专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]自准直中心偏和曲率半径测量方法与装置-CN201710991322.0有效
  • 赵维谦;葛洪;邱丽荣 - 北京理工大学
  • 2017-10-23 - 2020-06-16 - G01B11/27
  • 本发明属于光学精密加工检测技术领域,涉及一种自准直中心偏和曲率半径测量方法与装置。该方法利用层析定方法对被测镜的球心和顶点进行定、借助位置探测系统测得定焦点的位置、计算得到被测镜的曲率半径,利用自准直方法探测被测镜旋转过程中反射光在探测面上的路径从而获得被测镜的偏心量,然后综合偏心量和曲率半径计算得出中心偏本发明首次将层析定原理应用到中心偏测量领域中,改进了传统的自准直中心偏测量方法,并且发明了自准直中心偏和曲率半径测量装置,测量结果表明,该方法具有测量精度高、量程大、效率高、无需重复装卡的优点
  • 中心曲率半径测量方法装置
  • [发明专利]一种日夜光学镜头及成像设备-CN201911326764.9在审
  • 张国林 - 江苏林兴光学有限公司
  • 2019-12-20 - 2020-02-25 - G02B15/173
  • 本发明公开了一种日夜光学镜头及成像设备,包括沿光轴从物面到像面依次设置的具有正光度的第一透镜组、孔径光阑、具有负光度的第二透镜组、具有正光度的第三透镜组,所述第三透镜组在调焦过程中沿着光轴移动,所述日夜光学镜头满足以下条件式:33≤F1*F3/F2≤61;4.5<base:Sub>1、F2和F3分别表示所述第一透镜组、第二透镜组和第三透镜组的焦距,F表示日夜光学镜头的焦距,F12表示所述第一透镜组和所述第二透镜组的合成焦距;本发明的有益效果是:提供一种日夜光学镜头在可见光谱和近红外光谱下都能清晰成像,并都具有优异的成像性能的日夜光学镜头及成像设备
  • 一种日夜光学镜头成像设备
  • [实用新型]一种日夜光学镜头及成像设备-CN201922310610.2有效
  • 张国林 - 江苏林兴光学有限公司
  • 2019-12-20 - 2020-08-28 - G02B15/173
  • 本实用新型公开了一种日夜光学镜头及成像设备,包括沿光轴从物面到像面依次设置的具有正光度的第一透镜组、孔径光阑、具有负光度的第二透镜组、具有正光度的第三透镜组,所述第三透镜组在调焦过程中沿着光轴移动,所述日夜光学镜头满足以下条件式:33≤F1*F3/F2≤61;4.5<base:Sub>1、F2和F3分别表示所述第一透镜组、第二透镜组和第三透镜组的焦距,F表示日夜光学镜头的焦距,F12表示所述第一透镜组和所述第二透镜组的合成焦距;本实用新型的有益效果是:提供一种日夜光学镜头在可见光谱和近红外光谱下都能清晰成像,并都具有优异的成像性能的日夜光学镜头及成像设备
  • 一种日夜光学镜头成像设备
  • [发明专利]一种并行彩色差动测量的反射率不均消除系统及方法-CN202211336692.8在审
  • 易定容;袁涛;吴栋梁;叶一青;蒋威 - 华侨大学
  • 2022-10-28 - 2022-12-30 - G01B11/24
  • 本发明涉及一种并行彩色差动测量的反射率不均消除系统及方法,属于测量技术领域。该系统包括:复色光源、准直透镜、数字微镜器件、第一分光透镜、色散管镜、物镜、载物模块、第二分光透镜、第一滤光转盘、第一滤光片、第一聚焦透镜、前相机、第三分光透镜、第二滤光转盘、第二滤光片、第二聚焦透镜、面相机、第三滤光转盘、第三滤光片、第三聚焦透镜、后相机和处理单元。基于该并行彩色测量的反射率不均消除系统,通过反射率为乘性的特性,利用面光谱信息消除被测物体对不同波长反射率不同的影响,去除了并行彩色差动测量过程中因不同波段导致的反射率各异因此的测量误差问题,
  • 一种并行彩色差动测量反射率不均消除系统方法
  • [实用新型]一种并行彩色差动测量的反射率不均消除系统-CN202222859782.7有效
  • 袁涛;易定容;叶一青;吴栋梁;蒋威 - 华侨大学
  • 2022-10-28 - 2023-01-24 - G01B11/24
  • 本实用新型涉及一种并行彩色差动测量的反射率不均消除系统,属于测量技术领域。该系统包括:复色光源、准直透镜、数字微镜器件、第一分光透镜、色散管镜、物镜、载物模块、第二分光透镜、第一滤光转盘、第一滤光片、第一聚焦透镜、前相机、第三分光透镜、第二滤光转盘、第二滤光片、第二聚焦透镜、面相机、第三滤光转盘、第三滤光片、第三聚焦透镜、后相机和处理单元。基于该并行彩色测量的反射率不均消除系统,通过反射率为乘性的特性,利用面光谱信息消除被测物体对不同波长反射率不同的影响,去除了并行彩色差动测量过程中因不同波段导致的反射率各异因此的测量误差问题,
  • 一种并行彩色差动测量反射率不均消除系统
  • [发明专利]轴向响应曲线峰值位置提取算法-CN201410616948.X在审
  • 刘俭;谭久彬;刘辰光;王红婷 - 哈尔滨工业大学
  • 2014-11-05 - 2015-01-28 - G01B11/24
  • 轴向响应曲线峰值位置提取算法属于扫描光学测量技术领域;该方法首先归一化数据,从实测数据中选取有效数据;然后以sinc2(a(x-b))函数为目标函数,根据测量参数计算目标参数初值;再以sinc2(a(x-b))函数为目标函数,利用Levenberg-Marquardt算法进行拟合求得目标参数;最后根据目标参数计算峰值位置;本发明轴向响应曲线峰值位置提取算法,通过使用sinc2作为拟合的目标函数来获得轴向相应曲线峰值位置,可以提高数据利用率与测量不确定度,同时减少迭代次数,减少了提取算法的运算时间。
  • 轴向响应曲线峰值位置提取算法
  • [发明专利]轴向响应曲线峰值位置提取算法-CN201410617214.3在审
  • 刘俭;谭久彬;刘辰光;王红婷 - 哈尔滨工业大学
  • 2014-11-05 - 2015-02-18 - G06F19/00
  • 轴向响应曲线峰值位置提取算法属于扫描光学测量技术领域;该方法首先归一化数据,从实测数据中选取有效数据;然后以sinc4(a(x-b))函数为目标函数,根据测量参数计算目标参数初值;再以sinc4(a(x-b))函数为目标函数,利用Levenberg-Marquardt算法进行拟合求得目标参数;最后根据目标参数计算峰值位置;本发明轴向响应曲线峰值位置提取算法,通过使用sinc4作为拟合的目标函数来获得轴向相应曲线峰值位置,可以提高数据利用率与测量不确定度,同时减少迭代次数,减少了提取算法的运算时间。
  • 轴向响应曲线峰值位置提取算法

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