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[发明专利]一种管内轮胎式气压加载环向预应力加固装置-CN201810149028.X有效
发明人：刘海祥;鲁文妍;陈亮;高学春;龙志勇;黄建红;刘璨;唐云清;祁峰;宋智通;柯敏勇;王建;张民;于凯;徐芳芳;陈凝 -专利权人：水利部交通运输部国家能源局南京水利科学研究院;中国电建集团山东电力管道工程有限公司
申请日： 2018-02-13 - 公布日： 2023-10-03 - 主分类号： B29C63/00 文献下载
摘要：本发明涉及一种管内轮胎式气压加载环向预应力加固装置，该装置包括若干辐条支撑的轮框圈和安装在轮框圈外侧环面的充气胎；轮框圈由若干弧形轮框段拼接而成；轮框圈的外侧环面具有凹槽形轮辋；轮辋的两侧具有朝向充气胎伸出的固定卡；轮辋的上还安装有织网罩，织网罩的上具有与固定卡配合的胎唇，充气胎布置在织网罩内。本发明能够有效提高或加强普通混凝土管、预应力钢筒混凝土管（PCCP管）、环向管状结构（砌体、复合材料体）、多边形空腔结构承载内部水压、气压、外部负压的能力，提高结构整体性、耐久性等作用，充分利用碳纤维等高强材料的受拉力学性能，系统的发明开创了管内预应力的方法，装置的发明实现了方法的运用。
一种轮胎气压加载预应力加固装置

[发明专利]一种管内环向预应力修补加固系统-CN201810149090.9有效
发明人：鲁文妍;高学春;刘海祥;陈亮;龙志勇;黄建红;刘璨;唐云清;祁峰;宋智通;柯敏勇;王建;张民;于凯;徐芳芳;陈凝 -专利权人：水利部交通运输部国家能源局南京水利科学研究院;中国电建集团山东电力管道工程有限公司
申请日： 2018-02-13 - 公布日： 2023-10-03 - 主分类号： B29C63/00 文献下载
摘要：本发明涉及一种管内环向预应力的修补加固系统，该装置包括安装盘、加载盘、穿心式千斤顶、与千斤顶相连的楔形加载体和设备平台。本发明提供的管内预应力修补加固系统，能够有效提高或加强普通混凝土管、预应力钢筒混凝土管（PCCP管）、环向管状结构（砌体、复合材料体）、多边形空腔结构承载内部水压、气压、外部负压的能力，提高结构整体性、耐久性等作用，充分利用碳纤维等高强材料的受拉力学性能，系统的发明开创了管内预应力的方法，装置的发明实现了方法的运用，各配件的组合增加了适用范围，提高了经济性、技术性及高效性。
一种内环预应力修补加固系统

[外观设计]路灯灯头（R327X）-CN202330311687.0有效
发明人：陈建文;冯亚东;陈厦;陈凝 -专利权人：常州格林照明股份有限公司
申请日： 2023-05-25 - 公布日： 2023-10-03 - 主分类号： 26-07 文献下载
摘要：1.本外观设计产品的名称：路灯灯头（R327X）。2.本外观设计产品的用途：本外观设计产品用于道路照明。3.本外观设计产品的设计要点：在于形状。4.最能表明设计要点的图片或照片：立体图。
路灯灯头 r327x

[发明专利]大坝深水环境一体化精准定位装置与方法-CN202210560550.3有效
发明人：向衍;徐洪;张凯;杨鑫;孙伟;孟颖;张昊;陈凝 -专利权人：水利部交通运输部国家能源局南京水利科学研究院;南京瑞迪水利信息科技有限公司
申请日： 2022-05-23 - 公布日： 2023-07-04 - 主分类号： G01S19/14 文献下载
摘要：本发明公开了一种大坝深水环境一体化精准定位装置和方法。定位装置包括：相互垂直的横向支撑部件和纵向支撑部件，横向支撑部件上设置有GPS天线、RTK电台天线、传感器箱；传感器箱内置GPS定位模块、差分信号处理模块和目标独立坐标计算模块；纵向支撑部件下部设置有浮体，浮体内部设置姿态仪；浮体下部设置水声换能器阵列，用于获取水下目标的相对坐标；目标独立坐标计算模块用于根据GPS定位模块解析的第一全球坐标、差分信号处理模块获取的坐标修正数据、姿态变化参数、GPS天线与水声换能器阵列的相对位置、水下目标的相对坐标来计算水下目标的地方独立坐标。该装置能够在大坝环境下精确定位水下目标的位置。
大坝深水环境一体化精准定位装置方法

[发明专利]用于测试报警感测器极限参数的方法及装置、电子设备-CN202211640000.9在审
发明人：李凯亮;胡博;陈凝;马迁 -专利权人：紫光同芯微电子有限公司
申请日： 2022-12-20 - 公布日： 2023-05-30 - 主分类号： G08B29/18 文献下载
摘要：本申请涉及报警感测器测试技术领域，公开一种用于测试报警感测器极限参数的方法，包括：获得报警感测器的档位分布；根据档位分布计算报警感测器的第一测试参数；其中，第一测试参数为不易触发报警感测器的非正常工作参数范围的测试参数；基于第一测试参数，对报警感测器的极限参数进行遍历测试。由于采用的第一测试参数为根据报警感测器的档位分布确定的测试参数，不易触发报警感测器的非正常工作参数范围，因而可以降低由于施加的测试参数超出报警感测器的正常工作范围而导致报警感测器测试失效的情况发生，有效提高了报警感测器的测试良率。本申请还公开一种用于测试报警感测器极限参数的装置及电子设备。
用于测试报警感测器极限参数方法装置电子设备

[发明专利]用于芯片标记的方法及装置、服务器、存储介质-CN202111399871.1在审
发明人：欧阳睿;李凯亮;陈凝 -专利权人：紫光同芯微电子有限公司
申请日： 2021-11-19 - 公布日： 2023-05-23 - 主分类号： H01L21/66 文献下载
摘要：本申请涉及芯片识别技术领域，公开一种用于芯片标记的方法，包括：获取晶圆内各芯片的芯片检测结果，所述芯片检测结果用于表征芯片是否为良品芯片；根据所述检测结果确定晶圆划片轨迹；将所述晶圆划片轨迹导入划片机，触发所述划片机对所述晶圆进行划片时对非良品芯片进行标记。这样，根据芯片是否为良品芯片确定晶圆划片轨迹，使得划片机通过划片的方式对非良品芯片进行标记，该标记是物理结构不存在脱落、变浅的风险，使得在拾片阶段能够准确的对非良品芯片进行识别，提高拾片准确率。本申请还公开一种用于芯片标记的装置、服务器、存储介质。
用于芯片标记方法装置服务器存储介质

[发明专利]芯片封装方法、装置、可读介质及电子设备-CN202211654408.1有效
发明人：来骏;陈凝;王玲;周舜铭;黄冬冬 -专利权人：紫光同芯微电子有限公司
申请日： 2022-12-22 - 公布日： 2023-05-12 - 主分类号： H01L21/56 文献下载
摘要：本申请公开了一种芯片封装方法、装置、可读介质及电子设备，可以在封装基板上设置绑定区；接着，将所述裸芯片固定于所述绑定区，且使所述裸芯片与三轮方向之间呈预设角度；再接着，将所述裸芯片与所述封装基板上的引脚相连；然后，在封装基板具有裸芯片的一侧进行塑封，以形成塑封层，所述塑封层至少覆盖所述绑定区。由于所述裸芯片与三轮方向之间呈预设角度，从而使裸芯片的解理面与三轮方向之间具有角度，进而使解理面避开三轮方向的应力，以提高提高芯片封装产品抗应力能力，降低在三轮测试过程的不良品率。
芯片封装方法装置可读介质电子设备

[发明专利]基于稳健统计的OD行程时间可靠性估计方法与系统-CN201910291447.1有效
发明人：吕伟韬;杨树;陈凝;潘阳阳 -专利权人：江苏智通交通科技有限公司
申请日： 2019-04-12 - 公布日： 2023-05-12 - 主分类号： G06F17/18 文献下载
摘要：本发明公开了一种基于稳健统计的OD行程时间可靠性估计方法与系统，其中，系统包括交互模块、数据对接与预处理模块、地图可视化模块、TTR估计模块；方法包括：首先获得出租车的运营数据，由交互模块将运营数据传送至数据对接与预处理模块进行数据分析处理得到对应运营数据的行程模块；然后运营数据对应的空间范围通过地图可视化模块进行网格化处理得到全等形状的单元，实现出租车行程起点、讫点的空间汇集；同时采用稳健统计法通过TTR估计模块得到的TTR指标，并经由地图可视化模块进行填充处理后通过克里金法实现空间插值，最终实现对OD行程时间的可靠性估计；本发明在对于行程时间数值差异较大的离群样本的OD行程时间的可靠性估计过程中具有鲁棒性。
基于稳健统计 od 行程时间可靠性估计方法系统

[发明专利]用于测试电子卡故障的方法及装置、电子设备-CN202211674874.6在审
发明人：马元春;陈凝;胡博 -专利权人：紫光同芯微电子有限公司
申请日： 2022-12-26 - 公布日： 2023-04-28 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本申请涉及电子卡故障测试技术领域，公开一种用于测试电子卡故障的方法，包括：对电子卡进行开短路测试以检测电子卡的断线故障；在电子卡不存在断线故障的情况下，对电子卡进行电压测试以检测电子卡的分裂故障；在电子卡存在分裂故障的情况下，对电子卡进行光线测试以检验电子卡的分裂故障。依次通过开短路测试、电压测试和光线测试的方式检测电子卡故障，无需测试人员人工进行故障观察研判，能够减少误判的情况发生，提高电子卡故障检测的准确性。本申请还公开一种用于测试电子卡故障的装置及电子设备。
用于测试电子卡故障方法装置电子设备

[发明专利]一种封装基材、封装结构以及制作方法-CN202111218568.7在审
发明人：黄冬冬;王玲;陈凝;周舜铭;单耕野 -专利权人：紫光同芯微电子有限公司
申请日： 2021-10-20 - 公布日： 2023-04-21 - 主分类号： H01L23/495 文献下载
摘要：本发明提供了一种封装基材，所述封装基材包括：金属基板，所述金属基板包括多个金属框架，相邻所述金属框架之间具有切割区域；所述金属框架包括：绑定区；位于所述绑定区之外的引脚；其中，所述引脚包括：朝向所述绑定区一侧的第一子引脚；位于所述第一子引脚背离所述绑定区一侧的第二子引脚；所述第一引脚的厚度大于所述第二引脚的厚度。应用本发明技术方案，减少了毛刺的产生，提高了产品良率和产品质量。
一种封装基材结构以及制作方法

[发明专利]一种智能卡的功耗测试方法、装置及相关产品-CN202310110076.9在审
发明人：欧阳睿;汤华杰;李凯亮;刘静;邹欢;陈凝 -专利权人：紫光同芯微电子有限公司
申请日： 2023-02-02 - 公布日： 2023-04-04 - 主分类号： G01R21/133 文献下载
摘要：本申请公开了一种智能卡的功耗测试方法、装置及相关产品。该方法包括：接收目标智能卡对应的功耗测试需求，根据所述功耗测试需求确定与所述功耗测试需求对应的目标功耗测试模式，根据所述目标功耗测试模式确定与所述目标功耗测试模式对应的目标参数，根据所述目标参数通过FPGA对所述目标智能卡进行功耗测试。其中，根据功耗测试需求可以选择不同的目标功耗测试模式，然后根据不同的目标功耗测试模式确定所需的目标参数，根据所述目标参数由FPGA实现对目标智能卡的功耗测试，可实现对智能卡的功耗的全面有效测试，避免局限于固定电压、频率值测试，可实现自动化测试流程，提高测试效率。
一种智能卡功耗测试方法装置相关产品

[发明专利]一种芯片测试方法、设备和系统-CN202111140868.8在审
发明人：欧阳睿;陈凝;许秋林 -专利权人：紫光同芯微电子有限公司
申请日： 2021-09-28 - 公布日： 2023-03-31 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本申请提供了一种芯片测试方法、设备和系统，应用于自动测试设备，包括：根据对待测芯片的测试信号，对所述待测芯片进行测试；在测试不通过时，向所述待测芯片施加电信号，以使所述待测芯片产生物理损坏。由于施加的电信号使待测芯片产生了物理损坏，从而损坏的待测芯片在电气特性等方面与良品芯片存在着本质差异，该差异可在后续被有效准确地监测，使得测试不通过的不良芯片能够准确有效地被检出和区分。
一种芯片测试方法设备系统

[发明专利]一种对flash进行写操作的方法和装置-CN202111140170.6在审
发明人：胡博;李凯亮;陈凝 -专利权人：紫光同芯微电子有限公司
申请日： 2021-09-28 - 公布日： 2023-03-31 - 主分类号： G11C29/18 文献下载
摘要：本申请提供了一种对flash进行写操作的方法和装置，方法包括：控制待测芯片处于flash写模式，为待测芯片提供擦写电压，控制待测芯片进入预设模式，控制设定寄存器同时选中第一存储区和第二存储区，对选中的第一存储区或第二存储区进行按word写操作。由于预设模式使得flash数据存储区划分为存储空间大小相同的第一存储区和第二存储区，并且在设定寄存器同时选中第一存储区和第二存储区时，能够同时对第一存储区和第二存储区进行相同的写操作，从而本申请仅对第一存储区或第二存储区进行写操作，另一存储区也会进行相同的写操作，缩短了写操作的时间，提高了写操作的效率。
一种 flash 进行操作方法装置

[发明专利]一种芯片测试方法和装置-CN202111140653.6在审
发明人：李凯亮;胡博;陈凝;郭耀华;马迁 -专利权人：紫光同芯微电子有限公司
申请日： 2021-09-28 - 公布日： 2023-03-31 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本申请提供了一种芯片测试方法和装置，芯片包括芯片数据存储区和芯片冗余替换区，该方法包括：利用第i道芯片测试确定芯片数据存储区的第二失效单元；第i道芯片测试为第一道芯片测试之后进行的芯片测试；第一道芯片测试确定出芯片数据存储区的第一失效单元；其中，i为大于1的整数；利用第一失效单元和第二失效单元，确定总失效存储空间；当总失效存储空间小于或等于芯片冗余替换区的存储空间时，采用芯片冗余替换区的存储单元替换第二失效单元以对数据进行存储。即从传统的只在第一道芯片测试中启用冗余替换修复，调整为第i道也可以启用，可以修复后续第i道芯片测试中可能存在的新增失效单元，有效的提高了芯片的良率，节约了成本。
一种芯片测试方法装置

[发明专利]一种芯片模拟量的档位值确定方法、装置及控制器-CN202111101701.0在审
发明人：李凯亮;陈凝;胡博 -专利权人：紫光同芯微电子有限公司
申请日： 2021-09-18 - 公布日： 2023-03-21 - 主分类号： G01R31/316 文献下载
摘要：本发明提供了一种芯片模拟量的档位值确定方法、装置及控制器，本发明中，首先获取初始档位值，然后将被测芯片的档位值设置为所述初始档位值，并获取所述被测芯片的模拟量输出值，在所述模拟量输出值未位于预设模拟量区间内的情况下，确定预设模拟量区间的中心值与所述模拟量输出值的输出差值，在相邻档位值之间的差值为固定差值的情况下，确定所述输出差值对应的档位差值，并根据所述初始档位值和所述档位差值，确定所述被测芯片的实际档位值。即本发明中，能够直接根据初始档位值、预设模拟量区间的中心值与初始档位值对应的模拟量输出值的输出差值，确定最终的实际档位值，相比于遍历的方式，能够减少调整次数，提高调整效率。
一种芯片模拟档位确定方法装置控制器

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