“贾新章”申请（专利权）人搜索_中国专利权人_发明人_技术持有人_科研专家_钻瓜专利网

钻瓜专利网为您找到相关结果12个，建议您升级VIP下载更多相关专利

[发明专利]基于LOF-KNN算法的晶圆级空间测量参数异常识别方法-CN201811161427.4有效
发明人：游海龙;张金力;田文星;贾新章;顾铠 -专利权人：西安电子科技大学
申请日： 2018-09-30 - 公布日： 2022-12-02 - 主分类号： G06K9/62 文献下载
摘要：本发明公开了一种基于LOF‑KNN算法的晶圆级空间测量参数异常识别方法，主要解决现有异常识别方法无法准确识别晶圆级空间测量参数中单个数据的可靠性隐患异常问题。其实施方案是：1、采集样本；2、根据K最近邻KNN算法，获得样本的空间变化统计量；3、根据局部异常因子LOF算法，获得样本的局部离群因子；4、获得局部离群因子的上控制限；5、对待检测数据的异常状态进行判断，将待检测数据的局部离群因子与上控制线比较，根据待测数据的局部离群因子是否超过控制限来判断待测数据是否为异常数据。本发明可准确识别晶圆级空间测量参数中单个数据的异常状况，且稳定性好、应用范围广，可用于芯片的制作。
基于 lof knn 算法晶圆级空间测量参数异常识别方法

[发明专利]超净间内零过多颗粒数的统计过程控制方法-CN201811013365.2有效
发明人：游海龙;张金力;田文星;贾新章;顾铠 -专利权人：西安电子科技大学
申请日： 2018-08-31 - 公布日： 2021-09-10 - 主分类号： G06Q10/06 文献下载
摘要：本发明公开了一种超净间内零过多颗粒数的统计过程控制方法，主要解决超净间内颗粒数零占比大于50％时现有统计过程控制技术误报警过多或不能及时报警的问题。其实施步骤是：1、利用颗粒数计数器对空气中的颗粒数进行采集，采集的数据中至少包含90个非零数据；2、获得不同颗粒数的概率；3、利用迭代法，计算阈值泊松分布中参数c和T的估计值，获得上控制限；4、按照休哈特控制图的绘制方法，将颗粒数和控制线绘制到对应的控制图中；6、通过观察控制图中是否有点超出上控制线来判断超净间内的颗粒数是否受控，确实是否继续进行生产，以实现颗粒数失控时的及时预警，提高产品质量，减少失控引起的经济损失，可用于半导体生产的质量监测。
超净间内零过多颗粒统计过程控制方法

[发明专利]服从二项分布的计件值工序能力指数评价方法-CN201611067417.5有效
发明人：游海龙;贾新章;田文星;张金力;顾铠 -专利权人：西安电子科技大学
申请日： 2016-11-28 - 公布日： 2021-01-29 - 主分类号： G06Q10/06 文献下载
摘要：本发明公开了一种服从二项分布的计件值工序能力指数评价方法，主要解决现有技术所得工序能力指数结果明显偏高的问题，其实现步骤包括：1.连续采集多批产品的不合格品率作为样本数据；2.根据样本数据计算不合格品率的均值；3.根据不合格品率均值，获得每批不合格品数的上规范限，进而得到批次成品率；4.根据成品率计算得到工序能力指数CP；5.判断工序能力指数CP是否满足要求。本发明工序能力指数CP计算精确，所得工序能力指数CP与相应工艺成品率的对应关系和计量值工序能力指数与相应工艺成品率的对应关系完全相同，不同工序之间只需对比工序能力指数的大小就能判断工艺成品率的高低，可用于生产线上生产质量的评价。
服从二项分布计件工序能力指数评价方法

[发明专利]不同大小样本均值-标准偏差控制图的统计过程控制方法-CN201610023611.7有效
发明人：田文星;游海龙;顾铠;贾新章 -专利权人：西安电子科技大学
申请日： 2016-01-14 - 公布日： 2018-07-27 - 主分类号： G05B19/418 文献下载
摘要：本发明公开了一种不同大小样本均值‑标准偏差控制图的统计过程控制方法，主要解决现有控制图无法对样本大小不同时实施统计过程控制的问题。其实施步骤是：1、获取产品样本；2、计算得到每组样本的均值和标准偏差；3、获得母体均值和标准偏差；4、计算均值‑标准偏差控制图中两个控制图各自相应的特征值，获得均值‑标准偏差控制图中两个控制图各自相应的控制线；5、按照休哈特控制图的绘制方法，将特征值和控制线绘制成对应的控制图；6应用判断过程异常准则对步骤5的控制图进行判断，得出生产过程是否处于受控状态的结果。本发明适用范围广，母体的均值和标准偏差计算精度高，可用于样本大小相同或不同的统计过程控制。
不同大小样本均值标准偏差控制统计过程方法

[发明专利]利用截尾样本确定产品合格率的方法-CN201410733542.X有效
发明人：游海龙;田文星;顾凯;贾新章 -专利权人：西安电子科技大学
申请日： 2014-12-01 - 公布日： 2018-04-17 - 主分类号： G06Q10/06 文献下载
摘要：本发明公开了一种利用截尾样本确定产品合格率的方法，主要解决现有方法对批量产品合格率检测精度低，工作量大，适用范围小的问题。其实施步骤是1、获取产品样本；2、确定产品合格的上规范限和下规范限；3、提取产品样本的截尾数据，并对截尾数据进行排序；4、计算截尾数据的均值和标准偏差，并获得截尾样本的经验累积分布函数；5、以截尾数据的均值和标准偏差为初始点，利用迭代法，以减小截尾样本的截尾正态分布与截尾样本的经验累积分布函数之差的最大值为判断条件，获得批量产品的正态分布参数估计值，并计算批量产品合格率。本发明精度高，工作量小，适用范围广，可用于检测供应商提供的产品的合格率，或检测生产线上批量产品合格率。
利用样本确定产品合格率方法

[发明专利]满足泊松分布的计点值工序能力指数评价方法-CN201610850134.1在审
发明人：游海龙;贾新章;顾铠;田文星;张金力 -专利权人：西安电子科技大学
申请日： 2016-09-26 - 公布日： 2017-03-08 - 主分类号： G06Q10/06 文献下载
摘要：一种满足泊松分布的计点值工序能力指数评价方法。其具体步骤包括1.采集样本；2.计算泊松分布的累计概率；3.计算工序能力指数；4.判断计点值工序能力指数是否满足要求；5.继续生产；6.检查工序能力不足的原因。本发明具有结果正确、更适用实际生产，且所得工序能力指数CPU与相应工艺成品率的对应关系和计量值工序能力指数与相应工艺成品率的对应关系完全相同，不同工序之间只要对比工序能力指数的大小就直接说明工艺成品率的高低，将计量值和计点值工序能力指数统一量化的优点。
满足分布计点值工序能力指数评价方法

[发明专利]批量加工晶圆的统计过程控制方法-CN201510937567.6在审
发明人：游海龙;田文星;顾凯;贾新章 -专利权人：西安电子科技大学
申请日： 2015-12-15 - 公布日： 2016-03-23 - 主分类号： G05B19/418 文献下载
摘要：本发明公开了一种批量加工晶圆的统计过程控制的方法，主要解决现有控制图无法对批量加工晶圆实施统计过程控制的问题。其实施步骤是：1、当同一产品在相应加工炉中完成晶圆批量加工后，采集样本数据，获得每个子批的均值和标准偏差；2、由子批均值和标准偏差，计算二阶嵌套控制图中四个控制图相应的特征值，获得二阶嵌套控制图中四个控制图的控制线；3、按照休哈特控制图的绘制方法，将特征值和控制线绘制到对应的控制图中；4、应用判断过程异常准则对步骤3的四个控制图进行判断，得出批量加工晶圆的生产过程是否处于受控状态的结果。本发明可全面监控晶圆批量加工，且具有诊断功能，提高了晶圆的加工质量，可用于晶圆批量生产。
批量加工统计过程控制方法

[发明专利]一种基于CAD蒙特卡洛分析的电路成品率估算方法-CN201310577280.8有效
发明人：游海龙;贾新章;顾铠;张潇哲 -专利权人：西安电子科技大学
申请日： 2013-11-15 - 公布日： 2014-02-05 - 主分类号： G06F17/50 文献下载
摘要：本发明公开了一种基于计算机辅助设计（CAD）蒙特卡洛分析的电路成品率估算方法。步骤包括：确定所分析电子线路或集成电路的拓扑结构、电路的性能参数指标范围、关键元器件参数及元器件参数的统计分布规律；建立电路性能参数与元件参数标称值之间的代理模型来近似电路；依据电路元件参数分布规律，产生电路蒙特卡洛分析的随机抽样组合序列；利用电路性能参数的代理模型对随机抽样组合序列进行预测，得到电路性能参数预测值及每个性能参数预测值的置信区间范围；对电路性能参数预测值修正计算；将性能参数预测值代入性能参数指标规范范围进行统计分析，计算电路性能参数的成品率；本发明时间成本开销低、电路仿真次数少、分析效率高、估算成品率准确性高。
一种基于 cad 蒙特卡洛分析电路成品率估算方法

[发明专利]一种产品参数成品率估计方法-CN201310391408.1无效
发明人：游海龙;贾新章;张宇;梁涛;顾铠 -专利权人：西安电子科技大学
申请日： 2013-08-31 - 公布日： 2013-12-04 - 主分类号： G06F19/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种产品参数成品率估计方法。具体步骤是：（1）获得估计样本；（2）检验估计样本是否为单侧截尾正态分布，舍弃非单侧截尾正态分布样本；（3）获得样本均值；（4）获得样本标准偏差；（5）将样本均值和样本标准偏差代入过程能力指数公式，获得过程能力指数；（6）检验过程能力指数，过程能力指数不在适用区间内的估计样本，无法估计具体参数成品率；（7）将过程能力指数代入参数成品与过程能力指数模型中，获得参数成品率。本发明能够估计经截尾处理的性能测试数据的参数成品率，具有方法过程简单，计算简便，实用价值高的特点。
一种产品参数成品率估计方法

[发明专利]增强型功率MOS器件栅内引线脱落的检测方法-CN201310391190.X有效
发明人：游海龙;赵杨杨;贾新章;顾铠;刘鹏 -专利权人：西安电子科技大学
申请日： 2013-08-31 - 公布日： 2013-11-27 - 主分类号： G01N27/61 文献下载
摘要：本发明公布了一种增强型功率MOS器件栅内引线脱落的检测方法。具体步骤是：（1）检查器件外观，获取表面完好的器件；（2）“两线法”测量器件阈值电压；（3）判定是否存在其它损坏，去除内部存在其它损坏的器件；（4）“三线法”测量器件阈值电压；（5）判定栅内引线是否脱落。本发明采用“两线法”和“三线法”，对增强型功率MOS器件的阈值电压进行测量，根据测量结果，判定增强型功率MOS器件栅内引线是否脱落。本发明具有操作简便，测量耗时短、成本低、效率高的优点。
增强功率 mos 器件引线脱落检测方法

[发明专利]一种多变量工序能力指数的计算方法-CN201210433122.0无效
发明人： 贾新章;顾铠;游海龙 -专利权人：西安电子科技大学
申请日： 2012-10-26 - 公布日： 2013-03-20 - 主分类号： G06F19/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种多变量工序能力指数的计算方法，首先分析了单变量情况下成品率与工序能力指数之间的关系，基于6σ设计的思想对实际工序能力指数Cpk的计算方法进行了改进。改进后的工序能力指数ECpk与实际工艺成品率之间具有一一对应关系。然后将单变量工序能力指数计算思想延伸至多变量工艺，并引出了多变量工序能力指数MECpk。MECpk指数同时适用于有双侧规范要求和单侧规范要求的工艺。本文同时分析了协方差矩阵对工艺成品率的影响，并提出了基于协方差矩阵提高工艺成品率的解决思路。实例分析结果表明MECpk指数能够真实反映生产过程的实际工序能力。
一种多变工序能力指数计算方法

[发明专利]基于T-K控制图的多品种生产模式统计过程控制方法-CN201210433123.5有效
发明人：顾铠;贾新章;游海龙 -专利权人：西安电子科技大学
申请日： 2012-10-26 - 公布日： 2013-02-13 - 主分类号： G05B13/04 文献下载
摘要：本发明公开了一种基于T-K控制图的多品种生产模式统计过程控制方法，包括以下步骤：1)建立用于监测工艺参数均值的T控制图；2)建立用于监测工艺参数标准偏差的K控制图；3)在多品种生产模式下，采用T-K控制图对设备运行状态进行监控，只要每种类型产品样本数据达到2批以上，如果分布参数已知，1批数据即可，并保证每批产品的样本容量相同且大于1，根据工艺参数母体分布的均值或标准偏差是否已知，确定控制限，并建立T-K控制图。通过实例分析及仿真验证，证实该过程控制方法能够及时、有效地检测出多品种生产模式下导致生产过程失控的异常因素，提示操作人员适时做出响应，使生产过程维持在统计受控状态以保证产品质量。
基于控制品种生产模式统计过程方法

1
共 12 条