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[实用新型]缺陷标准片-CN201320804370.1有效
发明人：吴浩;李鹤鸣;杨瑞海 -专利权人：中芯国际集成电路制造（北京）有限公司
申请日： 2013-12-09 - 公布日： 2014-06-04 - 主分类号： H01L21/66 文献下载
摘要：本实用新型提出了一种缺陷标准片，用于监测缺陷扫描机台的稳定性和精度，包括：设有M个缺陷区域的半导体衬底，形成于缺陷区域上的N层隔离层以及分别形成在第一层隔离层的第一个缺陷区域、第二层隔离层的第二个缺陷区域、第N层隔离层的第M个缺陷区域的多个缺陷。将缺陷分布在不同隔离层的不同缺陷区域上，由于缺陷的分布呈阶梯型，在对缺陷扫描机台进行稳定性以及精度检测时，本实用新型提出的缺陷标准片较之现有技术中单一平面分布对缺陷扫描机台的精度要求更高，因此能够十分灵敏的监测缺陷扫描机台的稳定性以及精度
缺陷标准

[发明专利]油气管道内检测系统牵拉实验标准样管的加工方法-CN202111542711.8在审
发明人：慕进良;贾海东;赵康;徐春燕;李坤;许光达;高涛;王晋中;张登涛;李振海 -专利权人：国家石油天然气管网集团有限公司;管网集团（新疆）联合管道有限责任公司
申请日： 2021-12-16 - 公布日： 2022-03-01 - 主分类号： G01N1/28 文献下载
摘要：本发明涉及管道缺陷样管加工方法，是一种油气管道内检测系统牵拉实验标准样管的加工方法，所述标准样管包括金属损失缺陷标准样管、焊缝缺陷标准样管、凹陷缺陷标准样管和复合缺陷标准样管。本发明所述标准样管将金属损失缺陷、焊缝缺陷、凹陷缺陷和复合缺陷集于一体，缺陷数量满足检测大样本要求，该标准样管的缺陷情况更贴近实际被检管道的缺陷情况，则标准样管的检测结果为内检测器性能指标验证和标定提供测试数据支持
油气管道检测系统牵拉实验标准加工方法

[发明专利]一种显示面板的缺陷的灰阶补偿方法及灰阶补偿系统-CN201410834528.9有效
发明人：胡厚亮;郭平昇;朱立伟 -专利权人：深圳市华星光电技术有限公司
申请日： 2014-12-29 - 公布日： 2015-03-25 - 主分类号： G09G3/32 文献下载
摘要：本发明公开一种显示面板的缺陷的灰阶补偿方法，包括步骤：A)获取显示面板的缺陷的位置坐标，并基于缺陷的位置坐标确定缺陷所在的缺陷区域；B)获取缺陷的伽马曲线、缺陷区域的背景的伽马曲线以及显示面板的背景的标准伽马曲线；C)基于缺陷的伽马曲线、缺陷区域的背景的伽马曲线以及显示面板的背景的标准伽马曲线获取缺陷的标准伽马曲线以及缺陷区域的背景的标准伽马曲线；D)基于缺陷的标准伽马曲线以及缺陷区域的背景的标准伽马曲线计算缺陷的各灰阶的灰阶补偿值本发明还公开一种显示面板的缺陷的灰阶补偿系统。本发明的显示面板的缺陷的灰阶补偿方法及灰阶补偿系统，其能够大幅度减小计算量，并且能够对缺陷的补偿达到最好的效果。
一种显示面板缺陷补偿方法系统

[发明专利]精密零件表面缺陷修复系统及修复方法-CN201610574641.7在审
发明人：魏永超;傅强;黎新;敖良忠;邓伟;赖安卿;王瀚艺;赵伟 -专利权人：中国民用航空飞行学院
申请日： 2016-07-21 - 公布日： 2016-12-07 - 主分类号： G06Q10/04 文献下载
摘要：本发明公开了一种精密零件表面缺陷修复系统及修复方法。修复系统包括三维扫描系统、标准零件模块、喷涂模块、缺陷零件模块、比较模块和喷枪；三维扫描系统用于扫描采集标准零件和缺陷零件的型面数据；标准零件模块用于建立标准零件模型；喷涂模块根据标准零件的表面喷涂参数建立喷涂作业数据库；缺陷零件模块用于建立缺陷零件模型；比较模块将缺陷零件的表面数据与对应标准零件的表面数据进行对比，建立表面缺陷区域的型面数据和模型，并反演建立缺陷零件表面缺陷区域的喷涂修复路径，将建立的喷涂修复路径与标准零件表面喷涂参数进行对比优化，向喷枪输出表面缺陷区域修复的表面喷涂参数；喷枪对缺陷零件的表面缺陷区域进行针对性的喷涂修复。
精密零件表面缺陷修复系统方法

[实用新型]槽型轨的标准缺陷样轨-CN201620632521.3有效
发明人： -专利权人：
申请日： 2016-06-22 - 公布日： 2017-01-04 - 主分类号： G01N29/30 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种槽型轨的标准缺陷样轨。该标准缺陷样轨由顶端至底端依次包括轨头、轨腰和轨底；轨头和轨腰之间，以及轨腰和轨底之间圆弧过渡；轨腰上由上至下依次设置有六个第一标准缺陷平底孔；并且相邻的第一标准缺陷平底孔之间的间距相等；轨头上设置有导向槽；轨头的右侧端面上设置有一个第二标准缺陷平底孔；第二标准缺陷平底孔位于导向槽的下方；轨底和轨腰的连接处设置有第一横通孔；第一标准缺陷平底孔的直径为2mm，深度为6mm；第二标准缺陷平底孔的直径为2mm，采用本实用新型提供的标准缺陷样轨可以保证槽型轨各个部位的缺陷检测，保证槽型轨的探伤质量的稳定性。
槽型轨标准缺陷

[发明专利]显示面板缺陷定位方法、装置、设备及存储介质-CN202210197247.1有效
发明人：不公告发明人 -专利权人：成都数联云算科技有限公司
申请日： 2022-03-02 - 公布日： 2022-05-20 - 主分类号： G06T7/00 文献下载
摘要：本申请公开了一种显示面板缺陷定位方法，通过缺陷图像在标准模版上的对应位置确定缺陷图像在标准模版掩膜上的对应位置，以获得缺陷图像的像素值分布，将其与标准模版中各个区域的像素值进行对比，定位缺陷所处的区域，增加了缺陷图像与标准模版的对照精度，通过像素值定位缺陷位置，避免了人为判断偏差，提高了定位精准度。
显示面板缺陷定位方法装置设备存储介质

[发明专利]一种透明样品亚表面标准缺陷数据库的创建方法及装置-CN202210444957.X在审
发明人：刘立拓;王娜;宋晓娇;王盛阳;石俊凯;霍树春;陈晓梅;周维虎 -专利权人：中国科学院微电子研究所
申请日： 2022-04-26 - 公布日： 2022-08-09 - 主分类号： G06F16/583 文献下载
摘要：本发明提供一种透明样品亚表面标准缺陷数据库的创建方法及装置，方法包括：根据预设的亚表面标准缺陷参数创建虚拟透明样品；利用仿真激光作用于虚拟透明样品的亚表面，获得虚拟透明样品亚表面标准缺陷对应的近场光场分布数据；根据近场光场分布数据确定对应的目标远场光强分布数据；根据目标远场光强分布数据及对应的亚表面标准缺陷参数创建透明样品亚表面标准缺陷数据库；如此，可根据所需要的标准缺陷参数创建对应的虚拟透明样品，相比于现有技术中标准样品的制作，样品制作效率较高；并且本申请是利用仿真数据确定最终的目标远场光强分布数据，减小人为实验误差，提高标准缺陷库的准确度。
一种透明样品表面标准缺陷数据库创建方法装置

[发明专利]一种铸件缺陷沿厚度方向的尺寸的测定方法-CN201910191075.5在审
发明人：史洪源;权祥林;周鹏 -专利权人：西安航空职业技术学院
申请日： 2019-03-12 - 公布日： 2019-05-31 - 主分类号： G01B15/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种铸件缺陷沿厚度方向的尺寸的测定方法，通过对被测铸件和标准试块进行透照，获得被测铸件底片和标准试块底片后，利用黑白密度计测定获取标准试块的黑度值、被测铸件底片缺陷位置的黑度值和被测铸件底片缺陷位置相邻的无缺陷位置的黑度值，本发明的标准试块的黑度值对应标准试块相应位置的厚度；通过对比确定与被测铸件的缺陷处黑度值相同的标准试块的黑度值所对应的厚度，对比确定与被测铸件的缺陷位置相邻的无缺陷处黑度值相同的标准试块的黑度值所对应的厚度，最后对标准试块的这两个厚度做差，得到的差值结果即为铸件缺陷沿厚度方向尺寸。本发明可以判断出大型铸件内部存在的缺陷沿射线透照方向的尺寸。
标准试块黑度铸件缺陷位置底片铸件缺陷缺陷处透照差值结果大型铸件密度计射线

[发明专利]一种缺陷检测用标准片-CN201810161947.9有效
发明人：任书铭 -专利权人：上海微电子装备(集团)股份有限公司
申请日： 2018-02-27 - 公布日： 2021-07-02 - 主分类号： H01L21/67 文献下载
摘要：本发明公开了一种缺陷检测用标准片，该缺陷检测用标准片，包括：基底；设置于基底上的薄膜层，薄膜层包括多个曝光场，曝光场包括呈阵列排布的多个比对单元，比对单元包括标准比对单元和缺陷比对单元，标准比对单元和缺陷比对单元均包括至少两个不同检测类型的检测区域本发明提供的技术方案，只在基底上设置单层薄膜层，工艺结构层简单，制作方便，每个比对单元中包括至少两个不同检测类型的检测区域，可以验证设备的多种类型缺陷的检出性能，解决了现有技术中缺陷检测用标准片结构复杂且只能验证单一缺陷检出性能的问题，实现了可以通过简单结构的缺陷检测用标准片对设备多种缺陷的检出性能进行全面验证的目的。
一种缺陷检测标准

[发明专利]基于标准PCB图像的缺陷检测方法及相关装置-CN202211625724.6在审
发明人：蔡淳昊;易振彧;罗羊;潘阳山;王卓琛;刘枢;吕江波;沈小勇 -专利权人：深圳思谋信息科技有限公司
申请日： 2022-12-16 - 公布日： 2023-04-18 - 主分类号： G06T7/00 文献下载
摘要：本申请公开一种基于标准PCB图像的缺陷检测方法及相关装置，方法包括：获取待检测PCB图像；确定与PCB板设计图尺寸相同的标准PCB图像；标准PCB图像的尺寸大于待检测PCB图像的尺寸，且PCB板设计图包括待检测PCB图像对应的设计图区域；对标准PCB图像进行图像截取处理，得到目标标准PCB图像。目标标准PCB图像对应的设计图区域和待检测PCB图像对应的设计图区域相同；将待检测PCB图像与目标标准PCB图像进行对比，确定待检测PCB图像中的缺陷位置。本申请提供的基于标准PCB图像的缺陷检测方法通过将待检测PCB图像与目标标准PCB图像进行对比，来对待检测PCB图像进行缺陷识别。如此，无需对缺陷进行学习，便能有效识别所有类型的缺陷，提高了PCB缺陷检测的准确率。
基于标准 pcb 图像缺陷检测方法相关装置

[发明专利]一种电网主变设备风险评估的数据库设计方法-CN202110745193.3在审
发明人：黄军凯;张迅;文屹;吕黔苏;王冕;范强;赵超;吴建蓉;丁江桥 -专利权人：贵州电网有限责任公司
申请日： 2021-07-01 - 公布日： 2021-09-03 - 主分类号： G06F16/21 文献下载
摘要：本发明公开了一种电网主变设备风险评估的数据库设计方法，包括以下步骤：a）缺陷数据收集，通过分析数据来源，获得缺陷分类标准库的缺陷记录数据表的字段名称和字段内容；b）对缺陷数据进行清洗以及去重；c）人工标注，根据历史缺陷报告对缺陷表象、缺陷部位、缺陷原因和处理措施进行文本分析人工标注，最终获得设备缺陷标准库。本发明保证了设备缺陷特征词库的完整，后续可结合机器学习算法实现设备缺陷特征词库的自动扩充，构建更为智能的缺陷标准库，缺陷标准库构建准确，使得缺陷诊断模型诊断准确率高。
一种电网设备风险评估数据库设计方法

[发明专利]一种TOFD探伤对比试块-CN202010415713.X在审
发明人：王广星;边永丰;张微微;鹿曼曼;张习习;段元伟 -专利权人：山东瑞祥模具有限公司
申请日： 2020-05-16 - 公布日： 2020-07-17 - 主分类号： G01N29/30 文献下载
摘要：一种TOFD探伤对比试块，包括标准块A、标准块B、标准块C、标准块D、延迟块、固定卡箍、翼板；所述标准块A、标准块B、标准块C、标准块D与延迟块的外形尺寸相同，材料均采用碳钢；所述标准块A、标准块B、标准块C、标准块D依次排列，两端分别设置延迟块；所述延迟块通过固定卡箍与标准块A、标准块B、标准块C和标准块D固定连接；本发明的有益效果是试块中的缺陷设计符合焊缝危险缺陷的真实形态，检测时更能符合惠更斯原理，通过在一发一收模式下接收缺陷端点衍射波，根据尖端衍射球面波的传播时间与声速来测定缺陷尖端在被检工件中的埋藏深度，相对于长横孔缺陷，检测效果更准确，提高了TOFD检测技术的可靠性。
一种 tofd 探伤比试

[实用新型]一种TOFD探伤对比试块-CN202020815251.6有效
发明人：王广星;边永丰;张微微;鹿曼曼;张习习;段元伟 -专利权人：山东瑞祥模具有限公司
申请日： 2020-05-16 - 公布日： 2020-12-25 - 主分类号： G01N29/30 文献下载
摘要：一种TOFD探伤对比试块，包括标准块A、标准块B、标准块C、标准块D、延迟块、固定卡箍、翼板；所述标准块A、标准块B、标准块C、标准块D与延迟块的外形尺寸相同，材料均采用碳钢；所述标准块A、标准块B、标准块C、标准块D依次排列，两端分别设置延迟块；所述延迟块通过固定卡箍与标准块A、标准块B、标准块C和标准块D固定连接；本发明的有益效果是试块中的缺陷设计符合焊缝危险缺陷的真实形态，检测时更能符合惠更斯原理，通过在一发一收模式下接收缺陷端点衍射波，根据尖端衍射球面波的传播时间与声速来测定缺陷尖端在被检工件中的埋藏深度，相对于长横孔缺陷，检测效果更准确，提高了TOFD检测技术的可靠性。
一种 tofd 探伤比试

[发明专利]一种多台光刻设备校正方法-CN201210047391.3有效
发明人：戴韫青;王剑;毛智彪 -专利权人：上海华力微电子有限公司
申请日： 2012-02-28 - 公布日： 2012-07-11 - 主分类号： G03F7/20 文献下载
摘要：本发明提供一种多台光刻设备校正方法，包括以下步骤：步骤1：将标准掩模板用标准光刻机曝光标准硅片，所述标准掩模板上集成检测图形；步骤2：测量标准掩模板上检测图形的尺寸，并得出标准光刻机的尺寸基准数据；测量标准硅片上缺陷的种类和数量，并得出标准光刻机的缺陷基准数据；步骤3：用标准掩模板在待校正光刻机上曝光待校正硅片；步骤4：测量待校正硅片上检测图形的尺寸数据，并得出待校正光刻机的尺寸数据，测量待校正硅片上缺陷的种类和数量，并得出待校正光刻机的缺陷数据；步骤5：比较标准光刻机和待校正光刻的尺寸基本数据和尺寸数据、缺陷基准数据和缺陷数据，根据数据比较结果调整待校正光刻机。
一种光刻设备校正方法

[发明专利]靶材组件的焊接缺陷率和结合率的检测方法-CN201210430415.3有效
发明人：姚力军;相原俊夫;大岩一彦;潘杰;王学泽;袁海军 -专利权人：宁波江丰电子材料有限公司
申请日： 2012-11-01 - 公布日： 2014-05-14 - 主分类号： G01N29/04 文献下载
摘要：本发明提供一种靶材组件的焊接缺陷率和结合率的检测方法。其中靶材组件焊接缺陷率的检测方法，包括：提供标准试样，所述标准试样的缺陷面积已知；用超声波探伤仪对标准试样的缺陷进行检测，确定检测条件；提供靶材组件；用检测条件对靶材组件检测，获取靶材组件缺陷的面积；通过靶材组件的缺陷面积，获取靶材组件的焊接缺陷率，其中，提供标准试样包括：提供靶材、背板；将靶材与背板进行焊接；对焊接后的背板进行打孔处理，孔的底面积为标准试样的缺陷面积。采用本发明制作的标准试样使后续对靶材组件的检测准确率高，标准试样的制作简单方便。
组件焊接缺陷结合检测方法

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