专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]一种分布式相参雷达的孔径渡越补偿方法-CN202210391586.3在审
  • 曹运合;张钰林;沙祥;杨利民;顾晓婕;刘帅 - 西安电子科技大学
  • 2022-04-14 - 2022-08-12 - G01S7/40
  • 本发明公开了一种分布式相参雷达的孔径渡越补偿方法,包括:对从校正源方向接收到的回波信号进行处理得到信号相关矩阵,计算通道幅度误差;将信号相关矩阵与理想导向矢量自相关矩阵进行共轭相乘处理,提取相位误差矩阵,提取系统误差矩阵;根据系统误差与通道相位误差与阵元位置误差的关系,求相位误差矩阵和阵元位置误差矩阵;根据目标位置和阵元位置信息,求不同雷达站的接收信号延时,对系统误差校差后的接收信号进行补偿,实现信号的全延时包络校正处理;得到相位补偿项,对包络校正后的信号进行相位补偿。本发明可以利用各雷达站接收的校正源信号和目标信号,对各阵元的幅相误差和孔径渡越问题进行处理,实现阵元接收信号的相参合成。
  • 一种分布式雷达孔径补偿方法
  • [发明专利]成像设备的位置校准和误差补偿装置及其补偿方法-CN201310396578.9有效
  • 黎维娟;安陆军 - 江苏瑞尔医疗科技有限公司
  • 2013-09-04 - 2017-02-01 - A61B6/00
  • 本发明公开了一种成像设备的位置校准和误差补偿装置及其补偿方法。通过对校准杆装置进行交角成像,并获取一对X‑ray图像,计算此对X‑ray图像上校准杆装置校准球和图像中心点在图像上的二维偏差值,将所获得的一对二维偏差值转换至以理想定位中心点为原点的三维空间值,得到成像设备位置误差造成的定位中心点三维空间误差值卸下校准杆,重新安装,重复此过程六次,将获得误差统计平均值,作为系统的机械误差补偿值,载入系统的配置文件。在使用系统过程中,系统自动地用此三维误差值对X‑ray图像进行移动补偿,达到因成像设备位置不精确造成的系统误差的校准目的。
  • 成像设备位置校准误差补偿装置及其方法
  • [发明专利]基于刀位点修改的曲面刀轨轮廓误差补偿方法-CN201510034257.3有效
  • 贾振元;宋得宁;马建伟;王福吉;高媛媛 - 大连理工大学
  • 2015-01-23 - 2017-05-03 - G05B19/404
  • 本发明基于刀位点修改的曲面刀轨轮廓误差补偿方法属于数控机床动态误差补偿领域,涉及一种轮廓误差估计新方法和基于刀位点修改的曲面刀轨轮廓误差补偿新方法。该方法在辨识加工进给轴控制系统伺服增益的基础上,根据随动误差模型和直线插补加工代码,离线估计实际加工点;利用理想刀轨“累加弦长参数三次样条”近似的方法估计轮廓误差矢量;再利用轮廓误差矢量在各轴的分量计算轮廓误差补偿值,得到补偿后刀位点,进而生成补偿后直线插补数控加工代码,用于实际加工。该方法是提高数控机床动态精度的刀轨轮廓误差补偿方法,精确度高,计算过程稳定,无需在线测量。便于实施,适用范围广。
  • 基于刀位点修改曲面轮廓误差补偿方法
  • [发明专利]套刻误差补偿方法及系统、计算机可读存储介质-CN202111511510.1在审
  • 王顺;张君君 - 长鑫存储技术有限公司
  • 2021-12-06 - 2023-06-06 - G03F7/20
  • 本申请实施例公开一种套刻误差补偿方法及系统、存储介质。套刻误差补偿方法,包括提供N个晶圆组,N个晶圆组中的每一晶圆组包括M个晶圆,M个晶圆中的每个晶圆包括当层和前层;其中,N和M均为大于等于2的正整数;根据当层和前层的器件结构确定每个晶圆的第一套刻误差,并根据第一套刻误差计算每个晶圆的光刻补偿值;根据光刻补偿值计算每一晶圆组的第一平均补偿值;根据第一平均补偿值计算N个晶圆组的第二平均补偿值;若第二平均补偿值在预设范围内,则将第二平均补偿值反馈至批次控制系统,以对第N+1个晶圆组进行补偿
  • 误差补偿方法系统计算机可读存储介质

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