专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]集成电路芯片、封装基板及电子总成-CN202010332593.7有效
  • 李胜源 - 威锋电子股份有限公司
  • 2020-04-24 - 2022-01-25 - H01L23/14
  • 本发明公开一种集成电路芯片、封装基板及电子总成,其中集成电路芯片具有一主动面及位于该主动面的一芯片排列。芯片排列包括四对芯片,其沿着主动面的侧缘排成两排。这四对芯片其中的两对芯片分别是一第一传送差动对芯片及一第一接收差动对芯片,其中这两对芯片的位置彼此不相邻、也不同排。这四对芯片的另外两对芯片分别是一第二传送差动对芯片及一第二接收差动对芯片,其中这另外两对芯片的位置彼此不相邻、也不同排。此外,在此也提出一种对应前述集成电路芯片的封装基板及一种包括前述封装基板和集成电路芯片的电子总成。
  • 集成电路芯片封装电子总成
  • [发明专利]芯片的切片方法-CN202011384765.1有效
  • 李彬彬 - 青岛歌尔微电子研究院有限公司
  • 2020-11-30 - 2023-03-31 - G01N1/06
  • 本发明公开一种芯片的切片方法,包括步骤:提供一芯片,所述芯片上靠近其一端的位置设置有焊;自所述芯片上远离所述焊的一端进行研磨,直至研磨至所述焊所在位置,并对所述焊进行研磨切片。本发明芯片的切片方法中,将切片起始位置设定在芯片上远离焊的一端,从而可自芯片上远离焊的一端进行研磨,直至研磨至焊所在位置,并对焊进行研磨切片。与现有的从焊附近的位置开始研磨切片的方法相比,本发明芯片的切片方法改变了切片方向,自芯片上远离焊的一端向焊所在一端进行研磨,可减少切片过程中对芯片的影响,防止芯片破裂,进而保证后续正常分析
  • 芯片切片方法
  • [发明专利]四方扁平无引脚封装及其制造方法-CN201410283470.3在审
  • 石智仁 - 南茂科技股份有限公司
  • 2014-06-23 - 2015-10-14 - H01L23/495
  • 本发明提供一种四方扁平无引脚封装及其制造方法,该四方扁平无引脚封装包括:一封装材料,以及配置于封装材料中的多个芯片座连接、多个接点连接及一芯片。每一芯片座连接以一第一延伸部与相邻的至少另一芯片座连接彼此连接。芯片座连接与接点连接以一阵列方式排列,芯片座连接配置于阵列中央,接点连接配置于芯片座连接周围,每一接点连接与相邻的至少另一接点连接芯片座连接其中之一之间分别各具有对应的一第二延伸部,对应的二个第二延伸部之间以一沟槽彼此间隔芯片固定于芯片座连接的一上表面,且分别与接点连接电性连接。
  • 四方扁平引脚封装及其制造方法
  • [发明专利]晶片及其测试方法-CN201410330312.9在审
  • 赖志菁 - 华邦电子股份有限公司
  • 2014-07-11 - 2016-02-10 - H01L23/488
  • 本发明提供一种晶片及其测试方法,该晶片包括:第一芯片;第二芯片,与第一芯片并排设置,其中第一芯片与第二芯片的相对侧各具有相对应的多个第一芯片导电与多个第二芯片导电;及多个第一外部导电,设于第一芯片与第二芯片之间,且每一个第一外部导电与相对应的第一芯片导电及第二芯片导电电连接。本发明的晶片包括外部导电,可使测试器的接触端子不接触芯片的导电,从而使芯片的导电垫在测试结束后仍保持完整且不具有缺陷,进而提升后续制造工艺的良率。
  • 晶片及其测试方法
  • [发明专利]层叠半导体封装-CN200810002951.7无效
  • 金钟薰 - 海力士半导体有限公司
  • 2008-01-11 - 2009-05-20 - H01L25/00
  • 该层叠半导体封装包括:具有芯片选择焊和连接焊的基板;包含多个半导体芯片的半导体芯片模块,每个芯片包含数据结合焊芯片选择结合焊、与该数据结合焊电连接的数据再分配单元、以及穿过该数据结合焊并与该数据再分配单元连接的数据穿通电极,该半导体芯片被层叠以露出该芯片选择结合焊;以及用于将该芯片选择焊和该芯片选择结合焊电连接的导电引线。
  • 层叠半导体封装
  • [发明专利]芯片封装结构-CN200910165219.6有效
  • 伯恩·卡尔·厄佩尔特 - 日月光半导体制造股份有限公司
  • 2009-08-13 - 2010-03-03 - H01L23/13
  • 本发明提供了一种芯片封装结构,将芯片与接地或电压结合。用以承载芯片芯片分成至少二个独立的部分,以供接地以及接电压。由于芯片的设计,信号焊线手指延伸至芯片下方,用于连接通道,且导热通道或接地通道位于芯片垫下,用于与芯片导热连接或电性连接。通过前述的排列方式,可使所有的焊线手指较接近芯片,以减少导线的长度以及封装结构的尺寸。
  • 芯片封装结构
  • [发明专利]芯片封装结构-CN200610172822.3无效
  • 邱介宏;乔永超;吴燕毅 - 百慕达南茂科技股份有限公司
  • 2006-12-29 - 2008-07-02 - H01L23/488
  • 本发明公开了一种芯片封装结构,包括一芯片、一导线架、多条第一焊线以及多条第二焊线。芯片具有一主动面、一背面与多个芯片,其中这些芯片配置于主动面上。导线架包括一芯片座、一绝缘层、多个转接焊与多个内引脚。芯片的背面是固着于芯片座上。绝缘层是配置于芯片以外的芯片座上。多个转接焊配置于绝缘层上。多条第一焊线分别连接这些芯片与转接焊。多条第二焊线分别连接这些转接焊与内引脚。此芯片封装结构具有较小的体积以及较高的良率。
  • 芯片封装结构
  • [发明专利]具有修整器的抛光装置及其修整方法-CN202310043624.0在审
  • 马腾达;冯晓宇;王成刚;王慧;李浩冉;徐港 - 中国电子科技集团公司第十一研究所
  • 2023-01-29 - 2023-05-16 - B24B53/017
  • 本发明提出了一种具有修整器的抛光装置及其修整方法,抛光装置包括:抛光芯片夹具、修整器及驱动摆臂,抛光设于抛光盘,用于对待抛光芯片进行研磨抛光;芯片夹具独立于抛光,用于固定待抛光芯片,并将待抛光芯片与抛光相抵;修整器具有与抛光相抵且相对运动的清理状态,以对完成芯片减薄后的抛光进行修整;驱动摆臂芯片夹具和修整器均装配于驱动摆臂,驱动摆臂用于驱动芯片夹具,以带动芯片与抛光间相对摩擦运动,实现对芯片的减薄;驱动摆臂还用于驱动修整器,以带动修整器与抛光相对摩擦运动,实现对抛光的修整。本发明成本低,操作简单,可解决抛光过程中抛光老化、釉化以及材料残留所导致的抛光效率下降的问题。
  • 具有修整抛光装置及其方法
  • [发明专利]芯片封装结构及其制作方法-CN201410325274.8有效
  • 潘玉堂;周世文 - 南茂科技股份有限公司
  • 2014-07-09 - 2018-02-16 - H01L23/31
  • 本发明提供一种芯片封装结构及其制作方法,该芯片封装结构包括导线架、芯片及封装胶体。导线架包括第一图案化金属层、第二图案化金属层及绝缘层。第一图案化金属层包括芯片座及多个焊芯片座包括多个第一凹口。焊设置于第一凹口内。各焊芯片座之间存在第一沟槽。第二图案化金属层连接第一图案化金属层且包括与芯片座热耦接的散热块以及多个接。散热块包括多个第二凹口。接设置于第二凹口内并电性连接相应的焊。各接与散热块之间存在第二沟槽。绝缘层设置于焊与接之间。芯片设置于芯片座上并电性连接焊。封装胶体覆盖第一图案化金属层及芯片
  • 芯片封装结构及其制作方法

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