[发明专利]金属氧化物半导体场效应管电源开关无效

专利信息
申请号: 89103081.6 申请日: 1989-05-06
公开(公告)号: CN1037810A 公开(公告)日: 1989-12-06
发明(设计)人: 杰里米·约翰·格林伍德 申请(专利权)人: 萨尔普莱克斯有限公司
主分类号: H03K17/08 分类号: H03K17/08;H03K17/687
代理公司: 中国专利代理有限公司 代理人: 何耀煌,肖掬昌
地址: 英国*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 功率MOSFET1含有跨接在其栅极G和源极S间并与MOSFET热连接的闸流晶体管2。当MOSFET导通,负载3在正常状态则闸流晶体管截止。如负载3短路,当温度超过预定值,闸流晶体管导通,且使MOSFET截止,此时,连接到漏极D和源极S的电源内寄生布线电感7,8产生瞬变电压。串联电阻10和闸流晶体管与申接在漏极D和栅极g间的齐纳二极管11和整流二极管12保持漏一栅和漏一源电压为安全值以抑制瞬变电压。瞬变能量通过流经MOSFET的电流耗散掉。MOSFET的截止时刻取决于寄生电感7,8。
搜索关键词: 金属 氧化物 半导体 场效应 电源开关
【主权项】:
1、一种MOSFET功率开关装置包括MOSFET(1)和与MOSFET的栅极(G)电连接且与MOSFET热连接的半导体开关(2),该装置是这样的:如果MOSFET导通且所接的负载(3)处于正常状态,则半导体开关(2)截止,如果MOSFET导通而负载(3)处在短路状态,则当在MOSFET中产生的热使温度高于预定温度时,半导体开关(2)就导通,同时,导通状态的半导体开关(2)使MOSFET截止。上述装置还包括抑制瞬变电压的装置,所述瞬变电压是这样产生的:当MOSFET随半导体开关(2)导通而截止时,连接到MOSFET的漏极(D)和源极(S)的电源里的寄生布线电感(7,8)将产生瞬变电压,其特征在于:瞬变电压抑制装置包括第一抑制装置(11,12)和第二抑制装置(11,12,2,10,5)两部分,当半导体开关(2)导通时,第一抑制装置(11,12)把由漏极(D)上的初始寄生感应电压振幅产生的漏一栅电压(Vdg)限制在预定值内,当半导体开关(2)导通时,第二抑制装置(11、12、2、10、5)响应源极(S)的初始感应电压振幅而确定一个初始的栅一源电压(Vgs),使其足以保持MOSFET(1)导通,但不大于其预定值,这样,瞬变电压抑制装置使瞬变能量以流过MOSFET的电流的方式耗散掉,MOSFET的截止时刻取决于上述寄生布线电感(7,8)的值。
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