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[发明专利]圆片测试参数分析方法-CN02158152.5无效
发明人：戴鸿恩;乐庆莉 -专利权人：力晶半导体股份有限公司
申请日： 2002-12-23 - 公布日： 2004-07-07 - 主分类号： H01L21/66 文献下载
摘要：一种圆片测试参数分析方法，其用以分析多批分别具有一批号的产品，本方法包括以下步骤：依据成品率将产品分为一高成品率产品组及一低成品率产品组；依据高成品率产品组的圆片测试参数值产生一第一标准值；对比低成品率产品组与第一标准值，以自低成品率产品组中删除等于或优于第一标准值的产品批号；判断低成品率产品组的剩余批号的数量是否为零；当数量不为零时，自数据库中搜索与圆片测试项目相关的样品测试项目、线上品质检测项目或工艺流程站别；以及当数量为零时
测试参数分析方法

[发明专利]一种提高皮蛋产品的成品率加工方法-CN202010917859.4有效
发明人：张昊;杜金平;孙静;皮劲松;梁振华;吴艳;潘爱銮;申杰;黄涛;蒲跃进 -专利权人：湖北省农业科学院畜牧兽医研究所
申请日： 2020-09-03 - 公布日： 2023-03-24 - 主分类号： A23L15/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种提高皮蛋产品的成品率加工方法，尤其是公开了一种提高皮蛋产品的成品率加工方法，提高鸭蛋加工成品率的方法，属于蛋品加工技术领域。在加工过程中，在鲜蛋收储过程中进行熏蒸消毒、低温保存；蛋品分拣后前清洗消毒；加工料液调整适宜碱度；加工过程控温腌制四道工序结合，实现皮蛋“爆蛋”率降低，提高皮蛋成品率和成品品质的目的。
一种提高皮蛋产品成品率加工方法

[发明专利]半导体产品的测试成品率估计方法和系统-CN200610136544.6无效
发明人：珍妮·P.·比克福德;马库斯·比勒;于尔根·克尔;詹森·D.·希伯勒 -专利权人：国际商业机器公司
申请日： 2006-10-25 - 公布日： 2007-05-02 - 主分类号： G06F17/50 文献下载
摘要：公开了一种在设计布局之前，预测半导体产品的测试成品率的方法。这是通过将临界区分析应用于用于形成特定产品的各个库单元、并通过估计组合这些库单元的测试成品率影响完成的。例如，该方法考虑了对库单元与库单元短路的敏感性造成的测试成品率影响和对布线缺陷的敏感性造成的测试成品率影响。所公开的方法进一步允许了管芯尺寸增大与对测试成品率较高的库单元的使用之间的折衷，以便提供最佳设计解决方案。因此，该方法可以用于修改库单元选择，以便使测试成品率最佳化。最后，该方法进一步在关键设计检验点上重复该方法本身，以便重新验证向客户报价时作出的最初测试成品率(和成本)假设。因此，该方法通过设计提供了从最初尺寸确定得出的测试成品率估计值的更高准确性，并进一步使设计得到修改，以提高测试成品率。
半导体产品测试成品率估计方法系统

[发明专利]一种分析和提高半导体生产线的成品率的方法-CN200710156700.X有效
发明人：马铁中;郑勇军;史峥;严晓浪 -专利权人：浙江大学
申请日： 2007-11-16 - 公布日： 2008-05-21 - 主分类号： G06F17/50 文献下载
摘要：本发明公开了一种分析和提高半导体生产线的成品率的方法，通过利用测试芯片来精确地确定生产线的各种工艺模块缺率陷曲线和接触孔的失效率以及结合对产品版图的每层断电和漏电的有效面积曲线和接触孔的个数的分析，从而建立成品率模型框架来实现的本发明方法能够精确地计算各种工艺模块的缺陷率对成品率的不同影响，能够使生产人员精确地知道生产线的各个工艺模块对成品率的影响，从而能够指导生产线的工程人员去快速有效地解决那些对成品率有重要影响的缺陷，从而可以快速有效地提高成品率
一种分析提高半导体生产线成品率方法

[发明专利]基于成品率的生产控制方法-CN201110413690.X有效
发明人：马苏 -专利权人：上海宝钢钢材贸易有限公司
申请日： 2011-12-13 - 公布日： 2016-10-12 - 主分类号： G06F17/00 文献下载
摘要：本发明揭示了一种基于成品率的生产控制方法，包括如下的步骤。1)选择一种零部件，该零部件由多种产品共用，对产品进行编号；2)选择一种产品，获取该产品对该零部件的使用数据，使用数据包括消耗量预测值和安全值，重复执行步骤2)直至所有的产品对该零部件的使用数据获取完毕；3)获取该零部件所消耗的资源的当前量；4)获取资源的成品率和零部件的成品率；5)根据资源的成品率和零部件的成品率计算资源的生产调节系数；6)根据生产调节系数计算资源的生产调节量；7)根据生产调节量和当前量对资源的实际生产进行调节
基于成品率生产控制方法

[发明专利]一种产品参数成品率估计方法-CN201310391408.1无效
发明人：游海龙;贾新章;张宇;梁涛;顾铠 -专利权人：西安电子科技大学
申请日： 2013-08-31 - 公布日： 2013-12-04 - 主分类号： G06F19/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种产品参数成品率估计方法。舍弃非单侧截尾正态分布样本；（3）获得样本均值；（4）获得样本标准偏差；（5）将样本均值和样本标准偏差代入过程能力指数公式，获得过程能力指数；（6）检验过程能力指数，过程能力指数不在适用区间内的估计样本，无法估计具体参数成品率；（7）将过程能力指数代入参数成品与过程能力指数模型中，获得参数成品率。本发明能够估计经截尾处理的性能测试数据的参数成品率，具有方法过程简单，计算简便，实用价值高的特点。
一种产品参数成品率估计方法

[实用新型]成品率高的制鞋模具-CN202222394006.4有效
发明人：黄志敏 -专利权人：福建泉州市嘉隆模具有限公司
申请日： 2022-09-09 - 公布日： 2023-01-10 - 主分类号： B29C45/73 文献下载
摘要：本实用新型涉及制鞋模具技术领域，本实用新型公开了一种成品率高的制鞋模具，包括上模和下模，所述下模的内部开设有等距离排列的W状冷却水道。该成品率高的制鞋模具，通过进水管与冷却水管连通，冷却水经过进水管进入进水箱的内部，进水箱内部冷却水经过多个外螺纹密封管分流到多个W状冷却水道内部，W状冷却水道内部冷却水与下模内部注塑鞋底进行热交换冷却散热，实现冷却水分流减小冷却水循环行程，避免因盘管形成较长导致其中冷水行程长，盘管中冷水随行程距离长逐渐升温，盘管中冷水后半部分行程中冷却效果降低，导致鞋底冷却成型不彻底，鞋底取出后鞋底部分冷却不彻底影响成品质量的问题
成品率制鞋模具

[发明专利]一种利用有效面积来建立记忆体电路的成品率模型的方法-CN200710157002.1有效
发明人：郑勇军;马铁中;史峥;严晓浪 -专利权人：浙江大学
申请日： 2007-11-16 - 公布日： 2008-05-14 - 主分类号： G06F17/50 文献下载
摘要：本发明一种利用有效面积来建立记忆体电路成品率模型的方法，包括：(1)建立记忆体原始成品率模型；(2)建立记忆体特征失效成品率的模型；(3)记忆体特征失效的修复计算；(4)记忆体最终成品率的计算；(5)记忆体特征失效和工艺模块的缺陷率的互逆运算，建立记忆体电路成品率模型。本发明方法利用记忆体的设计版图，记忆体可利用的修复资源以及生产线各个工艺模块的缺陷率曲线，就可以精确地预估记忆体的初始成品率，修复之后的成品率，主要的失效特征的成品率，并且能够优化修复资源的设计。
一种利用有效面积建立记忆体电路成品率模型方法

[发明专利]基于大数据的卫品设备成品率统计装置-CN202111457283.9在审
发明人：苏承涯;何子平;何伟俊 -专利权人：晋江海纳机械有限公司
申请日： 2021-12-02 - 公布日： 2022-04-12 - 主分类号： G01N21/88 文献下载
摘要：本发明涉及卫生用品技术领域，具体涉及到一种基于大数据的卫品设备成品率统计装置。本申请的基于大数据的卫品设备成品率统计装置，通过设置基于SVM分类算法进行产品检测的视觉检测组件、以及用于统计产品成品率的计数组件，实现对卫品设备成品率的智能化统计，有效提升生产效率，降低人工成本；通过设置第一传送单元、第二传送单元、第三传送单元，实现对良品、不良品的区分，便于准确统计卫品设备的成品率；通过控制器根据视觉检测组件的检测结果，控制机械手挑选出不良品，并将不良品放置于第一传送单元上，实现对不良品的智能化检测
基于数据设备成品率统计装置

[发明专利]用于制造环境中的产品随机化和分析的方法和系统-CN200810009223.9无效
发明人：宋云升;C·W·隆;B·J·劳林斯;J·赖斯;S·M·西安弗拉尼 -专利权人：国际商业机器公司
申请日： 2008-01-29 - 公布日： 2008-08-06 - 主分类号： G05B19/418 文献下载
摘要：本发明涉及一种用于在制造环境中实现产品随机化和分析的方法和系统。所述方法包括使用在多个批次中选择每个产品的随机化技术，在工艺设备处处理所述批次的产品。所述方法还包括为工艺配方中的每个操作生成操作标识记录，所述生成包括针对每个操作将与随机选择的产品关联的槽标识符映射到处理变量标识符、处理工具以及所述操作。所述方法还包括使用槽标识符为产品载体定义槽分组以及通过分析每个所述槽分组的历史成品率来确定产品成品率模式。所述方法还包括通过从与所述多个批次对应的所述操作标识记录分析产品成品率，来确定所述工艺配方中每个操作的一个或多个产品成品率模式的出现频率。
用于制造环境中的产品随机化分析方法系统

[发明专利]用于提高工业产品的成品率的方法-CN200410102114.3有效
发明人：迈克尔·科斯西;保罗·格林;加思·W·赫尔弗 -专利权人：日立环球储存科技荷兰有限公司
申请日： 2004-12-14 - 公布日： 2005-09-21 - 主分类号： G06F17/60 文献下载
摘要：一种用于提高工业产品的成品率的方法，包括为部件和处理设备提供识别方案，由此向每个部件和每个设备给予唯一且可追踪的识别数据。提供数据库，其中存储部件识别数据和处理设备识别数据，并使其相关联。然后，确认工业产品的成品率的提高。
用于提高工业产品成品率方法

[发明专利]一种基于风箱废气温度的烧结矿成品率预测方法-CN201611187766.0有效
发明人：吴敏;陈鑫;曹卫华;陈略峰;徐奔 -专利权人：中国地质大学（武汉）
申请日： 2016-12-20 - 公布日： 2018-09-04 - 主分类号： C22B1/16 文献下载
摘要：本发明公开了一种基于风箱废气温度的烧结矿成品率预测方法，包括以下步骤：确定影响烧结矿的成品率的热状态参数；建立烧结参数的历史生产数据样本数据库；计算已烧结矿的成品率；采用多项式拟合法对风箱废气温度数据进行曲线拟合，通过微分求极值法，得到热状态参数的数值；基于热状态参数的数值，建立烧结矿成品率预测模型；对待预测矿的风箱废气温度数据进行曲线拟合得到待预测矿的热状态参数的数值；将待预测矿的热状态参数的数值输入烧结矿成品率预测模型，输出变量即为待预测矿的成品率。本发明能够准确预测烧结矿的成品率，为烧结过程实时调节工艺参数以提高烧结矿的成品率和节能减耗提供重要依据。
成品率烧结矿热状态风箱预测废气曲线拟合温度数据预测模型样本数据库烧结参数烧结过程生产数据实时调节输出变量数值输入极值法拟合法节能

[发明专利]用于半导体器件的成品率相似性的方法和系统-CN200410025413.1有效
发明人：王邕保 -专利权人：中芯国际集成电路制造(上海)有限公司
申请日： 2004-06-14 - 公布日： 2006-01-04 - 主分类号： H01L21/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种用于半导体器件的成品率相似性的方法和系统。该方法包括：提供第一批多个半导体器件；提供第二批多个半导体器件；获取与第一成品率相关联的第一批多个成品率；以及获取与第二成品率相关联的第二批多个成品率。此外，本方法包括：对第一批多个成品率执行第一统计分析；确定第一统计分布；对第二批多个成品率执行第二统计分析；以及确定第二统计分布。并且，本方法包括：处理与指示量相关联的信息；确定置信度水平；处理与置信度水平相关联的信息；以及确定第一成品率和第二成品率是否相似。
用于半导体器件成品率相似性方法系统

[发明专利]一种同时考虑多种性能约束的芯片参数成品率预测方法-CN201710841657.4在审
发明人：李鑫;张登银;丁飞;殷俊 -专利权人：南京邮电大学
申请日： 2017-09-18 - 公布日： 2018-03-06 - 主分类号： G06F17/50 文献下载
摘要：本发明公开了一种同时考虑多种性能约束的芯片参数成品率预测方法，属于芯片设计参数扰动具有随机相关性情况下的多元参数成品率预测技术领域。由于当前的芯片参数成品率研究主要局限于单一性能指标成品率预测，或对多个单性能指标成品率进行均衡优化。针对上述方法无法考虑多种性能指标间的相关关系，易造成参数成品率缺失的问题，本发明提出了一种同时考虑多种性能约束指标影响的芯片多元成品率精确预测方法。具体方法流程如下首先，考虑设计参数扰动间的相关性，构建芯片性能统计模型；其次，利用鞍点线抽样方法对各芯片性能的边缘分布概率进行求解；最后，利用Copula理论，选择最优的Copula函数对同时考虑多个性能约束的芯片参数成品率进行精确预测
一种同时考虑多种性能约束芯片参数成品率预测方法

[发明专利]设计驱动器的方法-CN200810127819.9无效
发明人：苏淳晚 -专利权人：东部高科股份有限公司
申请日： 2008-06-25 - 公布日： 2008-12-31 - 主分类号： G09G3/20 文献下载
摘要：可以使用偏移的解析结果来确定晶体管的尺寸，且可以调整尺寸直到通过使用测得的匹配信息和晶体管的确定的尺寸的仿真获取的驱动器的仿真成品率接近目标成品率。所得到的确定的尺寸可以用来制造驱动器，以获取制造的驱动器的测试成品率。如果测试成品率不是目标成品率，则可以调整测得的匹配信息直到由仿真获取的驱动器的调整的成品率接近测试成品率。因此，驱动器的偏移可以最小化，使之有可能改进驱动器的输出特性、将面积最优化、提高成品率、减少芯片开发过程中的修改频率、和/或缩短芯片设计的周期。
设计驱动器方法

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