专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]一种基于MRTD的显微成像系统性能评价方法及系统-CN202010460379.X在审
  • 高美静;张博智;谈爱玲;闫齐崇 - 燕山大学
  • 2020-05-27 - 2020-08-25 - G01M11/00
  • 本发明涉及一种基于MRTD的显微成像系统性能评价方法及系统。所述方法包括根据显微成像系统的光路结构确定显微成像系统的光谱辐射通量差;根据显微成像系统的成像过程,确定显微成像系统接收到的待测目标的图像信噪比;根据所述光谱辐射通量差和所述待测目标的图像信噪比确定显微成像系统的输出图像信噪比;根据所述显微成像系统的输出图像信噪比、所述显微成像系统的噪声等效温差以及望远模式的最小可分辨率温差确定显微成像系统的最小可分辨率温差;根据所述显微成像系统的最小可分辨率温差对所述显微成像系统的温度分辨能力进行评价本发明能够准确、全面地评估显微成像系统的性能。
  • 一种基于mrtd显微成像系统性能评价方法
  • [发明专利]一种显微测量系统及显微测量方法-CN202010517950.7有效
  • 李红兵;刘娜娜;李海宏;陈雪丹 - 江苏瑞奇海力科技有限公司
  • 2020-06-09 - 2022-02-22 - G01B9/04
  • 本发明实施例提供了一种显微测量系统及显微测量方法,该显微测量系统包括内部运动控制模块、显微成像模块和显示处理模块;内部运动控制模块用于控制待测工件运动,并向显示处理模块传输测工件的位置信息;显微成像模块包括至少两个显微成像单元和显微成像光源,存在两个显微成像单元用于对待测工件的不同表面进行显微成像显微成像单元用于对待测工件进行显微成像,并将显微成像获得的图像信息传输至显示处理模块;显示处理模块用于根据位置信息和图像信息对待测工件进行显微测量本发明实施例提供的显微测量系统,能够对待测工件进行多方向同时拍照测量,提高测量效率,同时还可以直接测量待测产品的厚度,丰富测量功能。
  • 一种显微测量系统测量方法
  • [发明专利]红外显微成像系统-CN201811426330.1有效
  • 陆卫;安正华 - 中国科学院上海技术物理研究所;复旦大学
  • 2018-11-27 - 2022-07-08 - G01N25/00
  • 本发明提供一种红外显微成像系统,包括:沿成像光路依次设置的样品台、显微成像模块及探测模块;所述样品台设置于显微成像模块的一侧,适于放置待测样品;显微成像模块适于根据接收的待测样品辐射的红外信号进行显微成像;探测模块,设置于显微成像模块的另一侧,适于接收和检测显微成像模块成像的红外信号;其中样品台、显微成像模块和探测模块均处于封闭环境中,所述封闭环境包括一个或多个低温区域,样品台、显微成像模块、和探测模块处于同一个或者不同的低温区域,显微成像模块、探测模块以及低温区域的温度均低于室温。所述红外显微成像系统能降低室温黑体辐射背景,突破传统红外成像技术中室温元件引起的系统性能极限,具有普适性价值。
  • 红外显微成像系统
  • [发明专利]基于全自动位移台的显微成像自动化检测方法及系统-CN202210568662.3有效
  • 何厚良;玄玉波;张闫麒先;田长禄 - 吉林大学
  • 2022-05-24 - 2023-06-06 - G02B21/34
  • 本发明属于自动化光学显微计算成像技术,特别是一种基于全自动位移台的显微成像自动化检测方法及系统,将盛放待测样本的载物板传动至自动化拾取机拾取待测样本;将拾取的样本送入至显微成像装置进行成像处理;所述显微成像装置进行成像处理包括:机械扫描成像模式和傅里叶叠层显微模式,其中,机械扫描成像模式用于大视野快速成像,傅里叶叠层显微模式用于高分辨率成像。针对显微成像领域对于大视野、高分辨率的追求,利用傅里叶叠层显微成像实现低倍物镜的高分辨率成像,结合机械扫描成像方法实现大视场成像。同时利用自动传送和拾取,极大提高生产效率并减少对待测样品的损害。
  • 基于全自动位移显微成像自动化检测方法系统
  • [发明专利]一种基于表面波成像的大气超细颗粒物吸湿增长检测装置-CN202010316229.1在审
  • 张斗国;蒯雁 - 中国科学技术大学
  • 2020-04-21 - 2021-10-22 - G01N15/00
  • 本发明公开了一种基于表面波成像的大气超细颗粒物吸湿增长检测装置,包括:测量腔设置在表面波成像基底上;表面波成像基底的下方依次设置油浸显微物镜、显微成像组件、偏振滤波器件和成像探测器;油浸显微物镜设置在显微成像组件的前端;表面波激发组件设置在显微成像组件的侧面,该表面波激发组件的出射光依次经显微成像组件、油浸显微物镜、表面波成像基底至测量腔,再由测量腔依次至表面波成像基底、油浸显微物镜、显微成像组件和偏振滤波器件到达成像探测器形成检测光路该装置成像灵敏度高,可以针对单个超细大气颗粒物实现实时动态监测,且可以工作在真实的大气环境中,配合的表面波成像基底可以重复使用、可靠性高。
  • 一种基于表面波成像大气颗粒吸湿增长检测装置
  • [实用新型]一种基于表面波成像的大气超细颗粒物吸湿增长检测装置-CN202020600980.X有效
  • 张斗国;蒯雁 - 中国科学技术大学
  • 2020-04-21 - 2020-12-25 - G01N15/00
  • 本实用新型公开了一种基于表面波成像的大气超细颗粒物吸湿增长检测装置,包括:测量腔设置在表面波成像基底上;表面波成像基底的下方依次设置油浸显微物镜、显微成像组件、偏振滤波器件和成像探测器;油浸显微物镜设置在显微成像组件的前端;表面波激发组件设置在显微成像组件的侧面,该表面波激发组件的出射光依次经显微成像组件、油浸显微物镜、表面波成像基底至测量腔,再由测量腔依次经表面波成像基底、油浸显微物镜、显微成像组件和偏振滤波器件到达成像探测器形成检测光路该装置成像灵敏度高,可以针对单个超细大气颗粒物实现实时动态监测,且可以工作在真实的大气环境中,配合的表面波成像基底可以重复使用、可靠性高。
  • 一种基于表面波成像大气颗粒吸湿增长检测装置
  • [发明专利]一种量块尺寸非接触检测装置及方法-CN202210624539.9在审
  • 杨凡 - 南京师范大学
  • 2022-06-02 - 2022-08-16 - G01B11/00
  • 本发明属于计量技术领域,公开了一种量块尺寸非接触检测装置及方法,包括:双显微成像系统、显微镜固定滑轨、潜望装置、样品定位平台、精密平动平台;双显微成像系统中均包括显微物镜;双显微成像系统分别安装于所述显微镜固定滑轨的左侧和右侧,并沿着显微镜固定滑轨滑动;样品定位平台固定在精密平动平台上,样品定位平台用于放置待测量块;潜望装置设置于显微物镜附近,用于将待测量块边界的像折转入显微成像系统。本方案无需测量双显微成像系统之间的距离,无须双显微成像系统放大倍数完全相同,只需保证待测量块两边界分别落入对应显微成像系统视野即可实现量块尺寸测量,适用于量块加工误差的高精度检验。
  • 一种量块尺寸接触检测装置方法
  • [实用新型]一种量块长度非接触检测装置-CN202221372379.5有效
  • 杨凡 - 南京师范大学
  • 2022-06-02 - 2022-09-20 - G01B11/00
  • 本实用新型属于计量技术领域,公开了一种量块长度非接触检测装置,包括:双显微成像系统、显微镜固定滑轨、潜望装置、样品定位平台、精密平动平台;双显微成像系统中均包括显微物镜;双显微成像系统分别安装于所述显微镜固定滑轨的左侧和右侧,并沿着显微镜固定滑轨滑动;样品定位平台固定在精密平动平台上,样品定位平台用于放置待测量块;潜望装置设置于显微物镜附近,用于将待测量块边界的像折转入显微成像系统。本方案无需测量双显微成像系统之间的距离,无须双显微成像系统放大倍数完全相同,只需保证待测量块两边界分别落入对应显微成像系统视野即可实现量块尺寸测量,适用于量块加工误差的高精度检验。
  • 一种量块长度接触检测装置

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