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[实用新型]一种集成电路测试系统的运放测试模块-CN201922309507.6有效
发明人：李杰 -专利权人： 北京自动测试技术研究所
申请日： 2019-12-20 - 公布日： 2020-11-27 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种集成电路测试系统的运放测试模块。该测试模块包括芯片转接卡座、辅助运放测试回路、光耦矩阵和测试系统接口，光耦矩阵一方面连接芯片转接卡座和测试系统接口，另一方面连接辅助运放测试回路。该测试模块与集成电路测试系统相互配合，实现自动控制光耦矩阵将待测运放芯片接入到辅助运放测试回路中，并按照待测运放芯片的测试规范，控制辅助运放测试回路实现对待测运放芯片的测试任务。此外，本运放测试模块配置灵活，操作方便。
一种集成电路测试系统模块

[实用新型]一种集成电路测试系统的数字测试模块-CN201922309521.6有效
发明人：李杰 -专利权人： 北京自动测试技术研究所
申请日： 2019-12-20 - 公布日： 2020-11-27 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种集成电路测试系统的数字测试模块。该测试模块包括芯片转接卡座、光耦矩阵、测试系统接口和电阻电容矩阵，光耦矩阵一方面连接测试系统接口和芯片转接卡座，另一方面连接电阻电容矩阵。该测试模块可以实现根据不同待测芯片的测试规范，自动控制光耦矩阵搭建测试回路，以实现与集成电路测试系统相互配合，自动完成对待测芯片的测试任务。并且，本测试模块配置灵活，操作方便。
一种集成电路测试系统数字模块

[发明专利]一种片上系统芯片的测试方法及系统-CN201911401980.5在审
发明人：蒋常斌 -专利权人： 北京自动测试技术研究所
申请日： 2019-12-30 - 公布日： 2020-04-17 - 主分类号： G01R31/3185 文献下载
摘要：本发明公开了一种片上系统芯片的测试方法及系统。该方法对基于高速串行链路连接的第一适配器和第二适配器，进行诊断和校准；诊断校准完成后，通过第一适配器逐个获得每个待测片上系统芯片的测试激励矢量和期望矢量，并基于高速串行链路将测试激励矢量压缩打包后传输到第二适配器，得到某个待测片上系统芯片的测试激励矢量；对得到的测试激励矢量进行校验，如果校验通过，则将测试激励矢量相应地传输至对应的待测片上系统芯片的输入引脚，以完成测试。该方法用高速串行传输媒介代替传统的测试电缆，并且对测试激励矢量串行化后压缩并加入校验机制，使得测试激励矢量到待测片上系统芯片的输入引脚映射不仅是完全可编程的，而且还保证测试结果的准确性。
一种系统芯片测试方法

[发明专利]一种主动式测试向量匹配方法-CN201610757297.5有效
发明人：于明 -专利权人： 北京自动测试技术研究所
申请日： 2016-08-29 - 公布日： 2019-06-21 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本发明公开了一种主动式测试向量匹配方法，包括如下步骤：S1，设计DSP的测试程序，通过程序配置器将DSP的测试程序固化到芯片中；S2，自动测试设备通过异步串行通信方式与DSP连接，向DSP发送匹配控制字；根据匹配控制字，使芯片到达唯一对应的工作状态和输出状态；S3，自动测试设备运行匹配控制字对应的测试向量，完成所述匹配控制字对应的主动式匹配测试；S4，重复步骤S2～S3，直至所有匹配控制字对应的测试向量测试完成，通过测试向量运行结果与匹配控制字对应的芯片到达唯一对应的工作状态和输出状态进行对比得到DSP的测试结果。提高了测试效率，减少了测试时间和测试成本。
一种主动测试向量匹配方法

[实用新型]Per-Pin结构VXI总线测试系统PMU校准模块-CN201822002599.9有效
发明人：李杰 -专利权人： 北京自动测试技术研究所
申请日： 2018-11-30 - 公布日： 2019-06-21 - 主分类号： G05B23/02 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种Per‑Pin结构VXI总线测试系统PMU校准模块。该PMU校准模块包括设置在印刷电路板上的主控制器、配置存储器、光耦矩阵和精密电阻矩阵。通过主控制器控制光耦矩阵逐个从每组的多个精密测量单元同步获取电压或电流，将所获取的电压或电流同步发送给精密电阻矩阵，并通过所选取的基准源测量多个精密测量单元的实际电压值或电流值，利用电压与电流的线性特性，得到每个精密测量单元各档位对应的电压和电流的校准系数。因此，本PMU校准模块可以与各种Per‑Pin结构VXI总线测试系统相互配合，自动完成该VXI总线测试系统的精密测量单元高速校准，配置灵活，操作方便。
矩阵精密测量单元测试系统校准模块精密电阻主控制器本实用新型配置存储器印刷电路板控制光耦实际电压同步获取线性特性校准系数自动完成基准源校准档位光耦测量灵活配置配合

[实用新型]Per-Pin结构VXI总线测试系统时间沿校准模块-CN201822002648.9有效
发明人：李杰 -专利权人： 北京自动测试技术研究所
申请日： 2018-11-30 - 公布日： 2019-06-21 - 主分类号： G05B23/02 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种Per‑Pin结构VXI总线测试系统时间沿校准模块。该时间沿校准模块包括设置在印刷电路板上的主控制器、配置存储器、继电器矩阵和时间测量模块；主控制器一方面连接Per‑Pin结构VXI总线测试系统，另一方面分别连接配置存储器、继电器矩阵和时间测量模块；继电器矩阵一方面连接Per‑Pin结构VXI总线测试系统，另一方面连接时间测量模块。本时间沿校准模块可以与各种Per‑Pin结构VXI总线测试系统相互配合，自动完成相关测试系统的时间沿校准工作。
测试系统校准模块时间测量模块继电器矩阵主控制器本实用新型配置存储器印刷电路板连接配置自动完成存储器校准配合

[发明专利]一种用于HDMI接口的测试装置及测试方法-CN201611238488.7有效
发明人：高剑;冯建科;郭士瑞;袁科学;蒋常斌;李杰 -专利权人： 北京自动测试技术研究所
申请日： 2016-12-28 - 公布日： 2019-04-23 - 主分类号： H04N17/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种用于HDMI接口的测试方法及其测试方法，其中，该测试装置包括解码模块、功能测试模块、逻辑判断模块和集成电路测试仪；其中，逻辑判断模块分别与解码模块、功能测试模块和集成电路测试仪相连接，用于对其他模块进行控制、逻辑分析、通信与监测；解码模块用于将接收的HDMI信号解码成低速信号，并将低速信号发送到功能测试模块进行测试。该测试装置以及对应的测试方法解决了HDMI高速信号测试的难题，测试稳定可靠，测试效率较高。
一种用于 hdmi 接口测试装置方法

[发明专利]一种用于频率信号发生芯片的修调装置-CN201511019883.1有效
发明人：高剑;冯建科;郭士瑞;张东;李杰;蒋常斌;于明 -专利权人： 北京自动测试技术研究所
申请日： 2015-12-29 - 公布日： 2018-11-02 - 主分类号： H03K5/13 文献下载
摘要：本发明公开了一种用于频率信号发生芯片的修调装置，包括高速计数电路、2选1电路、修调译码电路和修调控制电路；高速计数电路一方面接收来自集成电路自动测试设备的寄存器输入信号，另一方面接收来自待测试的频率信号发生芯片的频率输出信号，高速计数电路输出的计数值传递给2选1电路；2选1电路的一端连接集成电路自动测试设备，另一端连接修调译码电路；修调译码电路连接修调控制电路，修调控制电路通过修调控制通道连接待测试的频率信号发生芯片的修调管脚。利用本发明，可以实现实时频率测试和修调，可多路并行测试，满足高速低成本的量产测试要求。
一种用于频率信号发生芯片装置

[实用新型]一种实验室设备前端智能信息采集系统-CN201721916391.7有效
发明人：钟征宇;张东;阳辉;阳欣怡 -专利权人： 北京自动测试技术研究所
申请日： 2017-12-31 - 公布日： 2018-07-17 - 主分类号： G05B19/042 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种实验室设备前端智能信息采集系统。该系统包括传感器单元、节点数据采集单元、无线传输单元和供电单元；其中，传感器单元采集实验室设备供电线路的电流信息、温湿度信息，并传输至节点数据采集单元；节点数据采集单元对接收到的数据进行采集、处理、存储，并发送至无线传输单元；无线传输单元对数据进行编码，将编码后的数据传送到外部的无线数据集线器中；供电单元采用双电源供电模式为传感器单元、节点数据采集单元、无线传输单元进行供电。本实用新型的结构简单，设计合理，成本低，使用操作方便、可靠。
无线传输单元采集单元节点数据传感器单元实验室设备本实用新型采集系统供电单元智能信息采集双电源供电温湿度信息电流信息供电线路数据传送无线数据集线器存储发送传输供电外部

[发明专利]一种循环冗余校验方法、设备及存储介质-CN201711472801.8在审
发明人：高剑;冯建科;郭士瑞;袁科学;蒋常斌;李杰;阎伟 -专利权人： 北京自动测试技术研究所
申请日： 2017-12-29 - 公布日： 2018-06-29 - 主分类号： H03M13/09 文献下载
摘要：本发明公开了一种循环冗余校验方法、设备及存储介质。其中，该循环冗余校验方法包括如下步骤：将第一校验码CSAi‑1和第二校验码CSBi‑1作为数据序列Pi的初值与数据序列构成输入数据序列；分别进行CRC第一校验模式和CRC第二校验模式的校验，得到第一校验码CSAi和第二校验码CSBi，将第一校验码CSAi与上一个数据序列Pi‑1的第二校验码CSBi‑1连接到一起构成新数据序列；对构成的新数据序列再进行CRC第一校验模式的校验，得出数据序列Pi的校验码；计数器的数值逐一增加，重复上述步骤，直至所有传输的数据序列全部校验完成，得到所有数据序列的校验码。该方法避免了传统CRC32异或运算的信息丢失，在不增加资源消耗的基础上，提高了校验的准确性。
校验码校验数据序列循环冗余校验存储介质新数据输入数据序列计数器信息丢失异或运算资源消耗传输重复

[发明专利]一种实验室设备前端智能信息采集系统-CN201711496387.4在审
发明人：钟征宇;张东;阳辉 -专利权人： 北京自动测试技术研究所
申请日： 2017-12-31 - 公布日： 2018-05-08 - 主分类号： G05B19/042 文献下载
摘要：本发明公开了一种实验室设备前端智能信息采集系统。该系统包括传感器单元、节点数据采集单元、无线传输单元和供电单元；其中，传感器单元采集实验室设备供电线路的电流信息、温湿度信息，并传输至节点数据采集单元；节点数据采集单元对接收到的数据进行采集、处理、存储，并发送至无线传输单元；无线传输单元对数据进行编码，将编码后的数据传送到外部的无线数据集线器中；供电单元采用双电源供电模式为传感器单元、节点数据采集单元、无线传输单元进行供电。本发明的结构简单，设计合理，成本低，使用操作方便、可靠。
一种实验室设备前端智能信息采集系统

[发明专利]基于自动矢量生成技术的复杂微处理器测试方法-CN201310741944.X有效
发明人：蒋常斌;刘春来;黎云浩;李力军;高剑;李杰;于明 -专利权人： 北京自动测试技术研究所
申请日： 2013-12-27 - 公布日： 2018-04-06 - 主分类号： G06F11/26 文献下载
摘要：本发明公开了一种基于自动矢量生成技术的复杂微处理器测试方法。该方法采用微处理器集成开发工具为测试模型产生可执行模块，并通过自动矢量生成技术产生完备的测试矢量集。测试矢量集包含IEEE1149.1协议，实现在线下载测试代码到被测微处理器并实现仿真控制的功能。依赖于微处理器的不同特点，测试矢量能建立自动测试设备和被测微处理器之间的通信链路，同步调用子程序与测试矢量，实现微处理器的功能测试。微处理器集成开发工具根据被测参数和测试模型生成参数测试步长表，实现微处理器的参数测试。本发明有效减少了微处理器测试的操作环节，降低微处理器的批量生产测试的测试成本。
基于自动矢量生成技术复杂微处理器测试方法

[发明专利]一种柔性芯片、具有该柔性芯片的动力电池组及电动汽车-CN201310690667.4有效
发明人：姜岩峰;张东;蒋常斌;杜宇;李瑞麟;李杰;于明;赵雪莲 -专利权人： 北京自动测试技术研究所
申请日： 2013-12-15 - 公布日： 2017-12-29 - 主分类号： H01M2/20 文献下载
摘要：本发明公开了一种柔性芯片，同时也公开了具有该柔性芯片的动力电池组，还公开了应用该动力电池组的电动汽车。该柔性芯片包括依序设置在绝缘衬底上的金属层、电阻层以及钝化层；电阻层通过接线端与金属层电连接，金属层通过接线端与外层电路电连接。在动力电池组中，温度传感器、均衡电阻以及加热电阻均可采用该柔性芯片实现，使得电池单元控制电路变得结构简单、易于装配、可靠性高。由于柔性芯片可以通过印刷工艺制备，便于实现规模化生产，可以有效控制成本以及缩短动力电池组的上市周期。
一种柔性芯片具有动力电池组电动汽车

[发明专利]液晶屏显示驱动芯片测试方法-CN201510852182.X在审
发明人：刘春来;张东 -专利权人： 北京自动测试技术研究所
申请日： 2015-12-01 - 公布日： 2017-06-09 - 主分类号： G01R31/26 文献下载
摘要：本发明公开了一种液晶屏显示驱动芯片测试方法，包括芯片设计与可测试性设计、芯片加工、WAT测试、晶片测试、封装、封装测试和大规模流片生产；本发明的优点在于能够针对LCD Driver芯片高精度、高频、低振幅电压供给能力和海量的模拟输出引脚同时测试，提高了工作效率，降低了生产成本。
液晶屏显示驱动芯片测试方法

[实用新型]用于液晶屏显示驱动芯片测试的晶片测试装置-CN201520969255.9有效
发明人：刘春来;张东 -专利权人： 北京自动测试技术研究所
申请日： 2015-12-01 - 公布日： 2016-12-07 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种用于液晶屏显示驱动芯片测试的晶片测试装置，包括测试机和探针卡，所述的测试机和探针卡之间直接扣接；所述探针卡是CP测试时连接所述测试机与母板的设备；所述母板与所述测试机的测试通道相连，所述探针卡安装在所述母板上后，通过探针直接接触到所述测试机的Pad上，将芯片连接到整个测试系统之中；本实用新型的优点在于：能够有效的降低测试通道的各种噪声干扰，适合频率较高、引脚数目多的IC测试，提高了工作效率，降低了生产成本。
用于液晶屏显示驱动芯片测试晶片装置

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