专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]半导体器件及其制备方法和应用-CN201410553135.0在审
  • 陈弘;贾海强 - 中国科学院物理研究所
  • 2014-10-17 - 2016-04-20 - H01S5/00
  • 本发明提供的半导体器件包括依次形成的基材料基片、隔离层、化合物半导体外延材料层,其中,所述隔离层的材料为金属材料或介质材料,本发明提供的半导体器件,通过在衬底与化合物半导体外延材料层之间建立隔离层,从而构建了衬底与化合物半导体外延材料层之间的晶格失配产生应力的缓冲层,这样,该半导体器件在工作时,衬底与化合物半导体外延材料两者晶格失配与热失配问题产生的大的应力问题得到良好隔离,半导体器件工作寿命延长
  • 半导体器件及其制备方法应用
  • [实用新型]一种滤波芯片器件-CN202021213101.4有效
  • 张丽丽;罗振东 - 深圳市前海派速科技有限公司
  • 2020-06-28 - 2020-12-08 - H01P1/208
  • 本实用新型适用于通信技术领域,提供了一种滤波芯片器件,包括:第一谐振器、第二谐振器、介质层和衬底层;所述第一谐振器位于滤波芯片器件的表层,由磁电耦合传输线组成;所述第二谐振器邻接于所述第一谐振器,由磁电耦合传输线组成,所述第一谐振器和所述第二谐振器协同工作,形成频率通带和谐波抑制频带;所述介质层位于所述第二谐振器和所述衬底层之间;所述衬底层形成所述滤波芯片器件的底部。该滤波芯片器件可以形成调节传输零点,优化了滤波芯片器件的选择性。
  • 一种滤波芯片器件
  • [发明专利]-玻璃-结构声表面波温度和压力集成传感器及制备-CN201610293100.7有效
  • 伞海生;周鹏 - 厦门纵能电子科技有限公司
  • 2016-05-05 - 2018-12-25 - G01K11/26
  • ‑玻璃‑结构声表面波温度和压力集成传感器及制备,涉及传感器。传感器为‑玻璃‑三明治结构,压力传感器集成在上层的感压薄膜上,温度传感器集成在底部的基底上,基底与上层通过玻璃框架隔离。制造方法:制备基底;制备感压薄膜;基底、感压薄膜与玻璃框架键合形成三明治结构空腔;以SOI晶圆片中的掩埋氧化硅层为腐蚀自停止层刻蚀SOI晶圆片的衬底层,留下SOI晶圆片的器件层作为压力传感器的感压薄膜;在感压薄膜上刻蚀四个电极区域,刻蚀区域为温度传感器和压力传感器电极区域的上方,分别以玻璃框架与感压薄膜键合的界面和感压薄膜上的镶嵌电极为刻蚀停止层;阵列器件裂片后得单个器件
  • 玻璃结构表面波温度压力集成传感器制备
  • [发明专利]一种WDM接收器件及其制备方法-CN202011249407.X有效
  • 冯大增;王奕琼;梁虹;武爱民 - 中国科学院上海微系统与信息技术研究所
  • 2020-11-10 - 2021-12-28 - G02B6/42
  • 本申请公开了一种WDM接收器件及其制备方法,所述方法包括:获取SOI晶圆;制备光波解复用器,包括:在所述SOI晶圆上定义光波解复用器区域;在所述光波解复用器区域形成增透膜和电介质材料层,所述增透膜位于所述电介质材料层的一侧;在所述电介质材料层的另一侧形成光栅,在所述光栅与所述电介质材料层之间形成反射膜;制备光波导、探测器和光膜转换器;在所述光波解复用器所述光波导、所述探测器和所述光膜转换器的表面形成保护膜本申请的WDM接收器件及其制备方法,通过引入电介质材料实现非热敏光波解复用器,可以降低器件的光学折射率和热光系数,提高器件性能,有助于减小集成器件的体积、降低成本。
  • 一种wdm接收器件及其制备方法
  • [实用新型]非接触光电器件少数载流子寿命检测仪-CN201620719319.4有效
  • 黄帆;许明;初宁;邹诚;韩捷飞 - 超视界激光科技(苏州)有限公司
  • 2016-07-08 - 2016-12-21 - G01R31/26
  • 本实用新型涉及一种非接触光电器件少数载流子寿命检测仪,包括用于放置台、光源、探测器、信号放大器、锁相放大器、处理控制单元、函数发生器,函数发生器与电光源连接,当光电器件放置于所述放置台上时,光电器件位于所述的光源与探测器之间通过探测得到的幅值以及探测得到的相位与原来的相位进行对比得到相位差,并通过相应的计算公式计算得出少数载流子寿命参数,在更换不同规格的光电器件时不需要进行校准即可直接使用,将光电器件置于光源与探测器之间,能够很好的减少光源对检测的影响,提高测量的准确性,通过多点式的探测,很容易得到少数载流子寿命的分布图,进而判断光电器件的生产质量,提高检测的效率。
  • 接触光电器件少数载流子寿命检测

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