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[发明专利]芯片的测试方法、装置、存储介质及芯片-CN202211492319.1在审
发明人：杨健明;陈焰强;刘浩;张静 -专利权人：珠海泰芯半导体有限公司
申请日： 2022-11-25 - 公布日： 2023-04-18 - 主分类号： G06F11/22 文献下载
摘要：本申请实施例公开了一种芯片的测试方法、装置、存储介质及芯片，涉及芯片测试领域。本申请中数字电路接收预存储的测试序列，数字电路将测试序列进行处理后生成结果序列，然后将结果序列输出到数字验证电路进行验证，根据验证结果向上位机发送该数字电路的测试结果，实现对模拟功能电路中的数字电路进行直接测试，可以对数字电路中所有数字器件进行全面覆盖，提高数字电路测试的覆盖率，以及提高测试结果的准确性。
芯片测试方法装置存储介质

[发明专利]数字电路产品测试装置-CN201810007304.9在审
发明人：刘晓旭 -专利权人：中国航发商用航空发动机有限责任公司
申请日： 2018-01-04 - 公布日： 2019-07-12 - 主分类号： G01R31/3177 文献下载
摘要：本发明提供一种数字电路产品测试装置，包括主控模块、输入输出模块和连接模块，该输入输出模块适于接收用户输入，并向用户输出测试结果；该连接模块适于与待测数字电路产品连接；该主控模块适于根据该用户输入生成包括多个测试信号段的测试信号，将该测试信号通过该连接模块输入该待测数字电路产品，测试信号的多个测试信号段测试待测产品多个功能。本发明提供的数字电路产品测试装置，由于能够输出包括多个测试信号段的测试信号，所以能够对具有大量功能的数字电路产品进行测试，实现对数字电路产品的复杂逻辑设计进行穷举分析。
测试信号数字电路产品测试装置连接模块输入输出模块主控模块逻辑设计测试产品连接待测产品接收用户输入生成用户输出穷举输出分析

[发明专利]一种数字阵列雷达DAM接收数字电路测试系统-CN201610082893.8有效
发明人：彭卫;方东;肖圣兵;吴兵;邢连营 -专利权人：中国电子科技集团公司第三十八研究所
申请日： 2016-02-03 - 公布日： 2018-06-08 - 主分类号： G01R31/317 文献下载
摘要：本发明公开了一种数字阵列雷达DAM接收数字电路测试系统，包括电源装置、测试信号源、时钟源，以及计算机，测试信号源为待测试的接收数字电路板提供待测试信号，改进点在于，还包括功分器、测试夹具、光纤转接板，功分器将待测试信号功分为多路信号提供给测试夹具，电源装置和时钟源也接到测试夹具，测试夹具将待测试信号、时钟源提供的时钟和电源装置提供的电源通过提供给被测接收数字电路板，测试夹具受计算机控制，光纤转接板连接接收数字电路板和计算机。本发明具有以下优点：本发明设计的测试系统能够并行测试接收数字电路的多个通道的信噪比、噪声系数、通道隔离度以及通道间幅相一致性等指标，极大地提高了接收数字电路测试效率。
测试夹具数字电路测试待测试信号数字电路板电源装置时钟源测试信号源光纤转接板数字阵列功分器雷达幅相一致性计算机控制并行测试测试系统多路信号数字电路通道隔离噪声系数信噪比计算机电源测试改进

[发明专利]测试数字电路的方法、装置和产品-CN201610237561.2有效
发明人： D·雅凯;D·菲安 -专利权人：意法半导体（格勒诺布尔2）公司
申请日： 2016-04-15 - 公布日： 2019-07-26 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本发明的各个实施例涉及测试数字电路的方法、装置和产品。一种数字电路包括：将数据加载到该数字电路中以及将数据从该数字电路卸载的扫描链，耦合到该扫描链并当指示该数字电路的预测试状态的数据经由该扫描链从该数字电路卸载时基于该数据生成第一数字签名的校验电路装置。当测试完成时，该数据经由该扫描链再存储到该数字电路。当该数据加载到该数字电路中时，该校验电路装置生成第二数字签名。将该第一数字签名与该第二数字签名进行比较，以验证该过程的完整性。
测试数字电路方法装置产品

[发明专利]一种数模混合芯片的信号管理方法和装置-CN201310320077.2有效
发明人：薛子恒;潘荣华 -专利权人：北京兆易创新科技股份有限公司
申请日： 2013-07-26 - 公布日： 2017-11-03 - 主分类号： G01R31/3167 文献下载
摘要：本发明提供了一种数模混合芯片的信号管理方法和装置，以解决数模混合芯片在扫描测试模式下的测试覆盖率和故障覆盖率低的问题。所述方法包括对数模混合芯片中的数字电路的输出信号进行组合逻辑处理，并将组合逻辑处理后的信号传入到寄存器中；将传入到寄存器中的信号传输至数字电路；其中，寄存器中的信号被测试电路确定为高电平或低电平。数字电路的状态可以通过扫描数字电路的输出管脚被探测得到，进一步对数字电路进行扫描测试，从而提高了数字电路的测试覆盖率和故障覆盖率。
一种数模混合芯片信号管理方法装置

[发明专利]一种数字电路系统的测试方法-CN201610972232.2有效
发明人：刘杰;帅涛;赵广东;陈鹏飞;张喆;黄奕 -专利权人：上海航天测控通信研究所;中国科学院上海天文台
申请日： 2016-11-04 - 公布日： 2019-03-12 - 主分类号： G01R31/3181 文献下载
摘要：本发明提供一种数字电路系统的测试方法，通过加电前的电源接口阻抗测试，加电后的电压正确性测试、锁相环模块时钟测试、DDS准确度与同源稳定度测试、AD/DA通路性能测试，依次对数字电路系统中协作的模块进行测试，可以保证数字电路系统中主要模块的功能及性能得到全面的测试，可以有效地评估数字电路系统的相应指标，能够最快速度得到测试结果，可靠性高。
数字电路系统测试加电锁相环模块稳定度测试电路系统电源接口评估数字时钟测试性能测试阻抗测试准确度有效地同源协作保证

[发明专利]芯片内同精度Sigma-delta ADC和Sigma-delta DAC的数字电路测试方法-CN201410114690.3有效
发明人：冯晖 -专利权人：同济大学
申请日： 2014-03-25 - 公布日： 2014-07-23 - 主分类号： G01R31/317 文献下载
摘要：本发明提出了一种芯片内同精度Sigma-delta ADC和Sigma-delta DAC的数字电路测试方法，属于大规模集成电路技术领域。该方法连接芯片中的Sigma-delta ADC和Sigma-delta DAC的数字电路，在Sigma-delta DAC的输入端输入数字测试信号，在Sigma-delta ADC的输出端接收数字信号，通过比较输入的数字测试信号与输出的数字信号，即可判断Sigma-delta ADC和Sigma-delta DAC的数字电路是否均正常工作。本发明芯片内同精度Sigma-delta ADC和Sigma-delta DAC的数字电路测试方法可以在一次测试中就能测试出Sigma-delta数模转换和Sigma-delta模数转换两部分数字电路的正确性，测试方法简单，测试效率高。
芯片精度 sigma delta adc dac 数字电路测试方法

[实用新型]一种ADC电路的模数混合测试通道-CN201920762870.0有效
发明人：李怀亮;胡靖;张茜薇;王东旭;王静宁 -专利权人：黑龙江大学
申请日： 2019-05-25 - 公布日： 2020-01-14 - 主分类号： H03M1/12 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种ADC电路的模数混合测试通道，包括电路板、数字电路、模数电路和模拟电路，电路板上设置有数字电路、模数电路和模拟电路，数字电路、模数电路和模拟电路之间通过ADC测试通道相连，数字电路分别与数字信号输入端和数字信号输出端相连，模拟电路分别与模拟信号输入端和模拟信号输出端相连，模数电路与模数输入端和模数输出端相连，ADC测试通道与通道输入端和通道输出端相连。本实用新型有助于芯片级内测试，用虚拟探针代替传统的物理探针，用较少测试线完成芯片内核功能、元器件与PCB板、芯片间的互连等方面测试。
模拟电路模数电路数字电路测试通道电路板本实用新型探针模拟信号输出端模拟信号输入端数字信号输出端数字信号输入端模数输入端输出端相连测试模数混合通道输出芯片内核测试线传统的输入端芯片级互连模数元器件虚拟芯片

[发明专利]数字输出监视电路以及高频前端电路-CN202010045973.2在审
发明人：松山觉;松村哲;中牟田和周;松村俊树 -专利权人：株式会社村田制作所
申请日： 2020-01-15 - 公布日： 2020-08-07 - 主分类号： G06F30/36 文献下载
摘要：本发明提供一种数字输出监视电路以及高频前端电路，能够在混合搭载了数字电路和模拟电路的结构中容易地进行模拟电路的测试。数字输出监视电路具备：第一数字电路(110a)，进行串行数据与并行数据的相互变换；第二数字电路(120)，对从第一数字电路(110a)输出的数据进行解码，生成模拟电路(200)用的控制信号；以及第三数字电路(130)，至少将模拟电路(200)用的控制信号变换为数字数据。第一数字电路(110a)将从第三数字电路(130)输出的数据变换为串行数据，作为输出数据信号输出。
数字输出监视电路以及高频前端

[发明专利]一种电磁脉冲干扰测试方法及系统-CN202010113354.2有效
发明人：刘彧千;柴常春;李阳;吴涵;李福星;靳文轩 -专利权人：西安电子科技大学
申请日： 2020-02-24 - 公布日： 2021-05-07 - 主分类号： G01R31/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种电磁脉冲干扰测试方法及系统；该方法包括：利用传输线脉冲测试设备，以第一初始电压和第一电压步进，向第一数字电路输入电磁脉冲，并监测第一数字电路的泄漏电流；当第一数字电路出现泄漏电流畸变或功能异常时记录电磁脉冲的第一电压；以第二初始电压和第二电压步进，向与第一数字电路相同的第二数字电路输入电磁脉冲，并监测第二数字电路的泄漏电流；当第二数字电路出现泄漏电流畸变或功能异常时记录电磁脉冲的第二电压；若第一电压和第二电压之差小于预设阈值本发明可以降低电磁脉冲干扰测试的测试成本。
一种电磁脉冲干扰测试方法系统

[其他]三态电路测试器-CN88101319无效
发明人：约瑟夫·A·兰冈;迈克尔·乌真蒂 -专利权人：格鲁曼航天公司
申请日： 1988-03-11 - 公布日： 1988-09-21 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：一种测试电路，能测试在逻辑1、逻辑0和高阻抗状态下的电路，例如门电路。为达到此目的，在受测试的数字电路的输出端接上两个比较器，同时将两比较器的第二输入端分别接到不同的参考电压上。将受测试数字电路输出端的电压电平与可编程的参考电压进行比较，就可以编制受测试数字电路工作的唯一真值表。
三态电路测试

[发明专利]一种数字电路单粒子软错误演化过程测试方法-CN201910707632.4有效
发明人：郭晓强;陈伟;王勋;张凤祁;齐超;丁李利;罗尹虹;赵雯;曹良志 -专利权人：西北核技术研究院
申请日： 2019-08-01 - 公布日： 2021-10-01 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：为了获得单粒子软错误在数字电路中的传播演化规律，本发明提出了一种数字电路单粒子软错误演化过程测试方法，本发明通过测试系统功能设计、辐射效应试验流程控制和试验数据分析方法三个方面，获得单粒子软错误在电路中的传播演化规律，适用于中小规模数字电路或关键数字电路模块的单粒子效应试验分析与验证。
一种数字电路粒子错误演化过程测试方法

[发明专利]判断数字电路板测试探笔的接触性的检查方法及测试探笔-CN201210457590.1有效
发明人：李开宇;刘文波;周博;张波;房磊;沈旭;徐贵力 -专利权人：南京航空航天大学
申请日： 2012-11-15 - 公布日： 2013-03-13 - 主分类号： G01R31/02 文献下载
摘要：本发明公开了一种用于判断数字电路板测试探笔的接触性的检查方法以及具有接触检查功能的数字电路板测试探笔，应用于数字电路板测试领域。本发明利用预置电压和电压比较的方法，在不影响探笔采集或接收到的数字信号的前提下，可以判断显示探笔是否与电路板上的测试点接触良好，从而避免了因探笔的接触不良导致的对测试结果的误判断。
判断数字电路板测试接触检查方法

[发明专利]混合信号芯片中测试模拟电路的装置和方法-CN201110399873.0无效
发明人：张辉;王西强;安之平 -专利权人：北京创毅视讯科技有限公司
申请日： 2011-12-05 - 公布日： 2012-07-11 - 主分类号： G01R31/3163 文献下载
摘要：本发明公开一种混合信号芯片中测试模拟电路的装置和方法，能够彻底避免测试过程中数字电路对模拟电路的干扰，得到准确的测试结果。本发明实施例提供的混合信号芯片中测试模拟电路的装置包括：电源管理单元，用于在测试开始时，切断混合信号芯片中数字电路的电源；配置单元，用于在电源管理单元切断数字电路的电源后，从混合信号芯片的外部向模拟电路传递配置信息；测试单元，用于在模拟电路根据所述配置信息配置成功后，通过模拟管脚对模拟电路进行测试。
混合信号芯片测试模拟电路装置方法

[发明专利]2M数字电路的多功能环回测试器-CN201510849532.7有效
发明人：王义春;刘长银;李荣春;李维;赵俊涛;韩力杰;于波;侯艳权;姚越;赵晨宇 -专利权人：国家电网公司;国网黑龙江省电力有限公司七台河供电公司
申请日： 2015-11-27 - 公布日： 2016-04-20 - 主分类号： H04B10/073 文献下载
摘要：2M数字电路的多功能环回测试器，涉及2M数字电路的环回测试技术领域。为了解决对2M数字电路的环回测试时器件接触不牢固、环回操作时间长和容易发生内外芯短路的问题，该测试器包括2M同轴电缆和2N个2M数字连接头，N根2M同轴电缆芯线的两端分别连接2N个2M数字连接头，本发明所述的测试器物理接触牢固，不会发生虚接情况，环回操作时间短，只需10秒钟左右，测试效果和故障判断快速准确，不会发生内外芯短路，避免2M接口板损坏的情况。适用于环回测试2M数字电路。
数字电路多功能测试

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