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[发明专利]一种基于计算全息的光学元件顶点半径测量的方法和装置-CN201810676220.4在审
发明人：吴高峰;陈强;宋伟红;侯溪 -专利权人：中国科学院光电技术研究所
申请日： 2018-06-27 - 公布日： 2018-11-27 - 主分类号： G01B11/08 文献下载
摘要：本发明通过一片计算全息同时产生共焦波前和猫眼波前两个共扼波面，同时获取猫眼位置和共焦位置干涉图并测量其面形参数，并根据测量结果求解光学元件半径。本发明采用干涉测量技术，猫眼和共焦位置定位精度高，半径测量精度高。相比于常用的激光干涉测量，本发明由于不需要猫眼位置和共焦位置之间的移动，消除了由于光轴和运动轴之间存在夹角而引入的误差，提高了测量精度。
半径测量共焦位置光学元件计算全息方法和装置猫眼猫眼位置测量干涉测量技术激光干涉测量定位精度高光电技术检测领域面形参数干涉图运动轴求解波面共扼共焦光轴引入移动

[发明专利]共焦干涉定焦及曲率半径测量方法-CN201110038297.7有效
发明人：赵维谦;杨佳苗;邱丽荣 -专利权人：北京理工大学
申请日： 2011-02-15 - 公布日： 2011-09-07 - 主分类号： G01M11/00 文献下载
摘要：本发明涉及一种共焦干涉定焦及曲率半径测量方法，属于光学精密测量技术领域。本发明是在共焦光路的基础上引入干涉参考光，然后利用该共焦干涉响应曲线的最大值来精确定位被测球面元件表面的顶点及球心位置，进而得到被测球面元件表面的曲率半径，最大限度地锐化共焦响应曲线的主瓣。本发明首次运用传统的共焦干涉显微成像技术提高光学测量系统的定焦精度，使系统具有更高的轴向分辨力，且该系统结构简洁，降低了该系统装置的研发成本。
焦干涉定焦曲率半径测量方法

[发明专利]后置分光瞳激光共焦LIBS光谱显微成像方法与装置-CN201811342680.X在审
发明人：王允;邱丽荣;赵维谦 -专利权人：北京理工大学
申请日： 2018-11-13 - 公布日： 2019-01-11 - 主分类号： G01N21/71 文献下载
摘要：本发明公开的后置分光瞳激光共焦LIBS光谱显微成像方法与装置，属于共焦显微成像和光谱成像测量技术领域。本发明将后置分光瞳激光共焦显微成像技术与激光诱导击穿光谱探测技术结合，利用经超分辨技术处理的后置分光瞳共焦显微镜的微小聚焦光斑对样品进行高空间分辨形态成像，利用光谱探测系统对聚焦光斑激发激光诱导击穿光谱进行微区光谱探测，利用LIBS光谱探测和后置分光瞳共焦探测结构融合实现样品微区完整组分信息与形态参数的高空间分辨和高灵敏成像与探测。
分光后置共焦激光诱导击穿光谱共焦显微成像激光光谱探测聚焦光斑显微成像形态成像高空间光谱微区分辨探测测量技术领域光谱探测系统有效技术途径共焦显微镜光谱成像技术处理生物医学探测技术探测结构形态参数组分信息材料科学超分辨成像灵敏融合激发

[发明专利]后置分光瞳激光共焦质谱显微成像方法与装置-CN201811343160.0在审
发明人：邱丽荣;王允;赵维谦 -专利权人：北京理工大学
申请日： 2018-11-13 - 公布日： 2019-01-11 - 主分类号： G01N27/64 文献下载
摘要：本发明公开的后置分光瞳激光共焦质谱显微成像方法与装置，属于共焦显微成像及质谱成像测量技术领域。本发明将后置分光瞳激光共焦显微成像技术与质谱探测技术结合，利用经超分辨技术处理的后置分光瞳共焦显微镜的微小聚焦光斑对样品进行高空间分辨形态成像，利用质谱探测系统对样品微区带电分子、原子等进行质谱探测，利用激光质谱探测和后置分光瞳共焦探测结构融合实现样品微区完整组分信息与形态参数的高空间分辨和高灵敏成像与探测
分光质谱后置探测共焦共焦显微成像激光显微成像形态成像高空间微区分辨测量技术领域有效技术途径共焦显微镜带电分子激光质谱技术处理聚焦光斑生物医学探测技术探测结构探测系统形态参数质谱成像组分信息材料科学超分辨成像灵敏融合

[发明专利]一种多通道光谱共焦测量系统及其测量方法-CN202010031257.9在审
发明人：黄凯;王国安;郑泽鹏;黄碧华;周飞;吴伟锋;孙久春 -专利权人：海伯森技术（深圳）有限公司
申请日： 2020-01-13 - 公布日： 2020-05-08 - 主分类号： G01B11/00 文献下载
摘要：本发明提供了一种多通道光谱共焦测量系统及其测量方法，采用模块化设计，将整个系统分划分为光谱共焦探头、光纤转接卡模块和控制器模块三个模块；其中，光谱共焦探头可以为多个，光纤转接卡模块中可以含有多个光纤转接卡，且一个光谱共焦探头对应与一个光纤转接卡连接。上述三个模块中所含有的各个部件皆可独立进行替换，当其中任意一个部件出现故障需要更换时，仅需要对出现故障的部件进行更换，并重新标定，不需要对整个系统进行更换，因此本实施例所公开的光谱共焦测量系统，大大提高了系统的可互换性和可维护性
一种通道光谱测量系统及其测量方法

[发明专利]多波长线共焦显微探测方法与装置-CN202111264040.3在审
发明人：杨佳苗;陈成;沈阳;邵荣君 -专利权人：绍兴钜光光电科技有限公司
申请日： 2021-10-28 - 公布日： 2022-01-21 - 主分类号： G01B11/25 文献下载
摘要：本发明属于线共焦位移测量领域，利用多波长线共焦测量技术，结合物镜的色散特性和多波长分光探测与差分处理技术，实现样品表面位移信息的快速测量。本发明首次提出用波长分光装置将物镜收集的经样品反射的测量光束根据波长分离至不同探测区域，通过对不同波长下的探测线共焦响应强度信息进行相邻波长的线共焦响应强度信息的差分处理，进而得到被测样品表面沿测量光束光轴方向的位移信息本发明将多波长线共焦技术、透镜的色散、多波长分光探测与差分处理等技术相结合，快速获取被测样品表面位移信息，为实现样品表面轮廓、形貌、形位公差等信息的快速测量提供了一种新思路。
波长线共焦显微探测方法装置

[发明专利]双波长线色散共焦显微探测方法与装置-CN202111264609.6在审
发明人：杨佳苗;沈阳;陈成 -专利权人：绍兴钜光光电科技有限公司
申请日： 2021-10-28 - 公布日： 2022-01-21 - 主分类号： G01B11/25 文献下载
摘要：双波长线色散共焦显微探测方法与装置。本发明属于色散共焦位移测量领域，利用双波长色散共焦测量技术，结合物镜的色散特性和双波长分光探测与差分处理技术，实现样品表面位移信息的快速检测。本发明首次提出用波长分光装置将物镜收集的经样品反射的测量光束根据波长分离至不同探测区域，通过对两个照明波长下的探测色散共焦响应强度信息进行差分处理，进而得到被测样品表面沿测量光束光轴方向的位移信息。本发明将双波长色散共焦技术、透镜的色散、双波长分光探测与差分处理等技术相结合，快速获取被测样品表面位移信息，为实现样品表面轮廓、形貌、形位公差等信息的快速检测提供了一种新思路。
波长色散显微探测方法装置

[发明专利]共焦椭圆核壳结构的全方向热-电伪装装置及其设计方法-CN202111568568.X在审
发明人：丰火雷;倪玉山 -专利权人：复旦大学
申请日： 2021-12-21 - 公布日： 2022-03-15 - 主分类号： G16C60/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种共焦椭圆核壳结构的全方向热‑电伪装装置及其设计方法。该装置包括各向异性共焦椭圆核壳结构以及外面的背景基质，共焦椭圆核区域代表了伪装区域，共焦椭圆壳区域代表了伪装装置，背景基质的介质具有各向异性的材料参数，在不同热流和电流方向下，背景基质区域的各向异性的包括热导率和电导率在内的材料参数和各向异性共焦椭圆核壳结构的包括热导率和电导率在内的各向异性等效参数相同
椭圆结构方向伪装装置及其设计方法

[发明专利]一种光谱共焦检测方法、装置及电子设备-CN202210099456.2在审
发明人：苏胜飞;杨灏;金少锋 -专利权人：深圳市深视智能科技有限公司
申请日： 2022-01-27 - 公布日： 2022-05-13 - 主分类号： G01B11/02 文献下载
摘要：本发明实施例涉及光学设备技术领域，公开了一种光谱共焦检测方法、装置及电子设备,所述方法运行于光谱共焦检测设备中，所述光谱共焦检测设备至少包括检测平台、光源、光纤组件、光谱仪、镜头组件、控制组件以及驱动组件，所述方法包括：启动所述光谱共焦检测设备，在所述控制组件中设置检测维度、检测类型以及检测参数；校准所述光谱共焦检测设备；驱动所述镜头组件运动以对待检测物进行扫描采样，得到全部采样数据；根据所述全部采样数据
一种光谱检测方法装置电子设备

[发明专利]共焦显微系统出瞳面光场分布的构造方法-CN202211088431.9在审
发明人：王廷煜;王之一;王建立;杨禹凯;杨永强;糜小涛 -专利权人：中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
申请日： 2022-09-07 - 公布日： 2023-01-31 - 主分类号： G01B11/24 文献下载
摘要：本发明提供一种共焦显微系统出瞳面光场分布构造方法，通过使用几何光学以及合理的数学近似分析共焦显微系统参数面对任意二维倾斜角度的信息，进而对共焦显微系统的物镜出瞳平面的光场分布进行构造，既避免了基于衍射理论的构造方式中复杂本发明所提供的共焦显微系统出瞳面光场分布构造方法考虑实际情况下的物理现象，构造更加符合实际的共焦显微系统的物镜的出瞳平面光场分布。
显微系统出瞳面光场分布构造方法

[发明专利]自准直式差动共焦透镜焦距测量方法-CN201210011997.1有效
发明人：赵维谦;杨佳苗;邱丽荣;吴华玲;李佳 -专利权人：北京理工大学
申请日： 2012-01-16 - 公布日： 2012-07-18 - 主分类号： G01M11/02 文献下载
摘要：本发明属于光学精密测量技术领域，涉及一种自准直式差动共焦透镜焦距测量方法。该方法将自准直思想融入到差动共焦测量方法中，进而实现透镜顶焦距及焦距的高精度测量。其核心思想是，引入辅助平面反射镜将被测透镜准直成的平行光束沿原光路反射，并配合差动共焦技术对被测透镜的焦点及表面顶点进行精确定位，进而得到被测透镜的顶焦距及焦距。本发明首次将自准直测量思想融入差动共焦测量方法，利用差动共焦响应曲线的过零点精确确定被测透镜的焦点及表面顶点位置，具有测量精度高、抗环境干扰能力强等优点，可用于透镜焦距的高精度检测。
准直式差动透镜焦距测量方法

[发明专利]物体尺寸量测系统及方法-CN200510108780.2有效
发明人：郑凯宇;陈彦良;徐祥瀚;陈怡菁;蓝玉屏 -专利权人：财团法人工业技术研究院
申请日： 2005-09-30 - 公布日： 2007-04-04 - 主分类号： G01B11/06 文献下载
摘要：本发明提供一种物体尺寸量测系统，包含：第一共焦显微量测装置、第二共焦显微量测装置及位移装置，该第一及第二共焦显微量测装置分别配置于待测物的待测尺寸方向的第一及第二两侧端面且其两共焦显微量测装置的第一物镜分别面向该待测物的两端面，其中该第二共焦显微量测装置的第一物镜载置于该位移装置上并随该位移装置的轴向移动而接近或远离该物镜所面向的待测物端面。
物体尺寸系统方法

[发明专利]一种色散共焦传感器光谱信号质量的评价方法及装置-CN202110264422.X有效
发明人：卢文龙;陈成 -专利权人：华中科技大学
申请日： 2021-03-11 - 公布日： 2022-03-29 - 主分类号： G01J3/28 文献下载
摘要：本发明公开了一种色散共焦传感器光谱信号质量的评价方法及装置。该方法包括获取并采集色散共焦传感器的二维光谱信号；对所述二维光谱信号进行信号处理与信号质量评价，确定所述二维光谱信号的质量指标；基于所述质量指标对所述色散共焦传感器的光学设计过程进行精度特性优化。本发明实现了确定了单帧色散共焦信号以及信号帧间一致性这两类色散共焦传感器光谱信号特征对精度特性的影响关系，以此获得与传感器设计参数有关的信号特征质量指标，为传感器的优化设计特别是传感器精度特性的调控提供设计目标
一种色散传感器光谱信号质量评价方法装置

[发明专利]共焦补偿滤片的控制方法、装置、存储介质以及电子装置-CN202011105039.1有效
发明人：李准 -专利权人：浙江大华技术股份有限公司
申请日： 2020-10-15 - 公布日： 2022-05-03 - 主分类号： H04N5/225 文献下载
摘要：本发明公开了一种共焦补偿滤片的控制方法、装置、存储介质以及电子装置。其中，该方法包括：确定用于对目标区域进行补光的补光灯的工作状态变化，在补光灯切换为打开状态的情况下，获取开启共焦补偿滤片之前用于指示目标图像的清晰度的第一清晰度评价值，以及开启共焦补偿滤片之后用于指示目标图像的清晰度的第二清晰度评价值，再基于第一清晰度评价值和第二清晰度评价值控制共焦补偿滤片的开合状态。本发明解决了相关技术中存在的难以有效控制共焦补偿滤片的开启状态，获取到的图像的清晰度较低的技术问题。
补偿控制方法装置存储介质以及电子

[发明专利]基于差动彩色共焦技术的自由曲面测量装置及检测方法-CN202011038837.7有效
发明人：张宇 -专利权人：东北电力大学
申请日： 2020-09-28 - 公布日： 2022-09-30 - 主分类号： G01B11/24 文献下载
摘要：本发明基于差动彩色共焦技术的自由曲面测量装置及检测方法，属于光学测量技术领域，解决单一共焦技术无法同时实现高轴向分辨率和大测量范围自由曲面的测量，及普通扫描方式无法同时实现高精度和快速扫描的技术难题，在差动共焦技术的基础上引入彩色共焦技术，保证了差动共焦技术高轴向分辨率的同时，大大地增加了测试范围，利用两个面阵彩色光电探测器分别采集焦点前和焦点后的R、G和B三色光强分布，通过差动计算得到被测自由曲面的轴向坐标，测试中小孔阵列板实现了快速高精度面扫描
基于差动彩色技术自由曲面测量装置检测方法