专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]半导体器件及其制备方法-CN201910517520.2在审
  • 李宁 - 长鑫存储技术有限公司
  • 2019-06-14 - 2020-12-15 - H01L27/108
  • 本发明提供一种半导体器件及其制备方法,半导体器件有源区包括依次层叠设置阱层和掺杂层,还包括开设于掺杂层且内含栅绝缘层和栅电极栅极沟槽;掺杂层包括多个第一掺杂区和至少一个第二掺杂区,第二掺杂区为重掺杂区;栅极沟槽位于相邻两个第一掺杂区之间,且第二掺杂区位于至少其中一个第一掺杂区靠近栅极沟槽一侧。制备时,先在掺杂层上开设栅极沟槽,在栅极沟槽内壁覆盖栅绝缘材料,再由沟槽侧壁注入掺杂离子并退火,形成第二掺杂区,掺杂层内第二掺杂区以外部位为第一掺杂区,最后完成其他结构。该半导体器件第二掺杂区域电阻较小,提高了栅极和源极之间导通电流,增加了器件开关特性,也能减少器件关闭时GIDL漏电。
  • 半导体器件及其制备方法
  • [发明专利]半导体结构及其形成方法-CN202010026831.1有效
  • 周飞 - 中芯国际集成电路制造(天津)有限公司;中芯国际集成电路制造(上海)有限公司
  • 2020-01-10 - 2023-05-05 - H01L21/8234
  • 一种半导体结构及其形成方法,形成方法包括:刻蚀第四掺杂材料层、第二半导体材料层、第三掺杂材料层、缓冲材料层、第二掺杂材料层以及第一半导体材料层,分别形成第四掺杂层、第二半导体柱、第三掺杂层、缓冲层、第二掺杂层以及第一半导体柱;第三掺杂层和第二掺杂掺杂离子导电类型不同,在第一半导体柱侧壁上形成第一栅极结构;形成第一栅极结构后,在第二半导体柱侧壁上形成第二栅极结构。本发明实施例,缓冲层使得第三掺杂层和第二掺杂层不直接接触,使得第二掺杂层中掺杂离子不易扩散至第三掺杂层中,第三掺杂层中掺杂离子不易扩散至第二掺杂层中,优化了半导体结构性能。
  • 半导体结构及其形成方法
  • [发明专利]具有超级结半导体结构形成方法及半导体结构-CN201110300295.0无效
  • 钟树理;朱超群;万祎;曾爱平;陈宇 - 比亚迪股份有限公司
  • 2011-09-28 - 2013-04-03 - H01L21/336
  • 本发明提出一种具有超级结半导体结构形成方法,包括:提供具有第一掺杂类型半导体衬底;在半导体衬底之上分别形成第一掺杂区、第二掺杂区和第三掺杂区,第三掺杂区位于第一掺杂区和所述第二掺杂区之间,且所述第一掺杂区和第二掺杂区为第一掺杂类型,第三掺杂区为第二掺杂类型;在第三掺杂区顶部形成体区;在第一掺杂区、第二掺杂区和体区上形成掩膜层;刻蚀掩膜层以形成有源区;在所述体区中形成源极;在第一掺杂区、第二掺杂区、体区上方形成介质层;在介质层中形成接触孔区域发明中能够形成有序pnpn结构,降低导通电阻,提高具有超级结半导体结构性能。
  • 具有超级半导体结构形成方法
  • [发明专利]瞬时电压抑制装置-CN202210907230.0在审
  • 陈致维;林冠宇;林昆贤 - 晶焱科技股份有限公司
  • 2022-07-29 - 2022-11-08 - H01L27/02
  • 本发明公开一种瞬时电压抑制装置,其包括至少一个P型轻掺杂结构与至少一个静电放电结构。静电放电结构包括一N型轻掺杂阱区、一N型阱区、一第一P型重掺杂区与一第一N型重掺杂区。N型轻掺杂阱区位于P型轻掺杂结构中,N型阱区位于N型轻掺杂阱区中,N型轻掺杂阱区掺杂浓度小于N型阱区掺杂浓度。第一P型重掺杂区位于N型阱区中,第一N型重掺杂区位于P型轻掺杂结构中。
  • 瞬时电压抑制装置
  • [发明专利]太阳能电池及其制作方法-CN201210381952.3有效
  • 陈芃;梁硕玮 - 友达光电股份有限公司
  • 2012-10-10 - 2013-01-02 - H01L27/142
  • 本发明提供一种太阳能电池及其制作方法,该太阳能电池包括设于半导体基底第一表面的掺杂层、设于半导体基底第二表面的第一区掺杂多晶硅层、设于半导体基底第二表面的第二区掺杂区、以及覆盖掺杂多晶硅层与掺杂区表面的绝缘层绝缘层暴露了部分掺杂多晶硅层与部分掺杂区,使掺杂多晶硅层与掺杂区经由绝缘层开口分别连接于第一电极与第二电极。半导体基底与掺杂层具有第一掺杂类型,掺杂多晶硅层与掺杂区之其中一者具有第二掺杂类型,其中另一者则具有第一掺杂类型,且第二掺杂类型相反于第一掺杂类型。本发明可以提高太阳能电池光电转换效率。
  • 太阳能电池及其制作方法
  • [实用新型]拉晶炉掺杂装置-CN201920919555.4有效
  • 李磊;李小红;芮阳;王忠保;闫龙;赵延祥;小暮康弘;王黎光;徐庆晧 - 宁夏银和半导体科技有限公司
  • 2019-06-18 - 2020-03-24 - C30B15/04
  • 本实用新型提供了一种拉晶炉掺杂装置,属于多晶硅或单晶硅生产技术领域。包括掺杂管、隔断阀及掺杂料加注组件,掺杂管一端固定连接拉晶炉台,掺杂料加注组件连接掺杂管另一端,隔断阀设置于掺杂管上,将掺杂料加注组件与拉晶炉台隔离。掺杂料加注组件包括掺杂料储槽及设置在掺杂料储槽上惰性气体置换管件及稳压管件。掺杂作业时,关闭隔断阀,向掺杂料储槽中按理论计算量加入掺杂剂,向掺杂料储槽中通入氩气进行置换,置换完成后,打通稳压管件,保证掺杂剂通畅下料,操作简单,安全可靠。实现了独立加料,可根据实际生产需要,精准计算好掺杂用量,确保拉制晶棒电阻率,保证拉晶合格率。
  • 拉晶炉掺杂装置
  • [发明专利]原子层掺杂装置和方法-CN01816669.5有效
  • G·萨德胡;T·T·多安 - 微米技术股份有公司
  • 2001-08-22 - 2004-01-14 - C30B31/00
  • 揭示了一种改进具有多个掺杂区域原子层掺杂装置,其中首先沉积各种掺杂物质,然后将其中包含掺杂物原子扩散到基层中。各个掺杂区域与相邻掺杂区域化学隔离。对加载装置编程,使之以预定传递次序将半导体基层移入和移出各个相邻掺杂区域。根据所提供掺杂区域数目,可同时处理多个基层并沿着掺杂区域循环移动,直到取得所需掺杂分布。
  • 原子掺杂装置方法
  • [发明专利]一种硅基叉指型光电探测器-CN201910457128.3有效
  • 徐科;孙路路 - 哈尔滨工业大学(深圳)
  • 2019-05-29 - 2021-06-15 - H01L31/101
  • 本发明提供了一种硅基叉指型光电探测器,其包括衬底、位于衬底上叉指结构硅波导和金属电极,所述硅波导包括n型掺杂区、n型掺杂叉指、p型掺杂区、p型掺杂叉指,所述n型掺杂叉指、p型掺杂叉指位于n型掺杂区和p型掺杂区之间,所述n型掺杂叉指、p型掺杂叉指交替排列;所述n型掺杂叉指与同侧n型掺杂区接触,与p型掺杂区之间留有间隙;所述p型掺杂叉指与同侧p型掺杂区接触,与n型掺杂区之间留有间隙;通过金属电极和处于波导两侧并与波导相接n型掺杂区、p型掺杂区相连。本发明技术方案,能够更高效地收集由于缺陷态吸收效应从缺陷态能级跃迁到导带电子,形成更大光电流,提高光电探测器性能。
  • 一种硅基叉指型光电探测器
  • [实用新型]背接触电池-CN202023283894.X有效
  • 李硕;杨慧;邓伟伟;蒋方丹 - 苏州阿特斯阳光电力科技有限公司;阿特斯阳光电力集团股份有限公司
  • 2020-12-30 - 2021-08-24 - H01L31/0224
  • 本申请提供一种背接触电池,包括硅基底、设置在所述硅基底背面的金属电极,所述硅基底背面形成有间隔排布第一掺杂层与第二掺杂层,所述第一掺杂层与第二掺杂掺杂类型相反,且所述第一掺杂厚度小于第二掺杂厚度;所述硅基底背面还凹陷形成有位于相邻所述第一掺杂层与第二掺杂层之间沟槽。所述背接触电池通过对掺杂类型不同第一掺杂层与第二掺杂层进行区分设计,并在相邻第一掺杂层与第二掺杂层之间设置沟槽进行电性隔离,结构简洁,有效避免漏电异常,提高电池性能。
  • 接触电池
  • [发明专利]晶体管及其形成方法-CN201310365802.8有效
  • 刘金华 - 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司
  • 2013-08-20 - 2017-06-16 - H01L29/78
  • 一种晶体管及其形成方法,其中晶体管包括半导体衬底表面具有第一掺杂区,第一掺杂区内具有第一掺杂离子,第一掺杂区内第一掺杂离子具有第一浓度;位于第一掺杂区部分表面且具有第一掺杂离子半导体层,半导体层内第一掺杂离子具有第一浓度;位于半导体层内第二掺杂区,第二掺杂区位于半导体层侧壁和顶部表面,第二掺杂区内具有第一掺杂离子,第二掺杂区内第一掺杂离子具有第二浓度,第二浓度大于第一浓度;位于半导体层两侧侧壁内第二掺杂区表面的栅极结构;位于半导体层和栅极结构两侧部分第一掺杂区和部分半导体衬底内漏区,漏区内具有第一掺杂离子,漏区内第一掺杂离子具有第二浓度。晶体管尺寸缩小、集成度提高。
  • 晶体管及其形成方法
  • [发明专利]恒流二极管及其制造方法-CN201410542544.0有效
  • 赵圣哲 - 北大方正集团有限公司;深圳方正微电子有限公司
  • 2014-10-14 - 2019-01-15 - H01L29/861
  • 本发明提供了一种恒流二极管及其制造方法,该恒流二极管包括:衬底层;位于所述衬底层上外延层;位于所述外延层中并与所述外延层背向所述衬底层表面相贴第一掺杂区、第二掺杂区和第三掺杂区,所述第二掺杂区位于所述第一掺杂区与所述第三掺杂区之间,所述外延层背向所述衬底层表面上设有与所述第一掺杂区及所述第三掺杂区对应凹槽;其中,所述第一掺杂区与所述第三掺杂掺杂类型为P型且所述第二掺杂掺杂类型为N型,或者,所述第一掺杂区与所述第三掺杂掺杂类型为N型且所述第二掺杂掺杂类型为P型。本发明可以减小恒流二极管耗尽区处结电容,同时不对器件其他性能造成很大影响。
  • 二极管及其制造方法
  • [发明专利]一种太阳能电池及制备方法-CN201910247636.9在审
  • 黄文洋 - 东泰高科装备科技有限公司
  • 2019-03-29 - 2020-10-09 - H01L31/0352
  • 其中,所述太阳能电池包括:包括由下到上依次层叠排列衬底、至少两节子电池和接触层,在相邻两节子电池之间设置一个隧穿结,隧穿结包括层叠排列n型第一掺杂层、n型第二掺杂层、p型第一掺杂层和p型第二掺杂层,n型第一掺杂层和n型第二掺杂层相邻,p型第一掺杂层和p型第二掺杂层相邻,n型第一掺杂层和p型第一掺杂层相邻;n型第一掺杂n型离子掺杂浓度高于n型第二掺杂掺杂浓度,p型第一掺杂p型离子掺杂浓度高于p型第二掺杂掺杂浓度。本发明实施例提供太阳能电池及制备方法,提高了太阳能电池光电转换效率。
  • 一种太阳能电池制备方法
  • [发明专利]反熔丝存储单元及其制作方法-CN201910745176.2在审
  • 冯鹏;李雄 - 长鑫存储技术有限公司
  • 2019-08-13 - 2021-02-23 - H01L27/112
  • 本发明实施例涉及一种反熔丝存储单元及其制作方法,反熔丝存储单元包括:衬底,所述衬底上具有选择栅极结构;第一掺杂区和第二掺杂区,所述第一掺杂区和所述第二掺杂区分别位于选择栅极结构相对两侧所述衬底内,所述第一掺杂区和所述第二掺杂掺杂离子类型相同;位于所述第一掺杂区上反熔丝栅介质层和位于所述反熔丝栅介质层上反熔丝栅极;第三掺杂区,所述第三掺杂区位于所述第二掺杂区与所述选择栅极结构之间,所述第三掺杂与所述第二掺杂掺杂离子类型相同,且所述第三掺杂掺杂离子浓度小于所述第二掺杂掺杂离子浓度本发明可以降低电场对选择栅介质层损伤,从而提高反熔丝存储单元中选择晶体管可靠性。
  • 反熔丝存储单元及其制作方法
  • [发明专利]半导体结构及其制备方法-CN202310417511.2在审
  • 杨杰;杨航 - 长鑫存储技术有限公司
  • 2023-04-13 - 2023-07-07 - H01L29/06
  • 本申请提供一种半导体结构及其制备方法,涉及半导体技术领域,用于解决半导体器件功耗大问题,该半导体结构包括衬底,衬底包括多个间隔设置有源区;有源区中具有源极和漏极,源极和漏极之间具有栅极,栅极下方有沟道区;源极和漏极均包括掺杂区,源极掺杂区和漏极掺杂区沿栅极中轴线对称设置;各掺杂区包括第一子掺杂区、第二子掺杂区和第三子掺杂区,第一子掺杂区、第二子掺杂区和第三子掺杂区由顶部至底部依次设置,第三子掺杂区靠近沟道区一端向第一子掺杂区延伸并与第一子掺杂区连接;其中,第一子掺杂区和第三子掺杂掺杂浓度大于第二子掺杂掺杂浓度。本申请能够减小PN结反偏漏电流,从而减小半导体器件功耗。
  • 半导体结构及其制备方法

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