“测试电源”专利关键词查询_检索下载_查询列表_检索列表_行业专利分布_钻瓜专利网

钻瓜专利网为您找到相关结果1998191个，建议您升级VIP下载更多相关专利

[实用新型]机载电源综合测试系统-CN201220077369.9有效
发明人：王春明;白杰;胡忠泼 -专利权人：昌河飞机工业（集团）有限责任公司
申请日： 2012-03-02 - 公布日： 2013-01-16 - 主分类号： G01R31/40 文献下载
摘要：本实用新型属于机载测试技术，涉及一种机载电源综合测试系统。所述机载电源综合测试系统包括四个测试单元和通用测试设备，其中分别为直流电源系统测试单元、交流电源系统测试单元、配电逻辑功能测试单元、外电源监控测试单元，每个测试单元包括顺次相连的工控机、信号调理箱、信号变换器和手动/自动控制测试模块，其中，通用测试设备通过输出通道与各测试单元的手动/自动控制测试模块相连，而手动/自动控制测试模块通过反馈通道连接到负载接口。本实用新型机载电源综合测试系统能对不同型号的电源系统进行检查，提高了系统的扩展性、实用性和兼容性，具有较大的实用价值。而且能实现对机载电源系统进行自动测试，缩短测试时间。
机载电源综合测试系统

[发明专利]电源的测试及其装置、电子设备及存储介质-CN202310019646.3在审
发明人：朱兴林 -专利权人：苏州浪潮智能科技有限公司
申请日： 2023-01-06 - 公布日： 2023-04-14 - 主分类号： G06F11/22 文献下载
摘要：本发明公开了一种电源的测试及其装置、电子设备及存储介质，其中，该测试方法包括：采用预设通断电脚本，对第一电源和第二电源进行通电，在第一电源和第二电源通电成功的情况下，进行混合压力测试，并在混合压力测试通过的情况下，清除混合压力测试过程中产生的预设日志，基于预设测试策略，循环测试第一电源和第二电源，直至测试过程中产生的预设日志出现异常状态或者循环测试的循环次数到达预设循环阈值结束循环测试，得到测试结果，在测试结果中携带的循环次数等于预设循环阈值的情况下，确定第一电源和第二电源的电源状态为健康状态。本发明解决了相关技术中需要手动对电源进行通断电控制以及手动进行各部件压测，导致效率较低的技术问题。
电源测试及其装置电子设备存储介质

[发明专利]电源阻抗测试方法及电路板-CN201910980532.9在审
发明人：梁建;罗雄科 -专利权人：上海泽丰半导体科技有限公司
申请日： 2019-10-12 - 公布日： 2019-12-20 - 主分类号： G01R31/40 文献下载
摘要：本发明公开了一种电源阻抗测试方法及电路板，其中，电源阻抗测试方法中包括：将用于阻抗测试的接头接至电路板上预先设置的匹配接口；在电路板的BGA区域，待测电源的pin(引脚)端相互电连接形成阻抗测试区域，匹配接口设置于阻抗测试区域的边缘与其电连接；设定测试条件，使用交流阻抗测试方法对待测电源的阻抗进行测试。该电路板在进行电源阻抗测量时测试点距离芯片较近，测试位置上差异很小；测试时不需要移除待测电源的电容，保留电源本身的性能；测试数据精度很高，很好的反馈电源性能。
电路板电源电源阻抗阻抗测试测试匹配接口电连接交流阻抗测试测试数据测试条件测试位置预先设置电容测试点移除引脚阻抗测量芯片反馈保留

[发明专利]一种电源测试装置-CN202110876893.6在审
发明人：孙锐 -专利权人：苏州浪潮智能科技有限公司
申请日： 2021-07-31 - 公布日： 2021-11-26 - 主分类号： G01R31/40 文献下载
摘要：本申请公开了一种电源测试装置，包括：各个检测设备；与待测电源的各个测试引脚连接，并与各个检测设备均连接的测试装置；与测试装置以及各个检测设备均连接的控制器，用于按照预设的自动化电源测试流程控制测试装置的状态切换，以自动调整各个检测设备所连接的待测电源的测试引脚；通过在执行自动化电源测试流程时接收的各个检测设备发送的检测数据，得到待测电源的测试结果。应用本申请的方案，可以自动完成待测电源的测试，并且测试过程中不需要重新接线，有效地提高了电源测试效率。
一种电源测试装置

[发明专利]电源设备老化测试柜-CN202111683061.9在审
发明人：陈雄伟;邓勇明 -专利权人：深圳市驰普科达科技有限公司
申请日： 2021-12-31 - 公布日： 2022-05-13 - 主分类号： G01R31/40 文献下载
摘要：本发明公开一种电源设备老化测试柜，该电源设备老化测试柜包括：柜体，所述柜体设有多个测试区，多个所述测试区用于放置多个待测电源设备；测试组件，所述测试组件设置于所述柜体上，所述测试组件具有用于消耗待测电源设备电能的耗电负载，所述测试组件用于接入待测电源设备，以获取待测电源设备的电气参数，并输出对应的测试信息。本发明可以解决现有老化测试设备实用性差的问题。
电源设备老化测试

[发明专利]无人车计算平台的测试装置-CN202110365002.0在审
发明人：牛晓伟 -专利权人：新石器慧通（北京）科技有限公司
申请日： 2021-04-06 - 公布日： 2021-04-30 - 主分类号： G06F11/22 文献下载
摘要：本发明公开了一种无人车计算平台的测试装置，装置包括：显示器，用于显示测试结果和输入测试任务；测试设备，显示器与测试设备连接，并测试设备与待测试的计算平台可拆卸的连接；电源，用于给测试设备和待测试的计算平台供电，且电源与待测试的计算平台可拆卸的连接；电源控制器，分别与测试设备和电源连接；当测试设备接收到测试任务时，测试设备向电源控制器下发命令，使电源控制器控制电源向待测试的计算平台供电和断电；待测试的计算平台在供电后将性能问题结果反馈给测试设备，测试设备将性能问题结果传输给显示器进行显示；待测试的计算平台在断电后，完成一次测试。通过本发明的技术方案，可实现对待测试的计算平台的质量测试。
无人计算平台测试装置

[实用新型]一种LCM测试系统的电源装置-CN201020541405.3无效
发明人：吴志谋 -专利权人：惠州泰科立集团股份有限公司;TCL集团股份有限公司
申请日： 2010-09-25 - 公布日： 2011-06-01 - 主分类号： G09G3/00 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种LCM测试系统的电源装置，其包括：电源输入端口；用于对所述电源装置进行过压过流保护的过压过流保护模块；用于提供测试电压的测试电源组；所述电源输入端口、过压过流保护模块和测试电源组依次连接本实用新型提供的一种LCM测试系统的电源装置，其包括电源输入端口、过压过流保护模块和测试电源组，所述测试电源组能高效输出LCM模块测试所需的各种电压，提高了电源的利用效率，并且该电源装置可由5V电源供电或者由单独供电模块供电，省去了一个直流稳压电源，节约了电源装置的成本，而且便于携带。同时，该电源装置以恒流驱动方式测试LED背光模组，提高了LED背光不良的检出率，从而保证了产品的品质。
一种 lcm 测试系统电源装置

[发明专利]测试装置与计算机系统开关机测试方法-CN200610173237.5无效
发明人：岩柏志 -专利权人：华硕电脑股份有限公司
申请日： 2006-12-22 - 公布日： 2008-06-25 - 主分类号： G06F11/267 文献下载
摘要：一种测试装置，用以测试一计算机系统的开关机动作。测试装置包括一电源控制单元与一测试控制单元。电源控制单元用以接收一市电电源，并选择性地输出市电电源至计算机系统的一电源供应端。测试控制单元输出一电源控制讯号至电源控制单元，借以控制电源控制单元输出市电电源至电源供应端，以使测试控制单元测试计算机系统的开关机动作。测试控制单元接收由计算机系统传送而来的一测试结果数据。此测试装置依据计算机系统传送而来的测试结果数据，来判定计算机系统的开关机动作正确与否。
测试装置计算机系统开关机方法

[发明专利]一种网卡的ACPI测试方法、测试机及系统-CN201711115035.X在审
发明人：乔孟媛 -专利权人：上海斐讯数据通信技术有限公司
申请日： 2017-11-13 - 公布日： 2018-04-13 - 主分类号： G06F11/22 文献下载
摘要：本发明提供了一种网卡的ACPI测试方法、测试机及系统，方法包括S10测试机对待测网卡进行配置；S20测试机根据接收到的测试指令，将电源模式修改为一种非工作电源模式后，测试待测网卡在这种非工作电源模式下的工作状态；S30测试机根据接收到的测试指令，将修改后的电源模式切换为工作电源模式后，测试待测网卡在工作电源模式下的工作状态；S40当待测网卡在非工作电源模式类中的电源模式下完成测试时，将测试结果反馈至主机；否则，返回S20重复测试；S60接收主机根据测试结果再次发送的测试指令，返回S20，测试待测网卡在非工作模式中未测试的另一种电源模式下的工作状态。本发明实现了网卡的自动测试。
一种网卡 acpi 测试方法系统

[发明专利]芯片测试方法、系统、设备及介质-CN202210976074.3在审
发明人：屈志 -专利权人：长鑫存储技术有限公司
申请日： 2022-08-15 - 公布日： 2022-11-01 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本公开提供了一种芯片测试方法、系统、设备及介质，涉及芯片测试技术领域。所述方法应用于芯片测试系统，芯片测试系统包括测试板，测试板上设有多组相互独立的测试单元，每组测试单元包括至少一个用于向多个待测芯片提供驱动信号的驱动电源，获取每组测试单元内的至少一个所述驱动电源的状态；若获取到一组测试单元内的至少一个驱动电源异常，则控制关闭所述至少一个驱动电源，以及控制关闭所述一组测试单元。本公开提供的芯片测试方法、系统、设备及介质，实时获取驱动电源的状态，当驱动电源异常时，精确关闭异常的驱动电源以及与异常的驱动电源相关的测试单元，提高产能，降低了测试成本。
芯片测试方法系统设备介质

[实用新型]多功能电动机构寿命测试综合装置-CN202123341333.5有效
发明人：包勇 -专利权人：苏州延开电气科技有限公司
申请日： 2021-12-28 - 公布日： 2022-09-13 - 主分类号： G01R31/00 文献下载
摘要：本申请公开了一种多功能电动机构寿命测试综合装置，该多功能电动机构寿命测试综合装置包括：柜体和设于柜体上的电源输入模块、电源输出模块、调压模块和电压切换模块；电源输入模块用于连接外部电源，电源输入模块依次与电压切换模块、调压模块和电源输出模块连接；电压切换模块用于将电源输入模块输入的电源切换为交流或直流后输入至调压模块；调压模块用于调整输出的电压电源输出模块用于通过测试电缆与测试本体进行连接。本申请实现了提高该测试装置的使用范围和使用灵活性，使其可满足测试电源与设备电源电压不同的测试要求的技术效果，进而解决了相关技术中测试装置无法解决测试电源与设备电源电压不同的测试要求的问题。
多功能电动机构寿命测试综合装置

[发明专利]一种电源的测试老化电路、方法及装置-CN201910561847.X在审
发明人：罗峰;唐永安;邓宏富 -专利权人：深圳创维-RGB电子有限公司
申请日： 2019-06-26 - 公布日： 2019-09-27 - 主分类号： G01R31/40 文献下载
摘要：本发明公开了一种电源的测试老化电路、方法及装置，其中，所述电源的测试老化电路包括：与待测电源连接的控制模块，以及与控制模块连接的测试模块；所述控制模块在接入待测电源后，根据所述待测电源的输出电压输出相应的控制信号至测试模块，所述测试模块接收所述控制信号并根据所述控制信号选择相应的负载对待测电源进行测试或老化。本发明实施例通过设置控制模块和测试模块，由控制模块来控制测试模块，以使测试模块启用与待测电源输出电压一致的负载对待测电源进行测试或老化，为待测的二合一电源提供了兼容性良好的通用测试、老化工装。
电源测试模块控制模块测试控制信号老化电路老化电源输出电压设置控制模块电源连接电源提供控制测试输出电压通用测试二合一兼容性工装输出

[实用新型]一种不同功率逆变器共用的测试台-CN201320171476.2有效
发明人：陈宏敏;王一鸣;许颇 -专利权人：宁波锦浪新能源科技有限公司
申请日： 2013-04-08 - 公布日： 2013-08-21 - 主分类号： G01R1/04 文献下载
摘要：本实用新型涉及一种不同功率逆变器共用的测试台，包括测试平台、测试电源和逆变器，所述的测试平台、测试电源和逆变器共同设在一个测试架上，所述的测试架有N层，构成N层测试平台，每层测试平台上有M个逆变器的测试位置，每个逆变器对应一个测试位置，每个测试位置的背部对应挂有测试电源，将电网与各测试电源相连接，以供逆变器测试所用的电能，测试电源与逆变器相连接进行测试，同时测试N*M个逆变器，其中，N和M为自然数。本实用新型可以同时测试多台逆变器，生产效率高，节省人力，节约能源，可针对大功率逆变器，各测试电源可以任意串联。
一种不同功率逆变器共用测试

[发明专利]具有非接触转换电源的测试系统-CN201410257627.5有效
发明人：刘光祥;沈暐轩 -专利权人：京元电子股份有限公司
申请日： 2014-06-11 - 公布日： 2018-01-19 - 主分类号： G01D18/00 文献下载
摘要：本发明是有关于一种具有非接触转换电源的测试系统，特别是有关一种具有非接触转换电源的动态测试系统。此具有非接触转换电源的测试系统包含动态测试模块、非接触电力转换模块、以及电源。借由以非接触电力转换模块取代电源线做为动态测试模块与电源之间的电源传递，而解决动态测试模块进行动态测试时所产生的电源线纠缠与摩擦等问题。
具有接触转换电源测试系统

[发明专利]一种用于电源管理芯片制造用测试装置及测试方法-CN202210056235.7在审
发明人：郑东明 -专利权人：河南芯睿电子科技有限公司
申请日： 2022-01-18 - 公布日： 2022-04-15 - 主分类号： G01N3/12 文献下载
摘要：本发明涉及芯片测试技术领域，具体为一种用于电源管理芯片制造用测试装置及测试方法，包括支撑架，所述支撑架的下方安装有用于电源管理芯片测试的工作组件，所述支撑架上安装有对电源管理芯片可调整抗压测试位置的抗压测试组件，所述工作组件上设置有对电源管理芯片横向震动测试的第一震动测试组件，所述工作组件上设置有竖向震动测试的第二震动测试组件，本发明的目的在于提供一种用于电源管理芯片制造用测试装置及测试方法，可以灵活调整对电源管理芯片抗压测试的位置，大大提高测试的灵活性，另外在对电源管理芯片抗压测试时，可以对电源管理芯片的不同方向进行震动测试，不但节省人力物力，同时大大提高了工作效率。
一种用于电源管理芯片制造测试装置方法