专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [实用新型]一种硼掺杂金刚石电极-CN202020330028.2有效
  • 王玲 - 吕梁学院
  • 2020-03-09 - 2020-11-03 - C02F1/461
  • 本实用新型公开了一种硼掺杂金刚石电极,涉及新型电极材料领域,包括基层,所述基层的外表面设置有硼掺杂金刚石薄膜层,所述基层由第一被碳化金属层、第二被碳化金属层、第三被碳化金属层和第四被碳化金属层组成,所述第二被碳化金属层设置在第一被碳化金属层的外表面,所述第三被碳化金属层设置在第二被碳化金属层的外表面。本实用新型通过设置第一被碳化金属层、第二被碳化金属层、第三被碳化金属层和第四被碳化金属层,基层由多层被碳化金属材料组成,增强了金刚石与基层的附着力,使得结构更稳定,通过设置圆柱状的基层、凸起和修复层,大大增强了电极的比表面积
  • 一种掺杂金刚石电极
  • [发明专利]一种含金属类导电物质高容量锂离子电池-CN201110252488.3有效
  • 张潘毅;张贵萍 - 张潘毅;潘杰民
  • 2011-08-30 - 2012-10-24 - H01M10/0525
  • 本发明公开了一种含金属类导电物质高容量锂离子电池,包括正极片、负极片、隔膜、电解液、粘合剂和密封材质,所述正极片的导电物质含有金属碳化物、金属硼化物或金属氮化物,所述负极片的导电物质含有金属碳化物、金属硼化物或金属氮化物;所述金属碳化物为碳氮化钛、碳化钨或碳化钛,碳化钒,碳化钽,碳化钨与碳化钛的共熔体,所述金属硼化物为硼化钼、硼化钨或硼化钒,所述金属氮化物为氮化钛、氮化钨或氮化钽。所述正极片的导电物质还可以为含有粉状金属,所述负极片的导电物质含有粉状金属;所述粉状金属为镍粉、铜粉或铬粉。
  • 一种金属导电物质容量锂离子电池
  • [发明专利]一种金属-金属碳化物包覆碳颗粒的复合粉末及其制备方法-CN201910034405.X有效
  • 肖鹏;方华婵 - 中南大学
  • 2019-01-15 - 2021-04-27 - B22F1/02
  • 本发明涉及一种金属金属碳化物包覆碳颗粒的复合粉末及其制备方法,属于金属粉末技术领域。所述金属金属碳化物包覆碳颗粒包括金属层、金属碳化物层、碳颗粒组成;所述金属碳化物层包覆在碳颗粒表面;所述金属层包覆在金属碳化物层表面;所述复合粉末以超细碳颗粒和基体金属粉末为原料,过机械力,使得超细碳颗粒贯穿和/或镶嵌于基体金属粉末中;然后通过原位碳化得到金属碳化物层其制备方法为:先通过将脱胶处理的短碳纤维与金属粉末机械球磨得到超细碳颗粒大量均匀嵌入的金属粉末,之后分离并通过高温退火,使碳颗粒与周围金属发生固相反应,得到碳颗粒表面均匀包覆金属碳化物的金属‑碳颗粒复合粉末。
  • 一种金属碳化物包覆碳颗粒复合粉末及其制备方法
  • [实用新型]带有碳化钨表层的金属工件-CN200720186907.7无效
  • 陈建国 - 陈建国
  • 2007-12-13 - 2008-10-22 - B32B15/04
  • 本实用新型公开了一种带有碳化钨表层的金属工件,属于一种带有高硬度、高耐磨、耐高温表层材料的金属工件。结构是在其断面上分为碳化钨层、金属碳化钨接合相的熔融层、金属层。工件的碳化钨表层可以是平面或者是曲面;是工作面的全部表面或者是局部表面;是单层碳化钨与金属工件接合或者是碳化钨与金属相间的多层接合。这种带有碳化钨表层的金属工件其碳化钨表层与金属接合强度高,可以适应不同的工件表面形状,使用范围广泛,成本大大降低。
  • 带有碳化表层金属工件
  • [发明专利]一种碳化硅基半导体器件的制备方法-CN202210245817.X有效
  • 何佳;张长沙 - 泰科天润半导体科技(北京)有限公司
  • 2022-03-14 - 2022-06-17 - H01L21/329
  • 本发明提供了一种碳化硅基半导体器件的制备方法,包括:取一碳化硅外延片;在碳化硅外延片表面刻蚀出碳化硅沟槽;在碳化硅外延片上生长一层屏蔽电场介质层;整片刻蚀,只保留侧壁部分,最终形成所需的屏蔽电场介质层;清洗碳化硅外延片,然后淀积肖特基金属,最终形成只在碳化硅沟槽内部的肖特基金属一,快速退火,使肖特基金属一与碳化硅沟槽底部的碳化硅形成肖特基接触;在碳化硅外延片正面涂胶保护,背面淀积金属,与碳化硅外延片形成欧姆接触金属;清洗碳化硅外延片,然后在碳化硅外延片表面淀积肖特基金属,形成肖特基接触金属二,快速退火,与碳化硅外延片表面形成肖特基接触;在反向时,可以有效的屏蔽电场,提高器件的可靠性。
  • 一种碳化硅半导体器件制备方法
  • [发明专利]金属碳化物-第Ⅷ族金属的粉末及其制备-CN97196184.0无效
  • S·D·顿米德;M·J·罗马诺斯基 - OMG美国公司
  • 1997-06-04 - 2004-07-28 - C04B35/56
  • 一种过渡金属碳化物-第VIII族金属的粉末,包括一种过渡金属碳化物和第VIII族金属的分散的颗粒,其中:基本所有的颗粒的尺寸为最大0.4微米;过渡金属碳化物选自钨、钛、钽、钼、锆、铪、钒、铌、铬及其混合物和固溶体中的碳化物;第VIII族金属选自铁、钴、镍及其混合物和固溶体。所说的粉末通过下列方法生产,即把包括一种最终碳源(例如乙炔黑)、一种第VIII族金属源(如Co3O4)和一种颗粒前驱体的混合物加热到1173K~1773K的温度,加热时间足以形成一种过渡金属碳化物-第VIII族金属的粉末,其中,在形成过渡金属碳化物-第VIII族金属的粉末的过渡金属碳化物的过程中,碳化物前驱体的至少25wt%被碳化。颗粒前驱体一般含有小于2.5wt%的氧,并含有进行碳化以形成过渡金属碳化物(如WC)-第VIII族金属粉末的化合物,如过渡金属(例如W)、低价过渡金属碳化物(W2C)等。
  • 金属碳化物粉末及其制备
  • [发明专利]碳化硅半导体装置的制造方法以及碳化硅半导体装置-CN201580007867.2有效
  • 福田祐介;渡部善之;中村俊一 - 新电元工业株式会社
  • 2015-08-12 - 2019-12-24 - H01L21/28
  • 一种碳化硅半导体装置的制造方法,依次包含:研磨工序,通过从第二主面114侧对碳化硅半导体基体110进行研磨,从而在所第二主面形成凹凸;金属薄膜形成工序,在碳化硅半导体基体的第二主面上,形成由可形成金属碳化物的金属构成的金属薄膜118;激光照射工序,通过对金属薄膜进行可见区域或红外区域的激光照射将金属薄膜加热,从而在碳化硅半导体基体与金属薄膜的境界面形成金属碳化物120;蚀刻工序,将有可能形成在所述金属碳化物的表面侧的含金属副生成物层122利用非氧化性药液蚀刻去除,从而使所述金属碳化物露出于表面;以及电极形成工序,在金属碳化物上形成阴电极126。本发明的碳化硅半导体装置的制造方法,是一种不存在碳析出问题,并且能够以低成本制造具有良好电阻特性以及粘着特性的欧姆电极的碳化硅半导体装置的制造方法。
  • 碳化硅半导体装置制造方法以及

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