[发明专利]金属氧化物半导体场效应管电源开关无效

专利信息
申请号: 89103081.6 申请日: 1989-05-06
公开(公告)号: CN1037810A 公开(公告)日: 1989-12-06
发明(设计)人: 杰里米·约翰·格林伍德 申请(专利权)人: 萨尔普莱克斯有限公司
主分类号: H03K17/08 分类号: H03K17/08;H03K17/687
代理公司: 中国专利代理有限公司 代理人: 何耀煌,肖掬昌
地址: 英国*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 金属 氧化物 半导体 场效应 电源开关
【权利要求书】:

1、一种MOSFET功率开关装置包括MOSFET(1)和与MOSFET的栅极(G)电连接且与MOSFET热连接的半导体开关(2),

该装置是这样的:如果MOSFET导通且所接的负载(3)处于正常状态,则半导体开关(2)截止,如果MOSFET导通而负载(3)处在短路状态,则当在MOSFET中产生的热使温度高于预定温度时,半导体开关(2)就导通,同时,导通状态的半导体开关(2)使MOSFET截止。

上述装置还包括抑制瞬变电压的装置,所述瞬变电压是这样产生的:当MOSFET随半导体开关(2)导通而截止时,连接到MOSFET的漏极(D)和源极(S)的电源里的寄生布线电感(7,8)将产生瞬变电压,其特征在于:

瞬变电压抑制装置包括第一抑制装置(11,12)和第二抑制装置(11,12,2,10,5)两部分,当半导体开关(2)导通时,第一抑制装置(11,12)把由漏极(D)上的初始寄生感应电压振幅产生的漏一栅电压(Vdg)限制在预定值内,当半导体开关(2)导通时,第二抑制装置(11、12、2、10、5)响应源极(S)的初始感应电压振幅而确定一个初始的栅一源电压(Vgs),使其足以保持MOSFET(1)导通,但不大于其预定值,这样,瞬变电压抑制装置使瞬变能量以流过MOSFET的电流的方式耗散掉,MOSFET的截止时刻取决于上述寄生布线电感(7,8)的值。

2、如权利要求1所要求的装置,其特征在于:第一抑制装置包括串联在漏极(D)和栅极(G)之间的第一齐纳二极管(11)和整流二极管(12),

第二抑制装置包括跨接在栅极(G)和源极(S)上的齐纳二极管(5),

第二抑制装置包括第一抑制装置(11,12)以及半导体开关(2)与电阻(10)的串联组合,

上述串联组合的一端接到栅极(G),另一端在使用中接到参考电压上。

3、如权利要求2所要求的装置,其特征在于作了如下改变:上述串联组合(2,10)的另一端连到源极(S)。

4、如权利要求2所要求的装置,其特征在于:MOSFET(1)、第一齐纳二极管(11)、整流二极管(12)、半导体开关(2)、和电阻(10)全部封装在功率MOSFET器件的管壳内,管壳上通常有三个用于连接到漏极、栅极和源极的接线端,管壳上还有用于在使用中连接到上述参考电压的第四个接线端。

5、如权利要求3所要求的装置,其特征在于:MOSFET(1)、第一齐纳二极管(11)、整流二极管(12)、半导体开关(2)和电阻(10)全部封装在功率MOSFET器件的管壳内,管壳上通常有三个用于连接到漏极、栅极和源极的接线端。

6、如权利要求4或5所要求的装置,其特征在于:第二齐纳二极管(5)也封装在功率MOSFET器件的管壳内。

7、如权利要求2到6中任一条所要求的装置,其特征在于:上述电阻10是半导体开关(2)的串联内阻。

8、如权利要求1到7中任一条所要求的装置,其特征在于:半导体开关(2)是闸流晶体管或三端双向可控硅开关。

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