专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]应用测试方法、装置及电子设备-CN202211435393.X在审
  • 张卉;杨洋;翁丛 - 中国工商银行股份有限公司
  • 2022-11-16 - 2023-02-03 - G06F21/57
  • 本发明公开了一种应用测试方法、装置及电子设备,涉及数据安全领域。其中,该方法包括:基于静态需求规则测试预定代码,得到静态需求测试结果;静态需求测试结果为测试通过的情况下,基于结构测试规则测试预定代码,得到结构测试结果;结构测试结果为测试通过的情况下,基于预定漏洞库漏洞匹配预定代码,得到漏洞测试结果;漏洞测试结果为测试通过的情况下,基于冒烟测试脚本冒烟测试预定代码,得到冒烟测试结果;冒烟测试结果为测试通过的情况下,基于黑盒测试脚本测试预定代码,得到黑盒测试结果;依据黑盒测试结果,确定预定应用的目标测试结果。本发明解决了相关技术中应用上线前进行测试时,步骤繁多杂糅,出现的测试效率低的技术问题。
  • 应用测试方法装置电子设备
  • [发明专利]芯片测试方法和装置-CN201310254112.5有效
  • 周彦杰;王亦农;潘松;史卫东 - 上海东软载波微电子有限公司
  • 2013-06-24 - 2017-06-20 - H01L21/66
  • 本发明提供一种芯片测试方法和装置,涉及芯片测试领域,其中方法包括对芯片进行第一晶圆级测试;若所述第一晶圆级测试通过,则在所述芯片的闪存模块第一指定位置写入第一晶圆级测试通过的第一标识信息;读取所述第一标识信息,进行第二晶圆级测试,若所述第二晶圆级测试通过,则在所述芯片的闪存模块第二指定位置写入第二标识信息;读取所述第二标识信息,进行成品级测试,若所述成品级测试通过,则在所述芯片的闪存模块第三指定位置写入成品级测试通过的第三标识信息;读取所述第三标识信息,进行出库测试。本发明方案解决了现有技术中对带闪存模块的芯片的测试过程中易出现遗漏某道测试而导致芯片质量不高,造成资源浪费的问题。
  • 芯片测试方法装置
  • [发明专利]一种快速全位码测试方法、系统-CN202310421733.1在审
  • 李冬;李怡凡;朱俊胜;姚建发 - 深圳市兴源智能仪表股份有限公司
  • 2023-04-19 - 2023-08-01 - G01F25/00
  • 本申请涉及水表测试的领域,尤其是涉及一种快速全位码测试方法、系统,其包括如下步骤:获取字轮上每个数字对应的数字区域位置数据;对全部个位数数字对应的数字区域位置进行测试;若是全部测试通过,对全部整十数数字对应的数字区域位置进行测试,其中,整十数为双位数的数据;若是全部测试通过,对全部整百数数字对应的数字区域位置进行测试,其中,整百数为三位数的数据;若是全部测试通过,则对全部整千数数字对应的数字区域位置进行测试,其中,整千数为四位数的数据;若是全部测试通过,则测试完毕。本申请具有提高对水表内字轮的全位码测试效率的效果。
  • 一种快速全位码测试方法系统
  • [发明专利]触摸屏测试方法及电子设备-CN202010972911.6在审
  • 欧青军 - 珠海格力电器股份有限公司
  • 2020-09-16 - 2020-12-29 - G06F11/22
  • 本发明是关于一种触摸屏测试方法及电子设备,涉及测试技术领域,本发明包括:将至少一个预先规划的待测区域显示在测试界面上;其中,待测区域为测试触摸屏的触屏功能时需要测试的触摸屏中的区域;若用户在触摸屏上触发的触摸点在待测区域上,则根据触摸点的测试结果,突出显示触摸点对应的在测试界面的待测区域中的子区域;若测试界面上所有的待测区域均测试完成,且每个待测区域中所有子区域的测试结果均为测试通过,则按照预设的方式提示用户所述触摸屏的测试通过由于本发明实施例可以对测试结果进行实时显示,并且在测试通过后提示用户测试通过,提高了测试效率。
  • 触摸屏测试方法电子设备
  • [发明专利]应用程序升级版本的测试方法、装置及计算机设备-CN201910849188.X有效
  • 郑全威 - 中国平安财产保险股份有限公司
  • 2019-09-09 - 2022-10-14 - G06F11/36
  • 本申请揭示了应用程序升级版本的测试方法、装置及计算机设备,其中,应用程序升级版本的测试方法,包括:获取应用程序的升级版本对应的预设测试条件;调用关联应用程序的所有设备对应的预设排序,根据设备覆盖率确定要进行测试的第一设备;按照各第一设备在预设排序中的排列次序,依次在各第一设备上运行应用程序的升级版本进行测试,并汇总所有第一设备的测试结果;判断测试结果是否均为测试通过;若测试结果均为测试通过,则控制应用程序完成升级;若测试结果不是均为测试通过,则调整升级版本,直至测试结果均为测试通过。根据设备对应的预设排序以及预设测试条件中的设备覆盖率进行精准匹配,以确定满足APP程序的升级版本测试要求的第一设备。
  • 应用程序升级版本测试方法装置计算机设备
  • [发明专利]软件回归测试方法-CN202110045302.0在审
  • 李欣欣;刘坤 - 叮当快药科技集团有限公司
  • 2021-01-13 - 2021-05-04 - G06F11/36
  • 本申请公开了一种软件回归测试方法;方法包括:对待测试的目标软件进行探索性测试;如果探索性测试通过;则采用预先建立的全面测试用例集进行全面测试;如果全面测试通过,则采用各个渠道包对所述软件进行测试;如果采用各个渠道包对所述软件测试通过本申请提出了一套完整、有效的回归测试方法,提高了测试的效果,可以更多地发现BUG,降低产品上线后BUG的发生率。通过整套的用例集在发版上线前所进行的自动化回归测试、全面测试、探索测试、渠道包测试有效避免了线上回归测试不足的问题,显著减少线上事故,极大提高项目线上质量。
  • 软件回归测试方法
  • [发明专利]屏下指纹测试方法-CN202010440474.3有效
  • 巴贤友 - OPPO(重庆)智能科技有限公司
  • 2020-05-22 - 2022-05-17 - G07C3/14
  • 本申请涉及一种屏下指纹测试方法,包括:步骤S100,将电子设备固定于屏下指纹检测设备;步骤S200,第一手指压头对应所述指纹检测点;步骤S300,控制所述第一手指压头按压所述指纹检测点;测试通过,则进入下一步;测试失败,则控制第一手指压头再次按压指纹检测点;测试通过,则进入下一步;测试失败,则指纹检测点不合格;及步骤S400,控制第二手指压头按压指纹检测点;测试通过,则指纹检测点合格;测试失败,则控制第二手指压头再次按压指纹检测点;测试通过,则指纹检测点合格;测试失败,则指纹检测点不合格。当某一手指压头测试失败后,重新抬起该手指压头并再次按压指纹检测点,再次测试,可降低误测率,提高测试效率。
  • 指纹测试方法
  • [发明专利]机顶盒解复用器压力测试方法及系统-CN201710210420.6有效
  • 王华泽 - 深圳市九洲电器有限公司
  • 2017-03-31 - 2018-10-19 - H04N17/00
  • 本发明涉及一种机顶盒解复用器压力测试方法及系统,在主线程定义全局使能标记,设置需要过滤的数据表、每个数据表的PID以及每个过滤表PID需要过滤的次数,在子线程定义一组全局数组变量标记记录每个数据表PID被过滤到的次数,每个数据表PID被过滤到的次数与需要过滤的次数相比满足设定范围,则该数据表压力测试通过,主线程按照设定循环周期检测子线程中每个数据表PID被过滤到的次数,在主线程检测到所有数据表压力测试通过则将全局使能标记立即由1置为0则demux压力测试通过,结束测试,这样就能在测试通过后结束测试,不需要等待固定时长,并且检测结果准确,可信度高,极大满足测试要求。
  • 机顶盒解复用器压力测试方法系统
  • [发明专利]存储器设备及其测试方法-CN202110081015.5在审
  • 张诚益;金基贤;安守珍;李忠基;韩东局 - 三星电子株式会社
  • 2021-01-21 - 2021-10-12 - G11C29/12
  • 一种存储器设备,包括:响应于来自多个存储体的并行测试信号感测数据位的多个感测放大器电路;将来自多个感测放大器电路的每一个的数据位与测试位进行比较的多个比较器;以及逻辑电路,该逻辑电路接收多个比较器的输出信号并输出测试结果,其中多个比较器中的每一个接收测试位、演进的并行位测试(PBT)信号、至少一个测试忽略信号和测试通过信号,并且响应于演进的并行位测试(PBT)信号、至少一个逻辑状态测试设置信号和测试通过信号来比较数据位和测试位,并且响应于测试通过信号通过相应的存储体,而不管测试操作如何。
  • 存储器设备及其测试方法
  • [发明专利]一种环境试验方案设计方法及装置-CN201710338204.X有效
  • 解爽;霍玉杰;杨柳;王文雨 - 大唐移动通信设备有限公司
  • 2017-05-15 - 2020-04-14 - G01M99/00
  • 本发明公开了一种环境试验方案设计方法及装置,可以充分利用历史环境试验数据对即将开展的环境试验调整试验的测试项目,提高环境试验的效率,降低试验成本。所述环境试验方案设计方法,包括:针对每一测试项,根据历史测试数据分别确定该测试项的测试通过率以及故障敏感指数,所述测试通过率用于表征该测试项的激发产品故障的能力,所述故障敏感指数用于表征该测试项发掘产品故障的效率;针对每一测试项,根据所述测试通过率和故障敏感指数确定该测试项的重要度指数;根据各测试项的重要度指数确定待测试产品的环境试验方案。
  • 一种环境试验方案设计方法装置
  • [发明专利]PCB定位点确定方法和系统-CN201510729594.4在审
  • 韩志 - 广州视源电子科技股份有限公司
  • 2015-10-29 - 2016-03-23 - G06T7/00
  • 本发明涉及一种PCB定位点确定方法和系统,其方法包括步骤:在PCB的原始图像中进行定位点搜索,获得所搜索到的原始定位点;在所述原始图像上添加干扰信息得到所述PCB的当前图像;在当前图像中对所述原始定位点或者上一次测试通过的定位点重新进行搜索,对本次搜索到的定位点与对应的原始定位点的位置间隔进行测试;记录所述原始定位点的测试通过次数;在本次测试通过的定位点数不满足预设的继续搜索条件时,根据所述测试通过次数获取原始定位点的评分值,基于所述评分值确定所述
  • pcb定位确定方法系统

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