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[发明专利]一种存储测试设备及其测试方法-CN202311181415.9在审
发明人：余玉;许展榕 -专利权人：合肥康芯威存储技术有限公司
申请日： 2023-09-14 - 公布日： 2023-10-24 - 主分类号： G06F11/22 文献下载
摘要：本发明提供了一种存储测试设备及其测试方法，包括：多功能测试板，多功能测试板上设置中央处理器和调试端口，中央处理器和调试端口交替与待测设备电性连接；录制模块，电性连接于待测设备，在中央处理器对待测设备写入预设数据时，录制模块记录写入待测设备的预设数据，并形成第一数据包；电源管理模块，设置在多功能测试板上，且电性连接于待测设备，在写入预设数据的过程中，电源管理模块将待测设备断电；数据抓取模块，在待测设备重新上电后，数据抓取模块从待测设备读出预设数据，形成第二数据包；以及数据对比模块，接收并对比第一数据包和第二数据包，数据对比模块输出数据量差值。本发明能够准确衡量存储设备的存储安全性。
一种存储测试设备及其方法

[发明专利]一种存储芯片的测试系统及测试方法-CN202311153312.1在审
发明人：余玉;许展榕 -专利权人：合肥康芯威存储技术有限公司
申请日： 2023-09-08 - 公布日： 2023-10-20 - 主分类号： G11C29/56 文献下载
摘要：本发明涉及静态存储技术领域，特别涉及一种存储芯片的测试系统及测试方法。测试系统包括：通用串口总线模块，用以与主机之间进行数据传输；存储模块，用以存储主机写入的测试系统映像文件；内存模块，用以运行测试系统映像文件中的测试程序；多个芯片测试座，用以安装待测芯片；中央处理模块，用以调节芯片测试座周围的环境温度，调节待测芯片输入时钟信号的延迟值，并向待测芯片写入测试数据，收集待测芯片上反应的响应数据，以检测待测芯片的兼容性能；以及电源模块，用以对芯片测试座和中央处理模块供电。本发明可快速高效的筛选出兼容性能良好的存储芯片。
一种存储芯片测试系统方法

[发明专利]一种电子产品的存储单元的测试系统及测试方法-CN202311140061.3在审
发明人：余玉;许展榕 -专利权人：合肥康芯威存储技术有限公司
申请日： 2023-09-06 - 公布日： 2023-10-13 - 主分类号： G06F11/22 文献下载
摘要：本发明提供了一种电子产品的存储单元的测试系统及测试方法，包括：至少一个集成子板，用以通讯连接于不同的待测电子产品；以及服务端，用以通讯连接于所述集成子板，以向所述待测电子产品供电，并根据所述待测电子产品的类型，搭建对应的测试环境；其中，所述服务端还用以根据所述测试环境，以选择对应的系统镜像文件进行烧录，生成测试文件，并将所述测试文件发送到对应的所述待测电子产品中进行测试，以生成测试结果。通过本发明提供的一种电子产品的存储单元的测试系统及测试方法，能够提升测试效率。
一种电子产品存储单元测试系统方法

[发明专利]一种eMMC的运行状态监控方法、系统及计算机可读存储介质-CN202311110041.1在审
发明人：余玉;许展榕 -专利权人：合肥康芯威存储技术有限公司
申请日： 2023-08-31 - 公布日： 2023-09-29 - 主分类号： G06F11/30 文献下载
摘要：本申请公开了一种内嵌式多媒体卡eMMC的运行状态监控方法、系统、装置及计算机可读存储介质，所述方法包括以下步骤：在SOC芯片与所述eMMC之间通过eMMC协议进行通信，并通过所述SOC芯片向所述eMMC发送第一指令信息获取所述eMMC状态信息；对所述eMMC状态信息进行检测，并在判断所述eMMC状态信息异常时，通过所述SOC芯片向所述eMMC发出进行警示调整的第二指令信息，以对所述eMMC进行调试。如此，通过SOC芯片能够及时获取eMMC的运行状态信息，提高了获取的eMMC状态信息的准确性，有助于及时根据eMMC状态信息对eMMC的运行状态进行调整。
一种 emmc 运行状态监控方法系统计算机可读存储介质

[发明专利]一种数据存储设备的参数优化方法及其优化系统-CN202111583539.0有效
发明人： 许展榕;吴艳 -专利权人：合肥康芯威存储技术有限公司
申请日： 2021-12-22 - 公布日： 2023-09-22 - 主分类号： G06F3/06 文献下载
摘要：本发明公开了一种数据存储设备的参数优化方法，其步骤至少包括：获取存储器的预读写数据；根据预读写数据，在除错模块中设置误差校正码的标准位数；重复存储器的读出过程，并根据误差校正码的信息位数和标准位数的误差，调整数据存储设备的延时信息，以获得最佳延时范围；以及保持最佳延时范围，重复存储器的写入过程，并根据误差校正码的信息位数和标准位数的误差，调整数据存储设备的驱动信息和操作信息。本发明的提供了一种数据存储设备的参数优化方法，以提高数据存储设备的存储效能。
一种数据存储设备参数优化方法及其系统

[发明专利]一种存储器的信号测试系统及测试方法-CN202310699849.1有效
发明人：陈四平;许展榕;张帆;周章菊 -专利权人：合肥康芯威存储技术有限公司
申请日： 2023-06-14 - 公布日： 2023-09-22 - 主分类号： G11C29/56 文献下载
摘要：本发明提供一种存储器的信号测试系统及测试方法，包括：主控端，用以发出调试指令、测试指令以及终止指令；示波器，通讯连接于所述主控端，用以根据所述调试指令，搭建相应的测试环境；以及测试板，通讯连接于所述主控端、所述示波器，所述测试板上通讯连接内嵌式存储器，所述测试板根据所述测试指令，对所述内嵌式存储器进行测试，并在所述示波器中生成测试数据；其中，当所述主控端发出所述终止指令后，所述测试板停止测试，所述示波器将所述测试数据发送至所述主控端。通过本发明公开的一种存储器的信号测试系统及测试方法，能够提升存储器信号测试的测试效率。
一种存储器信号测试系统方法

[发明专利]一种eMMC芯片的补偿方法、装置、电子设备及存储介质-CN202310629632.3在审
发明人：祝欣;赖志明;许展榕;张志刚 -专利权人：合肥康芯威存储技术有限公司
申请日： 2023-05-30 - 公布日： 2023-09-05 - 主分类号： G11C7/10 文献下载
摘要：本申请提供一种eMMC芯片的补偿方法、装置、电子设备及存储介质，所述eMMC芯片包括预先设置于所述eMMC芯片内部的等效上拉电阻阵列。所述方法包括：确定通过命令物理发送通道传输的命令是否已传输结束；若确定所述命令已传输结束，启动所述等效上拉电阻阵列，所述等效上拉电阻阵列的两端分别与电源正极和所述命令物理发送通道相连接，且所述等效上拉电阻阵列包括若干个并联设置的等效上拉电阻；按照预设周期周期性判断所述等效上拉电阻阵列是否已完全关闭；若判断出所述等效上拉电阻阵列未完全关闭，关闭预设数量的等效上拉电阻。本申请提供的eMMC芯片的补偿方法可动态调整每一芯片，降低芯片因其能力而发生问题的概率，提高生产者所生产的芯片的品质良率。
一种 emmc 芯片补偿方法装置电子设备存储介质

[发明专利]一种存储器件数据传输的测试装置及测试方法-CN202310664952.2有效
发明人：张帆;许展榕;赖志铭;陈四平;周章菊 -专利权人：合肥康芯威存储技术有限公司
申请日： 2023-06-07 - 公布日： 2023-09-05 - 主分类号： G11C29/56 文献下载
摘要：本发明提供一种存储器件数据传输的测试装置及测试方法，测试装置包括：写入模块，用以向被测芯片发送指令数据；读取模块，用以接收所述被测芯片对所述指令数据运算的响应数据；处理器模块，用以在预设传输速率下，控制所述写入模块向所述被测芯片发送多条指令数据，并设定接收前一所述指令数据对应的所述响应数据到发送后一所述指令数据之间的间隔时间；以及判断模块，用以根据所述读取模块是否接收到多条所述响应数据，或者根据多条所述响应数据的类型，判断所述被测芯片是否存在缺陷。本发明可高效快速的检测出一批次存储器芯片中的合格产品及缺陷产品，提高了产品使用效益，降低了生产成本。
一种存储器件数据传输测试装置方法

[发明专利]一种eMMC芯片的命令识别异常处理方法及装置-CN202310629667.7在审
发明人：祝欣;许展榕;邹华龙;秦锦东 -专利权人：合肥康芯威存储技术有限公司
申请日： 2023-05-30 - 公布日： 2023-08-22 - 主分类号： G11C29/42 文献下载
摘要：本申请提供一种eMMC芯片的命令识别异常处理方法及装置，所述eMMC芯片包括预先设置于所述eMMC芯片内部的延时电路。所述方法包括：按照预设规则获取针对处于命令物理发送通道上的命令的多个采样结果；基于所述多个采样结果确定命令识别是否异常；在确定命令识别异常的情况下，判断所述多个采样结果中多数结果的个数是否不小于预设阈值；若所述多数结果的个数不小于所述预设阈值，则保留所述多数结果作为作为命令识别结果；若所述多数结果的个数小于所述预设阈值，则指示主机重新发送命令，以再次按照预设规则获取多个采样结果。本申请提供的eMMC芯片的命令识别异常处理方法可提高生产者所出产的芯片的整体容错率，进而提高品质良率。
一种 emmc 芯片命令识别异常处理方法装置

[发明专利]一种eMMC芯片的异常规避方法、装置、电子设备及存储介质-CN202310629653.5在审
发明人：祝欣;赖志明;许展榕;周家广 -专利权人：合肥康芯威存储技术有限公司
申请日： 2023-05-30 - 公布日： 2023-08-15 - 主分类号： G11C29/56 文献下载
摘要：本申请提供一种eMMC芯片的异常规避方法、装置、电子设备及存储介质，所述eMMC芯片内部设有等效上拉电容阵列。所述方法包括：确定命令是否已传输结束；在确定命令已传输结束时，启动等效上拉电容阵列；按照预设周期周期性确定命令物理发送通道上是否存在电压低于预设阈值的情况；若确定不存在电压低于预设阈值的情况，判断是否已关闭预设总数的等效上拉电容，若判断出未关闭预设总数的等效上拉电容，关闭预设数量的等效上拉电容；若确定存在电压低于预设阈值的情况，关闭所述等效上拉电容阵列。本申请提供的eMMC芯片的异常规避方法可动态调整每颗eMMC芯片以规避异常，降低芯片因其能力而发生问题的概率，提高生产者所生产的出货芯片的品质良率。
一种 emmc 芯片异常规避方法装置电子设备存储介质

[发明专利]一种eMMC芯片缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质-CN202310611538.5在审
发明人：张帆;许展榕;赖志铭;陈四平;周章菊 -专利权人：合肥康芯威存储技术有限公司
申请日： 2023-05-24 - 公布日： 2023-08-15 - 主分类号： G11C29/08 文献下载
摘要：本申请提供一种eMMC芯片缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质，该方法包括：发送缺陷检测指令至所述待测试芯片，所述缺陷检测指令用以指示所述待测试芯片在识别到CMD63时进行记录；在接收到所述待测试芯片返回的缺陷检测指令响应后判断是否需要再一次发送缺陷检测指令；若是，则在接收所述缺陷检测指令响应达到预设间隔时长后再一次发送所述缺陷检测指令至所述待测试芯片；若否，则在接收所述缺陷检测指令响应达到预设间隔时长后从所述待测试芯片获取CMD63的记录数据，并根据所述CMD63的记录数据确定所述待测试芯片是否存在缺陷。该方法可以在对eMMC芯片进行封装测试时检测出存在缺陷的eMMC芯片。
一种 emmc 芯片缺陷检测方法装置电子设备存储介质

[发明专利]一种芯片测试方法及装置-CN202310473993.3有效
发明人：祝欣;赖志铭;许展榕;温才吉 -专利权人：合肥康芯威存储技术有限公司
申请日： 2023-04-28 - 公布日： 2023-08-08 - 主分类号： G11C29/50 文献下载
摘要：本发明公开了一种芯片测试方法及装置，所述芯片测试方法至少包括以下步骤：提供一待测芯片，并预设待测芯片的工作电压的安全阈值；在测试时间内，持续获取待测芯片的命令信号线的电压，并作为目标电压；当目标电压小于安全阈值，降低待测芯片的驱动电压，并重新比较目标电压和安全阈值，直到驱动电压降到最低或目标电压大于等于安全阈值；在测试时间内，获取并记录目标电压小于安全阈值的时长和次数，并作为标定时长和标定次数；以及根据标定时长和标定次数，将待测芯片分级。本发明提供了一种芯片测试方法及装置，能够提升芯片测试的准确率和效率。
一种芯片测试方法装置

[发明专利]一种新型全数字延迟锁相环电路-CN202310318865.1在审
发明人：陈俊;许展榕 -专利权人：合肥康芯威存储技术有限公司
申请日： 2023-03-28 - 公布日： 2023-06-27 - 主分类号： H03L7/099 文献下载
摘要：本申请提供一种新型全数字延迟锁相环电路，该电路包括：鉴相器、控制器和延迟线。所述鉴相器，用于判断参考时钟信号和延迟后的输出时钟信号的相位差，并将判断结果信号输出给所述控制器；所述控制器，用于基于所述判断结果信号生成调整控制信号，并将所述调整控制信号输出给所述延迟线；所述延迟线，用于接收输入时钟信号，基于所述调整控制信号生成延迟后的输出时钟信号，并将所述延迟后的输出时钟信号输出给所述鉴相器；所述延迟线包括不同的多个子延迟电路，所述多个子延迟电路基于所述调整控制信号对应启动或者关闭以对所述输入时钟信号进行延迟调整生成延迟后的输出时钟信号。该电路锁定速度快、锁定精度高、无谐波锁定且适应时钟频率大。
一种新型数字延迟锁相环电路

[发明专利]一种存储装置的固件升级装置及其升级方法-CN202211442794.8有效
发明人：余玉;许展榕 -专利权人：合肥康芯威存储技术有限公司
申请日： 2022-11-18 - 公布日： 2023-04-14 - 主分类号： G06F8/65 文献下载
摘要：本发明提供一种存储装置的固件升级装置，其特征在于，包括：网络单元，用于获取待更新信息；微控制单元，与所述网络单元通信连接，用于暂存所述待更新信息；以及接口单元，与所述微控制单元通信连接，并与主机的通信接口通信连接；其中，所述微控制单元通过所述接口单元将所述待更新信息传输到所述存储装置内，以对所述存储装置的固件进行更新。通过本发明公开的一种存储装置的固件升级装置，能够在存储装置的固件存在问题的情况下，对存储装置的固件进行升级。
一种存储装置升级及其方法

[发明专利]一种存储装置及其供电方法-CN202211587532.0有效
发明人： 许展榕;赖志铭;张帆;陈四平 -专利权人：合肥康芯威存储技术有限公司
申请日： 2022-12-12 - 公布日： 2023-04-14 - 主分类号： G11C5/14 文献下载
摘要：本发明提供一种存储装置及其供电方法，具体涉及存储技术领域，包括：主处理器；存储器，所述存储器电性连接于所述主处理器，所述存储器中设置有工作条件寄存器；电源模块，所述电源模块电性连接于所述主处理器和所述存储器；多个电源转换模块，设置在所述电源模块内，所述电源转换模块电性连接于所述主处理器，所述主处理器控制所述电源转换模块输出多种电压电源；电源保护模块，设置在所述电源模块内，所述电源保护模块的输入端电性连接于所述电源转换模块的输出端，且通过主处理器控制所述电源保护模块输出所述电压电源至所述存储器的输入端。本发明提供多种电压电源进行切换，提高电路应用的灵活性。
一种存储装置及其供电方法

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