专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]一种减少薄膜产生小丘状缺陷的新工艺-CN201310578991.7有效
  • 封铁柱 - 武汉新芯集成电路制造有限公司
  • 2013-11-18 - 2014-03-19 - H01L21/02
  • 本发明涉及一种减少薄膜产生小丘状缺陷的新工艺。包括以下步骤:在二氧化硅衬底上,采用物理气相沉积方法低温沉积粘附层钛薄膜,粘附层钛薄膜覆盖在二氧化硅上表面;沉积阻挡层氮化钛薄膜,阻挡层氮化钛薄膜覆盖在粘附层钛薄膜上表面;高温沉积薄膜薄膜覆盖在阻挡层氮化钛薄膜上表面;薄膜上表面沉积一层氧化铝薄膜之后再在氧化铝薄膜上表面沉积一层防反射层氮化钛薄膜,或者在薄膜上表面直接沉积一层防反射层氮化钛薄膜然后通入氮气直至防反射层氮化钛薄膜中的氮含量达到饱和。本发明的有益效果是:采用简单的工艺流程克服了薄膜在生产工艺过程中晶粒无序增大使薄膜产生小丘状的缺陷。
  • 一种减少薄膜产生小丘缺陷新工艺
  • [发明专利]一种减少薄膜产生小丘状缺陷的工艺-CN201610440482.1有效
  • 封铁柱 - 武汉新芯集成电路制造有限公司
  • 2013-11-18 - 2018-09-11 - H01L21/02
  • 本发明涉及一种减少薄膜产生小丘状缺陷的工艺。包括以下步骤:在二氧化硅衬底上,采用物理气相沉积方法低温沉积粘附层钛薄膜,粘附层钛薄膜覆盖在二氧化硅上表面;沉积阻挡层氮化钛薄膜,阻挡层氮化钛薄膜覆盖在粘附层钛薄膜上表面;高温沉积薄膜薄膜覆盖在阻挡层氮化钛薄膜上表面;薄膜上表面沉积一层氧化铝薄膜之后再在氧化铝薄膜上表面沉积一层防反射层氮化钛薄膜,或者在薄膜上表面直接沉积一层防反射层氮化钛薄膜然后通入氮气直至防反射层氮化钛薄膜中的氮含量达到饱和。本发明的有益效果是:采用简单的工艺流程克服了薄膜在生产工艺过程中晶粒无序增大使薄膜产生小丘状的缺陷。
  • 一种减少薄膜产生小丘缺陷工艺
  • [发明专利]一种卷覆膜加工装置-CN202010104563.0在审
  • 蒋玉峰 - 嘉兴亿豪新材料股份有限公司
  • 2020-02-20 - 2020-06-05 - B32B38/00
  • 本发明提供了一种卷覆膜加工装置,属于机械技术领域。一种卷覆膜加工装置,包括机架,机架上设置有放卷卷的卷放卷装置和用于放卷并将薄膜卷复合的薄膜复合装置,机架上还设置有若干辅助辊和输入辊,机架上设置有用于卷剪角的切割机构,切割机构位于卷放卷装置和薄膜复合装置之间,机架上设置有用于复合薄膜卷开角处切除薄膜的切除机构,切除机构位于薄膜复合装置与切除机构之间,机架上还设置有用于将复合后卷切断的切断机构。本发明具有卷和薄膜分开切割的优点。
  • 一种铝卷覆膜加工装置
  • [发明专利]半导体工艺中腐蚀后表面残留物的去除方法-CN202211016126.9在审
  • 李兆营;李明浩;李海涛;梁靖 - 安徽光智科技有限公司
  • 2022-08-23 - 2022-12-06 - H01L21/321
  • 本公开提供了一种半导体工艺中腐蚀后表面残留物的去除方法,其包括步骤:步骤一,提供半导体衬底;步骤二,金属薄膜沉积:调控直流磁控溅射的工艺参数进行金属薄膜沉积;步骤三,薄膜冷却:采用水冷或者水冷和气冷结合的冷却方式进行冷却;步骤四,对薄膜表面进行物理刻蚀:采用磁控溅射设备自带的刻蚀腔体对薄膜表面进行物理刻蚀;步骤五,对薄膜进行腐蚀:在对薄膜腐蚀之前,要形成具有图案的光刻胶层,然后去除不需要的金属层,再通过去胶工艺去除光刻胶本公开的方法未增加新的设备或工艺气体,但可以彻底去除腐蚀后表面残留物。
  • 半导体工艺腐蚀表面残留物去除方法
  • [发明专利]基于酸锶薄膜制备GaN自分离衬底的方法-CN202111542968.3在审
  • 修向前;朱宇霞;陶涛;张荣 - 南京大学
  • 2021-12-16 - 2022-04-29 - H01L21/02
  • 本发明公开了一种基于酸锶薄膜制备GaN自分离衬底的方法,其步骤包括:(1)在衬底上沉积酸锶薄膜;(2)在酸锶薄膜上沉积氧化镓薄膜;(3)在氧化镓薄膜上进行GaN薄膜或GaN厚膜的外延;(4)将外延完成的样品置于水中,酸锶薄膜溶解,得到自支撑的GaN薄膜或厚膜。本发明提供了一种简单的获得自支撑GaN衬底的方法,采用酸锶薄膜作为牺牲层,酸锶薄膜溶于水即可实现衬底与外延膜的自分离,而氧化镓层的作用是提供可以高质量外延GaN的缓冲层或多孔模板,同时可以降低后续外延的GaN薄膜材料中应力及位错密度。
  • 基于铝酸锶薄膜制备gan分离衬底方法

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