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[发明专利]一种基于变电设备的运维大数据分析系统及方法-CN202110466295.1在审
发明人：张昱顺;徐登科;宋伟;池丽丽;邹怡;杨晓昕;刘盛晓;周俊鹏;熊源;程虹;程薇;王雪梅;刘雨坤;陈勇;黄沼 -专利权人：四川嘉能佳网创新能源科技有限责任公司
申请日： 2021-04-28 - 公布日： 2021-07-27 - 主分类号： G06Q10/00 文献下载
摘要：本申请提供一种基于变电设备的运维大数据分析系统及方法，系统包括：缺陷分析子系统、运行数据分析子系统和运维质量分析子系统；缺陷分析子系统用于分析变电设备的缺陷类型和缺陷数量，缺陷分析子系统包括：缺陷类型分析模块、缺陷数量分析模块和缺陷消除统计模块；运行数据分析子系统用于分析变电设备运行过程中的运行状态，运行数据分析子系统包括：温度分析模块、异常统计模块和泄露电流分析模块；运维质量分析子系统用于分析巡检变电设备的运维人员的巡检状态，运维质量分析子系统包括：巡检时长分析模块、变电设备巡检数量统计模块和巡检质量分析模块。
一种基于变电设备运维大数据分析系统方法

[发明专利]自动分析修补装置-CN200710127008.4有效
发明人：张仁明;曾彦馨;许贸雄;林瑞堉 -专利权人：台达电子工业股份有限公司
申请日： 2007-06-13 - 公布日： 2008-12-17 - 主分类号： H01L21/00 文献下载
摘要：本发明提供一种自动分析修补装置。该自动分析修补装置包含一自动缺陷分析系统、一自动缺陷修补系统及一手动缺陷修补系统；其中该自动缺陷修补系统还包含一数据撷取单元、一运算单元及一缺陷分类单元。当进行一待测物缺陷自动分析修补时，该数据撷取单元会撷取该待测物的一待分析缺陷数据并交予该运算单元分析以得一缺陷分析结果，接着该缺陷分类单元会针对该缺陷分析结果加以分类以利后续该自动缺陷修补系统或该手动缺陷修补系统进行缺陷修补
自动分析修补装置

[发明专利]一种配电自动化主站运行缺陷分析系统-CN202210334123.3在审
发明人：孙阳;曹瑛;杜健;潘宇;唐明明 -专利权人：国网江苏省电力有限公司常州供电分公司;江苏言和电力科技有限公司
申请日： 2022-03-31 - 公布日： 2022-09-02 - 主分类号： G06Q10/06 文献下载
摘要：本发明公开了一种配电自动化主站运行缺陷分析系统，该系统包括：缺陷获取模块，用于对配网终端运行信息的运行缺陷进行提取；缺陷分类筛选模块，用于对不同类型、区域、厂家、通信方式运行缺陷的时间段和缺陷告警量进行分析，定制消缺等级；缺陷原因分析模块，用于通过数据源查询方式，对不同运行缺陷的缺陷原因进行分析。本发明通过完善终端运行缺陷分析及筛选规则，按缺陷等级、类型等展示配网终端中的运行缺陷，提供消缺依据；对配网自动化日常运行数据进行抽取处理分析，实时的集中化展示系统运行中存在的缺陷与风险，保证系统正常稳定运行
一种配电自动化运行缺陷分析系统

[发明专利]一种快速诊断系统软件缺陷的系统及方法-CN200710163839.7无效
发明人：刘庆彪;庄钦平;陈玄同;刘文涵 -专利权人：英业达股份有限公司
申请日： 2007-09-30 - 公布日： 2009-04-01 - 主分类号： G06F11/36 文献下载
摘要：本发明公开了一种快速诊断系统软件缺陷的系统及方法，系用以对导致系统错误的系统程序缺陷进行快速定位并向用户回馈。首先，依据用户需求，预先设定并在系统中写入系统缺陷分析准则的程序，且在系统的程序模块中依照用户对缺陷分析结果的精细度需求加入数个缺陷插入点，然后在系统程序运行过程中在上述各缺陷插入点处产生缺陷管理信息，并对此管理信息进行监控，以收集相关的系统缺陷数据，最后通过系统缺陷分析准则的程序实时分析所收集到的系统缺陷数据，借以获得造成系统错误的最小缺陷集合并实时记录到系统日志中，同时回报给用户。
一种快速诊断系统软件缺陷系统方法

[发明专利]一种用于复杂工况下的电缆缺陷分析系统-CN202210199019.8在审
发明人：李乾;段志国;冯俊国;张珺;刘保安;郭康;王思莹;吴灏;王淇锋 -专利权人：国网河北省电力有限公司石家庄供电分公司;国家电网有限公司
申请日： 2022-03-02 - 公布日： 2022-06-17 - 主分类号： G01R31/08 文献下载
摘要：本发明公开了一种用于复杂工况下的电缆缺陷分析系统，包括操控台，操控台内设置有电缆缺陷分析系统，电缆缺陷分析系统包括控制模块、缺陷报警模块、缺陷分析模块、位置确定模块、通信模块以及存储模块，本发明通过缺陷报警模块、缺陷分析模块以及位置确定模块，从而实现对报警数据的采集、传输、处理、分析以及存储，从而确定电缆缺陷的位置以及缺陷的原因，进而发送至操作台，使工作人员能够得知电缆缺陷情况，并快速完成后续的维修，简单、快速，大大提高工作人员的工作效果，并且电缆缺陷分析系统还能够对新的报警数据进行存储，以便后续在出现接近或相同数据能够及时找到解决办法，提高工作效率。
一种用于复杂工况电缆缺陷分析系统

[发明专利]缺陷管理系统的方法-CN03150606.2无效
发明人：林锦祥;江红;殷嘉杰 -专利权人：上海宏力半导体制造有限公司
申请日： 2003-08-27 - 公布日： 2005-03-09 - 主分类号： H01L21/66 文献下载
摘要：本发明提供一种缺陷管理系统的方法，包含进行机台匹配检验于一缺陷管理系统中，其至少包含扫描一生产晶片；检视一使用层级于缺陷管理系统中，缺陷管理系统根据使用层级，分配缺陷管理系统的资源；编辑一分析过程模板，缺陷管理系统根据该分析过程模板，执行一分析过程；预滤缺陷数据，其根据至少一基准，此基准选自以下所组成族群之一：未分类与分类、缺陷类别、缺陷尺寸、影像种类、缺陷图案、与CP数据结合；及输出一结果报告，结果报告结合分析过程模板与缺陷数据
缺陷管理系统方法

[发明专利]基于机器视觉与知识谱图的SMT产品缺陷分析系统及方法-CN202210943442.4在审
发明人：黄春跃;张怀权;廖帅冬;李茂林;龚锦锋 -专利权人：桂林电子科技大学
申请日： 2022-08-08 - 公布日： 2022-10-21 - 主分类号： G06T7/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种基于机器视觉与知识图谱的SMT产品缺陷分析系统，所述系统采用现有技术中的X射线成像技术、机器视觉、知识图谱和深度学习技术，其特征在于，包括顺序连接的操作对象、机器视觉识别单元、图片预处理单元、缺陷识别单元、缺陷分析单元和产品缺陷知识图谱单元，缺陷分析单元外接故障信息呈现单元。这种系统搭建容易，组网快捷，本发明同时还公开了基于机器视觉与知识图谱的SMT产品缺陷分析系统的分析方法，这种方法能在SMT生产过程中实现SMT产品缺陷的快速检测、快速分析并对缺陷产品快速处理提供依据。
基于机器视觉知识 smt 产品缺陷分析系统方法

[发明专利]缺陷监控分析系统及方法-CN201811630264.X有效
发明人：汪金凤 -专利权人：上海华力微电子有限公司
申请日： 2018-12-29 - 公布日： 2021-08-13 - 主分类号： H01L21/67 文献下载
摘要：本发明公开了一种缺陷监控分析系统，包含两部分模块：模块一：为已知器件失效问题分析系统，所述的已知器件失效问题分析系统包含制程问题以及设备问题，将制程问题中的发现的缺陷与机台参数进行关联，建立内在的联系，形成数据库；模块二：基线上升趋势问题分析系统，通过将基线上升趋势曲线与机台动作时间点进行对比，找出缺陷发生原因。本发明所述的缺陷监控分析系统，整合相关工艺参数，通过建立缺陷监控分析系统将缺陷与机台及机台相关参数建立对应关系，设计一种科学有效的监控手段，可以及时的发现相关参数变化及可能带来的缺陷影响，有效减低缺陷发生的概率
缺陷监控分析系统方法

[发明专利]一种城轨集成项目测试缺陷预测方法-CN202310438733.2在审
发明人：杨菲;张瑞 -专利权人：卡斯柯信号有限公司
申请日： 2023-04-21 - 公布日： 2023-07-18 - 主分类号： G06F11/36 文献下载
摘要：本发明提供一种城轨集成项目测试缺陷预测方法，预先对所有项目测试缺陷进行收集，将每一项目测试缺陷按照预设属性进行分类识别后存储到缺陷库中；其中，所述项目测试缺陷包含软件缺陷和数据缺陷；所述方法包括如下步骤：从所述缺陷库中导出目标范围内的项目测试缺陷；按照软件缺陷和数据缺陷相对应的分析方式，对导出的项目测试缺陷进行具体分析，并将分析信息存储于缺陷分析系统数据库中；基于缺陷分析系统数据库的分析信息，针对软件缺陷和数据缺陷分别进行缺陷预测本发明实现了实现对软件测试缺陷和数据测试缺陷的分析，用于对后续测试项目的预测。
一种集成项目测试缺陷预测方法

[发明专利]一种钢铁表面夹渣缺陷成因分析系统及方法-CN202210093397.8在审
发明人：甘青松;陈玉柱;王海涛;夏彬彬 -专利权人：宝山钢铁股份有限公司
申请日： 2022-01-26 - 公布日： 2023-08-08 - 主分类号： G06Q10/0639 文献下载
摘要：本发明公开了一种钢铁表面夹渣缺陷成因分析系统，包含数据平台模块、在线监控模块和智能分析模块。本发明还公开了一种钢铁表面夹渣缺陷成因分析方法，分别利用数据平台模块、在线监控模块和智能分析模块针对炼钢工序和热轧轧制阶段发现的表面夹渣缺陷的成因分析，该钢铁表面夹渣缺陷成因分析系统及方法集成表面夹渣缺陷相关全部数据和分析技术建立统一的表面夹渣缺陷成因分析平台，提高钢铁表面夹渣缺陷成因分析效率和准确性，综合多种方法、从多个维度分析表面夹渣缺陷成因，从各个角度降低表面夹渣缺陷的发生，不断提高产品质量。
一种钢铁表面缺陷成因分析系统方法

[发明专利]一种基于Jira的缺陷报告自动生成系统-CN202310301435.9在审
发明人：魏强;李振龙 -专利权人：一汽奔腾轿车有限公司
申请日： 2023-03-27 - 公布日： 2023-08-18 - 主分类号： G06F11/07 文献下载
摘要：本发明公开了一种基于Jira的缺陷报告自动生成系统，包括表示层、控制层以及模型层；模型层用于获取被测系统的缺陷数据，并将缺陷数据进行数据整理和数据组装；通过对组装好的缺陷数据进行算法分析，获得缺陷分析数据；并通过预测模型预测缺陷未来走势，生成缺陷预测数据；控制层根据用户调取的服务地址选择待展示的缺陷分析数据和/或缺陷预测数据，将待展示的缺陷分析数据和/或缺陷预测数据进行代码渲染并传递给表示层；表示层获取控制层传递的缺陷分析数据和/或缺陷预测数据，在网页端进行数据展示。
一种基于 jira 缺陷报告自动生成系统

[发明专利]缺陷检测系统及缺陷检测方法-CN201811454359.0在审
发明人：许平康;方桂芹;黄仁德 -专利权人：德淮半导体有限公司
申请日： 2018-11-30 - 公布日： 2019-04-09 - 主分类号： G01N21/95 文献下载
摘要：一种缺陷检测系统及缺陷检测方法，系统包括：定位模块，所述定位模块适于获取晶圆表面缺陷的坐标信息；位置分析模块，所述位置分析模块适于对所述坐标信息进行分析，并确定出晶圆中的特征缺陷区域；抽样分配模块，所述抽样分配模块适于根据第一抽样数指令确定出各特征缺陷区域表面缺陷中的抽样特征缺陷；图像获取模块，所述图像获取模块适于获取各抽样特征缺陷的图像信息。所述缺陷检测系统的性能得到提高。
缺陷检测系统图像获取模块抽样特征定位模块分配模块缺陷检测特征缺陷位置分析坐标信息抽样晶圆表面区域表面图像信息指令确定晶圆分析

[发明专利]一种配网自动化终端缺陷分析系统及其方法-CN201810501782.5有效
发明人：何山;李丽娜;黄颖祺;王谦;李浩然;郝蛟;张宗包;邓彬;杜进桥;刘岩 -专利权人：深圳供电局有限公司
申请日： 2018-05-23 - 公布日： 2022-04-12 - 主分类号： G06Q10/06 文献下载
摘要：本发明公开一种配网自动化终端缺陷分析系统，所述系统包括可通讯地连接的基础数据管理组件和统计分析组件；所述基础数据管理组件用于管理缺陷信息、终端信息和厂站信息；所述统计分析组件用于对发生缺陷的终端的缺陷信息进行统计分析该系统能够快速收集现有缺陷，追溯既往缺陷，对现有缺陷的消除进行远程技术指导，并通过统一的评分、评价标准对发生缺陷的设备和生产厂家打出分数。
一种自动化终端缺陷分析系统及其方法

[发明专利]一种基于图像处理的接触网故障识别系统和识别方法-CN202110937467.9在审
发明人：高振海 -专利权人：前景智能交通科技（苏州）有限公司
申请日： 2021-08-16 - 公布日： 2021-11-16 - 主分类号： G06K9/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种基于图像处理的接触网故障识别系统，包括缺陷分析平台和与缺陷分析平台通信连接的数据采集装置和维修平台，数据采集装置用于采集接触网的图像信息并上传至缺陷分析平台，缺陷分析平台包括算法分析模块和与算法分析模块通信连接的缺陷数据库，算法分析模块对图形信息提取设定分析部件的特征，设定分析部件的特征与缺陷数据库进行比较，当任一分析部件异常时，缺陷分析平台结合将GPS数据和对应的时间序列表生成位置信息，并将位置信息和异常信息生成缺陷报告并上传至维修平台还公开基于此系统的识别方法，自动识别与标示缺陷，能有效提高缺陷查找定位效率和准确度，显著降低人工劳动强度。
一种基于图像处理接触故障识别系统方法

[发明专利]一种透明材料表面及内部缺陷的检测方法和检测系统-CN201810426578.1有效
发明人：余卿;崔长彩;李子清;周瑞兰;杨成;张昆;叶瑞芳 -专利权人：华侨大学
申请日： 2018-05-07 - 公布日： 2021-04-13 - 主分类号： G01N21/88 文献下载
摘要：本发明公开了一种透明材料表面及内部缺陷的检测方法和检测系统，检测系统包括：光学测量系统、光学分析系统和彩色共焦数据处理程序。光学测量系统用于光的输出并接收被测透明材料表面及内部缺陷的反射光，将其输出到光学分析系统；光学分析系统，用于接收透明材料表面及内部缺陷的反射光；彩色共焦数据处理程序，用于对光学分析系统获取的反射光进行分析以获取反射峰对应的波长值，再对此波长值进行处理以获取被测透明材料的表面及内部缺陷信息。本发明还提供了基于上述检测系统的透明材料表面及内部缺陷的检测方法。本发明的透明材料表面及内部缺陷的检测方法和检测系统，能够快速、无损、准确的对透明材料表面及内部缺陷进行定性定量地测量。
一种透明材料表面内部缺陷检测方法系统

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