专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]铁电阻变存储器及其操作方法、制备方法-CN201180001739.9有效
  • 江安全;刘骁兵 - 复旦大学
  • 2011-01-12 - 2012-05-02 - H01L27/24
  • 提供了一种铁电阻变存储器及其操作方法、制备方法,属于存储器技术领域。该铁电阻变存储器包括上电极(101)、下电极(103)以及设置于该上电极(101)和下电极(103)之间的用作存储层的铁电半导体薄膜层(102);其中,该铁电半导体薄膜层(102)可被操作地通过铁电电畴产生二极管导通特性、并可被操作地通过该电畴的变化调制该二极管导通特性;该铁电阻变存储器根据该二极管导通特性的调制变化存储信息。该铁电阻变存储器具有结构简单、制备方法简单、可非破坏性读取、且非易失性存储的特点。
  • 电阻存储器及其操作方法制备方法
  • [发明专利]一种分级存储方法及系统-CN201110388104.0有效
  • 付忠 - 成都市华为赛门铁克科技有限公司
  • 2011-11-29 - 2012-06-27 - G06F12/08
  • 本发明涉及数据存储技术领域,公开了一种分级存储方法及系统,该方法包括:将存储器划分为至少两个不同的层级,每个层级对应的资源池中数据块的大小与其他层级对应的资源池中数据块的大小不同,高层级对应的资源池中数据块的大小大于低层级对应的资源池中数据块的大小;当逻辑卷被访问时,确定被访问数据的I/O特性;根据所述数据的I/O特性,将所述数据在不同层级对应的存储器上迁移,用以使顺序存取的数据存储在高层级,随机存取特性的数据存储在低层级。
  • 一种分级存储方法系统
  • [发明专利]存储装置-CN201080065161.9有效
  • 的场正贵 - 日本电气株式会社
  • 2010-10-19 - 2012-11-21 - G06F3/06
  • 一种存储装置101包括:多个分割处理部120,每一个配置成对应于待写入数据的特性,用于依据先前设置的准则分割数据;以及数据写入部117,用于将通过分割处理部的分割获得的分割数据写入存储装置。存储装置还包括:接收缓冲器111,用于接收待写入数据以及暂时存储为接收数据;分割处理选择部113,用于检测由接收缓冲器存储的接收数据的特性以及选择配置成对应于接收数据的检测特性的分割处理部;以及数据发送部114,用于将接收缓冲器存储的接收数据发送到由分割处理选择部选择的分割处理部。
  • 存储装置
  • [发明专利]支援程序、信息处理装置以及印刷方法-CN202080084738.4在审
  • 细沟仁人 - 兄弟工业株式会社
  • 2020-07-01 - 2022-08-02 - G06F3/12
  • 提供一种在装入有OS标准的通用印刷程序的信息处理装置中,减少打印机固有的特性导致的印刷品质的偏差的技术。根据用于与PC(1)连接的打印机(2)进行的印刷的辅助程序(42),PC(1)从打印机(2)获取表示打印机(2)所固有的特性特性数据,并将获取到的特性数据存储存储器(12)。而且,在对于预先装入到OS(21)的通用印刷程序(41)存在使打印机(2)进行图像的印刷的印刷指令的情况下,PC(1)生成基于存储存储器(12)的特性数据对成为印刷指令的印刷对象的图像进行校正后的校正印刷数据
  • 支援程序信息处理装置以及印刷方法
  • [发明专利]一种克隆特性测试方法、装置、设备及存储介质-CN201811245474.7有效
  • 范义波;刘粉粉;魏显玉 - 郑州云海信息技术有限公司
  • 2018-10-24 - 2021-10-29 - G06F11/22
  • 本发明公开了一种克隆特性测试方法,应用于统一存储系统,该方法包括以下步骤:在达到针对统一存储系统的克隆特性的测试触发条件时,在统一存储系统中创建一个源卷的克隆卷;将源卷的数据拷贝到克隆卷;在监控到拷贝完成后,分别进行映射关系监控测试、一致性测试和互相影响测试,并获得相应的测试结果,基于获得的测试结果生成克隆特性测试日志。应用本发明实施例所提供的技术方案,测试过程自动进行,对克隆特性进行全面覆盖测试,可以覆盖一些人工测试容易遗漏的点和测试容易忽略的点进行覆盖测试,提高测试效率和测试质量。本发明还公开了一种克隆特性测试装置、设备及存储介质,具有相应技术效果。
  • 一种克隆特性测试方法装置设备存储介质
  • [发明专利]一种降低存储器读干扰的电路及方法-CN201010162241.8有效
  • 王琴;柳江;刘明 - 中国科学院微电子研究所
  • 2010-04-28 - 2011-11-09 - G11C16/06
  • 本发明公开了一种降低存储器读干扰的电路及方法。该电路包括全局字线、本地字线、存储块、存储子块、位线译码电路、高压切换电路和译码开关。该方法对字线采用两级译码技术,将传统存储块划分成块和子块,在编程和擦除时,存储器对整个块进行编程和擦除操作;在读取时,存储器仅对选中的子块进行读取操作,存储器在读取操作时,读取电压仅加载在选中子块的字线上,而未选中子块的字线电压为零,这样就能使读取操作带来的干扰降低到最小,提高存储数据的保持特性。利用本发明,可使存储器在存储密度不变的情况下,数倍的增加数据保持特性,提高存储器的可靠性;或者在数据保持特性不变的情况下,提高存储器的存储密度,降低单比特存储容量的成本。
  • 一种降低存储器干扰电路方法

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