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[发明专利]测试处理器-CN202011348605.1在审
发明人：卢种基;金枓河 -专利权人：泰克元有限公司
申请日： 2020-11-26 - 公布日： 2021-06-18 - 主分类号： G01R31/26 文献下载
摘要：本公开提供一种测试处理器，包括压板，该压板支撑用于装载器件的测试托盘和附接构件。压板包括温度控制流体通过的第一通孔和第二通孔。
测试处理器

[发明专利]一种多核测试处理器及集成电路测试系统与方法-CN202111040904.3有效
发明人：毛国梁 -专利权人：南京宏泰半导体科技有限公司
申请日： 2021-09-07 - 公布日： 2021-12-17 - 主分类号： G01R31/317 文献下载
摘要：本发明公开了一种多核测试处理器及集成电路测试系统与方法，包括协测试处理器同步控制器、主测试处理器、两个以上的协测试处理器、测试子系统指令切换器，在主测试处理器下引入若干协测试处理器。主测试处理器将需要并发测试的测试图形交给协测试处理器执行，用于完成类似异步信号匹配测试的测试项目。协测试处理器测试完成后，又回到主测试处理器继续后续测试。本发明可以实现多测试站异步并发测试，提高测试效率，同时在给每个测试站分配异步测试通道时可以避免更少的测试通道闲置，从而提高测试通道利用率。
一种多核测试处理器集成电路系统方法

[发明专利]多核心处理器的超频测试方法-CN201010575863.3有效
发明人：胡幸;陈志丰 -专利权人：英业达集团(天津)电子技术有限公司;英业达股份有限公司
申请日： 2010-11-26 - 公布日： 2012-05-30 - 主分类号： G06F11/267 文献下载
摘要：一种多核心处理器的超频测试方法，包括：选取所有的核心处理器中的i个核心处理器作为i个测试处理器；依据核心处理器的个数、i值以及核心处理器的标称频率等级计算指定频率等级；产生i个压力执行绪，并将i个压力执行绪与i个测试处理器绑定，以利用i个压力执行绪分别对i个测试处理器加压；当i个测试处理器的频率等级都达到指定频率等级，且尚未以该指定频率等级测试过所有的该些核心处理器时，重新选取新的i个核心处理器作为新的i个测试处理器；以及重复上述步骤直到以指定频率等级测试过所有的核心处理器。
多核处理器超频测试方法

[发明专利]基于自动矢量生成技术的复杂微处理器测试方法-CN201310741944.X有效
发明人：蒋常斌;刘春来;黎云浩;李力军;高剑;李杰;于明 -专利权人：北京自动测试技术研究所
申请日： 2013-12-27 - 公布日： 2018-04-06 - 主分类号： G06F11/26 文献下载
摘要：本发明公开了一种基于自动矢量生成技术的复杂微处理器测试方法。该方法采用微处理器集成开发工具为测试模型产生可执行模块，并通过自动矢量生成技术产生完备的测试矢量集。测试矢量集包含IEEE1149.1协议，实现在线下载测试代码到被测微处理器并实现仿真控制的功能。依赖于微处理器的不同特点，测试矢量能建立自动测试设备和被测微处理器之间的通信链路，同步调用子程序与测试矢量，实现微处理器的功能测试。微处理器集成开发工具根据被测参数和测试模型生成参数测试步长表，实现微处理器的参数测试。本发明有效减少了微处理器测试的操作环节，降低微处理器的批量生产测试的测试成本。
基于自动矢量生成技术复杂微处理器测试方法

[发明专利]硬盘性能测试方法、装置、设备、存储介质和程序产品-CN202211458945.9在审
发明人：李德明;刘晓;柴兆文 -专利权人：中科可控信息产业有限公司
申请日： 2022-11-17 - 公布日： 2023-03-07 - 主分类号： G06F11/34 文献下载
摘要：本申请涉及一种硬盘性能测试方法、装置、设备、存储介质和程序产品，该方法包括：服务器响应于待测试硬盘的测试指令，并根据测试指令中携带的配置参数，确定待测试硬盘所属的处理器节点，从处理器节点内所有处理器核心中确定待测试硬盘的目标处理器核心，然后通过目标处理器核心对待测试硬盘进行测试，以得到待测试硬盘的性能测试结果。该方法中，在待测试硬盘所属的处理器节点中确定待测试硬盘对应的目标处理器核心，并通过目标处理器核心对待测试硬盘进行性能测试，通过对应的所属处理器核心对待测试硬盘进行测试，能够更好的得到硬盘在服务器上的性能，提高了硬盘在服务器上性能测试的准确性。
硬盘性能测试方法装置设备存储介质程序产品

[发明专利]一种多核心处理器测试方法及相关设备-CN202310922220.9在审
发明人：顾永 -专利权人：展讯通信（上海）有限公司
申请日： 2023-07-25 - 公布日： 2023-10-27 - 主分类号： G06F11/34 文献下载
摘要：本发明涉及处理器测试领域，尤其涉及一种多核心处理器测试方法及相关设备。其中，该方法包括：根据待测处理器的核心的种类确定多个测试场景，各个测试场景所测试的核心的种类不同；对各个测试场景配置对应的测试参数，所述测试参数包括处理器核心频率以及处理器核心电压；基于所述各个测试场景的测试参数依次对所述待测处理器的核心进行压力测试
一种多核处理器测试方法相关设备

[实用新型]一种音频处理器测试系统-CN201320103823.8有效
发明人：袁永平;熊悦 -专利权人：深圳市东微智能科技有限公司
申请日： 2013-03-07 - 公布日： 2013-09-25 - 主分类号： G01R31/00 文献下载
摘要：本实用新型提供了一种音频处理器测试系统，包括：测试用音频处理器、测试电路板、待测音频处理器、外接测试配套设备；所述待测音频处理器的待测接口分别与测试电路板连接，所述测试用音频处理器控制连接测试电路板，所述外接测试配套设备分别与测试电路板连接；所述测试电路板包括继电器，所述待测音频处理器的全部待测接口均通过继电器与各外接测试配套设备连接，测试用音频处理器通过控制继电器来切换测试线路。本实用新型可通过测试用音频处理器控制测试电路板上的继电器切换测试线路，自动实现对待测音频处理器各个端口的集中有序测试。与传统的人工实现方式相比，大大简化了测试工序，提高了测试效率，保证了测试质量，降低了测试成本。
一种音频处理器测试系统

[发明专利]一种用于测试MIPS处理器的设备-CN200510007633.6有效
发明人：张瑾;贺今朝;胡伟武 -专利权人：中国科学院计算技术研究所
申请日： 2005-02-07 - 公布日： 2006-08-16 - 主分类号： G06F11/22 文献下载
摘要：本发明提供一种用于测试MIPS处理器的设备。本发明采用测试主板与处理器分离的方式，该设备包括处理器子卡和测试主板两部分，该测试主板和处理器子卡之间通过SLOT1插槽连接。处理器子卡封装有待测的MIPS处理器、处理器倍频跳线电路和上电逻辑时序电路。处理器子卡根据不同封装、不同管脚排布的MIPS处理器进行封装，封装的处理器子卡的输出信号的排布应与测试主板的SLOT1插槽的信号输入排布方式相一致；从而每一次MIPS处理器设计升级后，只需要重新封装相应的处理器子卡就可以测试本发明的设备可以针对不同封装类型的MIPS处理器进行测试。
一种用于测试 mips 处理器设备

[实用新型]自动化测试系统及测试仓-CN201821290111.0有效
发明人：邹祥祥 -专利权人：京东方科技集团股份有限公司
申请日： 2018-08-10 - 公布日： 2019-01-29 - 主分类号： G01M11/00 文献下载
摘要：本实用新型涉及一种自动化测试系统及测试仓。自动化测试系统包括产品信息获取器、存储器、处理器、测试执行装置以及检测器；产品信息获取器与处理器连接，用于获取待测产品的产品信息，并将产品信息提供给处理器；存储器与处理器连接，用于存储多种产品的测试条件信息，并向处理器提供测试条件信息；检测器与处理器连接，用于检测产品的倾斜角度和/或测试状态，并将倾斜角度和/或测试状态提供给处理器；处理器与测试执行装置连接，用于对产品信息获取器、存储器以及检测器中至少一个提供的信息进行处理，并根据处理结果向测试执行装置发送工作指令；测试执行装置用于接收处理器的工作指令并执行测试工作。
产品信息处理器测试执行装置检测器自动化测试系统处理器连接存储器获取器测试条件测试状态工作指令测试仓本实用新型接收处理器待测产品存储发送测试检测

[实用新型]一种蓝牙测试设备-CN201921390680.7有效
发明人：王建林 -专利权人：北京华大智宝电子系统有限公司;北京智宝云科科技有限公司
申请日： 2019-08-23 - 公布日： 2020-04-28 - 主分类号： H04B17/00 文献下载
摘要：本申请实施例公开了一种蓝牙测试设备，包括中央主处理器，该中央主处理器可以用于处理其他部件发送的数据以及下发命令。还包括多个测试接口，每个测试接口可以用于将待测试产品与中央主处理器连接，每个测试接口与中央主处理器连接。还包括多个蓝牙测试器，每个蓝牙测试器可以用于测试与该中央主处理器连接的一个待测试产品的蓝牙功能，蓝牙测试器与中央主处理器连接。可见，该蓝牙测试设备中每个蓝牙测试器可以为与中央主处理器连接的一个待测试产品进行快速蓝牙功能测试，由于该蓝牙测试设备中包括多个蓝牙测试器，因此，可以实现同时对与中央主处理器连接的多个待测试产品进行并行测试，从而提高了测试效率。
一种蓝牙测试设备

[发明专利]一种可消除连接线电阻误差的仪表测试装置-CN201310022118.X在审
发明人：邹敏琦 -专利权人：上海共联通信信息发展有限公司
申请日： 2013-01-21 - 公布日： 2014-07-23 - 主分类号： G01R35/00 文献下载
摘要：本发明涉及一种可消除连接线电阻误差的仪表测试装置，包括第一处理器、第二处理器、主处理器、显示屏及若干条测试连接线，所述的第一处理器和第二处理器分别通过测试连接线与待测仪表连接，所述的主处理器一端分别连接第一处理器和第二处理器，另一端与显示屏连接；第一处理器、第二处理器分别对待测仪表进行测试，并将将测试结果传输给主处理器，主处理器比较并存储第一处理器和第二处理器的测试结果，并将比较结果和测试结果显示在显示屏上。与现有技术相比，本发明具有可抵消线电阻、提高测试准确性等优点。
一种消除连接线电阻误差仪表测试装置

[实用新型]可消除连接线电阻误差的仪表测试装置-CN201320031537.5有效
发明人：邹敏琦 -专利权人：上海共联通信信息发展有限公司
申请日： 2013-01-21 - 公布日： 2013-08-28 - 主分类号： G01R35/00 文献下载
摘要：本实用新型涉及一种可消除连接线电阻误差的仪表测试装置，包括第一处理器、第二处理器、主处理器、显示屏及若干条测试连接线，所述的第一处理器和第二处理器分别通过测试连接线与待测仪表连接，所述的主处理器一端分别连接第一处理器和第二处理器，另一端与显示屏连接；第一处理器、第二处理器分别对待测仪表进行测试，并将将测试结果传输给主处理器，主处理器比较并存储第一处理器和第二处理器的测试结果，并将比较结果和测试结果显示在显示屏上。与现有技术相比，本实用新型具有可抵消线电阻、提高测试准确性等优点。
消除连接线电阻误差仪表测试装置

[发明专利]一种多核同构DSP处理器测试系统及方法-CN202010313814.6在审
发明人：夏勇权;刘娟 -专利权人：西安太乙电子有限公司
申请日： 2020-04-20 - 公布日： 2020-07-31 - 主分类号： G06F11/22 文献下载
摘要：一种多核同构DSP处理器测试系统及方法，测试系统包括DSP测试板与自动测试单元；所述的DSP测试板上设置DSP处理器、存储器和切换单元，存储器中预烧录DSP处理器控制软件，DSP处理器的一路外部设备接口通过切换单元分别连接存储器和自动测试单元；DSP测试板上的DSP处理器、存储器以及切换单元与所述的自动测试单元之间按照适配两者接口的方式进行电信号连接；所述的自动测试单元通过指令信号控制DSP处理器完成预设动作，自动测试单元配合DSP处理器完成各种功能实现面向应用的测试验证本发明独立可靠，通用性强，满足面向应用的DSP处理器测试要求；同时高效便捷，能够有效降低测试成本。
一种多核同构 dsp 处理器测试系统方法

[发明专利]处理器测试治具-CN201911118433.6在审
发明人：秦清松 -专利权人：苏州浪潮智能科技有限公司
申请日： 2019-11-15 - 公布日： 2020-06-19 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本发明实施例公开了一种处理器测试治具，包括：底板、探针、安装板以及定位件；其中，安装板设置为框状形状，其中，安装板的外缘嵌入底板的外围框架中，定位件的侧壁嵌入到安装板的内缘中，定位件具有与其配套的处理器的焊球位置相同的针孔，探针穿过与处理器的焊球位置相同的针孔，以支承处理器的焊球。通过上述方案，同一台处理器测试治具可以测试多种尺寸以及多种焊球分布的处理器，因此提高了测试治具的通用性；此外，在测试处理器的时候不需要将处理器的焊球焊接到测试治具上就可以测试处理器的性能，简化了测试过程，降低了从测试治具上拆除处理器而造成的处理器的损坏。
处理器测试

[发明专利]自动测试BMC的WEB页面处理器信息的方法及系统-CN201910277387.8在审
发明人：张晓晖 -专利权人：苏州浪潮智能科技有限公司
申请日： 2019-04-08 - 公布日： 2019-07-16 - 主分类号： G06F11/36 文献下载
摘要：本发明提供一种自动测试BMC的WEB页面处理器信息的方法及系统，方法包括如下步骤：S1.测试脚本自动获取BMC WEB页面的处理器信息；S2.测试脚本通过硬件工具自动获取处理器信息；S3.测试脚本自动比较BMC WEB页面的处理器信息与硬件工具获取的处理器信息，判断是否一致；若是，则测试通过；若否，则测试失败；S4.测试脚本输出测试日志，测试完成；系统包括BMC WEB页面处理器信息获取模块、处理器信息硬件工具获取模块、比较模块以及测试日志输出模块。
处理器信息测试脚本硬件工具获取模块自动测试自动获取比较模块测试日志测试通过输出测试输出模块自动比较测试日志失败

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