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[实用新型]一种插入式厚度测量量具-CN201120463279.9有效
发明人：王庆河;李秀坤;曹海生;邵亚男;房英翠;金建炳;李银生;韩晓莹;韩万鹏;刘萍 -专利权人：济南钢铁股份有限公司
申请日： 2011-11-21 - 公布日： 2012-10-03 - 主分类号： G01B5/06 文献下载
摘要：将该装置从被测物体一侧通过被测物体上的孔洞插入，推动控制把手(10)与固定把手(4)靠拢使控制杆(8)带动零点基准杆(5)绕第一定位销(3)滑动呈展开状态。该实用新型可以自由的插入被测物体上孔洞或抽出，便于在被测物体一侧操纵零点基准杆准确确定被测物体一侧作为零点，在测量量具上标有以被测物体一侧为零点的刻度，可以被测物体操作侧的读出实际的厚度。
一种插入厚度测量量具

[发明专利]缺陷位置计算方法、系统、设备及存储介质-CN202211102426.9在审
发明人：刘迅;潘天一 -专利权人：上海扩博智能技术有限公司
申请日： 2022-09-09 - 公布日： 2023-01-24 - 主分类号： G06T7/10 文献下载
摘要：本公开涉及一种缺陷位置计算方法、系统、设备及存储介质，包括图像采集单元，用于获取覆盖被测物体的至少一完整表面的若干图像；图像拼接单元，用于对获取的一完整表面的若干图像进行拼接处理，以获得所述被测物体一完整表面的拼接图像；前景提取单元，用于对获得的所述拼接图像进行前景分割处理，以获得所述被测物体一完整表面的前景蒙版图像；位置确定单元，用于获取缺陷在所述前景蒙版图像中相对于所述被测物体至少一端点的位置；位置转换单元，用于根据真实被测物体与所述前景蒙版图像的比例，确定所述缺陷在真实被测物体的位置。
缺陷位置计算方法系统设备存储介质

[发明专利]一种X射线测厚仪标定方法-CN201510330854.0有效
发明人：王冠凌;江柳;董子汉;胡九宇;蔡勇;刘力;李翔;张乔 -专利权人：安徽工程大学
申请日： 2015-06-15 - 公布日： 2015-09-23 - 主分类号： G01B15/02 文献下载
摘要：本发明实施例公开了一种X射线测厚仪标定方法，包括：获取预设的标定后的对数线性模型和双指数模型表；对被测物体进行测量，获得被测物体削弱后的X射线的强度值I；采用所述标定后的对数线性模型依据所述强度值I计算得到被测物体的厚度值X1；判断所述厚度值X1是否大于预设值，如果是，将所述厚度值X1作为所述被测物体的厚度输出，否则，依据所述双指数模型表查找所述强度值I所匹配的厚度值X2，将所述厚度值X2作为所述被测物体的厚度输出，从而实现了被测物体厚度值的确定
一种射线测厚仪标定方法

[发明专利]投影定位装置及方法、交互系统和交互方法-CN201110302639.1有效
发明人：周倩;倪凯;乔晓蕊;马建设;何亮 -专利权人：清华大学深圳研究生院
申请日： 2011-10-09 - 公布日： 2012-06-20 - 主分类号： G06F3/042 文献下载
摘要：本发明公开了一种投影定位装置，包括：投影仪，用于将具有设定规律的条纹图案投影到被测物体表面；摄像机，用于摄取由被测物体表面形状所调制的变形条纹图像；处理装置，用于根据所述变形条纹图像确定被测物体的空间位置和通过将条纹图案投影到被测物体表面，摄取并分析被测物体表面起伏所调制的变形条纹图像，可以对被测物体例如具复杂三维手势的人手进行较高精度地定位和较快速度地实时跟踪，从而实现精准流畅的体感或触控操作。
投影定位装置方法交互系统

[实用新型]一种二次元精密量测仪-CN201922389837.0有效
发明人：卢文庆;廖崇钦 -专利权人：广州青莲精密科技有限公司
申请日： 2019-12-26 - 公布日： 2020-06-19 - 主分类号： G01B11/00 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种二次元精密量测仪，通过将测量物体固定在所述固定板上，通过所述测量镜头对所述固定板上的被测物体进行放大测量，移动被测物体时，滑动所述滑板，使所述滑板在所述放置槽上进行移动，进而带动被测物体水平移动；旋转所述旋转轴承使所述固定板轴向转动，进而带动被测物体轴向转动；通过使所述固定板以所述转轴的轴线为轴心转动，进而带动所述固定板翻转，如此使固定在所述固定板上的被测物体被所述测量镜头进行多个方位的测量，
一种二次元精密量测仪

[发明专利]检测系统及检测方法-CN202211696920.2在审
发明人：陈志强;张丽;李亮;洪明志;王子楠;谢磊;常铭 -专利权人：同方威视技术股份有限公司;清华大学
申请日： 2022-12-28 - 公布日： 2023-09-19 - 主分类号： G01D21/00 文献下载
摘要：传送机构用于传送被测物体；推送机构适于在传送机构的输送方向推送被测物体，以将被测物体推送至第一定位面和第二定位面；定位机构包括定位部，定位部可沿传送机构的输送方向移动，以限定出第一定位面和第二定位面，被测物体在第一定位面、第二定位面与定位部止抵；检测机构适于在被测物体位于第一定位面、第二定位面时对被测物体进行检测。由此，通过定位机构与推送机构的配合，可对被测物体的待测处进行精准定位，从而提高检测系统的检测效果。
检测系统方法

[发明专利]一种基于多角度激光线扫描的三维重构系统-CN201910520240.7有效
发明人：颜成钢;王瑞海;吕彬彬;王兴政;孙垚棋;张继勇;张勇东 -专利权人：杭州电子科技大学
申请日： 2019-06-17 - 公布日： 2023-04-07 - 主分类号： G06T17/10 文献下载
摘要：本发明在单线激光扫描的基础上采用了三个线激光发射器，并分别相隔120°放置于被测物体周围，并使激光发射器和图像采集设备的位置相对固定，使用升降器来带动被测物体做上下运动，进而完成线激光对物体轮廓的全面扫描，通过对摄像机拍摄到的图片进行处理，进而完成对被测物体表面轮廓模型的重建。本发明可以实现对被测物体的全方位扫描，进而获得被测物体表面的全部轮廓信息，可以有效地对不规则的物体进行重构，并极大的提高了被测物体的重构精度。
一种基于角度激光扫描三维系统

[发明专利]基于不同偏振激发光源的拉曼光谱检测装置-CN201010604882.4无效
发明人：陈荣;冯尚源;陈冠楠;林居强;李永增;黄祖芳 -专利权人：福建师范大学
申请日： 2010-12-25 - 公布日： 2011-06-15 - 主分类号： G01N21/65 文献下载
摘要：本发明涉及一种采用不同偏振光激发物体，从而获得物体拉曼光谱的装置。检测装置由拉曼光谱激发光源、偏振激发组合装置、被测物体、偏振接收组合装置、拉曼探测系统和拉曼光谱信号处理与显示系统构成。拉曼光谱激发光源到达被测物体之前，先通过一个偏振激发组合装置，以产生不同状态的偏振激发光照射载物台上被测物体，被测物体在不同状态偏振激发光的激发下产生拉曼光谱信号，该光谱信号散射进入偏振接收组合装置和拉曼探测系统，最后到达拉曼光谱信号处理与显示系统，从而可获得通过不同偏振光激发，再通过不同偏振分离的被测物体的拉曼信号，以实现对被测物体物质构成的精确分析。
基于不同偏振激发光源光谱检测装置

[发明专利]测量设备和测量系统-CN201811253722.2在审
发明人：石田宽敏;中村昭夫;船越胜也;涩谷龙史;菊地麻衣子;有田隆;汤本英治;关泽光洋 -专利权人：石田宽敏;富士通电子零件有限公司
申请日： 2018-10-26 - 公布日： 2019-05-07 - 主分类号： G01F22/00 文献下载
摘要：该测量设备包括：保持设备，可拆卸地保持包含被测物体的容器；测量单元，测量容器的重量或被测物体的体积；计算单元，被配置为基于测量单元测得的重量或体积以及测量单元的最后测量结果来计算被测物体的使用量；以及通信设备，将被测物体的使用量发送到外部终端。
被测物体测量单元测量设备测量系统测量容器计算单元外部终端可拆卸通信设备配置

[发明专利]一种不规则凸面物体体积的非接触光学测量方法-CN201510045367.X有效
发明人：林楚涛;陈培宏;曹辉;梁佩莹;钟土基;罗梦婵 -专利权人：佛山科学技术学院
申请日： 2015-01-28 - 公布日： 2018-01-30 - 主分类号： G01B11/00 文献下载
摘要：本发明所述一种不规则凸面物体体积的非接触光学测量方法，其特征在于，包括以下步骤1)相机标定；2)原始图像采集；3)图像滤波处理；4)被测物体高度测量；5)图像轮廓提取；6)被测物体分割；7)分割的小物体体积计算；8)被测物体体积计算；本发明通过将被测物体放置在水平测量装置上，并通过由CCD摄像头、水平平台、辅助光源、背景屏幕对被测物体进行图像采集，图像采集过程与水平平台旋转相协调，实现水平平台每旋转一个角度，摄像头采集一张图片，当水平平台旋转一周时，即完成被测物体的图像采集过程。其对不规则凸面物体的体积进行快速、准确地测量，系统搭建方便、所需设备造价便宜，测量过程自动化程度高。
一种不规则凸面物体体积接触光学测量方法

[实用新型]一种光学轮廓测量装置-CN201520747724.2有效
发明人：白艳茹;刘尚春;任威平;田思洋;王磊 -专利权人：北京科技大学
申请日： 2015-09-24 - 公布日： 2016-02-03 - 主分类号： G01B11/24 文献下载
摘要：本实用新型提供一种光学轮廓测量装置，能够排除被测物体颜色的干扰性，提高光学轮廓测量的准确性。所述装置包括：在光路中设有一块密布微小通光孔隙的遮光板及设在所述遮光板一侧的光学成像器件；其中，在测量过程中，被测物体被测面贴近所述遮光板的另一侧；所述光路的照射方向包括：光从所述被测物体一侧通过所述遮光板上的微小孔隙射向光学成像器件一侧；所述光学成像器件，用于当所述遮光板被所述被测物体被测面遮挡时，拍摄所述遮光板图像，并根据所述遮光板图像的阴暗分布，测得所述被测物体被测面的轮廓。
一种光学轮廓测量装置

[发明专利]用于参照多个传感器单元的方法以及相关的测量装置-CN201880030673.8在审
发明人：瓦尔德马·戈尔斯辰纽 -专利权人：乌本产权有限公司
申请日： 2018-05-08 - 公布日： 2019-12-27 - 主分类号： G01B11/25 文献下载
摘要：本发明涉及一种用于参照多个传感器单元(30)的方法，这些传感器单元可以围绕被测物体(2)布置以便测量该被测物体(2)的三维表面，还涉及一种用于测量被测物体的表面的相关测量装置。本发明的解决方案能够实现对被测物体的表面的更精确测量。
被测物体传感器单元测量相关测量装置三维表面

[发明专利]一种可变角度的滑轨式光学测量装置和测量方法-CN201510939857.4在审
发明人：吴海龙 -专利权人：重庆桑耐美光电科技有限公司
申请日： 2015-12-13 - 公布日： 2016-04-13 - 主分类号： G01C3/00 文献下载
摘要：本发明还提出一种光学测量方法，将光源照射到被测物体上，再用带分划刻度的望远镜观测被测物体及在物体上由激光照射形成的光斑，通过望远镜中分划板的刻度测量光斑间距，由此测算出被测物体的尺寸以及被测物体与激光发射器之间的距离本发明的优点是：能测量被测物与测量点之间的距离、被测物的长度、高度等尺寸以及被测物体与测量方向的夹角，可以通过调整角度和或调整平行光的间距，能适应不同的被测物体的尺寸。
一种可变角度滑轨光学测量装置测量方法

[发明专利]一种点光源尺寸测量装置和尺寸测量方法-CN201510939618.9在审
发明人：吴海龙 -专利权人：重庆桑耐美光电科技有限公司
申请日： 2015-12-13 - 公布日： 2016-04-13 - 主分类号： G01B11/02 文献下载
摘要：本发明还提出一种点光源尺寸测量方法，将光源照射到被测物体上，再用带分划刻度的望远镜观测被测物体及在物体上由激光照射形成的光斑，通过望远镜中分划板的刻度测量光斑间距，由此测算出被测物体的尺寸及被测物体与激光发射器之间的距离本发明的优点是：能测量被测物与测量点之间的距离、被测物的长度、高度等尺寸以及被测物体与测量方向的夹角，可通过滑块调整第一激光发射器与第二激光发射器之间的间距，能适应不同的被测物体的尺寸。
一种光源尺寸测量装置测量方法

[发明专利]一种滑轨式光学测量装置和测量方法-CN201510934893.1在审
发明人：吴海龙 -专利权人：重庆桑耐美光电科技有限公司
申请日： 2015-12-13 - 公布日： 2016-04-20 - 主分类号： G01C3/04 文献下载
摘要：本发明还提出一种点光源测量方法，将光源照射到被测物体上，再用带分划刻度的望远镜观测被测物体及在物体上由激光照射形成的光斑，通过望远镜中分划板的刻度测量光斑间距，由此测算出被测物体的尺寸以及被测物体与激光发射器之间的距离本发明的优点是：能测量被测物与测量点之间的距离、被测物的长度、高度等尺寸以及被测物体与测量方向的夹角，可通过滑块调整第一激光发射器与第二激光发射器之间的间距，能适应不同的被测物体的尺寸。
一种滑轨光学测量装置测量方法