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[实用新型]测量半导体芯片热阻的装置-CN202023288283.4有效
发明人：郭宇程;邓海东 -专利权人：晶晨半导体(深圳)有限公司
申请日： 2020-12-29 - 公布日： 2021-10-22 - 主分类号： G01R31/26 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种测量半导体芯片热阻的装置，该装置包括散热板、检测模块、第一温度传感器、第二温度传感器和数据处理器：散热板上设置有检测部，待测半导体芯片固定于检测部；检测模块用于为待测半导体芯片供电并检测供电参数；第一温度传感器通过检测部与待测半导体芯片靠近散热板的一面连接，用于检测待测半导体芯片的第一温度；第二温度传感器与待测半导体芯片的远离散热板的一面连接，用于检测待测半导体芯片的第二温度；数据处理器与第一温度传感器和第二温度传感器分别连接，用于根据第一温度、第二温度和供电参数获得待测半导体芯片的热阻。
测量半导体芯片装置

[发明专利]一种芯片拉曼信号的检测方法-CN201910314129.2在审
发明人：刘丽花;李超波;远雁;解婧;王欢 -专利权人：中国科学院微电子研究所
申请日： 2019-04-18 - 公布日： 2020-10-27 - 主分类号： G01N21/65 文献下载
摘要：本发明涉及激光拉曼检测技术领域，尤其涉及一种芯片拉曼信号的检测方法，包括在该待检测芯片表面形成包括疏水性溶液的疏水性层，将待检测溶液滴加于疏水性层上，通过拉曼检测仪对滴加有待测溶液的待检测芯片进行检测，获得待检测芯片的拉曼信号，由于在待检测芯片表面形成疏水性层，使得待测溶液滴加在该待检测芯片表面上时，该待测溶液与待检测芯片表面的接触角增大，提高了待检测芯片表面的待测溶液浓度的均匀性，在检测该待检测芯片的拉曼信号时
一种芯片信号检测方法

[发明专利]一种光电探测芯片的测试系统及方法-CN202111043119.3在审
发明人：陈政欢;肖希;王磊;冯朋;熊雨洁 -专利权人：武汉光谷信息光电子创新中心有限公司
申请日： 2021-09-07 - 公布日： 2021-12-31 - 主分类号： G01M11/00 文献下载
摘要：本发明公开一种光电探测芯片的测试系统及方法。系统包括光源组件、电源组件、光纤组件、转换组件，耦合组件和测试组件，光源组件用于提供测试光信号；电源组件为待测光电探测芯片提供偏置电压；光纤组件用于接收测试光信号，将测试光信号向待测光电探测芯片传输；转换组件用于接收待测光电探测芯片输出的光电流信号，将光电流信号转换成电压信号，将电压信号提供给耦合组件；耦合组件用于基于转换组件提供的所述电压信号控制光纤组件移动，以使待测光电探测芯片耦合到最多的测试光信号；所述测试组件用于在待测光电探测芯片耦合到最多的测试光信号的情况下，测试待测光电探测芯片的性能。
一种光电探测芯片测试系统方法

[发明专利]用于芯片测试的系统和待测芯片装置-CN202111103868.0有效
发明人：武晓伟;马继荣;张玉阳;赵旭 -专利权人：北京紫光青藤微系统有限公司
申请日： 2021-09-22 - 公布日： 2021-12-28 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本申请涉及芯片测试技术领域，公开一种用于芯片测试的系统，包括：芯片测试装置用于提供测试信号，接收测试反馈信号并根据测试反馈信号获取芯片测试结果；测试信号包括复合信号；复合信号由电源信号和指令控制信号叠加得到；待测芯片装置与芯片测试装置连接，待测芯片装置用于在接收到测试信号的情况下，对复合信号进行译码获得指令控制信号；根据指令控制信号获取测试反馈信号，并将测试反馈信号输出给芯片测试装置。提高了芯片测试效率，降低了芯片生产成本。本申请还公开一种待测芯片装置。
用于芯片测试系统装置

[发明专利]图像检测方法和装置-CN201911150261.0在审
发明人：张佳琳;洪群生;张衡;郁肖飞;郝鹏 -专利权人：深圳航天智控科技有限公司
申请日： 2019-11-21 - 公布日： 2020-05-15 - 主分类号： G06T7/00 文献下载
摘要：该方法根据待测目标的目标图像判断待测目标上是否存在芯片，并在待测目标上存在芯片时，通过判断芯片的坐标与参考坐标之间的偏移量来确定芯片的位置是否存在缺陷，在待测目标上未设置芯片时，通过判断待测目标上锡膏点的尺寸是否在第一预设阈值区间内来确定锡膏点的尺寸是否存在缺陷，可以快速地自动对待测目标即电子元器件进行缺陷检测，可以节省人工，提高工作效率。
图像检测方法装置

[发明专利]一种氮氧传感器芯片泵电流的测试方法及装置-CN201510253371.5有效
发明人：胡秉权;陈丽芳;熊建杰;罗敏;张敏环 -专利权人：湖北丹瑞新材料科技有限公司
申请日： 2015-05-18 - 公布日： 2018-02-09 - 主分类号： G01R19/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种氮氧传感器芯片泵电流的测试方法及装置，通过向待测氮氧传感器芯片施加加热电压，使得芯片的功能区域保持在一定的测试温度；向待测氮氧传感器芯片的功能电极施加测试电压，改变待测氮氧传感器芯片的工作状态，测试芯片各功能电极上的泵电流；本发明提供的测试装置包括芯片夹具、主控模块、温控模块、测试电压控制模块和电流检测模块；芯片夹具具有多个触点，用于将待测氮氧传感器芯片的各电极与所述测试装置稳定连接，以保证测试效果；待测氮氧传感器芯片被夹到芯片夹具上后，待测氮氧传感器芯片的电极分别与芯片夹具的触点稳定接触；测试装置上用于连接待测芯片的各端子分别对应与芯片夹具的触点稳定连接；本发明提供的测试方法及装置实现了氮氧传感器泵电流自动化检测
一种传感器芯片电流测试方法装置

[发明专利]一种芯片FT测试系统以及测试方法-CN202011493343.8在审
发明人：许锦海;唐振中;江华彬;李应浪;黄立伟;李兴祥 -专利权人：珠海泰芯半导体有限公司
申请日： 2020-12-17 - 公布日： 2021-05-14 - 主分类号： G06F11/22 文献下载
摘要：本发明公开一种芯片FT测试系统以及测试方法，涉及芯片FT测试技术领域；所述测试系统包括自动测试设备ATE、待测芯片，所述待测芯片具有测试端口；其特征在于，还包括主机；所述主机存储有芯片测试用的全部测试pattern；所述主机通过所述测试端口传送测试pattern给所述待测芯片；所述自动测试设备ATE与所述主机通信连接，所述自动测试设备与所述待测芯片通信连接。芯片FT测试系统及测试方法，通过引入了主机、自动测试设备ATE以及待测芯片三方的交互，使得在测试pattern的传输过程，仅利用了芯片的测试端口即可，最大限度的让芯片的其他端口(引脚)得到开发利用。
一种芯片 ft 测试系统以及方法

[实用新型]一种芯片双模组取放料装置-CN202120473039.0有效
发明人：吕波 -专利权人：珠海市科迪电子科技有限公司
申请日： 2021-03-04 - 公布日： 2021-11-16 - 主分类号： B07C5/342 文献下载
摘要：本实用新型提供一种芯片双模组取放料装置，包括左取放料模组、右取放料模组、测试治具、供料单元、收料单元和第一CCD照相单元，供料单元用于提供待测料盘，待测料盘上放置有待测芯片，第一CCD照相单元设于待测料盘上方，第一CCD照相单元用于对待测料盘进行检测定位，左取放料模组根据第一CCD照相单元反馈的定位信息、对待测料盘上的待测芯片进行抓取、并将待测芯片放置在测试治具上，右取放料模组用于将测试治具上的待测芯片抓取并放置在收料单元上当存在多个测试治具时，在一个测试治具正在测试时，即可利用左取放料模组向另外的测试治具放置芯片，多线程同时运行，芯片移料速率快，提高测试效率。
一种芯片双模组取放料装置

[发明专利]基于微流控芯片与微阵列芯片技术的检测方法及芯片系统-CN201811611292.7在审
发明人：李周敏;李钟卉 -专利权人：南京祥中生物科技有限公司
申请日： 2018-12-27 - 公布日： 2019-06-07 - 主分类号： G01N21/78 文献下载
摘要：本发明公开了一种基于微流控芯片与微阵列芯片技术的检测方法及芯片系统。检测方法包括：利用微流控芯片，对样品进行过滤杂质、吸附目标待测物后，将目标待测物洗脱后导入微阵列芯片的检测区；其中，通过在微流控芯片的通道内吸附或偶联具有特异性识别目标待测物的亲和材料实现目标待测物的吸附；向微阵列芯片的检测区加入检测试剂，进行反应，对微阵列芯片的反应结果进行识别。本发明还提供了其芯片系统。本发明结合微流控芯片与微阵列芯片技术，实现样品分离富集和检测功能的一体化集成，可对临床、农产品、食品、环境样品中的待测物实现现场快速定量检测。可以快速准确测定待测物含量，灵敏度高，检测时间短，操作简单易行。
待测物微流控芯片微阵列芯片技术检测芯片系统微阵列芯片检测区吸附特异性识别一体化集成反应结果环境样品检测试剂快速定量亲和材料吸附目标样品分离阵列芯片灵敏度富集后导偶联洗脱过滤农产品

[发明专利]芯片的检测方法、系统、装置及存储介质-CN202310465912.5在审
发明人：谢登煌 -专利权人：深圳市晶存科技有限公司
申请日： 2023-04-19 - 公布日： 2023-08-08 - 主分类号： G01N21/88 文献下载
摘要：本发明公开了一种芯片的检测方法、系统、装置及存储介质。该方法包括：获取若干待测芯片的图像信息；根据每个待测芯片的图像信息，得到待测芯片的第一特征参数信息和第二特征参数信息；将第一特征参数信息与第一特征参数阈值进行比较，得到待测芯片的第一检测结果；将第二特征参数信息与第二特征参数阈值进行比较，得到待测芯片的第二检测结果；显示芯片检测的主界面；根据每个待测芯片的第一检测结果，在第一特征显示区域的对应位置展示第一检测结果；根据每个芯片的第二检测结果，在第二特征显示区域的对应位置展示第二检测结果本发明实施例有利于提升芯片检测的效率，缓解标准差异化问题；可广泛应用于芯片技术领域。
芯片检测方法系统装置存储介质

[实用新型]一种基于光发射显微镜的芯片测试板-CN202221650455.4有效
发明人：刘清超;朱庆芳 -专利权人：普冉半导体（上海）股份有限公司
申请日： 2022-06-29 - 公布日： 2022-11-22 - 主分类号： G01R1/04 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种基于光发射显微镜的芯片测试板，包括UART通讯接口，与上位机连接，用于接收上位机发送的用于测试光发射显微镜的测试指令；数模转换器，与UART通讯接口连接，用于通过UART通讯接口接收测试指令，并将测试指令转化为测试信号；MCU与数模转换器连接，用于接收测试信号；待测芯片接口，待测芯片通过待测芯片接口与MCU连接；MCU通过UART通讯接口接收上位机发送的测试指令后，通过待测芯片接口控制待测芯片执行相应的操作；UART通讯接口集成于芯片测试板的第一区域、数模转换器和MCU集成于芯片测试板的第二区域，待测芯片接口集成于芯片测试板的第三区域。本实用新型可以为光发射显微镜进行集成电路芯片测试提供良好测试环境。
一种基于发射显微镜芯片测试

[发明专利]一种芯片测试方法及装置-CN202310473993.3有效
发明人：祝欣;赖志铭;许展榕;温才吉 -专利权人：合肥康芯威存储技术有限公司
申请日： 2023-04-28 - 公布日： 2023-08-08 - 主分类号： G11C29/50 文献下载
摘要：本发明公开了一种芯片测试方法及装置，所述芯片测试方法至少包括以下步骤：提供一待测芯片，并预设待测芯片的工作电压的安全阈值；在测试时间内，持续获取待测芯片的命令信号线的电压，并作为目标电压；当目标电压小于安全阈值，降低待测芯片的驱动电压，并重新比较目标电压和安全阈值，直到驱动电压降到最低或目标电压大于等于安全阈值；在测试时间内，获取并记录目标电压小于安全阈值的时长和次数，并作为标定时长和标定次数；以及根据标定时长和标定次数，将待测芯片分级。本发明提供了一种芯片测试方法及装置，能够提升芯片测试的准确率和效率。
一种芯片测试方法装置

[发明专利]一种用于检测芯片闩锁效应的测试系统及其方法-CN202011563151.X在审
发明人：刘静;陈凝;郭耀华;欧阳睿;赵旭 -专利权人：紫光同芯微电子有限公司
申请日： 2020-12-25 - 公布日： 2022-07-01 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本发明提供了一种用于检测芯片闩锁效应的测试系统及其方法，所述测试系统包括稳压电源、PCB板、待测芯片和万用表，其中，PCB板包括稳压电源电压装置、电信号脉冲产生装置、待测设备插座和触发开关；当进行检测待测芯片闩锁效应测试时，使用万用表测量待测芯片电源管脚的电流值，判断触发的脉冲电压信号是否造成闩锁效应，使得待测芯片的闩锁效应测试具有快速、易实现，测试过程简化且低成本的特点。
一种用于检测芯片效应测试系统及其方法

[发明专利]一种显示芯片检测装置及方法-CN202110921795.X有效
发明人：朱舒卷;何军 -专利权人：南京芯视元电子有限公司
申请日： 2021-08-12 - 公布日： 2022-03-08 - 主分类号： G01N21/84 文献下载
摘要：本申请提供一种显示芯片检测装置及方法，涉及显示芯片检测技术领域，包括：基座，设置于基座的光源、光学组件、测试装置和用于容置待测显示芯片的测试工位；光源出射的光束经光学组件入射待测显示芯片，在待测显示芯片调制后的光束经光学组件入射测试装置，如此，测试装置便可以确定待测显示芯片的检测信息，根据检测信息确定当前测试的待测显示芯片是否合格，从而不仅能够以自动化的形式对待测显示芯片进行测试，提高检测效率，同时，将光源、测试装置、测试工位设置于光学组件的三侧
一种显示芯片检测装置方法

[发明专利]一种SPR分析仪的图像分析方法及系统-CN201310673597.1在审
发明人：王丽红;刘鸿;欧小敏;彭开美;何建安;朱劲松 -专利权人：山东普瑞高通生物技术有限公司;王丽红
申请日： 2013-12-11 - 公布日： 2014-04-02 - 主分类号： G06T7/00 文献下载
摘要：所述方法包括：获取具有多个待测样品反应区域的生物芯片的第一图像；第一图像为未通入待测物的生物芯片的图像；待通入待测物与所述生物芯片上的探针进行反应后，获取所述生物芯片的第二图像；确定生物芯片的每个待测样品反应区域的位置；按照所述位置分别将第一图像和第二图像分割成多个局部反应图像；对于同一位置的局部反应图像，通过第二图像与第一图像进行比对，得到同一位置的局部反应图像的亮度变化信息；根据所述亮度变化信息，对待测物进行SPR采用本发明的方法或系统，可以对具有多个待测样品反应区域的生物芯片上的多个待测样品反应区域的待测物进行分析。
一种 spr 分析图像方法系统