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农业化学；冶金建筑机械工程区域搜索

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B 作业；运输

C 化学；冶金

D 纺织；造纸

E 固定建筑物

F 机械工程、照明、加热

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公布日期

2023-10-24 公布专利

2023-10-20 公布专利

2023-10-17 公布专利

2023-10-13 公布专利

2023-10-10 公布专利

2023-10-03 公布专利

2023-09-29 公布专利

2023-09-26 公布专利

2023-09-22 公布专利

2023-09-19 公布专利

专利权人

国家电网公司

华为技术有限公司

中兴通讯股份有限公司

三星电子株式会社

中国石油化工股份有限公司

鸿海精密工业股份有限公司

松下电器产业株式会社

上海交通大学

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[发明专利]分立器件半导体测试系统测试站自动切换校准装置及方法-CN202211589966.4在审
发明人：李飞龙;包智杰 -专利权人： 南京宏泰半导体科技有限公司
申请日： 2022-12-12 - 公布日： 2023-01-13 - 主分类号： G01R35/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种分立器件半导体测试系统测试站自动切换校准装置及方法，包括上位机、测试设备、智能切换盒、校准盒、校准仪器，上位机依次控制测试设备连接的测试站进行校准测试；当上位机控制第i个测试站进行校准测试时，上位机将第i个测试站的校准测试信号发送给智能切换盒；智能切换盒根据上位机发送的第i个测试站的校准测试信号将第i个测试站的输出校准信号切换发送给校准盒；校准仪器根据校准盒收到的第i个测试站的输出校准信号对第i个测试站进行校准，并将校准情况反馈给上位机。本发明提升设备了利用率和分立器件测试系统可维护性，同时缩短生产周期。
分立器件半导体测试系统自动切换校准装置方法

[实用新型]一种DB插头组合结构-CN202221548016.2有效
发明人：方毅;包智杰 -专利权人： 南京宏泰半导体科技有限公司
申请日： 2022-06-20 - 公布日： 2022-12-23 - 主分类号： H01R13/64 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种DB插头组合结构，包括DB插头座一、公头外螺纹车针、母头外螺纹套筒、DB插头座二；所述DB插头座一上设置有内攻丝通孔一，DB插头座二上设置有内攻丝通孔二；部分公头外螺纹车针通过内攻丝通孔一安装在DB插头座一上，另一部分公头外螺纹车针通过内攻丝通孔二安装在DB插头座二上；部分母头外螺纹套筒通过内攻丝通孔一安装在DB插头座一上，另一部分部分母头外螺纹套筒通过内攻丝通孔二安装在DB插头座二上；公头外螺纹车针的位置与母头外螺纹套筒的位置一一对应。本实用新型能够防呆、防止各线束和端口插错，导致板卡因短路烧毁。
一种 db 插头组合结构

[实用新型]一种石墨烯结构散热片-CN202221913423.9有效
发明人：不公告发明人 -专利权人： 南京宏泰半导体科技有限公司
申请日： 2022-07-21 - 公布日： 2022-11-11 - 主分类号： H05K7/20 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种石墨烯结构散热片，散热片上设置有一排以上的通孔，所述散热片包括由上到下依次设置的一个以上的散热单元和金属散热支撑层二，所述散热单元包括由上到下依次设置的金属散热支撑层一、粘着剂层一、石墨烯层一、粘着剂层二，所述石墨烯层一上设置有金属散热块，所述金属散热块的厚度与石墨烯层一的厚度相等。本实用新型降低了温度的聚集、减轻了散热片整体重量，同时实现了快速导热、快速散热的效果。
一种石墨结构散热片

[发明专利]一种晶圆多DIE漏电快速测试系统及方法-CN202210874211.2有效
发明人：夏玲慧;包智杰 -专利权人： 南京宏泰半导体科技有限公司
申请日： 2022-07-25 - 公布日： 2022-11-08 - 主分类号： G01R31/52 文献下载
摘要：本发明公开了一种晶圆多DIE漏电快速测试系统及方法，包括一路以上的电流处理模块、测试通路选择模块以及电压电流转换模块，所述电流处理模块用于将采集的所需的电流转化为测试电压，并将转换后的测试电压进行放大后输入到测试通路选择模块中；所述测试通路选择模块用于根据需要的待测试电流选择对应的测试电压，并将选择的测试电压输入到电压电流转换模块中；所述电压电流转换模块用于将输入的测试电压转化为电流，此电流即为需要的待测试电流。本发明可以实现多路并行采样测试，且电路简单稳定，提高了测试效率，减少了测试时间，降低了测试成本。
一种晶圆多 die 漏电快速测试系统方法

[发明专利]一种集成电路并发测试装置及方法-CN202210536671.4有效
发明人：毛国梁;吴炎林;包智杰 -专利权人： 南京宏泰半导体科技有限公司
申请日： 2022-05-18 - 公布日： 2022-10-28 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本发明公开了一种集成电路并发测试装置及方法，包括测试处理器TP、Parameter Pattern编译器PPC、通道参数测试控制器PTC、仪表控制总线ICB，在测试处理器与模拟测试通道间建立新的控制总线，并实现模拟测试通道在测试处理器与模拟测试通道间的编译与解释执行，进而实现将模拟信号测试与数字信号测试都统一到测试处理器中，本发明不仅能够提高测试效率，而且提高了测试覆盖率。
一种集成电路并发测试装置方法

[实用新型]一种基于特斯拉阀结构的芯片散热装置-CN202221949747.8有效
发明人：王伟;包智杰 -专利权人： 南京宏泰半导体科技有限公司
申请日： 2022-07-26 - 公布日： 2022-10-28 - 主分类号： H01L23/467 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种基于特斯拉阀结构的芯片散热装置，包括底座、片体结构、风源机构，所述片体结构包括一个以上的叶片，所述叶片上设置有特斯拉阀结构通道，且所述特斯拉阀结构通道贯通所在叶片；所述叶片安装在底座上，所述底座上设置有固定孔，所述固定孔用于固定底座或连接芯片；所述风源机构与底座相固定连接，且所述风源机构的吹风方向指向特斯拉阀结构通道的正向流入孔。本实用新型不仅功耗低，而且散热快。
一种基于特斯拉结构芯片散热装置

[发明专利]一种上位机控制外围设备测试的方法-CN202210895777.3有效
发明人：石建春;包智杰 -专利权人： 南京宏泰半导体科技有限公司
申请日： 2022-07-28 - 公布日： 2022-10-25 - 主分类号： G01R31/26 文献下载
摘要：本发明公开了一种上位机控制外围设备测试的方法，上位机将需要测试信息发送给下位机进行测试；下位机接收上位机发送的需要测试信息，下位机判断是否需要三方测试，若需要三方测试，则下位机向上位机发送三方测试项请求信息，下位机根据需要测试信息控制测试仪器对测试件进行测试，得到下位机测试数据，上位机根据下位机发送的三方测试项请求信息控制第三方测试仪器对测试件进行测试，得到三方测试数据；上位机将三方测试数据发送给下位机，下位机根据三方测试数据和下位机测试数据得到最终测试结果；本发明免除了上位机对测试数据分析判断功能，消耗功率少。
一种上位控制外围设备测试方法

[实用新型]一种DB可调式防呆组合插头-CN202221915210.X有效
发明人：不公告发明人 -专利权人： 南京宏泰半导体科技有限公司
申请日： 2022-07-21 - 公布日： 2022-10-25 - 主分类号： H01R13/502 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种DB可调式防呆组合插头，包括DB公头和DB母头，所述DB母头包括母头基板、母头固定套筒、母头防呆铜柱、母头固定螺丝，所述DB公头包括公头基板、公头固定套筒、公头防呆铜柱、公头固定螺丝，所述母头防呆铜柱与公头固定套筒相互组合匹配，且所述母头防呆铜柱与剩余的公头固定套筒的位置一一对应；所述公头防呆铜柱与母头固定套筒相互组合匹配，且所述公头防呆铜柱与剩余的母头固定套筒一一对应。本实用新型通过改变DB插头组合的形式来做到线束之间的防呆，使对应的DB插头之间形成互相咬合的接口模式。
一种 db 调式组合插头

[发明专利]一种高端电压差分采样校准系统及方法-CN202210813322.2有效
发明人：钟兴;包智杰 -专利权人： 南京宏泰半导体科技有限公司
申请日： 2022-07-12 - 公布日： 2022-10-21 - 主分类号： G01R35/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种高端电压差分采样校准系统及方法，包括精度检测仪、校准控制器、差分运算放大器、比较器、储存器、DAC转换器，通过DAC转换器U1转换输出的特性实现采集电压信号数值转换达到高精度输出电压差，使用高精度检测仪、高精密校准控制器与差分运算放大器输出电压做比较将差值校准补偿到输出端，实现输出电压稳定状态。本发明提高了电压输出的稳定性与精准性，其测量精度高，成效高，稳定性极佳。
一种高端电压采样校准系统方法

[发明专利]一种子模块自适配方法、装置、系统及存储介质-CN202210944244.X有效
发明人：不公告发明人 -专利权人： 南京宏泰半导体科技有限公司
申请日： 2022-08-08 - 公布日： 2022-10-21 - 主分类号： G06F11/22 文献下载
摘要：本发明公开了一种子模块自适配方法、装置、测试系统及存储介质，该方法包括获取每个功能板模块上按一定顺序编码排布的子模块插座所对应的用于表征通道子模块插接情况的配置状态位；根据所述配置状态位和所述功能板模块对应的地址码，按照预设编码规则生成用于识别所述功能板模块上所插接通道子模块的子模块识别码；将所述子模块识别码通讯传输给上位机，使所述上位机自动解码识别各个所述功能板模块之间地址码和每个所述功能板模块上各个所述通道子模块的配置状态位，以及使上位机根据所述地址码、所述配置状态位和所述配置状态位所对应的顺序编码，按照一定顺序配置所插接的各个所述通道子模块所对应的测试通道顺序位。
种子模块配方装置系统存储介质

[实用新型]一种DB防呆装置-CN202221964377.5有效
发明人：不公告发明人 -专利权人： 南京宏泰半导体科技有限公司
申请日： 2022-07-27 - 公布日： 2022-10-21 - 主分类号： H01R13/64 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种DB防呆装置，包括防呆座、端子、测试站，所述防呆座上设置有固定螺纹孔、防呆螺纹孔一、防呆螺柱一，所述防呆螺柱一用于安装在防呆螺纹孔一上；所述防呆座通过固定螺纹孔与端子固定连接；所述测试站上的功能接口上设置有防呆螺纹孔二和防呆螺柱二，功能接口上的防呆螺柱二的安装位置与该功能接口功能相应的端子上的防呆螺柱一的安装位置相互匹配，不同功能的功能接口上的防呆螺柱二的安装位置不同形成防呆结构。本实用新型可降低因插错导致设备损坏以及芯片测试数据混乱。
一种 db 装置

[发明专利]一种降低高压测试机电源功耗电路及方法-CN202210755751.9有效
发明人：李凌志;包智杰 -专利权人： 南京宏泰半导体科技有限公司
申请日： 2022-06-30 - 公布日： 2022-09-30 - 主分类号： H02M3/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种降低高压测试机电源功耗电路及方法，包括高压电压源单元、电流控制开关单元、控制电路单元，所述高压电压源单元包括n个DC电压源模块、（n‑1）个二极管以及（n‑1）个电阻，所述电流控制开关单元包括（n‑1）个电流控制开关，控制电路单元根据所需测量条件实现控制各个功率管工作状态，通过各个功率管工作状态控制每个直流电压源实际输出状态，以满足被测器件测试所需的电气参数。在保持实际最大输出电压不变的前提下采用n个DC电压源模块串联得到高压电压源，串联的每个DC电压源模块实际输出状态由电流控制开关单元中的电流控制开关单独控制。本发明能够实现降低功耗，提升回路效率。
一种降低高压测试机电功耗电路方法

[实用新型]一种防呆的DB连接器-CN202221587751.4有效
发明人：朱巨勇;包智杰 -专利权人： 南京宏泰半导体科技有限公司
申请日： 2022-06-23 - 公布日： 2022-09-23 - 主分类号： H01R13/64 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种防呆的DB连接器，包括DB公头连接件和DB母头连接件，所述DB公头连接件包括公头壳、公头连接柱、DB公头，所述公头壳上开设有两个以上的公头通道，所述公头连接柱设置于公头通道内，且所述公头连接柱通过公头伸缩机构与通道连接；所述DB母头连接件包括母头壳、母头连接柱、DB母头，所述母头壳上开设有两个以上的母头通道，所述母头连接柱设置于母头通道内，且所述母头连接柱通过母头伸缩机构与通道连接；所述DB母头与DB公头的形状相匹配。本实用新型减少了测试设备之间线缆的生产数量和加工难度，成本低廉，安全系数提高，快速高效；通用性提高、装配方便易操作。
一种 db 连接器

[发明专利]一种基于半导体浮地数字测试装置-CN202210664632.2在审
发明人：黄浩;包智杰;李全任 -专利权人： 南京宏泰半导体科技有限公司
申请日： 2022-06-14 - 公布日： 2022-09-13 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本发明公开了一种基于半导体浮地数字测试装置，包括电源、FPGA板卡、数字底板以及两个以上的数字测试板，所述电源通过数字底板与数字测试板连接，所述FPGA板卡通过数字底板与数字测试板连接，所述数字底板用于电源与数字测试板之间的电源隔离，所述数字底板用于FPGA板卡与数字测试板之间的信号隔离。本发明不仅测试精度高，而且测试稳定。
一种基于半导体数字测试装置

[发明专利]一种高压电流源控制系统及方法-CN202210755753.8有效
发明人：许松;包智杰 -专利权人： 南京宏泰半导体科技有限公司
申请日： 2022-06-30 - 公布日： 2022-09-06 - 主分类号： G05F1/565 文献下载
摘要：本发明公开了一种高压电流源控制系统及方法，包括电源一V1、电源二V2、电源三V3、电源四V4、控制电路、三极管一Q1、三极管二Q2、电源五V5、电源六V6、电流采样电阻R1、隔离运放器，在高共模电压下，控制电路输出一个电流信号途径电流采样电阻R1加载到负载两端，隔离运放器采集被测器件两端电压信号补偿到控制电路使电流采样电阻R1两端电压为特定值；通过欧姆定律计算出电路中的电流实际值，通过电流采样电阻R1的电流全部加载到负载。本发明使用普通精度电阻就能满足高共模电压高精度电流采样，降低了生产难度和成本，有效降低高共模电压下差分电阻的功耗。
一种高压电流控制系统方法

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