专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]一种半导体器件及其制造方法-CN201410175272.5在审
  • 何作鹏;李志超;肖保其 - 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司
  • 2014-04-28 - 2015-11-25 - H01L45/00
  • 本发明提供一种半导体器件及其制造方法,所述方法包括:提供半导体衬底,在半导体衬底上形成有间介电,在间介电中形成有第一金属电极;形成用于填充底部电极的通孔,所述通孔露出部分第一金属电极的上表面;形成完全填充通孔的第一底部电极材料;实施回蚀刻,以在第一底部电极材料的顶部形成用于填充第二底部电极材料的凹槽;在所述凹槽中形成第二底部电极材料。所述第一底部电极材料和所述第二底部电极材料共同构成所述半导体器件中的底部电极。根据本发明,可以有效便捷地实现底部电极的导热性和电阻大小之间的平衡。
  • 一种半导体器件及其制造方法
  • [发明专利]有机发光显示装置及其制造方法-CN201110409682.8有效
  • 朴鲜;朴钟贤;李律圭;朴景薰;文相皓 - 三星显示有限公司
  • 2011-12-09 - 2017-04-12 - H01L23/498
  • 该有机发光显示装置包括薄膜晶体管,薄膜晶体管包括有源、包括栅极底部电极和栅极顶部电极的栅电极、覆盖栅电极的绝缘、位于绝缘上的接触有源的源电极和漏电极;有机发光器件,其被电连接到薄膜晶体管,且包括依次层叠的与栅极底部电极在相同上的像素电极、发射以及对立电极;与所述栅极底部电极在相同上的焊盘底部电极和与栅极顶部电极在相同上的焊盘顶部电极,焊盘顶部电极包括使焊盘底部电极暴露的开口,和位于焊盘底部电极的上表面上与绝缘在相同上的、覆盖焊盘顶部电极的上表面的绝缘图案
  • 有机发光显示装置及其制造方法
  • [发明专利]具有倾斜底部电极的电阻式存储器单元-CN201580004568.3在审
  • 詹姆士·沃尔斯;保罗·菲思特 - 密克罗奇普技术公司
  • 2015-02-18 - 2016-08-31 - H01L45/00
  • 本发明揭示一种形成电阻式存储器单元(例如导电桥接随机存取存储器CBRAM或电阻式随机存取存储器ReRAM单元)的方法,其可包含:形成多个底部电极连接件;将底部电极沉积于所述底部电极连接件上;执行第一蚀刻以移除所述底部电极的部分,使得剩余底部电极界定至少一个倾斜表面;使氧化形成于所述剩余底部电极的每一倾斜表面上;对所述剩余底部电极及每一倾斜表面上的氧化执行第二蚀刻,以界定每一底部电极连接件上方的至少一个指向上底部电极区域,每一指向上底部电极区域界定底部电极尖端;及使电解质区域及顶部电极形成于每一底部电极尖端上,使得所述电解质区域布置于所述顶部电极与所述相应底部电极顶部之间。
  • 具有倾斜底部电极电阻存储器单元
  • [发明专利]体声波谐振器及其制造方法、滤波器、电子设备-CN202010519683.7在审
  • 黄河 - 中芯集成电路(宁波)有限公司上海分公司
  • 2020-06-09 - 2020-12-22 - H03H9/17
  • 一种体声波谐振器及其制造方法、滤波器、电子设备,制造方法包括:提供衬底,衬底中形成有凹槽;形成位于凹槽中的牺牲;形成位于牺牲上的底部电极底部电极的部分边界位于凹槽上方,部分延伸至凹槽外周的衬底上;形成位于底部电极露出的衬底上并与底部电极侧壁相接触的平坦,平坦顶面和底部电极顶面相齐平;形成覆盖底部电极和平坦的压电;在压电上形成顶部电极,压电声学共振叠包括底部电极、压电和顶部电极;形成贯穿压电声学共振叠的释放孔;通过释放孔去除牺牲,形成空腔。本发明形成底部电极和平坦,为压电的形成提供平坦面,使压电能够保持平整,从而消除边界驻波和杂波,进而提高谐振器的品质因数。
  • 声波谐振器及其制造方法滤波器电子设备
  • [发明专利]半导体器件和半导体器件的制造方法-CN202010697207.4有效
  • 邱泰玮;沈鼎瀛;钱鹤 - 厦门半导体工业技术研发有限公司
  • 2020-07-20 - 2021-09-07 - H01L45/00
  • 本发明公开了一种半导体器件及半导体器件的制造方法,该半导体器件包括:半导体衬底;位于所述半导体衬底上的底部电极金属和顶部电极金属;位于所述底部电极金属和顶部电极金属之间的阻变,所述阻变的横向宽度大于所述底部电极金属和/或顶部电极金属的横向宽度,所述阻变具有可变电阻;位于所述底部电极金属和顶部电极金属之间的阻氧,所述阻氧层位于所述阻变之上;位于所述底部电极金属和顶部电极金属之间的抓氧,所述抓氧的横向宽度小于所述阻变的横向宽度,所述抓氧层位于所述阻氧之上。
  • 半导体器件制造方法

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