专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]一种剪切干涉系统-CN202010439536.9有效
  • 张东升;叶益民 - 上海大学
  • 2020-05-22 - 2021-05-18 - G01N21/01
  • 本发明公开了一种剪切干涉系统,所述剪切干涉系统包括:短焦距镜头、迈克尔逊干涉装置、长焦距镜头和CCD相机。通过利用短焦距镜头和长焦距镜头的组合和迈克尔逊干涉装置相结合,利用短焦距镜头将大视场范围的物体成像为缩小的实像,缩小的实像通过迈克尔逊干涉装置和长焦距镜头传递到CCD相机靶面,形成干涉,从而实现大视场剪切干涉测量本发明提供了一种不影响相位计算且结构简单的大视角剪切干涉系统,有效地扩大检测面积,实现了全场、快速的缺陷检测。
  • 一种剪切干涉系统
  • [发明专利]一种显微干涉全场成像检测装置及方法-CN202211440777.0在审
  • 丁雷;鲁强兵;卢明辉;谢海圣;颜学俊 - 苏州声学产业技术研究院有限公司
  • 2022-11-17 - 2023-06-09 - G01N21/17
  • 本发明涉及一种显微干涉全场成像检测装置,包括激励脉冲激光器、探测脉冲激光器和数字脉冲延时器。脉冲激光作用在材料表面产生热量,从而激发出超声脉冲信号。超声携带有材料的缺陷结构信息。另一方面,光剪切干涉技术利用物体表面的场经过剪切装置后成像于数字相机图像传感器表面。当被测目标受到超声波加载使表面发生微小形变时,剪切干涉图的相位分布也随之发生变化。将形变前后得到的两个剪切干涉图直接进行相减,可获得光强差或者相位差图案。条纹的分布与被测目标的形变有关,据此可以分析被测表面的变形,从而测量出物体表面由于内部缺陷在超声波加载情况下引起的离面位移。
  • 一种显微干涉全场成像检测装置方法

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