专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]芯片的制造方法-CN202211032867.6在审
  • 鹈鹰俊;金子智洋;田中优也 - 株式会社迪思科
  • 2022-08-26 - 2023-03-10 - B24B27/06
  • 本发明提供芯片的制造方法,抑制在切削装置中制造的芯片的制造成本的增加和芯片的制造所需的时间的长期化。在将被加工物分割而制造多个芯片之前,在多孔板的预计与被加工物的分割预定线重叠的区域形成了槽之后,将该槽的内表面密闭。在该情况下,能够在保持面上简便地形成与设定于被加工物的分割预定线的排列等相对应的槽。其结果是,能够抑制在具有卡盘工作台(该卡盘工作台包含具有该保持面的多孔板)的切削装置中制造的芯片的制造成本的增加和芯片的制造所需的时间的长期化。
  • 芯片制造方法
  • [发明专利]光接收装置-CN202211389298.0在审
  • 李春峰 - 讯芸电子科技(中山)有限公司
  • 2022-11-08 - 2023-03-21 - G02B6/42
  • 一种光接收装置,包括基板、光接收芯片、光解复用器以及光传递构件。光接收芯片设置于基板,光接收芯片整合了多个光检测器模块以及光波导结构。光解复用器设置于基板,将光信号区分为不同波长的光信号,并传送至光接收芯片。光传递构件光学耦合于光解复用器,并提供光信号至光解复用器。根据本申请实施例所述的光接收装置,将光检测器模块以及光波导结构集成在同一光电芯片,可减少光学耦合的次数。再者,可以避免光接收芯片与光解复用器在光学耦合过程中发生光解复用器撞裂或碰伤光检测器模块的情形。
  • 接收装置
  • [发明专利]一种人眼仿生方法及装置-CN202310875862.8在审
  • 董轩;周炜;耿心;刘璐;汪旗航 - 交通运输部公路科学研究所
  • 2023-07-18 - 2023-09-05 - H04N23/611
  • 本发明公开了一种人眼仿生方法及装置,所述人眼仿生方法包括以下步骤:S1、通过感光模块对外界光线进行检测,并将检测到的光线信号数据传输给CPU芯片;S2、CPU芯片根据接收到的光线信号数据控制驱动模块进行工作,驱动模块带动眼球模块进行旋转动作;S3、眼球模块旋转到达指定位置后对前方进行拍摄操作,并将拍摄到的图像传输给CPU芯片;S4、CPU芯片根据拍摄到的图像来确定眼球模块是否观察到目标人像;通过CPU芯片对眼球模块进行调整所述人眼仿生装置包括感光模块、CPU芯片、驱动模块、眼球模块。
  • 一种仿生方法装置
  • [发明专利]芯片架构适配buildroot的方法及装置-CN202310470682.1在审
  • 高福亮 - 北京中科网威信息技术有限公司
  • 2023-04-27 - 2023-08-25 - G06F8/76
  • 本发明提供一种芯片架构适配buildroot的方法及装置,所述方法包括:运行待适配芯片架构的编译环境;在编译环境中解压buildroot的源码,得到buildroot的配置文件目录;从配置文件目录中确定目标配置文件集,并配置目标配置文件集中的配置文件;调用图形化配置命令,基于配置好的目标配置文件集中的各个配置文件,生成待适配芯片架构与buildroot的适配系统。本发明可以有效解决一些芯片架构无法使用buildroot编译开源程序的问题,可快速完成这些芯片架构开源库的编译工作,大大提升与buildroot不兼容的芯片架构的适配移植及其新开源功能开发的效率。
  • 芯片架构buildroot方法装置
  • [发明专利]寄生模式的度量方法、装置、设备及存储介质-CN202310583391.3在审
  • 余轲辉;晋力京 - 北京百度网讯科技有限公司
  • 2023-05-22 - 2023-09-22 - G06F30/392
  • 本公开提供了一种量子芯片版图中寄生模式的度量方法、装置、设备及存储介质,涉及计算机领域,尤其涉及量子计算、量子仿真技术领域。具体实现方案为:对量子芯片版图进行仿真,得到量子芯片版图中量子器件的目标本征模式信息,以及得到量子芯片版图的目标寄生模式信息;其中,所述量子器件为所述量子芯片版图所包含的多个量子器件之一;基于量子器件的目标本征模式信息,以及量子芯片版图的目标寄生模式信息,得到量子器件与目标寄生模式信息对应的目标寄生模式之间的目标耦合强度;其中,所述目标耦合强度用于度量所述目标寄生模式信息对量子器件的特征参数的影响程度。
  • 寄生模式度量方法装置设备存储介质

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