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[发明专利]一种车辆的自动化测试方法、装置、设备及存储介质-CN202211216101.3在审
发明人：赵立波;蒲江;龚攀;喻成;李宗华 -专利权人：重庆长安新能源汽车科技有限公司
申请日： 2022-09-30 - 公布日： 2023-01-10 - 主分类号： G01M17/007 文献下载
摘要：本发明涉及一种车辆的自动化测试方法、装置、设备及存储介质，通过获取用于测试车辆控制器的测试用例、测试模型；将测试用例与测试模型的测试通道进行对应；对与测试用例对应的测试通道进行赋值，并对与测试用例对应的测试通道中的参数值进行有效性判断，获得判断结果；在判断结果为与测试用例对应的测试通道中的参数值有效时，将测试用例导入至与测试用例对应的测试模型的测试通道中执行测试任务，获得测试结果。本发明先将测试参数表中的测试参数与测试通道进行一一对应，然后根据测试参数对测试通道进行赋值，对测试参数在测试通道中的有效性进行初步判断，测试参数在有效时，将测试参数导入至对应的测试通道中自动测试，同时自动记录测试结果
一种车辆自动化测试方法装置设备存储介质

[发明专利]一种集成电路高速数字接口通用检测装置及方法-CN202210464146.6有效
发明人：毛国梁;李全任 -专利权人：南京宏泰半导体科技有限公司
申请日： 2022-04-29 - 公布日： 2022-06-28 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本发明公开了一种集成电路高速数字接口通用检测装置及方法，包括中低速数字测试通道母板和高速数字接口测试通道子板，所述中低速数字测试通道母板包括测试处理器、中低速测试通道单元，中低速测试通道组上设置有高速测试通道子板接口；所述高速数字接口测试通道子板包括测试处理器母板接口、FPGA代码配置发生器、可配置接口协议的高速测试通道驱动用FPGA、高速测试通道单元、可重配置测试数据处理器，所述测试处理器母板接口与中低速测试通道组的高速测试通道子板接口连接本发明既可以满足一般IO口的中低速测试要求，也可以满足高速接口的测试。既可以获得FPGA方案的高灵活性，同时可以获得中低端ATE机台的较低成本。
一种集成电路高速数字接口通用检测装置方法

[发明专利]一种汽车的电源测试系统-CN201910822727.0在审
发明人：洪江;石林龙;李鸿彪;邹毅军 -专利权人：上海科梁信息工程股份有限公司
申请日： 2019-09-02 - 公布日： 2020-01-07 - 主分类号： G01R31/40 文献下载
摘要：本发明实施例涉及汽车领域，公开了一种汽车的电源测试系统。本发明中汽车的电源测试系统，控制模块分别与电源供给模块、开关模块以及通道切换模块通信连接；电源供给模块与被测汽车的各设备连接，形成各电源测试通道，通道切换模块与每个电源测试通道各自对应的开关连接；控制模块根据获取的测试内容，控制通道切换模块将被测电源测试通道切换为指定的电源测试通道，并由开关模块对指定的电源测试通道进行测试，直至所有的指定电源测试通道完成测试；数据采集模块采集各指定通道的测试数据并上传至控制模块，控制模块根据各测试数据，确定被测汽车的测试结果。本实施方式，能够实现加快对汽车车载电气设备的电源测试速度，提高测试效率。
电源测试控制模块汽车电源测试系统电源供给模块通道切换模块测试数据开关模块车载电气设备控制通道切换数据采集模块测试测试内容测试效率开关连接汽车领域设备连接通道切换通信连接上传采集

[实用新型]芯片电路测试装置及测试系统-CN201821268239.7有效
发明人：许祖伟;向俊伍;赵永青;傅磊 -专利权人：甬矽电子(宁波)股份有限公司
申请日： 2018-08-07 - 公布日： 2019-02-01 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本实用新型提供一种芯片电路测试装置及测试系统。所述装置包括测试板、测试机及设置在测试板上的测试座。测试座的承载板上设置有第一电路通道，其中，第一电路通道的数量与待测试芯片的电路通道的数量相同。测试板的电路区域内设置有第二电路通道，电路区域的形状与承载板的形状匹配。测试机包括第三电路通道，第三电路通道的数量与第二电路通道的数量相同，第一电路通道、第二电路通道及第三电路通道依次电性连接，待测试芯片放置在承载板上时经过第一电路通道、第二电路通道及第三电路通道与测试机连通以进行测试在测试不同尺寸、不同管脚的待测试芯片时，只需要选择与待测试芯片对应的承载板即可，可大大降低成本，并且使用方便。
电路通道待测试芯片承载板测试板测试机测试系统测试装置电路区域芯片电路测试座依次电性连接本实用新型测试形状匹配管脚连通

[发明专利]用于测试机台中的测试电压补偿方法、装置及介质-CN202310352899.2在审
发明人：赵中阳 -专利权人：上海精积微半导体技术有限公司
申请日： 2023-04-04 - 公布日： 2023-06-23 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本发明提供了一种用于测试机台中的测试电压补偿方法、装置及介质，所述电压测试机台的测试电压补偿方法包括：基于初始测试电压对目标待测器件进行初始测试，以获取目标待测器件的相应测试电路的总电阻；确定第三测试通道，将所述第一测试通道、所述第二测试通道和所述第三测试通道基于两两短路接通形成对应的通道组，获取通道组各自的电阻并联立电阻方程组以计算第一测试通道的电阻和所述第二测试通道的电阻；基于目标待测器件的相应测试电路的总电阻以及所述第一测试通道的电阻和所述第二测试通道的电阻，计算所述初始测试电压补偿后的目标电压。本发明能够对待测器件施加更精确的电压，提高测试结果的准确性。
用于测试机台中的电压补偿方法装置介质

[发明专利]一种多通道滑环测试方法及测试品台-CN202010231040.2在审
发明人：高志勇;潘平洋;班利民;杨佳乐;高瑞林;胡广顺 -专利权人：中广核（乌兰察布）风力发电有限公司;中广核风电有限公司
申请日： 2020-03-27 - 公布日： 2020-08-14 - 主分类号： G01R31/00 文献下载
摘要：本申请涉及一种多通道滑环测试方法及测试品台，测试方法包括以下步骤：选取滑环的其中一个通道作为公用通道，剩余通道作为测试通道；选取公用通道后，对公用通道进行阻值测量后清零；将公用通道和其中一个测试通道串联入到测试电路中；在滑环转动的状态下得到测试电路的多个动态电阻值，这些动态电阻值中的最大值与最小值的差值记为滑道动态阻值差值；将剩余的测试通道顺序接入测试电路中，得到与接入的测试通道相对应的滑道动态阻值差值以及将得到的滑道动态阻值差值与阈值进行比对测试品台使用上述方法对多通道滑环进行测试。本申请用于滑环检测，能够对多通道滑环的性能进行快速测试。
一种通道滑环测试方法

[发明专利]多通道接线检测方法和装置、多通道测试系统及存储介质-CN202310511332.5在审
发明人：王业文;刘子敏;杨应俊 -专利权人：矽电半导体设备（深圳）股份有限公司
申请日： 2023-05-08 - 公布日： 2023-09-05 - 主分类号： G01R31/55 文献下载
摘要：本申请提供一种多通道接线检测方法和装置、多通道测试系统及存储介质，属于电子测试技术领域。该方法包括：对待测器件进行预测试，以使多通道测试系统处于预备状态；根据预备状态划定测试隔离区域；将近邻通道移动至测试隔离区域内部并对待测器件进行接线测试，得到与近邻通道对应的待测器件的接线检测结果；其中，近邻通道为测试通道中与测试隔离区域距离最短的通道；重复上一步骤直至测试通道均移动至测试隔离区域内部，得到待测器件的接线检测结果。本申请旨在对多通道测试系统的测试通道自动进行接线检测，无需人工进行拆接线且不受人为因素影响，从而提高检测效率和检测准确性。
通道接线检测方法装置测试系统存储介质

[发明专利]一种测试装置-CN201710527598.3在审
发明人：周文君;赵永昌;谷陈鹏;鲁斌 -专利权人：嘉兴鹏武电子科技有限公司
申请日： 2017-06-30 - 公布日： 2019-01-15 - 主分类号： G01R1/04 文献下载
摘要：本发明实施例提供一种测试装置，包括：测试机台、测试电路板、待测器件；测试机台用于为测试电路板提供测试电源和测试信号；测试电路板包括多个测试模块，每个测试模块包括电流测试通道和电容测试通道；电流测试通道的两端分别与测试机台和待测器件电连接，电流测试通道用于在测试机台的作用下检测待测器件的漏电电流；电容测试通道的两端分别与测试机台和待测器件电连接，电容测试通道用于在测试机台的作用下检测待测器件的电容。由于测试电路板中包括多个测试模块，并且每个测试模块均包括电流测试通道和电容测试通道，通过在每个测试模块上连接一个待测器件便能实现同时测量多个待测器件的漏电电流和电容，提高了测试效率。
待测器件测试机台测试模块测试电路板电流测试电容测试测试装置漏电电流电连接电容测试电源测试效率测试信号检测测量

[实用新型]一种测试装置-CN201720788846.5有效
发明人：周文君;赵永昌;谷陈鹏;鲁斌 -专利权人：嘉兴鹏武电子科技有限公司
申请日： 2017-06-30 - 公布日： 2018-03-23 - 主分类号： G01R1/04 文献下载
摘要：本实用新型提供一种测试装置，包括测试机台、测试电路板、待测器件；测试机台用于为测试电路板提供测试电源和测试信号；测试电路板包括多个测试模块，每个测试模块包括电流测试通道和电容测试通道；电流测试通道的两端分别与测试机台和待测器件电连接，电流测试通道用于在测试机台的作用下检测待测器件的漏电电流；电容测试通道的两端分别与测试机台和待测器件电连接，电容测试通道用于在测试机台的作用下检测待测器件的电容。由于测试电路板中包括多个测试模块，并且每个测试模块均包括电流测试通道和电容测试通道，通过在每个测试模块上连接一个待测器件便能实现同时测量多个待测器件的漏电电流和电容，提高了测试效率。
一种测试装置

[发明专利]一种用于变压器检测的高压测试治具-CN201811200026.5在审
发明人：何欣 -专利权人：太和县金丰硕电子有限公司
申请日： 2018-10-16 - 公布日： 2019-01-22 - 主分类号： G01R31/12 文献下载
摘要：本发明公开了一种用于变压器检测的高压测试治具，包括第一测试通道和第二测试通道，所述第一测试通道和第二测试通道均为铜箔条，第一测试通道和第二测试通道均平行且间隔固接于测试台上，第一测试通道一端通过焊锡焊接连接治具提供的高压电源，第二测试通道一端通过焊锡焊接连接导线一端，其另一端连接第二测试笔，第二测试通道另一端接地，治具向外引出第一测试笔；具有结构简单，设计合理，思路新颖独特，本治具经添加第二测试笔，在使用第一测试通道和第二测试通道检测磁芯和线圈时无需调换位置，二个通道均可使用，有效增加了员工产量，提高效益和效率。
测试通道治具测试笔变压器检测高压测试焊锡焊接调换位置高压电源连接导线一端连接铜箔条接地磁芯固接平行测试检测员工

[实用新型]一种用于变压器检测的高压测试治具-CN201821670595.1有效
发明人：何欣 -专利权人：太和县金丰硕电子有限公司
申请日： 2018-10-16 - 公布日： 2019-10-18 - 主分类号： G01R31/12 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种用于变压器检测的高压测试治具，包括第一测试通道和第二测试通道，所述第一测试通道和第二测试通道均为铜箔条，第一测试通道和第二测试通道均平行且间隔固接于测试台上，第一测试通道一端通过焊锡焊接连接治具提供的高压电源，第二测试通道一端通过焊锡焊接连接导线一端，其另一端连接第二测试笔，第二测试通道另一端接地，治具向外引出第一测试笔；具有结构简单，设计合理，思路新颖独特，本治具经添加第二测试笔，在使用第一测试通道和第二测试通道检测磁芯和线圈时无需调换位置，二个通道均可使用，有效增加了员工产量，提高效益和效率。
测试通道治具测试笔变压器检测高压测试焊锡焊接本实用新型调换位置高压电源连接导线一端连接铜箔条接地磁芯固接平行测试检测员工

[发明专利]一种计算机BIT系统及其方法-CN202110588434.8在审
发明人：周莹莹;刘海港;张波;王冲 -专利权人：中国航空工业集团公司沈阳飞机设计研究所
申请日： 2021-05-27 - 公布日： 2021-09-28 - 主分类号： G06F11/22 文献下载
摘要：本申请属于计算机BIT设计技术领域，具体涉及一种计算机BIT系统，设计有计算机数字I/O输出通道测试模块、计算机数字I/O输入通道测试模块、计算机A/D通道测试模块、计算机D/A通道测试模块、计算机通信接口发送通道测试模块、计算机通信接口接收通道测试模块、计算机电源测试模块、计算机CPU通道测试模块，完成对计算机数字I/O输出通道、数字I/O输入通道、A/D通道、D/A通道、通信接口发送通道、通信接口接收通道、电源、CPU通道的测试，此外，涉及一种基于上述计算机BIT系统实施的方法。
一种计算机 bit 系统及其方法

[发明专利]一种用于测试在线产品的测试方法及系统-CN201410109160.X有效
发明人：平金玉;冯万广;朱德生 -专利权人：环旭电子股份有限公司
申请日： 2014-03-24 - 公布日： 2018-04-27 - 主分类号： G06F11/22 文献下载
摘要：本发明揭示了一种用于测试在线产品的测试方法及系统，其中该方法包括以下步骤建立主测试通道；识别待测产品的信息；在主测试通道下建立子测试通道；根据所述待测产品的信息将所述子测试通道与所述待测产品匹配；通过所述子测试通道调取与所述待测产品对应的测试程序对所述待测产品进行测试本发明实施例提供的测试方法及系统，可以通过在主测试通道下建立多个子测试通道，并可以通过各子测试通道调取对应不同待测产品的测试程序对不同待测产品进行测试，极大提高了测试的效率，降低了测试的成本，并确保了测试的准确可靠性
一种用于测试在线产品方法系统

[发明专利]基站射频拉远单元的测试方法和系统-CN201810521116.8有效
发明人：李玉妍;潘筱文;刘有祥;张宏亮;吕瑞雪 -专利权人：成都鼎桥通信技术有限公司
申请日： 2018-05-25 - 公布日： 2023-03-10 - 主分类号： H04W24/06 文献下载
摘要：本申请公开了一种基站射频拉远单元的测试方法，包括：a、根据待执行的射频测试用例的类型，进行测试初始化，所述类型包括上行指标测试和下行指标测试；b、利用切换箱选择RRU的第一个测试通道作为当前的被测通道；c、根据所述射频测试用例的类型，调用相应的测试仪表；d、利用所述测试仪表，按照所述射频测试用例，对当前的被测通道进行射频指标测试；e、如果当前所述射频测试用例中有未被测试的测试通道，则利用所述切换箱选择当前的被测通道的下一测试通道作为当前的被测通道，执行步骤d，否则，根据所有测试通道的测试结果，生成测试报告。采用本发明，可以提高RRU测试效率、实现多个通道的RRU测试的自动化。
基站射频单元测试方法系统

[发明专利]调制光芯片通道测试方法、装置和系统-CN202310974164.3有效
发明人：黄铁胜;胡天琦 -专利权人：镭神技术（深圳）有限公司
申请日： 2023-08-04 - 公布日： 2023-10-13 - 主分类号： H04B10/073 文献下载
摘要：本申请涉及一种调制光芯片通道测试方法、装置和系统。所述方法包括输出初始检测指令至耦合测试设备，并接收耦合测试设备反馈的初始响应参数。发送通道测试指令至耦合测试设备，并接收耦合测试设备反馈的测试响应参数，测试响应参数包括已扫描通道参数和未扫描通道参数。根据初始响应参数、已扫描通道参数和未扫描通道参数得到调制光芯片的通道测试结果。其中，耦合测试设备用于连接调制光芯片，并在接收到初始检测指令后，发送标准激励信号至调制光芯片的所有通道。调制光芯片的各通道根据标准激励信号生成初始响应参数，并传输至耦合测试设备。本方案得到的测试结果不受耦合测试设备的耦合稳定性影响，能够提高调制光芯片的通道测试准确度。
调制芯片通道测试方法装置系统