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专利名称

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申请人
公布日期

农业化学；冶金建筑机械工程区域搜索

主分类

B 作业；运输

C 化学；冶金

D 纺织；造纸

E 固定建筑物

F 机械工程、照明、加热

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公布日期

2023-10-24 公布专利

2023-10-20 公布专利

2023-10-17 公布专利

2023-10-13 公布专利

2023-10-10 公布专利

2023-10-03 公布专利

2023-09-29 公布专利

2023-09-26 公布专利

2023-09-22 公布专利

2023-09-19 公布专利

专利权人

国家电网公司

华为技术有限公司

中兴通讯股份有限公司

三星电子株式会社

中国石油化工股份有限公司

鸿海精密工业股份有限公司

松下电器产业株式会社

上海交通大学

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[发明专利]晶片搜寻方法及装置-CN202110783217.4在审
发明人：许致榕;乐庆莉;包宝茹 -专利权人：力晶积成电子制造股份有限公司
申请日： 2021-07-12 - 公布日： 2022-12-23 - 主分类号： G06F16/245 文献下载
摘要：本发明公开一种晶片搜寻方法及装置，所述方法包括：取得目标晶片及参考晶片；在目标晶片中决定第一特定区域，并取得第一特定区域的第一显著分布特征；在参考晶片中决定第二特定区域，并取得第二特定区域的第二显著分布特征；反应于判定第一显著分布特征对应于第二显著分布特征，估计第一特定区域与第二特定区域之间的故障图样相似度；反应于判定故障图样相似度高于门限值，提供参考晶片作为对应于目标晶片的搜寻结果。
晶片搜寻方法装置

[发明专利]晶圆图的辨识方法与计算机可读取记录介质-CN201911355190.8在审
发明人：林秋杰;乐庆莉 -专利权人：力晶积成电子制造股份有限公司
申请日： 2019-12-25 - 公布日： 2021-06-01 - 主分类号： G06T7/00 文献下载
摘要：本发明提供一种晶圆图的辨识方法，包括以下步骤：获得至少一待辨识晶圆的晶圆图；对晶圆图与对照图样进行图像处理操作，其中图像处理操作包括：对晶圆图与对照图样分别进行卷积运算，撷取卷积后的晶圆图的主要特征，并且基于卷积后的对照图样计算权重分配；以及计算处理后的晶圆图与对照图样的相似度以辨识晶圆图。本发明亦提供一种记录上述辨识方法的计算机可读取记录介质。
晶圆图辨识方法计算机读取记录介质

[发明专利]反应室性能分析方法以及相关的性能分析系统-CN200710128381.1无效
发明人：何煜文;乐庆莉 -专利权人：力晶半导体股份有限公司
申请日： 2007-07-10 - 公布日： 2009-01-14 - 主分类号： H01L21/00 文献下载
摘要：本发明提供一种反应室性能分析方法，适用于晶片制造系统，其中晶片制造系统有至少一站台，该站台有至少一机台，该机台包括多个反应室。反应室性能分析方法包括下列步骤。提供既定对照表，其中既定对照表记录有关于机台的机台参数(ED)数据，且该机台参数(ED)数据中有对应的反应室信息。接着，由第一界面输入欲检查的至少一站别或一机台选择。依据既定对照表以及选取的站别或机台，在第一界面上产生至少一对应的显示结果。接着，利用至少一显示结果，判别并分析反应室的性能。
反应性能分析方法以及相关系统

[发明专利]工程数据分析数据库的查询系统与方法-CN200610108422.6无效
发明人： 乐庆莉;何煜文 -专利权人：力晶半导体股份有限公司
申请日： 2006-08-02 - 公布日： 2008-02-06 - 主分类号： G06Q10/00 文献下载
摘要：本发明是揭露提供一种工程数据分析数据库的查询系统与方法。其中该方法的步骤包含a)提供工程数据分析数据库，其内具有多笔数据；b)将该工程数据分析数据库的多笔数据，依所属部门分类为多个部门所属数据区；c)分别将该多个部门所属数据区，依选用次数排序为多个部门登录数据区；d)当操作者登录时，依该操作者所属的部门，自该多个部门登录数据区中择一选用对应者；e)记录该操作者操作选用该多个部门登录数据区的次数，并累计更新该多个部门所属数据区的该选用次数；以及f)于固定周期，重复步骤c)。
工程数据分析数据库查询系统方法

[发明专利]圆片测试参数分析方法-CN02158152.5无效
发明人：戴鸿恩;乐庆莉 -专利权人：力晶半导体股份有限公司
申请日： 2002-12-23 - 公布日： 2004-07-07 - 主分类号： H01L21/66 文献下载
摘要：一种圆片测试参数分析方法，其用以分析多批分别具有一批号的产品，本方法包括以下步骤：依据成品率将产品分为一高成品率产品组及一低成品率产品组；依据高成品率产品组的圆片测试参数值产生一第一标准值；对比低成品率产品组与第一标准值，以自低成品率产品组中删除等于或优于第一标准值的产品批号；判断低成品率产品组的剩余批号的数量是否为零；当数量不为零时，自数据库中搜索与圆片测试项目相关的样品测试项目、线上品质检测项目或工艺流程站别；以及当数量为零时，停止搜索操作。
测试参数分析方法

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