专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]工件台位置测量系统-CN201010508118.7无效
  • 林彬 - 上海微电子装备有限公司
  • 2010-10-15 - 2012-05-09 - G03F7/20
  • 本发明提出一种工件台的位置测量系统,包括两个角反射镜、两个光束产生/探测装置。两个角反射镜分别安装在工件台的x的两侧,包括连接成直角的两片反射镜片。两个光束产生/探测装置安装在工件台的基准位置上,根据公式得到工件台的z位置,其中k为工件台的x宽度,(x0,y0)为工件台的当前位置,z1、z2分别为第一光束产生/探测装置和第二光束产生/探测装置测得的工件台的z位置。本发明提出的工件台的位置测量系统利用角反射镜对光线进行反射,误差小,节省测试时间。
  • 工件位置测量系统
  • [发明专利]一种位置测量装置-CN201410035494.7有效
  • 王兴海;王海江 - 上海微电子装备有限公司
  • 2014-01-26 - 2017-06-06 - G03F7/20
  • 本发明提出一种位置测量装置,其特征在于,沿光路方向依次包括照明光源,用于发射照明光束;第一光学组件,用于产生平行光照射到投影狭缝;投影狭缝;第二光学组件,用于将投影狭缝成像到被测对象表面;第三光学组件,用于接收被测对象表面反射的投影狭缝成像,并对成像进行光学调制;第四光学组件,用于将投影狭缝成像在探测狭缝位置;探测狭缝;光电传感器,用于接收探测狭缝所成的像;以及信号处理单元,用于接收光电传感器信号并计算位置;其中,所述投影狭缝、探测狭缝与光电传感器的数量相等并且位置对应,每个光电传感器由N个单元组成,每个单元具有独立的光电信号接收和输出功能,每个单元在测量方向上的尺寸与每个投影狭缝的尺寸相等,每个光电传感器在测量方向上的尺寸与每个探测狭缝的尺寸相等
  • 一种位置测量装置
  • [发明专利]直线行驶工况车身及俯仰运动信息估算系统及方法-CN202310249330.3在审
  • 史文库;吴骁;陈志勇 - 吉林大学
  • 2023-03-15 - 2023-06-13 - B60G17/018
  • 本发明涉及一种直线行驶工况车身及俯仰运动信息估算系统及方法,系统包括用于捕捉行车前方道路信息的图像信息捕捉模块、用于获取行车速度的车速估计模块、用于估算车身位置及俯仰角度的车身位置及俯仰角度估算模块以及车身信息及俯仰角度信息估算与显示模块;车身信息及俯仰角度信息估算与显示模块用于计算车辆速度、加速度、俯仰角速度、俯仰角加速度,并将其显示在中控显示器上。本发明利用视觉传感器来获取车辆的姿态,无需增加汽车加速度传感器与转角传感器即可实时准确地测算车身高度、速度、加速度、俯仰角度、俯仰角速度、俯仰角加速度,为汽车主动悬架、半主动悬架控制提供信息参考
  • 直线行驶工况车身俯仰运动信息估算系统方法
  • [发明专利]光刻机的控制装置及方法-CN201010592409.9有效
  • 王献英;毛方林;段立峰 - 上海微电子装备有限公司
  • 2010-12-16 - 2012-07-11 - G03F7/20
  • 一种光刻机的控制方法,包括如下步骤:a.由调焦调平传感器测量初始位置下基底上的测量点的位置信息,由测量传感器测量初始位置下工件台的位置信息;b.根据上述位置信息计算得到将基底上的测量点调节至目标平面内的设定值;c.以所述设定值为闭环控制的输入值,以测量传感器实时测量得到的当前位置下工件台的位置信息作为闭环控制的反馈值,对工件台的位置进行闭环控制,从而将基底上的测量点调到目标平面。根据本发明的控制方法,调焦调平传感器无需参与到闭环控制中,可大大节省时间并降低闭环机制的复杂度。
  • 光刻控制装置方法
  • [发明专利]一种硅片预对准装置及方法-CN201010286105.X有效
  • 蔡巍;徐兵;陈跃飞;王端秀 - 上海微电子装备有限公司
  • 2010-09-17 - 2012-04-04 - G03F7/20
  • 一种硅片预对准装置,包括用于吸附硅片并带动硅片进行旋转的旋转台,用于获取硅片边缘在水平位置的边缘水平传感器,用于获取硅片边缘在位置的边缘传感器,用于对旋转台、边缘水平传感器和边缘传感器进行同步控制的控制器,其中,当旋转台旋转时,控制器边缘水平传感器和边缘传感器发送同步触发信号,从而两个传感器同时获取各自当前的测量值,同步获得硅片的边缘水平位置和边缘位置,通过在该点的位置测量值来补偿硅片边缘当前水平测量值硅片旋转一周,即可以获取硅片边缘所有的水平测量值,进而可以获取硅片的偏心值和硅片缺口的方向。本发明还提供一种硅片预对准的方法。
  • 一种硅片对准装置方法
  • [发明专利]高精度地图要素更新检测方法、系统、介质及设备-CN202210085972.X有效
  • 杨殿阁;杨蒙蒙;黄健强;江昆;温拓朴 - 清华大学
  • 2022-01-25 - 2023-07-14 - G01C21/00
  • 本发明涉及一种高精度地图要素更新检测方法、系统、介质及设备,其包括:从获取的原始图像数据中检测出图片中的地图要素,得到每个被检测的所述要素的像素边缘点;将获取的相邻时刻图像上的要素进行关联,得到相邻时刻图像中相应关联像素之间的速度向量;根据速度向量得到车辆位置姿态信息,利用车辆位置姿态信息将被检测到的要素的上边缘与下边缘点的像素转标转换为世界坐标系,得到要素相对于车辆的距离;根据要素相对于车辆的距离确定垂直物体是否存在,并计算垂直物体存在的置信度,同时确定垂直物体的位置;根据垂直物体存在的置信度和位置,更新高精度地图数据库。
  • 高精度地图要素更新检测方法系统介质设备

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