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- [发明专利]检测设备-CN202310893515.8在审
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黄忠志;杨强;罗骏
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镭神技术（深圳）有限公司
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2023-07-19
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2023-10-24
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G01R31/28
- 本申请涉及一种检测设备。包括：温控机构，包括温度调节组件和温度监测组件，温度调节组件用于对芯片制冷或制热，温度监测组件用于检测温度调节组件的温度；电控机构，用于对芯片提供电流和电压；及功率机构，包括功率感应组件和功率监控组件，功率感应组件用于感测芯片的发光功率，功率监控组件用于对功率感应组件反馈的发光功率信号进行处理以形成功率数据。温度调节组件模拟出芯片正常工作时所处的环境温度。在电控机构对芯片提供设定电流和电压的情况下，功率监控组件对功率感应组件反馈的发光功率信号进行处理以形成功率数据，用户通过观察功率数据与预设的波动范围做比较，如此可以有效对芯片是否合格进行检测。
- 检测设备
- [发明专利]调制光芯片通道测试方法、装置和系统-CN202310974164.3有效
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黄铁胜;胡天琦
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镭神技术（深圳）有限公司
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2023-08-04
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2023-10-13
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H04B10/073
- 本申请涉及一种调制光芯片通道测试方法、装置和系统。所述方法包括输出初始检测指令至耦合测试设备，并接收耦合测试设备反馈的初始响应参数。发送通道测试指令至耦合测试设备，并接收耦合测试设备反馈的测试响应参数，测试响应参数包括已扫描通道参数和未扫描通道参数。根据初始响应参数、已扫描通道参数和未扫描通道参数得到调制光芯片的通道测试结果。其中，耦合测试设备用于连接调制光芯片，并在接收到初始检测指令后，发送标准激励信号至调制光芯片的所有通道。调制光芯片的各通道根据标准激励信号生成初始响应参数，并传输至耦合测试设备。本方案得到的测试结果不受耦合测试设备的耦合稳定性影响，能够提高调制光芯片的通道测试准确度。
- 调制芯片通道测试方法装置系统
- [发明专利]转料方法和转料装置-CN202310824786.8在审
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黄忠志;罗骏
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镭神技术（深圳）有限公司
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2023-07-06
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2023-09-08
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B65G43/08
- 本申请涉及一种转料方法和转料装置，转料方法包括：通过第一视觉模块获取待取工件的取料坐标，第一视觉模块的位置独立于转料系统，以在转料系统放置和/或转移工件时获取下一待取的工件的取料坐标；通过第二视觉模块获取待放工位的放料坐标，第二视觉模块的位置独立于转料系统，以在转料系统拾取和/或转移工件时获取放料坐标；根据取料坐标及放料坐标，控制转料系统拾取工件并将工件转移而放置于放料坐标。第一视觉模块在拾取工件前获取待取工件的取料坐标，第二视觉模块在放置工件前获取待放工位的放料坐标，由此可降低转料系统取料及放料时的时间，提高了转料效率。转料装置通过上述转料方法进行转料，转料效率高。
- 方法装置
- [发明专利]接枝辅焊机构及超声波焊接机-CN202310705483.4有效
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张伟;刘佐成;李伟
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镭神技术（深圳）有限公司
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2023-06-15
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2023-08-18
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B29C59/14
- 本发明公开了一种接枝辅焊机构及超声波焊接机，其包括驱动机构；其中所述驱动机构输出交错轴向的第一、第二线性自由度，驱动调节机构；本发明通过驱动机构、调节机构及生磁机构之间的机械联动及相互配合，通过生成强磁场并电离非聚合性气体形成等离子，在实际应用时针对双端焊区的位置进行接枝，其在微观视角下基于双端不同材质的焊区提供了一层预焊层；该预焊层既可以通过非聚合性气体的性质保持双端焊区的绝对干燥，同时能够附加改善双端焊区的接触面表端的导热性系数统一化，避免因导热性的不同而产生虚焊或脱焊现象；同时基于不同形状规格或方位的焊区，还可以通过多端自由度联动配合的形式进行定向化调节，以满足不同的焊接需求。
- 接枝机构超声波焊接
- [发明专利]光模块夹具和测试装置-CN202310605433.9在审
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张淮;黄铁胜
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镭神技术（深圳）有限公司
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2023-05-25
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2023-07-21
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G01R1/04
- 本申请涉及一种光模块夹具和测试装置。光模块夹具包括夹具座、压紧结构以及驱动结构，夹具座上设有夹槽，夹槽用于放置光模块。压紧结构可活动设于夹槽的一侧，而能够朝向夹槽的另一侧移动，压紧结构具有可弹性伸缩的推动端面，推动端面凸出压紧结构朝向夹槽的一侧设置。驱动结构与压紧结构连接，并用于驱动压紧结构移动，而使推动端面贴合光模块的侧面、并推动光模块移动至夹槽的另一侧，压紧结构的一侧能够随推动端面的收缩而压紧光模块。由于推动端面与光模块的侧面面接触，在推动光模块移动的过程中，推动端面降低了光模块发生偏移或倾斜的概率，减少或者避免了光模块固定后因位置不准需要手工纠正而浪费时间的情况。
- 模块夹具测试装置
- [发明专利]正负极切换的供电装置、方法及芯片测试装置-CN202211488004.X有效
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李伟;黄忠志
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镭神技术（深圳）有限公司
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2022-11-25
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2023-06-30
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G01R1/20
- 本申请涉及正负极切换的供电装置、方法及芯片测试装置，主供电PCB板电连接待测试的至少二个芯片；主供电连接器接入外部的电源模块的供电且与主供电PCB板电连接；电极可拆卸供电小板包括正极可拆卸供电小板及负极可拆卸供电小板，负极可拆卸供电小板为芯片提供与正极可拆卸供电小板供电正负极对调的接电方式。在芯片测试需调整接电方式时，只需将正极可拆卸供电小板及负极可拆卸供电小板互换即可，可应用于各类芯片测试例如光芯片及激光器芯片的老化测试等，有利于实现对于芯片测试老化时施加电压、电流的快速、安全、稳定的正负极切换，在切换过程中芯片位置可保持不动，因此有利于保护芯片，且相对于传统技术具有实现成本低的优点。
- 负极切换供电装置方法芯片测试
- [发明专利]耦合方法-CN202310294508.6有效
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黄铁胜
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镭神技术（深圳）有限公司
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2023-03-24
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2023-06-30
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G02B6/42
- 本申请涉及一种耦合方法，所述耦合方法包括：提供基台，所述基台上贯通设有入料孔；将光子芯片粘贴在所述基台上，使激光器组件与所述光子芯片耦合，耦合后的所述激光器组件覆盖至少部分所述入料孔；向所述入料孔填充焊料，所述焊料能够通过入料孔延伸设置在所述激光器组件与所述基台之间，使所述激光器组件与所述基台焊接固定。由于入料孔贯通基台设置，故在光子芯片与激光器组件耦合完成后，通过入料孔能够更加方便地将焊料焊接设置在激光器组件与基台之间，如此能够降低激光器组件与基台之间的焊接过程影响激光器组件与光子芯片之间耦合的精度。
- 耦合方法
- [发明专利]芯片自动测试设备-CN202210915883.3有效
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李伟;黄忠志
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镭神技术（深圳）有限公司
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2022-08-01
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2023-06-27
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G01R31/28
- 本申请涉及芯片自动测试设备，料斗存放预装载待测试芯片的待处理夹具及存放已完成芯片测试的待回收夹具；升降台提升料斗中的待处理夹具及下降待回收夹具至料斗中；旋转上料组件以转动方式将升降台上的待处理夹具输送至TEC温控台及将TEC温控台上的待回收夹具输送至升降台；TEC温控台对待测试芯片进行高温环境下的工作性能检测；载料台带动TEC温控台于上料位置及测试位置之间移动。通过将芯片预装载于夹具上，升降台配合旋转上料组件及载料台的三维空间移动设计，有利于实现夹具从料斗到测试再回到料斗的自动化流程，正常运行状态下无需人工操作，可全自动地实现芯片检测，可以兼容各种不同类型的芯片，极大地节约了人力资源。
- 芯片自动测试设备
- [发明专利]测试装置-CN202310260344.5在审
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黄铁胜;桂长青
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镭神技术（深圳）有限公司
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2023-03-07
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2023-06-23
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G01R1/02
- 本申请涉及一种测试装置，用于测试工件性能，所述测试装置包括工作台、测试组件、移料组件及减震系统，所述测试组件用于承载并测试所述工件；所述移料组件设于所述工作台上，与所述测试组件间隔设置，所述移料组件用于拾取所述工件，而将所述工件放置于所述测试组件上，和/或将所述工件从所述测试组件上转移走；所述减震系统连接在所述工作台与所述测试组件之间，而在所述测试组件与所述移料组件之间形成震动隔离。即通过减震系统能够减少移料组件的震动对测试组件的影响。如此设置，降低了测试组件所受的震动效果，能够提高测试装置对工件进行性能检测时的精度。
- 测试装置
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