专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]具有嵌入在接线体中的芯片的芯片封装-CN201080045635.3有效
  • 莫志民 - 意法爱立信有限公司
  • 2010-08-27 - 2012-09-26 - H01L23/498
  • 该电子装置包括至少一个电子芯片(30)和电子芯片(30)的封装。封装包括层压基板(10),其中,电子芯片(30)附接在层压基板(10)上。此外,封装包括围绕电子芯片(30)形成的绝缘体(60)。而且,封装包括延伸穿过绝缘体(60)的多个电极(64)。对于层压基板(10)的每个焊盘(20),在一个或多个导电层(12a-d)和穿过一个或多个绝缘层(16a-c)的一个或多个通道(18)中形成接线,以连接焊盘(20)和至少一个电极(64)。互连体(70)包括在互连体(70)的与连接到绝缘体(60)和电子芯片(30)的面相反的面上的多个焊盘(72),且互连体还包括在互连体(70)内部的接线(74),用于电子芯片(30)的焊盘(32)、电极(64)和互连体(70)的焊盘(72)之间的连接。
  • 具有嵌入接线中的芯片封装
  • [发明专利]半导体封装及其制造方法-CN201711061893.0有效
  • 不公告发明人 - 长鑫存储技术有限公司
  • 2017-11-02 - 2021-07-27 - H01L23/52
  • 本申请公开了一种半导体封装及其制造方法,该半导体封装包括:芯片组,包括堆叠设置的多个单体芯片,单体芯片之间通过多个导通孔互连,芯片组具有暴露于侧边的孔切割垫,所述孔切割垫是由芯片组的一外侧导通孔通过轴向垂直切割形成的;侧接芯片,垂直接合于芯片组的侧边,所述侧接芯片包括在所述侧接芯片的有源面上的多个连接,连接的端部键合于芯片组的孔切割垫,以实现芯片组与侧接芯片的连接。本申请中侧接芯片通过在导通孔轴向垂直方向形成的孔切割垫直接与芯片组连接,相比于现有技术中基底芯片与堆叠芯片组的最底层单体芯片通过硅通孔互连的方式,本申请方案的侧接芯片与芯片组的互连路径缩短,信号完整性更好
  • 半导体封装及其制造方法
  • [发明专利]测试结构及测试方法-CN202211650830.X在审
  • 王帆;方明海;刘棋;吴龙;陈畅;张骏 - 武汉新芯集成电路制造有限公司
  • 2022-12-21 - 2023-03-21 - H01L23/544
  • 本发明提供了一种测试结构及测试方法,所述测试结构包括:衬底;器件结构,形成于衬底上;第一金属互连线、第二金属互连线和第一焊盘,第一金属互连线与器件结构连接,所述第二金属互连线与所述第一焊盘连接,第一金属互连线与第二金属互连线之间断开;迁移金属线,迁移金属线位于第一金属互连线与第二金属互连线之间,以使得迁移金属线在发生迁移时,迁移金属线分别与第一金属互连线和第二金属互连线连接。
  • 测试结构方法
  • [发明专利]半导体结构及形成方法-CN201610407471.3有效
  • 周鸣 - 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司;中芯国际集成电路制造(北京)有限公司
  • 2016-06-12 - 2020-01-03 - H01L21/60
  • 一种半导体结构及形成方法,其中形成方法包括:形成衬底,所述衬底内具有前层待连接;形成覆盖所述前层待连接的第一帽层;形成位于所述第一帽层上的介质叠层;在所述介质叠层和所述第一帽层内形成开口,所述开口底部露出所述前层待连接;向所述开口内填充导电材料,形成互连结构;使所述第一帽层与所述前层待连接反应,形成强化层。本发明通过在介质叠层与前层待连接之间形成第一帽层;并在形成互连结构时使所述第一帽层与所述前层待连接相互反应形成强化层。所述强化层的形成,能够提高所述前层待连接与介质叠层的连接强度,从而能够改善所形成互连结构的迁移问题,提高所形成互连结构的可靠性。
  • 半导体结构形成方法
  • [发明专利]集成电路芯片及其形成方法-CN202110243890.9在审
  • 黄信华;喻中一;陈奎铭 - 台湾积体电路制造股份有限公司
  • 2021-03-05 - 2021-10-26 - H01L23/538
  • 本发明的各种实施例涉及一种集成电路(IC)芯片,包括倒置并覆盖在凹入半导体衬底顶部的介区上的半导体器件。互连结构覆盖在半导体衬底和介区上,还包括金属间介(IMD)层。半导体层覆盖在互连结构上,并且半导体器件在半导体层中并位于半导体层与互连结构之间。半导体器件包括第一源极/漏极电极,第一源极/漏极电极覆盖在介区上,并且进一步覆盖在焊盘上并耦合到焊盘。介区可减小衬底电容以降低衬底功率损耗,例如,介区可以是腔或介层。接触穿过半导体层延伸至焊盘。本发明的各种实施例还涉及形成集成电路芯片的方法。
  • 集成电路芯片及其形成方法
  • [发明专利]聚合物涂层半导体装置及形成半导体组合的混合接合-CN202211054658.1在审
  • 周卫;仲野英一;邱盈达 - 美光科技公司
  • 2022-08-31 - 2023-03-03 - H01L23/31
  • 本申请案是针对聚合物涂层半导体装置及形成半导体组合的混合接合。半导体装置组合包含:第一半导体装置,其具有正面及与所述正面相对的背面;金属互连,其形成在所述背面上,及聚合物材料,其沉积在所述第一半导体装置上方以囊封所述侧壁、所述背面及所述金属互连。所述第一半导体装置经平面化以暴露所述金属互连的所述上部表面。所述组合进一步包含:第二半导体装置,其具有顶侧及与所述顶侧相对的底侧;聚合物材料,其沉积在所述第二半导体装置上方以囊封所述侧壁及所述底侧。所述第二半导体装置堆叠在所述第一装置上方并混合接合在一起,使得所述第一半导体装置背面上的每一金属互连与所述第二半导体装置底侧上的对应金属互连对准并耦合。
  • 聚合物涂层半导体装置形成组合混合接合

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