确定产品信息，并结合接口模块对应的待测任务的接口执行待测任务，可以实现对待测产品的自动化测试，提高了产品测试效率。
一种测试平台方法系统电子设备存储介质

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