[发明专利]金属氧化物半导体场效应管电源开关无效
| 申请号: | 89103081.6 | 申请日: | 1989-05-06 |
| 公开(公告)号: | CN1037810A | 公开(公告)日: | 1989-12-06 |
| 发明(设计)人: | 杰里米·约翰·格林伍德 | 申请(专利权)人: | 萨尔普莱克斯有限公司 |
| 主分类号: | H03K17/08 | 分类号: | H03K17/08;H03K17/687 |
| 代理公司: | 中国专利代理有限公司 | 代理人: | 何耀煌,肖掬昌 |
| 地址: | 英国*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 金属 氧化物 半导体 场效应 电源开关 | ||
1、一种MOSFET功率开关装置包括MOSFET(1)和与MOSFET的栅极(G)电连接且与MOSFET热连接的半导体开关(2),
该装置是这样的:如果MOSFET导通且所接的负载(3)处于正常状态,则半导体开关(2)截止,如果MOSFET导通而负载(3)处在短路状态,则当在MOSFET中产生的热使温度高于预定温度时,半导体开关(2)就导通,同时,导通状态的半导体开关(2)使MOSFET截止。
上述装置还包括抑制瞬变电压的装置,所述瞬变电压是这样产生的:当MOSFET随半导体开关(2)导通而截止时,连接到MOSFET的漏极(D)和源极(S)的电源里的寄生布线电感(7,8)将产生瞬变电压,其特征在于:
瞬变电压抑制装置包括第一抑制装置(11,12)和第二抑制装置(11,12,2,10,5)两部分,当半导体开关(2)导通时,第一抑制装置(11,12)把由漏极(D)上的初始寄生感应电压振幅产生的漏一栅电压(Vdg)限制在预定值内,当半导体开关(2)导通时,第二抑制装置(11、12、2、10、5)响应源极(S)的初始感应电压振幅而确定一个初始的栅一源电压(Vgs),使其足以保持MOSFET(1)导通,但不大于其预定值,这样,瞬变电压抑制装置使瞬变能量以流过MOSFET的电流的方式耗散掉,MOSFET的截止时刻取决于上述寄生布线电感(7,8)的值。
2、如权利要求1所要求的装置,其特征在于:第一抑制装置包括串联在漏极(D)和栅极(G)之间的第一齐纳二极管(11)和整流二极管(12),
第二抑制装置包括跨接在栅极(G)和源极(S)上的齐纳二极管(5),
第二抑制装置包括第一抑制装置(11,12)以及半导体开关(2)与电阻(10)的串联组合,
上述串联组合的一端接到栅极(G),另一端在使用中接到参考电压上。
3、如权利要求2所要求的装置,其特征在于作了如下改变:上述串联组合(2,10)的另一端连到源极(S)。
4、如权利要求2所要求的装置,其特征在于:MOSFET(1)、第一齐纳二极管(11)、整流二极管(12)、半导体开关(2)、和电阻(10)全部封装在功率MOSFET器件的管壳内,管壳上通常有三个用于连接到漏极、栅极和源极的接线端,管壳上还有用于在使用中连接到上述参考电压的第四个接线端。
5、如权利要求3所要求的装置,其特征在于:MOSFET(1)、第一齐纳二极管(11)、整流二极管(12)、半导体开关(2)和电阻(10)全部封装在功率MOSFET器件的管壳内,管壳上通常有三个用于连接到漏极、栅极和源极的接线端。
6、如权利要求4或5所要求的装置,其特征在于:第二齐纳二极管(5)也封装在功率MOSFET器件的管壳内。
7、如权利要求2到6中任一条所要求的装置,其特征在于:上述电阻10是半导体开关(2)的串联内阻。
8、如权利要求1到7中任一条所要求的装置,其特征在于:半导体开关(2)是闸流晶体管或三端双向可控硅开关。
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