专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [实用新型]日夜镜头及成像装置-CN202320619668.9有效
  • 王金超;鲍康倩;王浩;肖明志 - 中山联合光电科技股份有限公司
  • 2023-03-24 - 2023-08-22 - G02B13/00
  • 本实用新型公开一种日夜镜头及成像装置,所述日夜镜头包括自物侧至像侧依次设置的光度为负的第一凸凹透镜、光度为正的第二双凸透镜、光度为正的第三双凸透镜、光度为负的第四凹凸透镜,所述日夜镜头的总长控制在22.4mm以内,光圈值F满足1.6≤F≤2.0,支持1/2.7英寸的像面,在弱光下也可清晰成像,所述日夜镜头通过合理减少透镜数量,可实现低成本且轻量化,通过四个透镜的光度以及形状的合理设置,可以实现FNO 1.6大光圈,同时解像力达到4M,在大光圈下保证高分辨率,以提供一种低成本、大光圈、能日夜的小型日夜镜头。
  • 日夜镜头成像装置
  • [发明专利]分光瞳差动-光声显微成像装置与方法-CN201510097053.4在审
  • 赵维谦;王允 - 北京理工大学
  • 2015-03-03 - 2015-06-03 - G01N21/17
  • 本发明涉及一种分光瞳差动-光声显微成像装置与方法,其基于具有大工作距、高轴向分辨力和抗杂散光干扰的分光瞳差动显微成像系统,将分光瞳差动显微成像系统与光声成像系统的结构与功能有机融合,利用分光瞳差动显微成像系统探测生物样品的空间结构信息分光瞳差动技术的采用使分光瞳差动光声显微成像装置的轴向分辨力和工作距得以有效兼顾,可抑制高散射样品面杂散光对成像质量的干扰,系统信噪比高,便于分光瞳差动-光声显微成像装置的集成化设计。
  • 分光差动显微成像装置方法
  • [发明专利]分光瞳-光声显微成像装置与方法-CN201510097008.9在审
  • 赵维谦;邱丽荣 - 北京理工大学
  • 2015-03-03 - 2015-06-03 - G01N21/17
  • 本发明涉及一种分光瞳-光声显微成像装置与方法,其基于具有大工作距、高轴向分辨力和抗杂散光干扰的分光瞳显微成像系统,将分光瞳显微成像系统与光声成像系统的结构与功能有机融合,利用分光瞳显微成像系统探测生物样品的空间结构信息分光瞳成像技术的采用使分光瞳光声显微成像装置的轴向分辨力和工作距得以有效兼顾,可抑制高散射样品面杂散光对成像质量的干扰,系统信噪比高,便于分光瞳-光声显微成像装置的集成化设计。
  • 分光瞳共焦显微成像装置方法
  • [发明专利]反射式分光瞳差动‑光声显微成像装置与方法-CN201510098650.9有效
  • 赵维谦;邱丽荣 - 北京理工大学
  • 2015-03-03 - 2017-01-11 - G02B21/00
  • 本发明涉及一种反射式分光瞳差动‑光声显微成像装置与方法,属于显微成像技术和光声显微成像技术领域。本发明将分光瞳差动显微成像系统与光声成像系统的结构与功能有机融合,利用分光瞳差动显微成像系统探测生物样品的空间结构信息,利用光声显微成像系统探测生物样品的功能信息,继而实现生物样品空间结构信息和功能信息的同时探测分光瞳差动成像技术的采用使分光瞳差动光声显微成像装置的轴向分辨力和工作距得以有效兼顾,可抑制面杂散光对成像质量的干扰,系统信噪比高,便于分光瞳差动‑光声显微成像装置的集成化和手持式设计。
  • 反射分光差动显微成像装置方法
  • [发明专利]一种薄片材料测厚用光谱检测设备及其检测方法-CN201710935797.8在审
  • 郑长文 - 东莞市嘉仪自动化设备科技有限公司
  • 2017-10-10 - 2018-01-30 - G01B11/06
  • 本发明公开了一种薄片材料测厚用光谱检测设备及其检测方法,包括设备外壳以及光谱检测机构、工控主机、光谱测厚电箱和滚筒机构,滚筒机构包括第一滚筒部分、第二滚筒部分以及设置于第一滚筒部分与第二滚筒部分上端中部的平行杆机构,光谱检测机构包括支撑座、光电开关、第一光谱控制器、第二光谱控制器、U型架、第一光谱镜头、第二光谱镜头以及与支撑座连接的丝杆驱动机构,第一光谱镜头、第二光谱镜头设置于U型架的同侧端部呈同轴线连接本发明为在线式非接触的光谱测量设备,具有超高分辨率、检测稳定、可测量小孔、更高精度、更方便快速、检测范围广等优点。
  • 一种薄片材料用光谱共焦检测设备及其方法
  • [发明专利]超分辨复色差动测量装置及方法-CN200810147049.4有效
  • 刘俭;谭久彬 - 哈尔滨工业大学
  • 2008-08-13 - 2009-02-04 - G01B11/00
  • 本发明公开了一种超分辨复色差动测量方法,其包括:提供第一差动测量装置,提供一平行平板修正色差超分辨测头,提供一计算机装置,以及,精确修正超分辨滤波器平板基底厚度,实现两光束聚焦平面位置调节,从而保证两平面的位置差恰好等于第一差动测量装置的线性测量区一半与第二差动测量装置线性测量区一半之和本发明还提供了一种超分辨复色差动测量装置,本发明的超分辨复色差动测量方法及装置的有益效果在于,在保留已公开的复色超分辨差动测量技术具有两个独立的双极性跟踪线性区间,轴向响应量程大,能抑制模干扰的技术优点前提下
  • 分辨色差动共焦测量装置方法
  • [实用新型]一种薄片材料测厚用光谱检测设备-CN201721298431.6有效
  • 郑长文 - 东莞市嘉仪自动化设备科技有限公司
  • 2017-10-10 - 2018-04-13 - G01B11/06
  • 本实用新型公开了一种薄片材料测厚用光谱检测设备,包括设备外壳以及光谱检测机构、工控主机、光谱测厚电箱和滚筒机构,滚筒机构包括第一滚筒部分、第二滚筒部分以及设置于第一滚筒部分与第二滚筒部分上端中部的平行杆机构,光谱检测机构包括支撑座、光电开关、第一光谱控制器、第二光谱控制器、U型架、第一光谱镜头、第二光谱镜头以及与支撑座连接的丝杆驱动机构,第一光谱镜头、第二光谱镜头设置于U型架的同侧端部呈同轴线连接本实用新型为在线式非接触的光谱测量设备,具有超高分辨率、检测稳定、可测量小孔、高精度、方便快速、检测范围广等优点。
  • 一种薄片材料用光谱共焦检测设备
  • [实用新型]一种光学镜片尺寸测量装置-CN202121528011.9有效
  • 何贵明;李旺军;李涛 - 成都翱图智能科技有限公司
  • 2021-07-06 - 2022-02-08 - G01B11/06
  • 本实用新型提供一种光学镜片尺寸测量装置,包括远心光源,远心成像系统,第一光谱探头,第二光谱探头和被测光学镜片,远心光源、第一被测样品位置、远心成像系统组成测量光学镜片外圆直径的测量系统,第一光谱探头、第二光谱探头和第二被测样品位置组成测量光学镜片边缘厚度的测量系统,第一光谱探头、第二光谱探头、第三被测样品位置组成测量光学镜片中心厚度的测量系统,第一光谱探头、第二光谱探头、第二被测样品位置
  • 一种光学镜片尺寸测量装置
  • [发明专利]高空间分辨激光差动光谱‑质谱显微成像方法与装置-CN201510116890.7有效
  • 赵维谦;邱丽荣 - 北京理工大学
  • 2015-03-17 - 2017-09-05 - G01N21/71
  • 本发明一种高空间分辨激光差动光谱‑质谱显微成像方法与装置,属于显微成像技术、光谱成像技术和质谱成像技术领域。本发明将差动成像技术、质谱成像技术和光谱探测技术相结合,利用高空间分辨差动系统的聚焦光斑对样品进行轴向定与成像,利用质谱系统对高空间分辨差动系统聚焦光斑解吸电离样品而产生的带电分子、原子等进行微区质谱成像,利用光谱探测系统对高空间分辨差动系统聚焦光斑解吸电离样品而产生的等离子体的发射光谱信息进行光谱成像,再通过探测数据融合处理来实现样品微区高分辨形态与组分探测。本发明克服了现有成像技术无法抑制面杂散光干扰的缺陷,为质谱高分辨成像提供一个新的有效技术途径。
  • 空间分辨激光差动光谱显微成像方法装置
  • [发明专利]高空间分辨激光光谱‑质谱显微成像方法与装置-CN201510116893.0有效
  • 赵维谦;邱丽荣 - 北京理工大学
  • 2015-03-17 - 2017-08-25 - G01N21/63
  • 本发明涉及一种高空间分辨激光光谱‑质谱显微成像方法与装置,属于显微成像技术、光谱成像技术和质谱成像技术领域。本发明将成像技术、质谱成像技术和光谱探测技术相结合,利用系统聚焦光斑对样品进行轴向定与成像,利用质谱系统对显微系统聚焦光斑解吸电离样品而产生的带电分子、原子等进行微区质谱成像,利用光谱探测系统对显微系统聚焦光斑解吸电离样品而产生的等离子体的发射光谱信息进行光谱成像本发明克服了现有显微成像技术无法抑制面杂散光干扰的缺陷,抗杂散光能力强,可为生物质谱高分辨成像提供一个全新的有效技术途径。
  • 空间分辨激光光谱显微成像方法装置
  • [发明专利]测量厚度和折射率的双方法及测量装置-CN200910100310.X有效
  • 鲁阳;雷华 - 浙江大学
  • 2009-07-02 - 2009-12-30 - G01B11/06
  • 本发明涉及测量厚度和折射率的双方法及装置。由同轴且对称布置的两个带光电探测器的滤波光组构成双系统,两个光组可以沿公共轴线相对移动。当两个滤波光组的前焦点重合时,光电探测器的响应为一极大值,而离时响应值迅速下降;将被测物垂直置于二滤波光组之间,把任一光组的前焦点调至被测物表面时,光电探测器的响应亦为一极大值,离时则响应值急剧减小利用这两个特性,可以对二滤波光组的前焦点进行精确定位,并测定被测物的几何厚度;对于透明材料,可以同时测定几何厚度和折射率。本发明适用于材料力学实验及其它场合的厚度和折射率测量。
  • 测量厚度折射率双共焦方法装置

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