专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [实用新型]成品高的制鞋模具-CN202222394006.4有效
  • 黄志敏 - 福建泉州市嘉隆模具有限公司
  • 2022-09-09 - 2023-01-10 - B29C45/73
  • 本实用新型涉及制鞋模具技术领域,本实用新型公开了一种成品高的制鞋模具,包括上模和下模,所述下模的内部开设有等距离排列的W状冷却水道。该成品高的制鞋模具,通过进水管与冷却水管连通,冷却水经过进水管进入进水箱的内部,进水箱内部冷却水经过多个外螺纹密封管分流到多个W状冷却水道内部,W状冷却水道内部冷却水与下模内部注塑鞋底进行热交换冷却散热,实现冷却水分流减小冷却水循环行程,避免因盘管形成较长导致其中冷水行程长,盘管中冷水随行程距离长逐渐升温,盘管中冷水后半部分行程中冷却效果降低,导致鞋底冷却成型不彻底,鞋底取出后鞋底部分冷却不彻底影响成品质量的问题
  • 成品率制鞋模具
  • [发明专利]圆片测试参数分析方法-CN02158152.5无效
  • 戴鸿恩;乐庆莉 - 力晶半导体股份有限公司
  • 2002-12-23 - 2004-07-07 - H01L21/66
  • 一种圆片测试参数分析方法,其用以分析多批分别具有一批号的产品,本方法包括以下步骤:依据成品将产品分为一高成品产品组及一低成品产品组;依据高成品产品组的圆片测试参数值产生一第一标准值;对比低成品产品组与第一标准值,以自低成品产品组中删除等于或优于第一标准值的产品批号;判断低成品产品组的剩余批号的数量是否为零;当数量不为零时,自数据库中搜索与圆片测试项目相关的样品测试项目、线上品质检测项目或工艺流程站别;以及当数量为零时
  • 测试参数分析方法
  • [发明专利]一种同时考虑多种性能约束的芯片参数成品预测方法-CN201710841657.4在审
  • 李鑫;张登银;丁飞;殷俊 - 南京邮电大学
  • 2017-09-18 - 2018-03-06 - G06F17/50
  • 本发明公开了一种同时考虑多种性能约束的芯片参数成品预测方法,属于芯片设计参数扰动具有随机相关性情况下的多元参数成品预测技术领域。由于当前的芯片参数成品研究主要局限于单一性能指标成品预测,或对多个单性能指标成品进行均衡优化。针对上述方法无法考虑多种性能指标间的相关关系,易造成参数成品缺失的问题,本发明提出了一种同时考虑多种性能约束指标影响的芯片多元成品精确预测方法。具体方法流程如下首先,考虑设计参数扰动间的相关性,构建芯片性能统计模型;其次,利用鞍点线抽样方法对各芯片性能的边缘分布概率进行求解;最后,利用Copula理论,选择最优的Copula函数对同时考虑多个性能约束的芯片参数成品进行精确预测
  • 一种同时考虑多种性能约束芯片参数成品率预测方法
  • [发明专利]设计驱动器的方法-CN200810127819.9无效
  • 苏淳晚 - 东部高科股份有限公司
  • 2008-06-25 - 2008-12-31 - G09G3/20
  • 可以使用偏移的解析结果来确定晶体管的尺寸,且可以调整尺寸直到通过使用测得的匹配信息和晶体管的确定的尺寸的仿真获取的驱动器的仿真成品接近目标成品。所得到的确定的尺寸可以用来制造驱动器,以获取制造的驱动器的测试成品。如果测试成品不是目标成品,则可以调整测得的匹配信息直到由仿真获取的驱动器的调整的成品接近测试成品。因此,驱动器的偏移可以最小化,使之有可能改进驱动器的输出特性、将面积最优化、提高成品、减少芯片开发过程中的修改频率、和/或缩短芯片设计的周期。
  • 设计驱动器方法
  • [发明专利]半导体产品的测试成品估计方法和系统-CN200610136544.6无效
  • 珍妮·P.·比克福德;马库斯·比勒;于尔根·克尔;詹森·D.·希伯勒 - 国际商业机器公司
  • 2006-10-25 - 2007-05-02 - G06F17/50
  • 公开了一种在设计布局之前,预测半导体产品的测试成品的方法。这是通过将临界区分析应用于用于形成特定产品的各个库单元、并通过估计组合这些库单元的测试成品影响完成的。例如,该方法考虑了对库单元与库单元短路的敏感性造成的测试成品影响和对布线缺陷的敏感性造成的测试成品影响。所公开的方法进一步允许了管芯尺寸增大与对测试成品较高的库单元的使用之间的折衷,以便提供最佳设计解决方案。因此,该方法可以用于修改库单元选择,以便使测试成品最佳化。最后,该方法进一步在关键设计检验点上重复该方法本身,以便重新验证向客户报价时作出的最初测试成品(和成本)假设。因此,该方法通过设计提供了从最初尺寸确定得出的测试成品估计值的更高准确性,并进一步使设计得到修改,以提高测试成品
  • 半导体产品测试成品率估计方法系统
  • [发明专利]免烧毛高成品染布方法-CN202210206313.7在审
  • 孙自伟;庞磊;韩华彬;赵永刚 - 昆山格林兰印染有限公司
  • 2022-03-01 - 2022-06-10 - D03D15/283
  • 本发明公开了一种免烧毛高成品染布方法,涉及纺织品染色技术,旨在解决没有调节好织物的通过速度或者金属表面的温度,就会出现织物因高温破损的问题,其技术方案要点是:包括如下步骤,步骤1,备料,取纺织所需的若干种纤维以及一种碱溶性聚酯切片制成的纤维本发明能够减少烧毛以及退浆的工序,使得整套方法更加高效,流程更加短暂,提高印染时的织物成品,避免出现印染得到的织物出现破损的问题,同时还能够保证印染织物的平整
  • 烧毛成品率染布方法
  • [发明专利]薄膜成品预测系统及方法-CN201210260972.5有效
  • 洪昇均;朴宰贤;尹永根 - 东友精细化工有限公司
  • 2012-07-25 - 2013-01-30 - G01N21/88
  • 本发明提供一种薄膜成品预测系统以及方法,其用于对在制造光学薄膜时产生的缺陷进行检测以算出产品的预期成品。本发明涉及的成品预测系统包含:第一检查部,其在光学薄膜的制造工序中,对执行特定步骤中的光学薄膜上的缺陷进行检测,生成包含检测出的缺陷的位置的第一缺陷数据;第二检查部,其对执行区别于所述特定步骤的所述制造工序的其它步骤中的所述光学薄膜上的缺陷进行检测,生成包含检测出的缺陷的位置的第二缺陷数据;数据合并部,其合并所述第一缺陷数据和所述第二缺陷数据;以及成品预测部,其根据由所述数据合并部合并得到的缺陷数据,算出基于所述光学薄膜的预期切削位置和切削尺寸的所述光学薄膜的预期成品
  • 薄膜成品率预测系统方法
  • [发明专利]基于成品的生产控制方法-CN201110413690.X有效
  • 马苏 - 上海宝钢钢材贸易有限公司
  • 2011-12-13 - 2016-10-12 - G06F17/00
  • 本发明揭示了一种基于成品的生产控制方法,包括如下的步骤。对产品进行编号;2)选择一种产品,获取该产品对该零部件的使用数据,使用数据包括消耗量预测值和安全值,重复执行步骤2)直至所有的产品对该零部件的使用数据获取完毕;3)获取该零部件所消耗的资源的当前量;4)获取资源的成品和零部件的成品;5)根据资源的成品和零部件的成品计算资源的生产调节系数;6)根据生产调节系数计算资源的生产调节量;7)根据生产调节量和当前量对资源的实际生产进行调节。
  • 基于成品率生产控制方法
  • [发明专利]提高成品的CCD生产方法-CN201110159834.3无效
  • 翁雪涛 - 中国电子科技集团公司第四十四研究所
  • 2011-06-15 - 2011-09-28 - H01L21/339
  • 本发明公开了一种提高成品的CCD生产方法,将原来由3次制作成型的4个多晶硅层改为分4次制作,每次只制作一个多晶硅层。本发明的有益技术效果是:在低精度生产工艺线上,采用四次制作多晶硅条的生产方法,生产小像元CCD,避免了同层短路现象,既保证了产品的性能,还大幅提高了成品;在不更换设备的条件下,使产品的成品大幅提高,降低了生产成本,间接地扩大了低加工精度设备的适用范围;通过在2微米工艺线,用该生产方法生产像元尺寸为11微米×11微米的两相或4相CCD器件,生产的成品高达70-80%。
  • 提高成品率ccd生产方法
  • [发明专利]一种可提高成品的光罩-CN200710046838.4有效
  • 刘庆炜 - 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司
  • 2007-10-09 - 2009-04-15 - G03F1/00
  • 本发明提供了一种可提高成品的光罩。现有技术中光罩上的散射条纹仅具条状本体,故在制造时非常困难且会影响光罩的成品。本发明的可提高成品的光罩具有至少一孤立器件图形和多个设置在该孤立器件图形周围用于增大其工艺窗口的散射条纹,该散射条纹具有一条状本体,该条状本体两侧边上设置有多个支脚。采用本发明可提高成品的光罩可降低光罩制造的工艺难度,并可大大提高其成品
  • 一种提高成品率

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